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二手质谱分析仪

本专题涉及二手质谱分析仪的标准有147条。

国际标准分类中,二手质谱分析仪涉及到分析化学、医疗设备、质量、光学和光学测量、长度和角度测量、化工产品、电站综合、试验条件和规程综合、茶、咖啡、可可、饲料、水质、无损检测、管道部件和管道、香料和调料、食品添加剂、有色金属、杀虫剂和其他农用化工产品、物理学、化学、土质、土壤学、核能工程、空气质量、耐火材料、电子元器件综合、润滑剂、工业油及相关产品、无机化学、食品试验和分析的一般方法、纺织产品。

在中国标准分类中,二手质谱分析仪涉及到基础标准与通用方法、、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化工专用仪器仪表、电力试验技术、饮料综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、畜禽饲料与添加剂、水环境有毒害物质分析方法、电子光学与其他物理光学仪器、调味品、色谱仪、电子技术专用材料、环境监测仪器及其成套装置、重金属及其合金分析方法、化学、物理学与力学、石油产品综合、土壤环境质量分析方法、牙膏、肥皂、洗涤剂、硅质耐火材料、基础标准和通用方法、化学助剂基础标准与通用方法、电子元件综合、环境卫生、不定型耐火材料、金属无损检验方法、大气环境有毒害物质分析方法。


英国标准学会,关于二手质谱分析仪的标准

  • BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
  • BS ISO 17862:2022 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
  • BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
  • BS ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • BS EN 16215:2012 动物饲料.利用气象色谱/高分辨率质谱仪(GC/HRMS)和气象色谱/高分辨率质谱仪(GC/HRMS)多氯联苯指示剂测定二恶英和类二恶英多氯联苯
  • BS ISO 17858:2007 水质.二恶英类多氯联苯的测定.用气相色谱分析/质谱测量的方法
  • BS ISO 22048:2004 表面化学分析 静态二次离子质谱的信息格式
  • BS DD ISO/TS 11251:2010 纳米技术.使用改进的气相分析/气相色谱-质谱分析仪在单壁碳纳米管样品中挥发性成分的特征
  • BS ISO 13914:2013 土质.利用带高分辨率质谱选择性检测仪的气相色谱法(GC/HRMS)对二噁英、呋喃和二噁英类似多氯联苯的测定
  • BS ISO 22415:2019 表面化学分析 二次离子质谱分析 有机材料氩簇溅射深度剖析中产量体积的测定方法
  • BS ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
  • BS 1902-9.2:1987 耐火材料试验方法.第9.2部分:仪器化学分析法.第2节:用X射线荧光光谱法分析硅质耐火材料
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS ISO 18114:2021 表面化学分析 二次离子质谱 离子注入参考材料的相对灵敏度因子的测定
  • BS ISO 16000-14:2009 室内空气.总(气相和颗粒相)多氯联苯(PCBs)和多氯二苯并二恶英/多氯二苯并呋喃(PCDDs/PCDFs)含量的测定.使用高分辨率气相色谱法和质谱法进行提取,净化和分析

国际标准化组织,关于二手质谱分析仪的标准

  • ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
  • ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
  • ISO 178:1975 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 17862:2013 表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 178:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 17862:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • ISO/TS 22933:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
  • ISO 17560:2014 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 硅在硅中深度分析的方法
  • ISO 22048:2004 表面化学分析——静态二次离子质谱信息格式
  • ISO/TS 11251:2010 纳米技术.使用改进的气相分析/气相色谱-质谱分析仪在单壁碳纳米管样品中挥发性成分的特征
  • ISO 13914:2023 土质.利用带高分辨率质谱选择性检测仪的气相色谱法(GC/HRMS)对二噁英、呋喃和二噁英类似多氯联苯的测定
  • ISO 13914:2013 土质.利用带高分辨率质谱选择性检测仪的气相色谱法(GC/HRMS)对二噁英、呋喃和二噁英类似多氯联苯的测定
  • ISO 20411:2018 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数动态二次离子光谱法中饱和强度的校正方法
  • ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
  • ISO 14237:2000 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
  • ISO 22032:2006 水质.在沉积物和下水污泥中选定的多溴二苯醚测定.萃取法和气相色谱法/质谱分析法
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO 16000-14:2009 室内空气.第14部分:总(气体和颗粒相)二噁英类多氯联苯(PCBs)和多氯代二苯并-对-二噁英/二苯并呋喃(PCDDs/PCDFs)的测定.提取,净化和采用高分辨率气相色谱和质谱分析
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析.硅晶片加工标准物质表面元素收集用化学方法和及其光分析仪(TXRF)光谱学测定.修改件1
  • ISO 21701:2019 纺织品 - 控制堆肥条件下纺织材料水解生物降解试验方法 - 气相色谱仪分析进化二氧化碳

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于二手质谱分析仪的标准

  • GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
  • GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
  • GB/T 39560.6-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第6部分:气相色谱-质谱仪(GC-MS)测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚

中国团体标准,关于二手质谱分析仪的标准

日本工业标准调查会,关于二手质谱分析仪的标准

  • JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
  • JIS K 0155:2018 表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数时间飞行质量分析仪中强度刻度的线性度
  • JIS K 0164:2023 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度分析方法
  • JIS K 0168:2011 表面化学分析.静态二次离子质谱法用信息格式
  • JIS K 0158:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
  • JIS K 0153:2015 表面化学分析. 二次离子质谱法. 静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性
  • JIS K 0143:2023 表面化学分析-二次离子质谱-使用均匀掺杂材料测定硅中硼原子浓度
  • JIS K 0156:2018 表面化学分析-二次离子质谱法-使用多δ层参考材料的硅深度校准方法
  • JIS K 0169:2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法

RU-GOST R,关于二手质谱分析仪的标准

  • GOST 4.361-1985 质谱测定分析仪.指标项目
  • GOST 4.450-1986 产品质量指标系统.光谱分析用仪器.目录术语
  • GOST 4.163-1985 产品质量指标系统.色谱液及气体分析仪.目录术语
  • GOST R ISO 16000-14-2013 室内空气. 第14部分. 总体(气体和粒子相)聚氯联二苯(PCB)和多氯代二苯并二恶英/多氯代二苯并呋喃(PCDD/PCDF)的测定. 使用高分辨率气象色谱和质谱分析法进行的提取, 清理和分析

工业和信息化部,关于二手质谱分析仪的标准

行业标准-电力,关于二手质谱分析仪的标准

  • DL/T 386-2010 二阶微分火焰光谱痕量钠分析仪检验规程

AT-ON,关于二手质谱分析仪的标准

  • ONORM M 6238 Teil.1-1986 水质分析.硝酸盐测 2,6-二甲光谱法
  • ONORM M 6282-1987 水质分析.亚硝酸盐的测定.4-氨基苯磺酰胺.N一(1-萘基)1,2乙二胺盐酸盐光谱法

RO-ASRO,关于二手质谱分析仪的标准

CZ-CSN,关于二手质谱分析仪的标准

美国材料与试验协会,关于二手质谱分析仪的标准

  • ASTM E2040-19 热重分析仪质谱校准的标准测试方法
  • ASTM C696-11 对核级二氧化铀粉末和球粒进行化学分析,质谱分析及光谱分析的标准试验方法
  • ASTM E498-95(2000) 使用质谱仪检漏仪或残留气体分析仪进行探测模式的泄漏标准实践
  • ASTM E498/E498M-11(2017) 使用质谱仪检漏仪或残留气体分析仪进行探测模式的泄漏标准实践
  • ASTM E498/E498M-11(2022) 使用质谱仪检漏仪或残留气体分析仪进行探测模式的泄漏标准实践
  • ASTM E1603/E1603M-11(2017) 使用质谱检漏仪或残留气体分析仪进行泄漏测量的标准实践
  • ASTM D1137-53 用质谱仪分析天然气和相关类型气体混合物的方法
  • ASTM E1603-99 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
  • ASTM E1603-99(2006) 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
  • ASTM E1603/E1603M-11 用罩式质谱探漏仪或残余气体分析仪作检漏测量的标准试验方法
  • ASTM D7649-10 使用喷吹脉冲注射和气相色谱分析/质谱仪测定氢燃料中痕量二氧化碳,氩,氮,氧和水含量的标准试验方法
  • ASTM C697-98 核纯级二氧化钚粉末及丸的化学、质谱及光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C696-99(2005) 核纯级二氧化铀粉末及丸的化学、质谱及光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C696-99 核纯级二氧化铀粉末及丸的化学、质谱及光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C696-19 核级二氧化铀粉末和芯块的化学、质谱和光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C697-16 核级钚二氧化物粉末和颗粒的化学 质谱和光谱化学分析的标准测试方法
  • ASTM E1603/E1603M-11(2022) 在罩模式下使用质谱检漏仪或残余气体分析仪进行泄漏测量的标准实施规程
  • ASTM C697-10 核工业级二氧化钚粉末和颗粒的化学、质谱和光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C1344-03(2008) 用普通气源质谱仪对六氟化铀进行同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C697-04 核纯级二氧化钚粉末及丸状材料的化学、质谱及光谱化学分析的标准试验方法
  • ASTM C1344-97(2013) 使用普通气源质谱仪对六氟化铀进行同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1909-21 用热重质谱法(TGA-MS)对二氧化钚(PuO2)进行水分分析的标准试验方法
  • ASTM C1344-97(2008) 用单标准气体源质谱仪法进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1429-99(2009)e1 用双标准多收集器气体质谱仪进行六氟化铀同位素分析标准试验方法
  • ASTM E2412-10(2018) 使用傅里叶变换红外(FT-IR)光谱法进行趋势分析的二手润滑剂状态监测标准实践
  • ASTM C1429-99(2004) 用双标准多收集器气体质谱仪进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1428-18(2023) 用单标准气源多收集器质谱仪法对六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1429-21 用双标准多收集器气体质谱仪进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1428-99 用单标准气源多收集器质谱仪法进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1429-99(2009) 采用双标准多收集器气体质谱仪进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1429-99 用双支架多收集器气体质谱仪进行六氟化铀的同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1742-10 用双标准单收集器气体质谱仪法进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM E498-95(2006) 在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的测试方法
  • ASTM C1429-99(2014) 采用双标准多收集器气体质谱仪进行六氟化铀同位素分析的标准试验方法
  • ASTM C1428-99(2005) 用单支架气体源多收集器质谱仪法进行六氟化铀的同位素分析的标准试验方法
  • ASTM E498/E498M-11 在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的标准操作规程

法国标准化协会,关于二手质谱分析仪的标准

  • NF X20-302:1974 质谱仪进行气体分析.气体化学成分的测定
  • NF ISO 17560:2006 表面化学分析 二次离子质谱分析 通过厚度分析确定硅中硼的剂量
  • NF ISO 23830:2009 表面化学分析 二次离子质谱 二次离子静态质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
  • NF V56-003-2*NF EN 16466-2:2013 醋.乙酸和水的同位素分析.第2部分:乙酸的同位素比质谱仪(0C-IRMS)分析
  • NF EN 62321-8:2017 电工产品中某些物质的测定 - 第 8 部分:气相色谱-质谱法 (GC-MS) 分析聚合物中的邻苯二甲酸酯、气相色谱-质谱法...
  • NF EN ISO 13196:2015 土壤质量 – 使用便携式或手持式能量色散 X 射线荧光光谱仪快速分析土壤中的选定元素
  • NF ISO 14237:2010 表面化学分析 二次离子质谱分析 使用均匀掺杂材料的硅中硼原子的剂量
  • NF X21-070*NF ISO 14237:2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.
  • NF A06-902*NF EN 12938:2000 锡基合金的分析方法.用原子光谱仪法测定合金元素和杂质元素含量
  • NF EN IEC 62321-12:2023 电子产品中某些物质的测定 第12部分:同时测定 聚合物中多溴联苯、多溴二苯醚和邻苯二甲酸酯的气相色谱-光谱仪...
  • NF ISO 23812:2009 表面化学分析 二次离子质谱 使用多三角层状参比材料的硅深度校准方法
  • NF V03-169*NF EN 16619:2015 食品分析. 使用气相色谱-质谱法 (GC-MS) 测定食品中的苯并(a)芘, 苯并(a)蒽, 稠二萘以及苯并(b)荧蒽
  • NF T90-128*NF EN 12918:1999 水质.用二氯甲烷萃取分析法和气相色谱分析法测定水中的对硫磷、甲基对硫磷和其它有机磷化合物

德国标准化学会,关于二手质谱分析仪的标准

  • DIN 10785:2013 咖啡和咖啡制品的分析.丙烯酰胺的测定.衍生化后高效液相色谱-质谱联用仪/质谱仪(HPLC-MS/MS)和气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)
  • DIN EN 16215:2012 动物饲料. 利用气象色谱/高分辨率质谱仪 (GC/HRMS) 和气象色谱/高分辨率质谱仪 (GC/HRMS) 多氯联苯指示剂测定二恶英和类二恶英多氯联苯; 德文版本EN 16215-2012
  • DIN EN 12938:2000 锡基合金的分析方法.原子光谱仪法测定合金杂质含量
  • DIN EN 12918:1999 水质.用二氯甲烷萃取分析法和气相色谱分析法测定水中的对硫磷、甲基对硫磷和其它有机磷化合物

API - American Petroleum Institute,关于二手质谱分析仪的标准

  • API RP 550 P2 S9-1984 炼油厂仪表和控制系统安装手册 第11部分 工艺流分析仪 第 9 节 水质分析仪(第四版)

国家质检总局,关于二手质谱分析仪的标准

  • GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
  • GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
  • GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
  • GB/T 25186-2010 表面化学分析.二次离子质谱.由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

KR-KS,关于二手质谱分析仪的标准

韩国科技标准局,关于二手质谱分析仪的标准

未注明发布机构,关于二手质谱分析仪的标准

行业标准-电子,关于二手质谱分析仪的标准

  • SJ/T 10553-2021 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-2021 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10551-2021 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法

欧洲标准化委员会,关于二手质谱分析仪的标准

  • PD CEN/TR 16468:2013 食品分析.通过气相色谱-质谱联用仪测定杀虫剂残留.保留时间,质谱参数和检测器响应信息
  • EN 16521:2014 化妆品.分析法.用气相色谱/质谱法鉴定及化验准备分析注射的化妆品样品中的12邻苯二甲酸盐

ES-AENOR,关于二手质谱分析仪的标准

  • UNE 70-105 Pt.7-1986 工业用邻苯二甲酸酐中马来酸酐的测定(借助极谱分析仪进行)

安徽省标准,关于二手质谱分析仪的标准

  • DB34/T 3368.3-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第3部分:多溴联苯及多溴二苯醚的测定 气相色谱-质谱法

行业标准-地质,关于二手质谱分析仪的标准

  • DZ/T 0064.91-2021 地下水质分析方法 第91部分:二氯甲烷、氯乙烯、1,1-二氯乙烷等24种挥发性卤代烃类化合物的测定 吹扫捕集/气相色谱-质谱法

国际电工委员会,关于二手质谱分析仪的标准

  • IEC 62321-8:2017 电工技术产品中某些物质的测定. 第8部分: 采用气相色谱质谱联用仪(GC-MS), 配有热裂解/热脱附附件的气相色谱质谱联用仪(Py/TD-GC-MS)测定聚合物中的邻苯二甲酸酯

检验方法与规程专业(理化),关于二手质谱分析仪的标准

  • GB 21926-2016 食品安全国家标准 含脂类辐照食品鉴定 2-十二烷基环丁酮的气相色谱-质谱分析法

内蒙古自治区标准,关于二手质谱分析仪的标准

  • DB15/T 688.4-2014 二氧化钍粉末化学分析方法 第4部分:二氧化钍粉末中铀、铪、锑、铋的测定—电感耦合等离子体质谱法

行业标准-核工业,关于二手质谱分析仪的标准

  • EJ/T 1212.2-2008 烧结氧化钆-二氧化铀芯块分析方法.第2部分:热电离质谱法测定铀同位素丰度

PL-PKN,关于二手质谱分析仪的标准

  • PN Z04158-02-1986 空气纯度保护.醚测试,通过带有样品浓缩的气相色谱分析仪测定工作场所中的二乙醚

欧洲电工标准化委员会,关于二手质谱分析仪的标准

  • DIN EN 62321-8:2017 电工技术产品中某些物质的测定. 第8部分: 采用气相色谱质谱联用仪(GC-MS), 配有热裂解/热脱附附件的气相色谱质谱联用仪(Py/TD-GC-MS)测定聚合物中的邻苯二甲酸酯(IEC 62321-8-2017);德文版本EN 62321-8-2017




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