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Espectro de reflectancia espectral

Espectro de reflectancia espectral, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectro de reflectancia espectral son: Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Astronomía. Geodesia. Geografía, Agricultura y silvicultura, Comunicaciones de fibra óptica., pruebas de metales, Materiales semiconductores, Vocabularios, Telecomunicaciones en general, ingeniería de energía solar, Optoelectrónica. Equipo láser, Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Metales ferrosos, Lámparas y equipos relacionados., Metrología y medición en general., Productos de hierro y acero., Minerales metalíferos, Dispositivos semiconductores, Pruebas no destructivas, Artículos de arte y artesanía., Cerámica, Sistemas de vehículos de carretera, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Refractarios, Productos de la industria química., Equipo medico, Educación, Ferroaleaciones, Fotografía, Terminología (principios y coordinación), Sistemas y operaciones espaciales., Residuos, Materiales de construcción, Vaso, Equipo óptico, Productos petrolíferos en general, Té. Café. Cacao, Ingredientes de pintura, Joyería, Componentes electrónicos en general., Ingeniería vial, Productos de caucho y plástico., ingeniería de energía nuclear, Pruebas eléctricas y electrónicas., Calidad del suelo. Pedología, Protección contra el fuego, Combustibles, Alimentos para animales, Estandarización. Reglas generales, Productos de la industria textil., Goma, químicos inorgánicos, Protección de radiación, Gas natural, Protección contra el crimen.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 26828-2011 Especificación para recubrimientos antirreflectantes multiespectrales.
  • GB/T 36540-2018(英文版) Medición de reflectividad espectral VIS SWIR del agua
  • GB/T 36540-2018 Medición de reflectividad espectral del agua VIS-SWIR
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 24578-2015 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • GB/T 24578-2009 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • GB/T 33988-2017(英文版) Medición de reflectividad espectral VIS SWIR de características de la superficie urbana
  • GB/T 26179-2010 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz.
  • GB/T 28208-2011 Espectroradiometría de fuentes de radiación óptica pulsada.
  • GB/T 11170-1989 Método para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de acero inoxidable.
  • GB/T 16599-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
  • GB/T 16600-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
  • GB/T 9259-1988 Terminología del análisis espectroquímico de emisiones.
  • GB/Z 26209-2010 Determinación de la capacidad de respuesta espectral de detectores de radiación óptica.
  • GB/T 7999-2000 Método estándar para análisis espectrométrico de lectura directa de aluminio y sus aleaciones.
  • GB/T 14203-1993 Regla general para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de hierro, acero y aleaciones.
  • GB/T 26042-2010 Métodos de análisis de zinc y aleaciones de zinc. La espectrometría de emisión óptica.
  • GB/T 21191-2007 Espectrómetro de fluorescencia atómica
  • GB/T 20150-2006 Espectro de acción de referencia del eritema y dosis estándar de eritema
  • GB/T 7999-2015
  • GB/T 7999-2007 Método de análisis espectrométrico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • GB/T 28020-2011 Adorno.Determinación de elementos nocivos.Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 26601-2011 Microscopios. Filtros espectrales.
  • GB/T 38257-2019(英文版) Espectroscopía de ruptura inducida por láser.
  • GB/T 18043-2008 Joyería.Determinación del contenido de metales preciosos.Método mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 18043-2013 Joyería. Determinación del contenido de metales preciosos. Método mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 16597-1996 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 19502-2004 Análisis químico de superficies-Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OSE)-Introducción al uso
  • GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 31010-2014 Calibración espectral en laboratorio para sensor hiperespectral dispersivo
  • GB/T 26070-2010 Caracterización del daño subsuperficial en obleas semiconductoras compuestas pulidas mediante el método de espectroscopia de diferencia de reflectancia
  • GB/T 2590.9-1981 Óxido de hafnio. Determinación del contenido de óxido de circonio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/Z 42520-2023 Directrices para la práctica de laboratorio de espectrometría de fluorescencia de rayos X para el análisis de minerales de hierro
  • GB/T 16481-1996 Tablas de espectro estándar del espectro de emisión atómica de antorcha de plasma de microondas de tierras raras
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 8925-1988 Gasolina--Determinación de la espectrometría de rayos X de plomo
  • GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • GB/T 4470-1998 Métodos espectroscópicos analíticos-Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica-Vocabulario
  • GB/T 7962.12-2010 Métodos de prueba de vidrio óptico incoloro. Parte 12: Transmitancia interna espectral.
  • GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectro de reflectancia espectral

  • ASTM E573-01(2021) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-96 Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01 Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01(2007) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E573-01(2013) Prácticas estándar para espectroscopia de reflexión interna
  • ASTM E3029-15(2023) Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E1621-21 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E995-04 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM E3029-15 Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E1654-94(2004) Guía estándar para medir cambios espectrales inducidos por radiación ionizante en fibras y cables ópticos para su uso en espectroscopia remota de fibra óptica Raman
  • ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM E1654-94(1999) Guía estándar para medir cambios espectrales inducidos por radiación ionizante en fibras y cables ópticos para su uso en espectroscopia remota de fibra óptica Raman
  • ASTM D5381-93(2003) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM D5381-93(1998) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM D7990-21 Método de prueba estándar para utilizar espectros de reflectancia para producir un índice de aumento de temperatura en revestimientos poliméricos
  • ASTM D7990-15 Método de prueba estándar para utilizar espectros de reflectancia para producir un índice de aumento de temperatura en revestimientos poliméricos
  • ASTM E944-96 Guía estándar para la aplicación de métodos de ajuste del espectro de neutrones en la vigilancia de reactores (IIA)
  • ASTM E1097-97 Guía estándar para el análisis de espectrometría de emisión de plasma de corriente directa
  • ASTM E10-08 Método de prueba estándar para la dureza Brinell de materiales metálicos
  • ASTM E10-15
  • ASTM E1621-05 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E388-04(2023) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E1507-98 Guía estándar para describir y especificar el espectrómetro de un instrumento de lectura directa por emisión óptica
  • ASTM E2626-08 Guía estándar para análisis espectrométrico de metales reactivos y refractarios
  • ASTM E2626-08e1 Guía estándar para análisis espectrométrico de metales reactivos y refractarios
  • ASTM E1021-12 Método de prueba estándar para mediciones de respuesta espectral de dispositivos fotovoltaicos
  • ASTM D5381-93(2021) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM G138-12 Método de prueba estándar para la calibración de un espectrorradiómetro utilizando una fuente estándar de irradiancia
  • ASTM E388-04(2015) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E2994-21 Método de prueba estándar para el análisis de titanio y aleaciones de titanio mediante espectrometría de emisión atómica por chispa y espectrometría de emisión atómica de descarga luminiscente (método basado en el rendimiento)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • JJF 1601-2016 Especificación de calibración para espectrofotómetros para medición de reflectancia difusa
  • JJF 1335-1990 Norma técnica de funcionamiento del estándar secundario para reflectancia espectral en el rango de 800~2000 nm
  • JJF 1975-2022 Especificaciones de calibración para espectroradiómetros
  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • JJF 1807-2020 Especificación de calibración para lámparas de flujo radiante espectral total
  • JJF 1967-2022 Especificación de calibración para rejillas de reflexión por difracción láser
  • JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB37/T 2188-2012 Reglamento Técnico para la Determinación de la Espectroscopía de Reflexión de la Flor de Manzano
  • DB37/T 2189-2012 Reglamento técnico para la detección de espectroscopía de reflectancia del dosel en el período de floración del manzano.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Espectro de reflectancia espectral

  • GJB 10134-2021 Método de prueba para la reflectancia espectral de tejidos de camuflaje.
  • GJB 10297-2021 Especificaciones generales para espectrorradiómetros infrarrojos.
  • GJB/Z 48.1-1993 Fibra óptica de espectro de serie de fibra óptica militar
  • GJB/Z 49.1-1993 Cable óptico de espectro de serie de cable óptico militar

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 33988-2017 Medición de reflectividad espectral VIS-SWIR de características de la superficie urbana
  • GB/T 34534-2017 Coque. Determinación de la composición de las cenizas. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • JJG 768-2005 Espectrómetro de emisión
  • JJG 2083-1990 Esquema de verificación de instrumentos de medición de radiancia e irradiancia espectrales.
  • JJG 2083-2005 Radiancia espectral, tabla del sistema de verificación de instrumentos de medición de irradiancia espectral
  • JJG 768-1994 Reglamento de verificación del espectrómetro de emisión
  • JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
  • JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • JJG 383-2002 Reglamento de Verificación de Lámparas Estándar de Radiancia Espectral
  • JJG 384-2002 Reglamento de verificación de lámparas estándar de irradiancia espectral

Professional Standard - Machinery, Espectro de reflectancia espectral

British Standards Institution (BSI), Espectro de reflectancia espectral

  • BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
  • BS EN 60904-8:1998 Dispositivos fotovoltaicos: medición de la respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • BS EN 60904-8:2014 Dispositivos fotovoltaicos. Medición de la capacidad de respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
  • PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 8478:2017 Óptica y fotónica. Lentes de cámara. Medición de la transmitancia espectral ISO.
  • BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS EN 61746-1:2011 Calibración de reflectómetros ópticos en el dominio del tiempo (OTDR). OTDR para fibras monomodo
  • BS ISO 20473:2007 Óptica y fotónica. Bandas espectrales
  • BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • PD ISO/TR 16043:2015 Minerales de hierro. Determinación del contenido de cloro. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • BS ISO 14707:2015 Análisis químico de superficies. Espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OES). Introducción al uso
  • BS ISO 14707:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso
  • BS ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
  • BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • BS 7012-6:1998 Microscopios ópticos. Especificación para filtros espectrales.
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
  • BS DD ENV 12908:1998 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis por espectrometría de emisión óptica (OES) con excitación por chispa
  • BS EN ISO 3815-1:2005 Zinc y aleaciones de zinc - Análisis de muestras sólidas mediante espectrometría de emisión óptica
  • PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
  • BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo

Professional Standard - Agriculture, Espectro de reflectancia espectral

German Institute for Standardization, Espectro de reflectancia espectral

  • DIN 5030-3:2021-09 Medición espectral de radiación - Aislamiento espectral - Definiciones y características
  • DIN 5030-3:1984 Medición espectral de radiación; aislamiento espectral; definiciones y características
  • DIN 5030-3:2021 Medición espectral de radiación - Aislamiento espectral - Definiciones y características
  • DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
  • DIN 5030-5:1987 Medición espectral de radiación; detectores físicos para mediciones espectrales de radiación; terminología, cantidades características, criterios de selección
  • DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
  • DIN 5030-2:1982-09 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
  • DIN 19011-3:1989 fuentes de linterna; números de identificación para la distribución espectral de la radiación
  • DIN 5030-5:2019-08 Medición espectral de radiación - Detectores físicos para medición espectral de radiación - Terminología, magnitudes características, criterios de selección
  • DIN 5030-2:1982 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
  • DIN 5036-3:1979-11 Propiedades radiométricas y fotométricas de materiales; Métodos de medición de características fotométricas y radiométricas espectrales.
  • DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN 51401:2016 Espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de fluorescencia atómica (AFS) - Vocabulario
  • DIN 51401 Beiblatt 1:2017-07 Espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de fluorescencia atómica (AFS) - Vocabulario; Suplemento 1: Explicaciones
  • DIN 51401:2016-11 Espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de fluorescencia atómica (AFS) - Vocabulario
  • DIN 58141-2:2012-09 Medición de elementos de fibra óptica - Parte 2: Determinación de la transmitancia espectral de guías de luz; Texto en alemán e inglés.
  • DIN EN 15079:2015-07 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica por chispa (S-OES); Versión alemana EN 15079:2015
  • DIN IEC 62484:2014 Instrumentación de protección radiológica: monitores de portal basados en espectroscopia utilizados para la detección e identificación del tráfico ilícito de material radiactivo (IEC 62484:2010)
  • DIN 5030-1:1985-06 Medición espectral de radiación; terminología, cantidades, valores característicos
  • DIN 5030-1:2023-07 Medición espectral de radiación - Terminología, cantidades, valores característicos / Nota: Fecha de emisión 2023-05-26*Previsto como reemplazo de DIN 5030-1 (1985-06).
  • DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
  • DIN 58141-2:1989
  • DIN 5030-1:1985 Medición espectral de radiación; terminología, cantidades, valores característicos

International Commission on Illumination (CIE), Espectro de reflectancia espectral

  • CIE 63-1984 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz (E)
  • CIE 151-2003 PONDERACIÓN ESPECTRAL DE LA RADIACIÓN SOLAR ULTRAVIOLETA
  • CIE 105-1993 Espectrorradiometría de fuentes de radiación óptica pulsada (1.ª edición) (E)
  • CIE 64-1984 Determinación de la capacidad de respuesta espectral de los detectores de radiación óptica (E)
  • CIE 202-2011 MEDICIÓN DE RESPONSABILIDAD ESPECTRAL DE DETECTORES, RADIÓMETROS Y FOTÓMETROS
  • CIE 85-1989 Irradiancia espectral solar (1.ª edición) (E)

Group Standards of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • T/ZZB 2793-2022 Medidor de radiancia espectral
  • T/CSTM 00313-2021 Método de prueba de constantes ópticas para películas delgadas ópticas basado en el método espectrofotométrico.
  • T/CAIA SH003-2015 Arroz -Determinación de cadmio-¿Método de espectrometría de fluorescencia de rayos X?
  • T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
  • T/GZTPA 0005-2020 Determinación de los principales componentes químicos del té verde de Guizhou mediante espectroscopía de reflectancia difusa del infrarrojo cercano
  • T/CACE 064-2022 Determinación de composiciones de escoria de gasificación de carbón: método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • T/GZTSS 1-2021 Método para la determinación de los componentes de teanina y teobromina en el té mediante espectroscopía de reflectancia difusa en el infrarrojo cercano
  • T/QGCML 1522-2023 Espectrómetro de microfibra FLA
  • T/SZFAA 01-2018 Especificación de parámetros espectrales de fuentes de radiación artificiales para plantas
  • T/ZZB 0673-2018 espectrómetro de emisión
  • T/ZZB 0244-2017 Medidor de irradiancia espectral
  • T/CSTM 00197-2021 Puntos cuánticos de grafeno. Determinación de la eficiencia cuántica de fluorescencia relativa para la emisión azul. Espectroscopia de fluorescencia molecular.

International Telecommunication Union (ITU), Espectro de reflectancia espectral

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Espectro de reflectancia espectral

Association Francaise de Normalisation, Espectro de reflectancia espectral

  • NF S10-114*NF EN ISO 13697:2006 Óptica y fonótica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la reflectancia y transmitancia especular de componentes de láseres ópticos.
  • NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
  • NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF A07-510X2:1975 ANÁLISIS DE ALUMINIO NO ALADO MEDIANTE ESPECTROGRAFÍA DE EMISIÓN.
  • NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
  • NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • NF A07-510:1971 Análisis de aluminio no aleado mediante espectrografía de emisión.
  • NF A07-515:1971 Análisis de aleaciones de aluminio y cobre mediante espectrografía de emisión.
  • NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
  • NF S11-700*NF ISO 20473:2007 Óptica y fotónica - Bandas espectrales.
  • NF ISO 20473:2007 Óptica y fotónica - Bandas espectrales
  • NF B30-111*NF ISO 1776:1986 Vaso. Resistencia al ataque del ácido clorhídrico a 100 grados centígrados. Método espectrométrico de emisión de llama o absorción atómica de llama.
  • NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
  • NF A07-500:1979 Análisis del aluminio y sus aleaciones mediante espectrometría de emisión.
  • NF P98-527:1991 Señales de tráfico por carretera. Recubrimientos retrorreflectantes. Método de medición del coeficiente de retrorreflexión utilizando un retrorreflectómetro portátil.
  • NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
  • NF EN 15079:2015 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica por chispa (SEO-E)
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica: métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos
  • NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica - Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos con planos paralelos
  • NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
  • NF T46-054*NF ISO 4650:2013 Caucho - Identificación - Métodos espectrométricos infrarrojos
  • NF C93-804-1*NF EN 61746-1:2014 Calibración de reflectómetros ópticos en el dominio del tiempo (OTDR) - Parte 1: OTDR para fibras monomodo
  • NF ISO 14707:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente - Introducción a su uso
  • NF M60-302:1996 DESPERDICIAR. MEDIDAS NO DESTRUCTIVAS POR ESPECTROMETRÍA GAMMA. MEDICIONES NO DESTRUCTIVAS DE ESPECTROMETRIA GAMMA DE LA ACTIVIDAD DE RADIONUCLIDOS EN RESIDUOS ENVASADOS PARA FINES DE CARACTERIZACIÓN E INSPECCIÓN.
  • NF V03-002*NF EN 1786:1997 Productos alimenticios. Detección de alimentos irradiados que contienen hueso. Método por espectroscopia ESR.
  • NF X43-275:2002 Calidad del aire - Air des lieux de travail - Dosage d'éléments présents dans l'air des lieux de travail par spectrométrie atomique
  • NF A11-103:1977 Análisis químico del ferroniobio. Determinación de niobio mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • NF ISO 16795:2006 Energía nuclear - Determinación de Gd2O3 en pastillas de combustible de gadolinio mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • NF X21-053*NF ISO 14707:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectro de reflectancia espectral

  • KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia -Método del analizador de espectro óptico
  • KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia -Método del analizador de espectro óptico
  • KS D 1655-2008 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1898-2009 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
  • KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
  • KS D 2086-2004 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • KS D 1686-2011 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
  • KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
  • KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
  • KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS B ISO 8599:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
  • KS B ISO 8599:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • KS D 2597-1996 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
  • KS D 1654-2003 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS D 2518-2015(2020) Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
  • KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
  • KS D 1650-1993 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
  • KS L 2014-2010 Vidrio reflectante solar
  • KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
  • KS D 1650-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
  • KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
  • KS D 1899-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
  • KS D 1929-2019 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • KS D 1929-2004 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • KS D 2597-1996(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
  • KS D 1681-2003 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS D 1684-2008 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 1682-2008 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
  • KS D 1681-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS D 2086-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de titanio.
  • KS D 1684-2008(2018) Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
  • KS D 2086-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • KS C 7515-2003 Lámparas reflectoras
  • KS D 1852-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS L 3316-2009 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios.
  • KS E 3075-2002 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
  • KS D 1852-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS D 1852-2020 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • KS D 1655-2008(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
  • KS D 1899-2003 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de cobre de cátodo electrolítico.
  • KS D 1683-1993 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
  • KS D 1681-2018 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • KS M 0032-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión ICP
  • KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificadores de fibra óptica. Parte 5-3: Método de prueba para parámetros de reflexión. Método de prueba para tolerancia a la reflexión utilizando un analizador de espectro eléctrico.
  • KS C IEC 61746:2009 Calibración de reflectómetros ópticos en el dominio del tiempo (OTDR)
  • KS C IEC 61746:2013 Calibración de reflectómetros ópticos en el dominio del tiempo (OTDR)
  • KS D ISO 3815-1:2006 Zinc y aleaciones de zinc-Parte 1: Análisis de muestras sólidas mediante espectrometría de emisión óptica
  • KS M ISO 6955:2011 Métodos espectroscópicos analíticos-Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica-Vocabulario
  • KS E 3075-2017 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
  • KS D 1686-2011(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • KS E 3075-2022 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
  • KS D 1685-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de zinc metálico.
  • KS D 1658-1993 Análisis espectroscópico de emisiones para acero al carbono y acero de baja aleación.
  • KS D 1658-2003(2016) Análisis espectroscópico de emisiones para acero al carbono y acero de baja aleación.
  • KS D 1687-2007 Análisis espectroscópico de emisión de arrabio y hierro fundido.
  • KS D 1683-2004 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
  • KS D 1673-2007 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de plasma acoplado inductivamente de acero.
  • KS M ISO 6955-2016(2021) Métodos espectroscópicos analíticos-Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica-Vocabulario
  • KS M ISO 6955:2016 Métodos espectroscópicos analíticos-Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica-Vocabulario
  • KS M 0028-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión de luz.

International Electrotechnical Commission (IEC), Espectro de reflectancia espectral

  • IEC 61976:2000 Instrumentación nuclear - Espectrometría - Caracterización del fondo espectral en espectrometría de rayos gamma nuclear HPGe
  • IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • IEC 60904-8:1995 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 8: Guía para la medición de la respuesta espectral de un dispositivo fotovoltaico (PV)
  • IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
  • IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
  • IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Parte 5-15: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia
  • IEC 61746-1:2009 Calibración de reflectómetros ópticos en el dominio del tiempo (OTDR) - Parte 1: OTDR para fibras monomodo

RO-ASRO, Espectro de reflectancia espectral

Illuminating Engineering Society of North America, Espectro de reflectancia espectral

  • IESNA LM-58-1994 Guía de mediciones espectrorradiométricas
  • IESNA LM-58-2013 Método aprobado para métodos de medición espectroradiométrica de fuentes de luz

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Espectro de reflectancia espectral

  • YS/T 631-2007 Métodos de análisis del zinc. La espectrometría de emisión óptica.
  • YS/T 558-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
  • YS/T 559-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
  • YS/T 558-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de molibdeno
  • YS/T 559-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de tungsteno
  • YS/T 482-2005 Métodos de análisis de cobre y aleaciones de cobre. La espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 1036-2015
  • YS/T 568.9-2006 Determinación de la cantidad de circonio en óxido de hafnio (espectrometría de fluorescencia de rayos X)
  • YS/T 361-2006 Determinación de trazas de impurezas en platino puro mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 362-2006 Determinación de trazas de impurezas en paladio de pureza mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 363-2006 Determinación de trazas de impurezas en rodio puro mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 364-2006 Determinación de trazas de impurezas en iridio de pureza mediante espectrometría de emisión atómica.
  • YS/T 361-1994 Análisis espectral de emisión de elementos de impureza en platino puro
  • YS/T 362-1994 Análisis del espectro de emisión de elementos impurezas en paladio puro.
  • YS/T 363-1994 Análisis del espectro de emisión de elementos impurezas en rodio puro.
  • YS/T 364-1994 Análisis espectral de emisión de elementos impuros en iridio puro

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectro de reflectancia espectral

  • JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS K 0119:1997 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS K 0119:2008 Reglas generales para el análisis de fluorescencia de rayos X.
  • JIS C 7525:1992 Lámparas reflectoras
  • JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • JIS R 1698:2015 Medición de la reflectancia espectral de películas delgadas de cerámica fina en condiciones húmedas.
  • JIS H 1305:2005 Método para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
  • JIS H 1183:2007 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
  • JIS H 1123:1995 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
  • JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
  • JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
  • JIS K 0116:2003 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
  • JIS K 0116:2014 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
  • JIS H 1163:1991 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • JIS H 1292:1997 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 Hierro y acero. Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 2)
  • JIS H 1113:2022 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del zinc metálico.
  • JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
  • JIS H 1103:1995 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cobre de cátodo electrolítico.
  • JIS H 1560:2016 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aleaciones de zinc fundidas a presión.
  • JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • JIS G 1202:1975 Normas generales sobre análisis espectroscópico de emisiones para el hierro y el acero
  • JIS B 7081:2017 Óptica y fotónica - Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos
  • JIS B 7079:2015 Óptica y fotónica -- Bandas espectrales
  • JIS C 6122-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica. Métodos de prueba. Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba del analizador de espectro óptico.
  • JIS H 1305:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de aluminio y aleaciones de aluminio.
  • JIS H 1303:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
  • JIS H 1322:1976 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de magnesio.
  • JIS R 2216:1995 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos refractarios y morteros refractarios.
  • JIS Z 2611:1977 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos.
  • JIS H 1183 AMD 1:2012 Método de análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata (Enmienda 1)
  • JIS G 1251:1976 Análisis espectroscópico de emisión de arrabio y hierro fundido.

ZA-SANS, Espectro de reflectancia espectral

  • SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • SANS 513:2005 Retrorreflectores (reflectores réflex)

Danish Standards Foundation, Espectro de reflectancia espectral

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectro de reflectancia espectral

  • GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • GB/T 16597-2019 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 38257-2019 Espectroscopia de ruptura inducida por láser

Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB12/T 955-2020 Determinación de nitrógeno y fósforo en agua de estiércol de granjas lecheras mediante espectrometría de reflectancia difusa del infrarrojo cercano
  • DB12/T 1015-2020 Determinación de nitrógeno y fósforo en agua de estiércol de granjas lecheras Espectrometría de reflectancia total atenuada en infrarrojo medio

RU-GOST R, Espectro de reflectancia espectral

  • GOST 8.197-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Esquema de verificación estatal para instrumentos que miden la radiancia espectral, la potencia radiante espectral, la irradiancia espectral, la intensidad radiante espectral, la potencia y la intensidad radiante en el rango espectral.
  • GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • GOST 19834.3-1976 Emisores semiconductores. Métodos para medir la distribución relativa de energía espectral y el ancho de banda espectral.
  • GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
  • GOST 17261-2008 Zinc. Métodos de análisis espectral de emisiones atómicas.
  • GOST R 54153-2010 Acero. Método de análisis espectral de emisiones atómicas.
  • GOST 27981.3-1988 Cobre de alta pureza. Método de análisis espectral de emisión con registro fotoeléctrico del espectro / Nota: Será reemplazado por GOST 31382 (2009).
  • GOST R 53203-2008 Productos derivados del petróleo. Determinación de azufre mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GOST 6012-2011 Níquel. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 8776-2010 Cobalto. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 6012-1978 Níquel. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 33850-2016 Suelos. Determinación de la composición química mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • GOST 9717.2-1982 Cobre. Método de análisis espectral de muestras metálicas estándar con registro fotográfico del espectro.
  • GOST 21195-1984 Fuentes espectrales de radiación óptica de descarga de gas de alta intensidad. Especificaciones generales
  • GOST 8776-1999 Cobalto. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
  • GOST 16274.8-1977 Bismuto. Métodos espectrales de análisis.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Espectro de reflectancia espectral

  • YB/T 4177-2008 Determinación de la composición química en ciervos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.

国家能源局, Espectro de reflectancia espectral

  • SY/T 7420-2018 Especificaciones de registro de elementos de espectroscopia de fluorescencia de rayos X
  • SY/T 7657.2-2021 Determinación de gas natural mediante el método combinado espectroscopia fotoacústica-espectroscopia infrarroja-pila de combustible Parte 2: Determinación del contenido de metano mediante espectroscopia fotoacústica

International Organization for Standardization (ISO), Espectro de reflectancia espectral

  • ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
  • ISO/CD 23698 Cosméticos Métodos de prueba de protección solar: medición de la eficacia de la protección solar mediante espectroscopía de reflectancia difusa
  • ISO 8599:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
  • ISO 8478:2017 Óptica y fotónica - Lentes para cámaras - Medición de la transmitancia espectral ISO
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 20473:2007 Óptica y fotónica - Bandas espectrales
  • ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • ISO/TR 16043:2015 Minerales de hierro - Determinación del contenido de cloro - Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
  • ISO 8478:1996 Fotografía - Lentes de cámaras - Medición de la transmitancia espectral ISO

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectro de reflectancia espectral

  • DB63/T 1678-2018 Determinación de pigmentos minerales en espectrometría de fluorescencia de rayos X thangka (espectroscopia de energía)

Professional Standard - Commodity Inspection, Espectro de reflectancia espectral

  • SN/T 2785-2011 Análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de zinc y aleaciones de zinc.
  • SN/T 2786-2011 Análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de magnesio y aleaciones de magnesio.
  • SN/T 4020-2013 Determinación del contenido de elementos de impureza en hierro puro. Espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 2260-2010 Determinación de compuestos químicos del cátodo de cobre-Método espectroscópico de emisión fotoeléctrica.
  • SN/T 2489-2010 Determinación del contenido de Cr, Mn, P, Si en hierro fundido: método espectroscópico de emisión fotoeléctrica
  • SN/T 2764-2011 Determinación de múltiples componentes en fluorita mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 3231-2012 Determinación de amianto en talco. Microscopio de luz polarizada y método de difracción de rayos X.
  • SN/T 2079-2008 Método para el análisis de aceros inoxidables y aleados.Espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • SN/T 3712-2013
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