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espectrómetro de masas usado

espectrómetro de masas usado, Total: 158 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectrómetro de masas usado son: Química analítica, Equipo medico, Calidad, Óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares., Productos de la industria química., Centrales eléctricas en general, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Té. Café. Cacao, Alimentos para animales, Calidad del agua, Pruebas no destructivas, Componentes de tuberías y tuberías., Especias y condimentos. Aditivos alimentarios, Metales no ferrosos, Pesticidas y otros agroquímicos, Física. Química, Calidad del suelo. Pedología, ingeniería de energía nuclear, Calidad del aire, Refractarios, Componentes electrónicos en general., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., químicos inorgánicos, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Productos de la industria textil., Protección de radiación.

International Organization for Standardization (ISO), espectrómetro de masas usado

ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO/TS 11251:2010 Nanotecnologías: caracterización de componentes volátiles en muestras de nanotubos de carbono de pared simple mediante análisis de gases evolucionados/cromatografía de gases-espectrometría de masas
ISO 13914:2023 Suelo, biorresiduos tratados y lodos. Determinación de dioxinas, furanos y bifenilos policlorados similares a las dioxinas mediante cromatografía de gases con detección selectiva de masas de alta resolución (HR GC-MS)
ISO 13914:2013 Calidad del suelo. Determinación de dioxinas y furanos y bifenilos policlorados similares a las dioxinas mediante cromatografía de gases con detección selectiva de masas de alta resolución (GC/HRMS)
ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 22032:2006 Calidad del agua - Determinación de éteres de difenilo polibromados seleccionados en sedimentos y lodos de depuradora - Método mediante extracción y cromatografía de gases/espectrometría de masas
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
ISO 16000-14:2009 Aire interior - Parte 14: Determinación del total (fase gaseosa y de partículas) de bifenilos policlorados similares a las dioxinas (PCB) y de dibenzo-p-dioxinas/dibenzofuranos policlorados (PCDD/PCDF) - Extracción, limpieza y análisis mediante alta resolución cromatografía de gases
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
ISO 21701:2019 Textiles: método de prueba para la hidrólisis acelerada de materiales textiles y la biodegradación en condiciones controladas de compostaje del hidrolizado resultante.
ISO 15819:2008 Cosmética - Métodos analíticos - Nitrosaminas: Detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosmética mediante HPLC-MS-MS
ISO 15819:2014 Cosmética - Métodos analíticos - Nitrosaminas: Detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosmética mediante HPLC-MS-MS

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, espectrómetro de masas usado

GB/T 40129-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
GB/T 39560.6-2020 Determinación de determinadas sustancias en productos eléctricos y electrónicos. Parte 6: Bifenilos polibromados y éteres de difenilo polibromados en polímeros mediante cromatografía de gases-espectrometría de masas (GC-MS)

British Standards Institution (BSI), espectrómetro de masas usado

BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS EN 16215:2012 Alimentos para animales. Determinación de dioxinas y PCB similares a las dioxinas mediante GC/HRMS y de PCB indicadores mediante GC/HRMS
BS ISO 17858:2007 Calidad del agua - Determinación de bifenilos policlorados similares a las dioxinas - Método mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
BS DD ISO/TS 11251:2010 Nanotecnologías. Caracterización de componentes volátiles en muestras de nanotubos de carbono de pared simple mediante análisis de gases evolucionados/cromatografía de gases-espectrometría de masas
BS ISO 13914:2013 Calidad del suelo. Determinación de dioxinas, furanos y bifenilos policlorados similares a las dioxinas mediante cromatografía de gases con detección selectiva de masas de alta resolución (GC/HRMS)
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 16000-14:2009 Aire interior - Determinación del total (fase gaseosa y de partículas) de bifenilos policlorados similares a las dioxinas (PCB) y de dibenzo-p-dioxinas/dibenzofuranos policlorados (PCDD/PCDF) - Extracción, limpieza y análisis mediante cromatografía de gases de alta resolución y masa
BS ISO 15819:2008 Cosméticos - Métodos analíticos - Nitrosaminas - Detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosméticos mediante HPLC-MS-MS
BS ISO 15819:2014 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Nitrosaminas: Detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosmética mediante HPLC-MS-MS
20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.

Group Standards of the People's Republic of China, espectrómetro de masas usado

T/ZPP 017-2023 Analizador de citometría de masas

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), espectrómetro de masas usado

JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS K 0156:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
JIS K 0169:2012 Análisis químico de superficie - Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta

RU-GOST R, espectrómetro de masas usado

GOST 4.361-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Analizadores espectrométricos de masas. Nomenclatura del índice
GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
GOST 4.163-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Analizadores cromatográficos de líquidos y gases. Nomenclatura de índices
GOST R ISO 16000-14-2013 Aire interior. Parte 14. Determinación del total (fase gaseosa y de partículas) de bifenilos policlorados similares a las dioxinas (PCB) y de dibenzo-p-dioxinas/dibenzofuranos policlorados (PCDD/PCDF). Extracción, limpieza y análisis mediante cromatografía de gases de alta resolución.

工业和信息化部, espectrómetro de masas usado

HG/T 5831-2021 Analizador de espectrómetro de masas de gases en línea para la industria química

Professional Standard - Electricity, espectrómetro de masas usado

DL/T 386-2010 Calibración para espectrómetro de emisión atómica de llama de segunda derivada

AT-ON, espectrómetro de masas usado

ONORM M 6238 Teil.1-1986
ONORM M 6282-1987 Análisis de agua; determinación de nitrito; 4-aminobencenosulfonamida: método espectrométrico del diclorhidrato de N-(l-naftil)-1,2-diaminoetano

RO-ASRO, espectrómetro de masas usado

STAS SR 12271-18-1996 Dióxido de uranio. Análisis isotópico de uranio por espectrometría de masas.

CZ-CSN, espectrómetro de masas usado

CSN 38 5529-1985 Combustibles gaseosos. Análisis mediante aparato cromatográfico de absorción.

American Society for Testing and Materials (ASTM), espectrómetro de masas usado

ASTM E2040-19 Método de prueba estándar para la calibración a escala de masa de analizadores termogravimétricos
ASTM C696-11 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear
ASTM E498-95(2000) Métodos de prueba estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM E498/E498M-11(2017) Práctica estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM E498/E498M-11(2022) Práctica estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM E1603/E1603M-11(2017) Práctica estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM D1137-53 Método de análisis de gases naturales y tipos relacionados de mezclas gaseosas mediante espectrómetro de masas
ASTM E1603-99 Métodos de prueba estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM E1603-99(2006) Métodos de prueba estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM E1603/E1603M-11 Práctica estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM D7649-10 Método de prueba estándar para la determinación de trazas de dióxido de carbono, argón, nitrógeno, oxígeno y agua en combustible de hidrógeno mediante inyección de impulsos a chorro y cromatografía de gases/análisis con espectrómetro de masas
ASTM C697-98 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de plutonio de grado nuclear
ASTM C696-99(2005) Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear
ASTM C696-99 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear
ASTM C696-19 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear
ASTM C697-16 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de plutonio de grado nuclear
ASTM E1603/E1603M-11(2022) Práctica estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM C697-10 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de plutonio de grado nuclear
ASTM C1344-03(2008)
ASTM C697-04 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de plutonio de grado nuclear
ASTM C1344-97(2013) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas con fuente de gas estándar único
ASTM C1909-21 Método de prueba estándar para el análisis de humedad del dióxido de plutonio (PuO2) mediante espectrometría de masas termogravimétrica (TGA-MS)
ASTM C1344-97(2008) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas con fuente de gas estándar único
ASTM C1429-99(2009)e1 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM E2412-10(2018) Práctica estándar para el monitoreo de la condición de lubricantes usados mediante análisis de tendencias utilizando espectrometría infrarroja por transformada de Fourier (FT-IR)
ASTM C1429-99(2004) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM C1428-18(2023) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas de colector múltiple con fuente de gas estándar única
ASTM C1429-21 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM C1428-99 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas de colector múltiple con fuente de gas estándar única
ASTM C1429-99(2009) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM C1429-99 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM C1742-10 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método del espectrómetro de masas de gas de colector único de doble estándar
ASTM E498-95(2006) Métodos de prueba estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM C1429-99(2014) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante espectrómetro de masas de gases multicolector de doble estándar
ASTM C1428-99(2005) Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas de colector múltiple con fuente de gas estándar única
ASTM E498/E498M-11 Práctica estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM C1428-11 Método de prueba estándar para el análisis isotópico de hexafluoruro de uranio mediante el método de espectrómetro de masas de colector múltiple con fuente de gas estándar única

Association Francaise de Normalisation, espectrómetro de masas usado

NF X20-302:1974 Análisis de gases por espectrometría de masas. Determinación de la composición química de los gases.
NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF V56-003-2*NF EN 16466-2:2013 Vinagre - Análisis isotópico de ácido acético y agua - Parte 2: Análisis 0C-IRMS de ácido acético
NF EN 62321-8:2017 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos - Parte 8: Análisis de ftalatos en polímeros mediante cromatografía de gases-espectrometría de masas (GC-MS), cromatografía de gases-espectrometría de masas...
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF EN IEC 62321-12:2023 Determinación de determinadas sustancias en productos electrónicos - Parte 12: determinación simultánea - Bifenilos polibromados, éteres de difenilo polibromados y ftalatos en polímeros mediante cromatografía-espectrometría de gases...
NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies: espectrometría de masas de iones secundarios: método para la calibración de profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF V03-169*NF EN 16619:2015 Análisis de alimentos - Determinación de benzo(a)pireno, benzo(a)antraceno, criseno y benzo(b)fluoranteno en productos alimenticios mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas (GC-MS)
NF T90-128*NF EN 12918:1999 Calidad del agua: Determinación de paratión, paratión metílico y algunos otros compuestos organofosforados en agua mediante extracción con diclorometano y análisis por cromatografía de gases.
XP X 43-053-1997 CALIDAD DEL AIRE. AIRE AMBIENTE. MANUAL DE INSTRUCCIONES PARA LA CALIBRACIÓN DE ANALIZADORES Y MUESTREADORES DE CONTAMINANTES ATMOSFÉRICOS. MUESTREO. ESTACIÓN DE MEDICIÓN Y CAUDALES DE GAS.
NF T75-631:2008 Cosméticos - Métodos analíticos - Nitrosaminas: Detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosméticos mediante HPLC-MS-MS.
NF T75-631*NF ISO 15819:2014 Cosméticos - Métodos analíticos - Nitrosaminas: detección y determinación de N-nitrosodietanolamina (NDELA) en cosméticos mediante HPLC-MS-MS

German Institute for Standardization, espectrómetro de masas usado

DIN 10785:2013 Análisis de café y productos de café - Determinación de acrilamida - Métodos utilizando HPLC-MS/MS y GC-MS después de la derivatización
DIN EN 16215:2012 Alimentos para animales - Determinación de dioxinas y PCB similares a las dioxinas mediante GC/HRMS y de PCB indicadores mediante GC/HRMS; Versión alemana EN 16215:2012
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN EN 12918:1999 Calidad del agua: determinación de paratión, paratión metílico y algunos otros compuestos organofosforados en agua mediante extracción con diclorometano y análisis por cromatografía de gases; Versión alemana EN 12918:1999

API - American Petroleum Institute, espectrómetro de masas usado

API RP 550 P2 S9-1984 Manual de instalación de instrumentos y sistemas de control de refinería - Parte 11-Analizadores de corriente de proceso - Sección 9-Analizadores de calidad del agua (CUARTA EDICIÓN)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, espectrómetro de masas usado

GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies
GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
GB/T 31836-2015 Instrumentación de protección radiológica. Monitores de portal basados en espectroscopia utilizados para la detección e identificación de tráfico ilícito de material radiactivo.

KR-KS, espectrómetro de masas usado

KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), espectrómetro de masas usado

KS D ISO 22048-2005(2020) Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS I ISO 22032:2007 Calidad del agua-Determinación de éteres de difenilo polibromados seleccionados en sedimentos y lodos de depuradora-Método mediante extracción y cromatografía de gases/espectrometría de masas
KS D ISO 20341-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

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BS ISO 22048:2004(2005) Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas de iones secundarios estáticos.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

Professional Standard - Electron, espectrómetro de masas usado

SJ/T 10553-2021 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en ZrO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10552-2021 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en TiO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10552-1994 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en TiO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10553-1994 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en ZrO2 para uso en cerámica electrónica.
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