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Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
Procedimientos de microscopía de fuerza atómica., Total: 25 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Procedimientos de microscopía de fuerza atómica. son: Medidas lineales y angulares., Química analítica, Física. Química, Materiales para la construcción aeroespacial., Termodinámica y mediciones de temperatura., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Óptica y medidas ópticas..
RU-GOST R, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
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- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
- ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
British Standards Institution (BSI), Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
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National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
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- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
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- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
German Institute for Standardization, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Procedimientos de microscopía de fuerza atómica.
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)