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Cómo probar la fotocorriente

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo probar la fotocorriente son: Pruebas ambientales, Herramientas de máquina, Comunicaciones de fibra óptica., Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales de construcción, pruebas de metales, Equipo de proteccion, tubos electronicos, Compatibilidad electromagnética (CEM), Sistemas de vehículos de carretera, Lámparas y equipos relacionados., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Óptica y medidas ópticas., ingenieria electrica en general, Componentes electrónicos en general., Circuitos integrados. Microelectrónica, Celdas de combustible, Pilas y baterías galvánicas., Edificios, estructuras e instalaciones agrícolas., Motores de combustión interna para vehículos de carretera., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos e instrumentos a bordo., ingeniería de energía solar, Calidad del agua, Dispositivos semiconductores, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Pruebas no destructivas, Materiales para la construcción aeroespacial., Geología. Meteorología. Hidrología, Tratamiento superficial y revestimiento., Aparamenta y control, Circuitos impresos y placas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Materiales semiconductores, Transformadores. reactores, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Productos de caucho y plástico., Residuos, Química analítica, Equipos terminales de telecomunicaciones, Tecnología de la información (TI) en general, Pinturas y barnices, Medición del flujo de fluido., Vocabularios, Mediciones de radiación, Equipo medico, Alambres y cables eléctricos., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Materiales magnéticos, Productos de hierro y acero., Fibras textiles, Materiales aislantes, ingeniería de energía nuclear, Fluidos aislantes, Sistemas de turbinas eólicas y otras fuentes alternativas de energía., Frutas. Verduras, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Maquinaria rotativa, Vaso, Quemadores. Calderas, Terminología (principios y coordinación), Pruebas eléctricas y electrónicas., Productos de metales no ferrosos..

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo probar la fotocorriente

KS C 0286-2002(2012) PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS AMBIENTALES PARTE 2: PRUEBAS MONTAJE DE COMPONENTES, EQUIPOS Y OTROS ARTÍCULOS PARA PRUEBAS DTNAMICAS INCLUYENDO CHOQUE (Ea), GOLPES (Eb), VIBRACIÓN (Fc Y Fd) Y ACELERACIÓN EN ESTADO ESTACIONARIO
KS C IEC 60793-1-20:2003 Fibras ópticas－Parte 1－20：Métodos de medición y procedimientos de prueba－Geometría de la fibra
KS C IEC 60793-1-21:2003 Fibras ópticas－Parte 1－21：Métodos de medición y procedimientos de prueba－Geometría del recubrimiento
KS C 6991-2013 MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS C IEC 60793-1-20-2003(2018) Fibra óptica Parte 1-20: Método de medición de la forma de la fibra óptica y procedimiento de prueba
KS D 0265-1989 Medición de la vida útil de los portadores minoritarios en germanio mediante el método de desintegración fotoconductora.
KS C IEC 60793-1-21-2003(2018) Fibras ópticas Parte 1-21: Métodos de medición y procedimientos de prueba de la forma del revestimiento de fibra óptica
KS C 6111-2004 MÉTODOS DE PRUEBA DE CORRIENTE CRÍTICA DC DE SUPERCONDUCTORES COMPUESTOS Cu/Nb-Ti
KS C CISPR 30-2003(2018) Método de prueba sobre emisiones electromagnéticas procedentes de balastos electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.
KS D 0257-2002 Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora
KS C 8525-2005(2010) Métodos de medición de la respuesta espectral de células solares cristalinas.
KS C 6991-2001(2011) MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS B 6510-1991(2016) Métodos de prueba para válvulas de control de flujo en serie proporcional electrohidráulica
KS C IEC 60811-302:2016 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Parte 302: Ensayos eléctricos. Medición de la resistividad CC a 23 °C y 100 °C de compuestos de relleno.
KS C IEC 60811-606-2015(2020) Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Parte 606: Ensayos físicos. Métodos para determinar la densidad.
KS C IEC 60811-402:2018 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Parte 402: Ensayos varios. Ensayos de absorción de agua.
KS C 8525-2005 Métodos de medición de la respuesta espectral de células solares cristalinas.
KS C 2130-1996(2016) Método de prueba para resistencia al arco seco de alto voltaje, baja corriente y aislamiento eléctrico sólido
KS C IEC 60811-511:2018 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Parte 511: Ensayos mecánicos. Medición del índice de fluidez de compuestos de polietileno.
KS C CISPR 30-2003 Método de prueba sobre emisiones electromagnéticas procedentes de balastos electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.

Indonesia Standards, Cómo probar la fotocorriente

SNI 05-1362-1989 Rectificadoras planas con husillo horizontal, Métodos de ensayo geométricos
SNI 2527-2012 Cómo probar las propiedades hidráulicas de acuíferos confinados y no confinados utilizando el método de Jacob.
SNI 09-6522-2001 Alternadores para automóviles - Métodos de prueba
SNI 05-4006-1996 Método de examen por corrientes de Foucault para tuberías de intercambiadores de calor no ferromagnéticos instalados.

RO-ASRO, Cómo probar la fotocorriente

STAS 8972/4-1982 Hidrometría MEDICIÓN DEL AGUA CÓMO EN LOS SISTEMAS DE FLUJO A NIVEL LIBRE Método de relación de descarga por etapas (curva de clasificación)
STAS 12743/3-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS Y MÉTODOS DE MEDICIÓN Pruebas de capacidad de carga de corriente

British Standards Institution (BSI), Cómo probar la fotocorriente

BS EN IEC 60794-1-404:2022 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba eléctrica. Prueba de temperatura actual, método H4
BS EN 60793-1-20:2002 Fibras ópticas. Métodos de medición y procedimientos de prueba. Geometría de las fibras. Sección 20: Métodos de medición de la geometría de las fibras.
BS EN 60793-1-20:2014 Fibra óptica. Métodos de medición y procedimientos de prueba. Geometría de la fibra
BS EN ISO 18526-1:2020 Protección de ojos y cara. Métodos de prueba: propiedades ópticas geométricas.
BS EN 60793-1-21:2002 Fibras ópticas. Métodos de medición y procedimientos de prueba. Geometría del revestimiento. Sección 21 Geometría del revestimiento.
BS EN 2591-6315:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia a los fluidos
20/30429082 DC BS EN IEC 60794-1-404. Cables de fibra óptica. Parte 1-404. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba eléctrica. Corriente: prueba de temperatura, método H4
BS EN 2591:6315:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Resistencia a fluidos
BS EN 2591-315:1998 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Resistencia a fluidos
BS IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
BS IEC 60747-5-11:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
BS EN IEC 60794-1-215:2020 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba ambientales. Prueba de congelación externa del cable, método F15
PD ISO/TR 11146-3:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Clasificación, propagación y detalles de los métodos de prueba del haz láser intrínseco y geométrico.
BS EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Medidor de potencia óptica
BS EN IEC 60794-1-308:2023 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable. Prueba de torsión residual de la cinta, método G8
23/30464258 DC BS EN ISO 14880-4. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 4. Métodos de prueba para propiedades geométricas.
BS EN IEC 60794-1-310:2022 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable. Desmontable, método G10
BS EN IEC 60794-1-23:2019 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable.
BS EN IEC 60794-1-402:2021 Cambios rastreados. Cables de fibra óptica. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba eléctrica. Prueba de rayos (para OPGW, OPPC y OPAC), método H2
BS EN 60794-1-21:2015+A1:2020 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de pruebas mecánicas.
18/30333730 DC BS EN ISO 18526-1. Protección de ojos y cara. Métodos de prueba. Parte 1. Propiedades ópticas geométricas.
BS EN 2591-6415:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Daños en la sonda de prueba
BS EN IEC 60794-1-211:2021 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba ambientales. Contracción de la vaina, método F11
20/30414092 DC BS EN IEC 60794-1-403. Cables de Fibra Óptica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Parte 403. Métodos de prueba eléctrica. Ensayo de continuidad eléctrica de elementos metálicos de cables, método H3
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16. Dispositivos semiconductores - Parte 5-16. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de fotocorriente.
20/30414126 DC BS EN IEC 60794-1-401. Cables de fibra óptica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Parte 401. Métodos de prueba eléctrica. Prueba de cortocircuito (para OPGW, OPPC y OPAC), método H1
BS EN IEC 60794-1-305:2023 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable. Desgarro de cinta (separabilidad), Método G5
21/30431998 DC BS EN 60794-1-310. Cables de fibra óptica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Parte 310. Métodos de prueba de elementos de cable: desmontaje, Métodos G10
BS EN 2591-315:2015 Cambios rastreados. Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Resistencia a los fluidos
BS EN 60811-302:2012 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Pruebas eléctricas. Medición de la resistividad CC a 23 $0dC y 100 °C de compuestos de relleno.
BS EN IEC 60794-1-220:2022 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba ambientales. Ensayo de corrosión por niebla salina, método F20
BS EN 2591-6402:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Choque
BS EN 2591-6317:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Inflamabilidad
BS EN 2591-6403:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Vibraciones
BS EN 2591-6307:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. niebla salina
BS EN 2591:1992 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. General
22/30466943 DC BS EN 60794-1-214. Cables de fibra óptica - Parte 1-214. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba ambientales. Prueba de resistencia a los rayos UV del cable, método F14
21/30437207 DC BS EN IEC 60794-1-301. Cables de fibra óptica. Parte 1-301. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable. Prueba de flexión, método G1
18/30374521 DC BSIEC 60794-1-215. Cables de Fibra Óptica. Parte 1-215. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba ambientales. Prueba de congelación externa del cable, método F15
BS EN IEC 60794-1-401:2021 Cables de fibra óptica. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba eléctrica. Prueba de cortocircuito (para OPGW, OPPC y OPAC), método H1
20/30413501 DC BS EN IEC 60794-1-402. Cables de Fibra Óptica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Parte 402. Método de prueba de rayos para cables aéreos ópticos a lo largo de líneas eléctricas (OPGW, OPPC y OPAC), método H2
BS IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
BS 5772-3:1979 Especificación de componentes electromecánicos para equipos electrónicos: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición. Pruebas de capacidad de carga de corriente.
BS EN IEC 60794-1-219:2022 Cables de fibra óptica - Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Prueba de compatibilidad de materiales, método F19
BS EN IEC 60034-2-3:2020 Máquinas eléctricas rotativas. Métodos de prueba específicos para determinar las pérdidas y la eficiencia de motores de CA alimentados por convertidor.
BS EN 2591-205:1996 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Continuidad eléctrica de la carcasa (carcasa)
19/30400158 DC BS EN IEC 60794-1-401. Cables de fibra óptica. Parte 1-401. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba eléctrica. Prueba de cortocircuito (para OPGW y OPAC), método H1
21/30438362 DC BS EN 60794-1-312. Cables de fibra óptica. Parte 1-312. Especificación genérica. Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos. Métodos de prueba de elementos de cable. Prueba de alargamiento para tubos de protección, método G11B
17/30345518 DC BS ISO 2100-6315. Elementos aeroespaciales de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 6315. Elementos ópticos. Resistencia a los fluidos
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11. Dispositivos semiconductores. Parte 5-11. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
BS EN 3909:2016 Serie aeroespacial. Fluidos de prueba y métodos de prueba para componentes y subconjuntos eléctricos y ópticos.

Professional Standard - Electron, Cómo probar la fotocorriente

SJ 2355.3-1983 Método de medición de corriente inversa de dispositivos emisores de luz.
SJ 2214.10-1982 Método de medición de la corriente luminosa de fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ 2354.3-1983 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 2215.10-1982 Método de medición de la relación de transferencia de corriente continua de fotoacopladores de semiconductores.
SJ 1873-1981 Métodos de medición para la corriente de trabajo óptima de dispositivos láser de gas.
SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores.
SJ 20613-1996 Métodos de medición para dispositivos de visualización de matriz electroluminiscente de película de actina.
SJ 2215.3-1982 Método de medición de la corriente directa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2215.4-1982 Método de medición de corriente inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 452-1973 Métodos de medición de corriente inversa de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ 2315-1983 Métodos de medición para voltímetros digitales de CC.
SJ 2944-1988 Método de prueba para voltímetro digital de CA.
SJ 2215.9-1982 Método de medición de la corriente de corte inversa de transistores fotoacopladores semiconductores.
SJ 2138-1982 Métodos de medición de la corriente regulada de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 2355.4-1983 Métodos de medición de la capacitancia de unión de dispositivos emisores de luz.
SJ 453-1973 Métodos de medición del pico de pulso de la corriente rectificadora de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ/Z 9011.2-1987 Medición de dispositivos fotosensibles. Parte 2: Medición de fototubos.
SJ 444-1973 Métodos de medición de la corriente anódica y de la corriente anódica en condiciones de subcalentamiento de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ 1230-1977 Métodos de medición de corriente rectificada de alta frecuencia de diodos detectores de germanio.
SJ 2142-1982 Métodos de medición del coeficiente de temperatura actual de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 2658.4-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de capacitancia
SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ/T 2215-2015 Métodos de medición para fotoacopladores de semiconductores.
SJ/T 2354-2015/0352 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ 2354.1-1983 Procedimientos generales de medición de parámetros eléctricos y ópticos de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ/Z 9011.4-1987 Medición de dispositivos fotosensibles. Parte 4: Métodos de medición de fotomultiplicadores.
SJ 2658.3-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de tensión invertida
SJ 364-1973 Medición de la corriente catódica de klistrones reflejos.
SJ/T 10542-1994 Métodos de prueba de fuentes de alimentación de voltaje constante, salida de CA, tipo de inmunidad a interferencias.
SJ/T 11034-1996 Método de prueba para la resistencia disruptiva de CC del vidrio electrónico
SJ 2354.5-1983 Método de medición de capacitancia de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 20792-2000 Métodos de medición para tubos fotomultiplicadores de placas de microcanales.
SJ/T 11082-2000 Métodos de medición de la corriente y voltaje del calentador o filamento para tubos electrónicos.
SJ/T 11082-1996 Métodos de medición de la corriente y voltaje del calentador o filamento para tubos electrónicos.
SJ 431-1973 Métodos de medición de voltajes y corrientes de tubos de onda inversa tipo O en electrodos individuales
SJ 1389-1978 Métodos de medición de la corriente de fuga de diodos entre electrodos de diodos generadores de ruido.
SJ 2140-1982 Métodos de medición para limitar el voltaje de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 2141-1982 Métodos de medición de la tensión de ruptura de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 811-1974 Métodos de medición de la tensión de disparo de los tubos contadores de descargas luminiscentes.
SJ 1872-1981 Métodos de medición del voltaje de disparo de dispositivos láser de gas.
SJ/Z 9011.3-1987 Medición de componentes fotosensibles Parte 3 Métodos de medición de células fotoconductoras para espectros visibles
SJ 2658.5-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de resistencia en serie directa
SJ 420-1973 Métodos de medición de tensiones y corrientes en cada electrodo de tubos de ondas viajeras de bajo ruido.
SJ 455-1973 Métodos de medición de la capacitancia estática entre electrodos de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ 439-1973 Método de medición de la corriente de arranque de oscilación máxima de tubos de onda invertida tipo O
SJ 1706-1981 Medición de la eficiencia de transmisión del haz de electrones de klistrones de potencia.
SJ 1718-1981 Medición de la corriente de pulso catódico de klistrones de potencia.
SJ 366-1973 Medición de la corriente de fuga entre electrodos de klistrones reflejos.
SJ/Z 9010.15-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 15: Métodos de medición de corrientes de electrodos espurias y no deseadas.
SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.
SJ 813-1974 Métodos de medición de la caída de tensión en los tubos contadores de descarga incandescente.
SJ 363-1973 Medición de la corriente total del reflector, la corriente de iones del reflector y la corriente de fuga del reflector de klistrones reflejos
SJ 1387-1978 Métodos de medición de la corriente y la tensión del filamento de diodos generadores de ruido.
SJ 1790-1981 Método de medición del factor de multiplicación de corriente de sobrecarga de puentes rectificadores monofásicos de silicio, hasta 5A
SJ 812-1974 Métodos de medición de la tensión de disparo en ambientes oscuros de tubos contadores de descargas luminosas.
SJ 20939-2005 Métodos de medición del modelo transmisor-receptor del sistema transmitido por fibra óptica por microondas para parámetros optoelectrónicos
SJ 445-1973 Métodos de medición de la corriente de emisión de pulsos catódicos y la corriente de emisión de pulsos catódicos en condiciones de subcalentamiento de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ/T 11460.6.3-2022 Conjunto de fuente de luz de pantalla Parte 6-3: Método de prueba Parámetros fotoeléctricos de la tira de luz LED
SJ 816-1974 Métodos de medición para el rendimiento de reinicio de los tubos contadores de descargas luminiscentes.
SJ 2354.6-1983 Método de medición de la capacidad de respuesta de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2354.13-1983 Método de medición del factor de multiplicación de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
SJ 1395-1978 Métodos de medición de la corriente anódica y la caída de tensión en los tubos de ruido de descarga de gas.
SJ/Z 9010.20-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 20: Métodos de medición para moduladores de pulso tiratrón.
SJ 2354.2-1983 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos PIN y de avalancha

Professional Standard - Machinery, Cómo probar la fotocorriente

JB/T 9478.6-1999 Métodos de medición de fotocélula - Corriente oscura
JB/T 9478.4-1999 Métodos de medición de la fotocélula: característica de la corriente de iluminación.
JB/T 9478.7-1999 Métodos de medición de la fotocélula: característica de temperatura de la corriente oscura.
JB/T 9478.6-2013 Métodos de medición de células fotovoltaicas Parte 6: Corriente oscura
JB/T 9478.4-2013 Métodos de medición de células fotovoltaicas, parte 4: características de iluminancia-corriente
JB/T 9478.7-2013 Métodos de medición de células fotovoltaicas - Parte 7: Características de la temperatura de la corriente oscura
JB/T 5809-2007 Método de prueba de corriente de corte del contactor de vacío.
JB/T 5809-1991 Método de prueba para la corriente de corte del contactor al vacío.
JB/T 12238-2015 Método de prueba para concentrar módulos de generación de energía solar fotovoltaica.
JB/T 12239-2015 Método de prueba de envejecimiento para fuente de alimentación de CC
JB/T 6307.1-1992 Método de prueba para el módulo semiconductor de potencia Par de brazos del diodo rectificador
JB/T 6307.2-1992 Método de prueba para diodos rectificadores de puente monofásicos de módulos semiconductores de potencia
JB/T 6307.3-1992 Método de prueba para módulo semiconductor de potencia, diodo rectificador de puente trifásico

RU-GOST R, Cómo probar la fotocorriente

GOST 21316.2-1975 Fotocélulas. Método de medición de corriente oscura.
GOST 11612.4-1984 Fotomultiplicadores. Método de medición de la corriente del ánodo oscuro.
GOST 24613.2-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir la corriente de fuga.
GOST 24613.19-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la relación de transferencia de corriente.
GOST 11612.6-1983 Fotomultiplicadores. Métodos de medición del equivalente de luz del ruido de corriente oscura del ánodo
GOST R IEC 60793-1-21-2012 Fibra óptica. Parte 1-21. Métodos de medición y procedimientos de prueba. Geometría del revestimiento
GOST R IEC 60793-1-20-2012 Fibra óptica. Parte 1-20. Métodos de medición y procedimientos de prueba. Geometría de la fibra
GOST 11612.7-1983 Fotomultiplicadores. Métodos de medición de la luz y equivalente espectral del ruido de la corriente anódica producida por el flujo luminoso.
GOST R ISO/TP 11146-3-2008 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 3. Clasificación, propagación y detalles de los métodos de prueba del haz láser intrínseco y geométrico.
GOST R ISO/TR 11146-3-2008 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 3. Clasificación, propagación y detalles de los métodos de prueba del haz láser intrínseco y geométrico.
GOST 21107.5-1975 Dispositivos de descarga de gas. Métodos de medición de parámetros eléctricos de tiratrones de descarga luminiscente y rectificadores llenos de gas.
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GOST 19438.10-1975 Tubos o válvulas electrónicas de baja potencia. Métodos de prueba y medición en condiciones de rectificación.
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NF EN IEC 60794-1-402:2021 Cables de fibra óptica - Parte 1-402: especificación genérica - Procedimientos de prueba fundamentales para cables ópticos - Métodos de prueba eléctrica - Prueba de rayos (para OPGW, OPPC y OPAC), Método H2
NF EN IEC 60794-1-215:2020 Cables de fibra óptica - Parte 1-215: especificación genérica - Procedimientos de prueba fundamentales para cables ópticos - Métodos de prueba ambientales - Prueba de resistencia a las heladas en exteriores de cables, método F15
NF EN IEC 60794-1-403:2021 Cables de fibra óptica - Parte 1-403: especificación genérica - Procedimientos de prueba fundamentales para cables ópticos - Métodos de prueba eléctrica - Prueba de continuidad eléctrica de elementos metálicos de cables, método H3
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NF C93-850-1-401*NF EN IEC 60794-1-401:2021 Cables de fibra óptica - Parte 1-401: especificación genérica - Procedimientos básicos de prueba de cables ópticos - Métodos de prueba eléctrica - Prueba de cortocircuito (para OPGW, OPPC y OPAC), Método H1
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NF EN IEC 60794-1-310:2022 Cables de fibra óptica - Parte 1-310: Especificación genérica - Procedimientos de prueba fundamentales para cables ópticos - Métodos para probar elementos de cables - Pelabilidad, método G10
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NF EN 3745-411:2018 Serie aeroespacial - Cables y fibras ópticas para uso aeronáutico - Métodos de ensayo - Parte 411: resistencia a los fluidos
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