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electrónica de escaneo pequeña

electrónica de escaneo pequeña, Total: 361 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en electrónica de escaneo pequeña son: Equipo óptico, Química analítica, Fotografía, Óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Equipo medico, Educación, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., tubos electronicos, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Equipos de interfaz e interconexión., Medidas lineales y angulares., Física. Química, Dispositivos de almacenamiento de datos, Tratamiento superficial y revestimiento., Aplicaciones de imágenes de documentos, Sistemas de microprocesador, Cinematografía, Fibras textiles, Materiales de construcción, Calidad del aire, Sistemas de vehículos de carretera, Metrología y medición en general., Transformadores. reactores, Productos de hierro y acero., Componentes para equipos eléctricos., Cerámica, Materiales para la construcción aeroespacial., Filtros electricos, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Sistemas de turbinas eólicas y otras fuentes alternativas de energía., Accesorios electricos, Sistemas de automatización industrial, Ingredientes de pintura, Construcción naval y estructuras marinas en general, Pequeña embarcación, Maquinaria rotativa, Pilas y baterías galvánicas..

Professional Standard - Education, electrónica de escaneo pequeña

JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), electrónica de escaneo pequeña

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 7542:1993 Dimensiones de la película fotográfica para uso en escáner electrónico.
JIS T 1507:1989 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal electrónico.
JIS B 7206:1972 Películas de prueba de uniformidad de iluminación del haz de exploración de películas cinematográficas de 35 mm, tipo laboratorio
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS T 61675-1:2016 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, electrónica de escaneo pequeña

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.

International Organization for Standardization (ISO), electrónica de escaneo pequeña

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 11312:1993 Fotografía; dimensiones de la película; película para uso en escáner electrónico
ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 16067-1:2003 Fotografía - Mediciones de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 12653-1:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 1: Características
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 12653-2:2000/cor 1:2002 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 2: Método de uso; Corrigendum técnico 1
ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
ISO 13083:2015
ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.
ISO 25197:2012 Embarcaciones pequeñas: sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambio y aceleración.
ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Professional Standard - Chemical Industry, electrónica de escaneo pequeña

HG/T 3640-1999 Fotografía. Dimensión de la película. Película para uso en escáner electrónico.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, electrónica de escaneo pequeña

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 11341-2013 Máquina entrelazadora de bobinas colgantes de estator para máquinas eléctricas de pequeño tamaño
JB/T 11342-2013 Máquina formadora de bobinas colgantes de estator para máquinas eléctricas de pequeño tamaño
JB/T 10487-2013 Máquina bobinadora de bobina de estator para máquina eléctrica de pequeño tamaño
JB/T 8477.1-1996 Flasher electrónico sincronizado de tipo pequeño para fines fotográficos en estudio

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), electrónica de escaneo pequeña

KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS A ISO 16067-2:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de películas
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS A ISO 16067-1:2005 Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografía－Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
KS X ISO/IEC 15780:2013 Tecnología de la información－Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho－Grabación de escaneo helicoidal－AIT－1 formato
KS A ISO 21550:2005 Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medidas de rango dinámico
KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medidas de rango dinámico
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS X ISO 12653-1-2007(2017) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 1:Características
KS X ISO 12653-1-2007(2022) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 1:Características
KS X ISO 12653-1:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
KS C IEC TR 61948-3:2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
KS C IEC TR 61948-3:2017 Instrumentación de medicina nuclear ─ Pruebas de rutina ─ Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
KS X ISO 12653-2-2007(2022) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 2: Método de uso
KS X ISO 12653-2-2007(2017) Imágenes electrónicas－Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina－Parte 2: Método de uso
KS C 6308-2002 Transformador de potencia para equipos electrónicos.
KS X ISO 12653-2:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 2:Método de uso
KS C 8056-2-2005 Baterías de plomo-ácido selladas de tamaño pequeño (tipos regulados por válvula) －Parte 2: Dimensiones, terminales y marcado

British Standards Institution (BSI), electrónica de escaneo pequeña

BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 16067-1:2003 Fotografía. Mediciones de resolución espacial para escáneres electrónicos de imágenes fotográficas. Escáneres para medios reflectantes
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
BS ISO 12653-1:2000 Imagen electrónica - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Características
BS ISO 12653-1:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina. Características
BS EN 61077:1992 Especificación para el sistema de casete de cinta de vídeo con escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 12,65 mm (0,5 pulg.) en el tipo VHS: casete de vídeo VHS compacto
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Método de uso
BS ISO 12653-2:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de Office. Metodo de uso
PD IEC/TR 61948-3:2018 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Tomógrafos por emisión de positrones
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
BS ISO 12653-3:2014 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS EN IEC 61675-1:2022 Cambios rastreados. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Tomógrafos por emisión de positrones
BS ISO 14535:2001 Fotografía - Paquetes de carga con luz ambiental para escáneres electrónicos y rollos de película y papel para configuración de imágenes - Dimensiones y requisitos relacionados
BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS EN 50090-6-2:2021 Sistemas electrónicos para el hogar y la construcción (HBES): descripción del modelo de ontología semántica de IoT
BS EN ISO 25197:2012 Pequeña embarcación. Sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambio y aceleración.
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
20/30423980 DC BS EN IEC 61675-1. Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1. Tomógrafos por emisión de positrones
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

KR-KS, electrónica de escaneo pequeña

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS C IEC TR 61948-3-2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
GB/T 17575-1998 Sistema de casete de cinta de vídeo con escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 12,65 mm en casete de vídeo VHS compacto tipo VHS
GB/T 17359-1998
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 20493.1-2006 Prueba de imagen electrónica Traget para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
GB/T 43196-2023 Microscopía electrónica de barrido con nanotecnología para medir el tamaño y la distribución de la forma de las nanopartículas
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 20493.2-2006
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/T 32869-2016 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

American Society for Testing and Materials (ASTM), electrónica de escaneo pequeña

ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14e1
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM D8231-19 Práctica estándar para el uso de un sistema de escaneo electrónico de bajo voltaje para detectar y localizar grietas en membranas impermeabilizantes y para techos
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM F1372-93(2012)
ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía

Association Francaise de Normalisation, electrónica de escaneo pequeña

NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF Z42-010-1:1992 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - parte 1:Subcontratación de escaneo - Guía de instrucciones técnicas detalladas para oficinas
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
XP ISO/TS 23625:2021 Barcos pequeños - Baterías de iones de litio
NF Z42-010-2:1993 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - Parte 2: Adquisición de sistemas electrónicos de gestión de imágenes - Directrices para una solicitud de propuestas
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
NF EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: tomógrafos por emisión de positrones.
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
NF J95-019:2013 Embarcaciones pequeñas: sistema de control eléctrico/electrónico para dirección, cambio y aceleración.
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: método de microscopía electrónica de barrido.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

CNS 14197-1998 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal eléctrico.

RU-GOST R, electrónica de escaneo pequeña

GOST 19438.21-1979 Válvulas y válvulas electrónicas de baja potencia para cascadas de salida de escaneo de líneas de TV. Métodos de medición de parámetros eléctricos y prueba de tiempo de servicio.
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 56109-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafos por emisión de positrones junto con equipos de rayos X para tomografía computarizada. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R 56108-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafo por emisión de positrones. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 56123-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomografías computarizadas por emisión de fotón único. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 2. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único

Professional Standard - Petroleum, electrónica de escaneo pequeña

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, electrónica de escaneo pequeña

NEMA NU 2-2012 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones
NEMA NU 2-2018 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones (PET)

国家能源局, electrónica de escaneo pequeña

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
NB/T 42161-2018 Condiciones técnicas del controlador electrónico de carga para unidades microhidrogeneradoras.

Professional Standard - Judicatory, electrónica de escaneo pequeña

SF/T 0139-2023

Group Standards of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

T/QGCML 1940-2023
T/SAS 0003-2018 Cristales de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
T/CIRA 42-2022 Método de detección de uniformidad de escaneo de haz de acelerador de electrones para varillas de aluminio utilizadas en el procesamiento de radiación
T/SAME 004-2021 Especificación del servicio de gestión de mantenimiento y mantenimiento de tomografía computarizada (TC) de rayos X
T/CAB 0084-2021 Especificación técnica de un sistema de electrólisis de agua con membrana de intercambio de protones de tamaño pequeño para la producción de hidrógeno
T/DJPEC 0005-2019 Procedimientos de inspección para piezas compradas de pequeños equipos electrónicos comerciales.
T/SDMTGM 0009-2021 Condición técnica para el conjunto de equipos de fabricación de devanados de estator de tamaño pequeño y mediano.

BE-NBN, electrónica de escaneo pequeña

NBN-EN 61077-1994 Sistema de casete de cinta de vídeo Helican-scan que utiliza cinta magnética de 12,65 mm (0,5 in) en tipo VHS - Cinta de vídeo VHS compacta
NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

American National Standards Institute （ANSI), electrónica de escaneo pequeña

ANSI/IEEE 1149.7:2009 Estándar para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y clavija reducida
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), electrónica de escaneo pequeña

SMPTE 16M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada - Registros
SMPTE ST 16M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada - Registros
SMPTE RP 86-1991 Parámetros de grabación de vídeo para grabación en cinta de televisión con barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada
SMPTE 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
SMPTE ST 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
SMPTE 17M-1998 Grabación analógica de televisión - Exploración helicoidal tipo B de 1 pulgada - Respuesta de frecuencia y nivel de funcionamiento
SMPTE ST 17M-1998 Grabación analógica de televisión - Exploración helicoidal tipo B de 1 pulgada - Respuesta de frecuencia y nivel de funcionamiento
SMPTE RP 69-2002 Especificaciones para la película de prueba de uniformidad del haz de escaneo para reproductores de audio cinematográfico de 35 mm
SMPTE RP 85-1999 Registro de control de seguimiento para grabación en cinta de televisión con escaneo helicoidal tipo C de 1 pulgada
SMPTE RP 83-1996 Especificaciones del registro de control de seguimiento para grabación analógica de televisión con escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada
SMPTE RP 84-1996 Frecuencias portadoras de referencia y características de preénfasis para grabación analógica de televisión con barrido helicoidal tipo B de 1 pulgada
SMPTE EG 24-1995 Cintas y procedimientos de alineación de vídeo y audio para grabadores analógicos de televisión de barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, electrónica de escaneo pequeña

GB/T 39867-2021 Cristal de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
GB/T 40826-2021 Método de prueba para disponer manualmente la longitud de las grapas de cachemira depilada: método de escáner de superficie plana
GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 20493.3-2018 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para escanear documentos de oficina. Parte 3: objetivo de prueba para uso en aplicaciones de menor resolución.

PT-IPQ, electrónica de escaneo pequeña

NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

Association for Information and Image Management (AIIM), electrónica de escaneo pequeña

AIIM MS58-1996 Práctica estándar recomendada para la implementación de la interfaz de sistemas informáticos pequeños (SCSI-2), (X3.131-1994) para escáneres

SE-SIS, electrónica de escaneo pequeña

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
SIS SEN 01 01-1954 BETECKNINGAR F?R STORHETER OCH M?TTENHETER INOM ELEKTROTEKNIKEN

European Committee for Standardization (CEN), electrónica de escaneo pequeña

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
EN ISO 25197:2020/A11:2023 Embarcaciones pequeñas: sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambio y aceleración.

Danish Standards Foundation, electrónica de escaneo pequeña

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/IEC/TR 61948-3:2006
DS/EN 60774-1:2008
DS/EN 61675-1/A1:2008
DS/EN 61675-1:1998
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

Professional Standard - Military and Civilian Products, electrónica de escaneo pequeña

WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

German Institute for Standardization, electrónica de escaneo pequeña

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN 6855-4:2016-11 Pruebas de constancia de instrumentos de medicina nuclear - Parte 4: Tomógrafos por emisión de positrones (PET)
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN 6871-1:2003-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones. Parte 1: Requisitos para la protección radiológica de la construcción.
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN 6855-2:2013-01 Pruebas de constancia de sistemas de medición de medicina nuclear. Parte 2: Cámaras gamma de cristal único utilizadas en gammagrafía plana y cámaras gamma de tipo ira con cabezales detectores giratorios utilizadas en tomografía por emisión de fotón único.
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN 14664:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
DIN 6871-2:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
DIN EN 14437:2005-02 Sistemas de ciclotrón para tomografía por emisión de positrones - Parte 2: Laberintos de protección radiológica y entradas a las paredes
DIN EN IEC 61675-1:2022-12 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 61675-1:2022); Versión alemana EN IEC 61675-1:2022
DIN EN ISO 25197:2023-02 Embarcaciones pequeñas: sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambios y aceleración (ISO 25197:2020 + Amd 1:2022); Versión alemana EN ISO 25197:2020 + A1:2022

Professional Standard - Public Safety Standards, electrónica de escaneo pequeña

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

US-FCR, electrónica de escaneo pequeña

FCR 21 CFR PART 212-2015 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
FCR 21 CFR PART 212-2013 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
FCR 21 CFR PART 212-2014 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

DB15/T 1341-2018 Especificación para la calibración del escáner electrónico para la tabla de longitud de fila de mano de cachemira cardada
DB15/T 981-2016 Método de prueba de longitud de fila de mano de cachemira cardada método de escáner electrónico de tablero de dibujo

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

ES-UNE, electrónica de escaneo pequeña

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-CEN ISO/TS 23625:2022 Pequeñas embarcaciones - Baterías de iones de litio (ISO/TS 23625:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
UNE-EN 61675-1:2014 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de ensayo - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por AENOR en agosto de 2014.)
UNE-EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos - Características y condiciones de prueba - Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2022.)
UNE-EN ISO 25197:2020 Embarcaciones pequeñas. Sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambio y aceleración (ISO 25197:2020)
UNE-EN ISO 25197:2020/A11:2023 Embarcaciones pequeñas: sistemas de control eléctricos/electrónicos para dirección, cambio y aceleración.

Professional Standard - Electron, electrónica de escaneo pequeña

SJ/T 11008-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de línea y campo CD11235CP
SJ/T 10987-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de campo magnético CD5435CP
SJ/T 11087-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de procesamiento de crominancia y barrido horizontal y vertical CD7698CP
SJ/T 10784-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de barrido horizontal y vertical CD7609CP (Aplicable para certificación)
SJ 2348-1983 Especificaciones generales para minicomputadoras.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, electrónica de escaneo pequeña

EN 61077:1991 Sistema de casete de cinta de vídeo con escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 12,65 mm (O,5 in) en casete VHS compacto tipo VHS
EN IEC 61675-1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

Lithuanian Standards Office , electrónica de escaneo pequeña

LST EN 61077-2001 Sistema de casete de cinta de vídeo con escaneo helicoidal que utiliza cinta magnética de 12,65 mm (0,5 in) en formato VHS. Vídeocasete compacto VHS (IEC 61077:1991)
LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
LST EN 60774-1-2001 Sistema de casete de cinta de vídeo Helican-scan que utiliza cinta magnética de 12,65 mm (0,5 in) en formato VHS. Parte 1: VHS y sistema compacto de videocasetes VHS (IEC 60774-1:1994)
LST EN 61675-1-2001 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos de emisión de positrones (IEC 61675-1:1998)
LST EN 61675-1-2001/A1-2008 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones (IEC 61675-1:1998/A1:2008)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

AENOR, electrónica de escaneo pequeña

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

PL-PKN, electrónica de escaneo pequeña

PN T80258-1963 Equipo electrónico Tomas subminiatura
PN T80252-1963 Equipo electrónico. ¿Miniatura de 9 pines? ¿bañera? enchufes
PN T06405-1960 Tubos electrónicos. ¿Pequeño botón en miniatura? Base de 7 pines. Dimensiones
PN T06402-1971 Gbes electrónicos Pequeño bulón Nowal Base de 9 pines Dimensiones
PN T06421-1960 Tubos electrónicos con botón pequeño en miniatura. Base de 7 pines. Dimensiones principales

AT-ON, electrónica de escaneo pequeña

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Indonesia Standards, electrónica de escaneo pequeña

SNI IEC/TR 61948-3:2012 Instrumentación de medicina nuclear - Pruebas de rutina - Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones
SNI 04-1930-1990 Guía de aparatos electromecánicos para Central Eléctrica Minihidro. Parte 1: Descripción de la planificación y condiciones operativas de la instalación de la estación generadora.

ZA-SANS, electrónica de escaneo pequeña

SANS 12653-1:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características
SANS 12653-2:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 2: Método de uso

未注明发布机构, electrónica de escaneo pequeña

BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
DIN EN IEC 61675-1:2022 Sistemas de imágenes en medicina nuclear – características y condiciones de prueba – Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones

YU-JUS, electrónica de escaneo pequeña

JUS N.R1.042-1977 Tubos electrónicos. Contornos en miniatura de 10 pines.
JUS N.R1.041-1977 Tubos electrónicos. Medidor de base miniatura de 10 pines.
JUS N.R1.040-1977 Tubos electrónicos. Base miniatura de 10 pines. Dimensiones

Society of Automotive Engineers (SAE), electrónica de escaneo pequeña

SAE J561-2010 Terminales eléctricos tipo ojal y pala

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, electrónica de escaneo pequeña

AIA/NAS NAS 1684-1988
AIA/NAS NAS 1453-1965 Ojal, Metálico, Eléctrico, Placa de Circuito Impreso, Tipo Embudo
AIA/NAS NAS 1788-1992 Ojal, metálico, eléctrico, tipo brida laminada Rev. 2
AIA/NAS NAS 1723-1992 Ojal, metálico, eléctrico, tipo brida laminada (Rev. 1)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, electrónica de escaneo pequeña

DB44/T 1833-2016 Objetivo de prueba de escaneo de documentos de oficina de imágenes electrónicas objetivo de prueba de baja resolución
DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.
DB44/T 1215-2013 Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de energía

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), electrónica de escaneo pequeña

SMPTE ST 16:1998 ST 16:1998 - Estándar SMPTE - Para grabación analógica de televisión - Exploración helicoidal tipo B de 1 pulgada - Registros
IEEE 1499-1998 Interfaz para modelos de descripción de hardware de componentes electrónicos.
IEEE Std 1499-1998 Interfaz estándar IEEE para modelos de descripción de hardware de componentes electrónicos
SMPTE ST 17:1998 ST 17:1998 - Estándar SMPTE - Para grabación analógica de televisión - Exploración helicoidal tipo B de 1 pulgada - Respuesta de frecuencia y nivel de funcionamiento
SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 - Estándar SMPTE - Para grabación analógica de televisión - Escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada - Parámetros básicos del sistema
SMPTE RP 86:1991 RP 86:1991 - Práctica recomendada SMPTE - Parámetros de grabación de vídeo para grabación en cinta de televisión con barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada
SMPTE RP 85:1999 RP 85:1999 - Práctica recomendada SMPTE - Registro de control de seguimiento para grabación en cinta de televisión con escaneo helicoidal tipo C de 1 pulgada

Association of German Mechanical Engineers, electrónica de escaneo pequeña

VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, electrónica de escaneo pequeña

ECA 380-A-1978 Conectores eléctricos, estándar de contacto pequeño para

Defense Logistics Agency, electrónica de escaneo pequeña

DLA SMD-5962-90649 REV B-1995 MICROCIRCUITO, LINEAL, BAJO RUIDO, 8.° ORDEN, FILTRO DE PASO BAJO CAUER BARRIDO POR RELOJ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, ENLAZADORES DE RUTA DE ESCANEO CON BUS ID DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO

United States Navy, electrónica de escaneo pequeña

NAVY MS91404 REV D NOTICE 1-1996 BASES DE MONTAJE DE PEQUEÑO TAMAÑO (PARA USO CON EQUIPOS ELECTRÓNICOS EN AERONAVES)
NAVY MS91404 REV D-1966 BASES DE MONTAJE DE PEQUEÑO TAMAÑO (PARA USO CON EQUIPOS ELECTRÓNICOS EN AERONAVES)
NAVY MS91405 REV E NOTICE 1-1996 BASES DE MONTAJE DE GRAN TAMAÑO (PARA USO CON EQUIPOS ELECTRÓNICOS EN AERONAVES)
NAVY MS91405 REV E-1966 BASES DE MONTAJE DE GRAN TAMAÑO (PARA USO CON EQUIPOS ELECTRÓNICOS EN AERONAVES)

Professional Standard - Commodity Inspection, electrónica de escaneo pequeña

SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

GOSTR, electrónica de escaneo pequeña

GOST R ISO 10360-4-2017 Especificaciones geométricas del producto. Ensayos de aceptación y reverificación de máquinas de medición por coordenadas. Máquinas de medición de coordenadas utilizadas en modo de escaneo
PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Standard Association of Australia （SAA）, electrónica de escaneo pequeña

AS/NZS IEC 61675.1:2022 Dispositivos de obtención de imágenes con radionúclidos. Características y condiciones de prueba. Parte 1: Tomógrafos por emisión de positrones.

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