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Método de medición de la reflexión

Método de medición de la reflexión, Total: 22 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de medición de la reflexión son: Sistemas de vehículos de carretera, Materiales semiconductores, Fluidos aislantes, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Aplicaciones de imágenes de documentos, Optoelectrónica. Equipo láser, Metrología y medición en general., Accesorios electricos, Pruebas eléctricas y electrónicas., Cerámica.


Association Francaise de Normalisation, Método de medición de la reflexión

  • NF EN 62431:2014 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en el rango de frecuencia milimétrica - Métodos de medición
  • NF EN 50130-4/A1:2014 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en el rango de frecuencia milimétrica - Métodos de medición
  • NF C93-650*NF EN 62431:2014 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica: métodos de medición

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Método de medición de la reflexión

  • GB/T 40965-2021 Medición de la retrorreflexión.
  • GB/T 37412-2019 Láseres y equipos relacionados con el láser: método de anillo de cavidad para medición de alta reflectancia

Group Standards of the People's Republic of China, Método de medición de la reflexión

  • T/IAWBS 007-2018 Método de prueba para determinar el espesor de capas homoepitaxiales de carburo de silicio 4H mediante reflectancia infrarroja

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Método de medición de la reflexión

  • GB/T 14847-1993 Método de prueba para determinar el espesor de capas equitaxiales de silicio ligeramente dopado sobre sustratos de silicio fuertemente dopados mediante reflectancia infrarroja
  • GB/T 14847-2010 Método de prueba para determinar el espesor de capas epitaxiales de silicio ligeramente dopado sobre sustratos de silicio fuertemente dopados mediante reflectancia infrarroja

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Método de medición de la reflexión

British Standards Institution (BSI), Método de medición de la reflexión

  • BS AU 170:1979 Métodos para medir la reflectancia de los espejos retrovisores.
  • BS EN 62431:2009 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica. Métodos de medición
  • BS EN 62431:2008 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica - Métodos de medición
  • BS 6354:1983 Método para medir la luminancia, el contraste y la reflectancia de la pantalla de lectores de microformas.

未注明发布机构, Método de medición de la reflexión

International Electrotechnical Commission (IEC), Método de medición de la reflexión

  • IEC 62431:2008 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica - Métodos de medición
  • IEC PAS 62431:2005 Métodos de medición de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica.

German Institute for Standardization, Método de medición de la reflexión

  • DIN EN 62431:2009-07 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de ondas milimétricas. Métodos de medición (IEC 62431:2008); Versión alemana EN 62431:2008

IEC - International Electrotechnical Commission, Método de medición de la reflexión

  • PAS 62431-2005 Métodos de medición de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica (Edición 1.0)

Lithuanian Standards Office , Método de medición de la reflexión

  • LST EN 62431-2009 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica. Métodos de medición (IEC 62431:2008)

BR-ABNT, Método de medición de la reflexión

  • ABNT NBR 15426-2020 Señales verticales en carreteras: método para medir en campo la retrorreflectividad utilizando un retrorreflectómetro portátil

ES-UNE, Método de medición de la reflexión

  • UNE-EN 62431:2008 Métodos de medida de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica (Ratificado por AENOR en marzo de 2009.)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Método de medición de la reflexión

  • JIS R 1679:2007 Métodos de medición de la reflectividad del absorbente de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica.

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