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Espectroscopia de fluorescencia Silicio
Espectroscopia de fluorescencia Silicio, Total: 14 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectroscopia de fluorescencia Silicio son: Metales ferrosos, Química analítica, Vaso, Refractarios, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios..
European Committee for Standardization (CEN), Espectroscopia de fluorescencia Silicio
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectroscopia de fluorescencia Silicio
- KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
- KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
Association Francaise de Normalisation, Espectroscopia de fluorescencia Silicio
- FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 Análisis químico de materiales ferrosos - Análisis de ferrosilicio - Determinación de Si y Al en ferrosilicio mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopia de fluorescencia Silicio
- GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- GB/T 40915-2021 Determinación del contenido de SiO2, Al2O3, Fe2O3, K2O, Na2O, CaO y MgO de vidrio de sílice sodada mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
British Standards Institution (BSI), Espectroscopia de fluorescencia Silicio
- BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
Group Standards of the People's Republic of China, Espectroscopia de fluorescencia Silicio
- T/CQCAA 0005-2020 Determinación de mercurio en dióxido de silicio -Espectrometría de fluorescencia atómica
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectroscopia de fluorescencia Silicio