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Balanza microelectrónica

Balanza microelectrónica, Total: 480 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Balanza microelectrónica son: Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Sistemas de telecomunicaciones, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Geología. Meteorología. Hidrología, Vocabularios, Materiales para la construcción aeroespacial., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Circuitos integrados. Microelectrónica, Pruebas eléctricas y electrónicas., Turbinas de gas y vapor. Máquinas de vapor, Combustibles, Corrosión de metales, Equipo óptico, Radiocomunicaciones, Instalaciones en edificios, Organización y gestión de la empresa., Componentes electrónicos en general., Materias primas para caucho y plástico., Optoelectrónica. Equipo láser, Maquinaria rotativa, Servicios, Aplicaciones de la tecnología de la información., Medidas lineales y angulares., Sistemas de microprocesador, Mecanismos rotativos alternativos y sus partes., Calidad del agua, Calidad del aire, Protección contra el crimen, Tratamiento superficial y revestimiento., pruebas de metales, Gas natural, Ferroaleaciones, Materiales conductores, Termodinámica y mediciones de temperatura., Accesorios electricos, Condiciones y procedimientos de prueba en general., tubos electronicos, Conjuntos de componentes electrónicos., Astronomía. Geodesia. Geografía, Microbiología, Calidad del suelo. Pedología, Minerales metalíferos, Metales no ferrosos, Sistemas y operaciones espaciales., Dispositivos semiconductores, ingeniería de energía nuclear, Equipos e instrumentos a bordo., Sistemas de vehículos de carretera, Compatibilidad electromagnética (CEM), Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., carbones, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Óptica y medidas ópticas., Cinematografía, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Equipos de tracción eléctrica., Ingeniería ferroviaria en general., Mediciones de radiación, ingenieria electrica en general, Fotografía, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte..

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• JJG 1036-2022 Balance electrónico
• JJG 1036-2008 Reglamento de Verificación de Balanza Electrónica
• JJG 1036-2008/838 Reglamento de Verificación de Balanza Electrónica

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Balanza microelectrónica

• GB/T 26497-2011 Balance electrónico
• GB/T 26497-2022 balanzas electrónicas
• GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
• GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
• GB/T 38532-2020 Análisis de microhaz: difracción de retrodispersión de electrones: medición del tamaño medio de grano
• GB/T 28634-2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
• GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
• GB/T 15247-2008 Análisis por microhaz. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante el método de la curva de calibración.
• GB/T 31526-2015 Evaluación y clasificación de la calidad de servicio para plataforma de comercio electrónico.
• GB/T 27896-2011 Método de prueba para el contenido de vapor de agua del gas natural utilizando analizadores de humedad electrónicos.
• GB/T 15246-2022 Análisis de microhaz: análisis cuantitativo de minerales de sulfuro mediante microanálisis con sonda electrónica
• GB/T 17473.1-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos.
• GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
• GB/T 17473.1-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación del contenido de sólidos.
• GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
• GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
• GB/T 43196-2023 Microscopía electrónica de barrido con nanotecnología para medir el tamaño y la distribución de la forma de las nanopartículas
• GB/T 17363.1-2009 Medición no destructiva del contenido de oro en los productos de oro. Parte 1: Método de microanálisis con sonda electrónica.
• GB/T 24794-2009 Productos químicos fotográficos. Métodos de medición de los oligoelementos en los compuestos orgánicos. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
• GB/T 27598-2011 Productos químicos fotográficos. Métodos de medición de los oligoelementos en los compuestos inorgánicos. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)

Professional Standard - Machinery, Balanza microelectrónica

• JB/T 5374-1991 Balance electrónico
• JB/T 7443-1994 Método de designación de productos de balanza electrónica.

American National Standards Institute （ANSI), Balanza microelectrónica

• ANSI/UL 466-2004 Básculas Eléctricas y Accesorios (Propuesta del 16/05/08)
• ANSI/ASTM D7739:2011 Práctica para la medición de la estabilidad térmica oxidativa mediante una microbalanza de cristal de cuarzo

CN-STDBOOK, Balanza microelectrónica

• 图书 a-4505 Guía de Verificación y Mantenimiento de Instrumentos de Medición Balanza Electrónica

Association Francaise de Normalisation, Balanza microelectrónica

• NF X21-014:2012 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano.
• NF EN 3830:2022 Serie aeroespacial - Red eléctrica - Balance eléctrico
• NF C93-557-6*NF EN 62037-6:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
• NF C93-557-6*NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
• NF X21-009:2008 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario.
• NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación - Parte 6: medida de la intermodulación pasiva en antenas
• NF X21-001:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de electrones retrodispersados
• NF C93-681/A1:1989 Componentes electrónicos de calidad evaluada Lámparas incandescentes en miniatura Especificaciones detalladas
• NF EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Mediciones de campo de intermodulación pasiva
• NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
• NF C93-557-4*NF EN 62037-4:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
• NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
• NF EN IEC 62037-2:2021 Dispositivos RF y microondas pasivas, medida del nivel de intermodulación - Parte 2: medida de la intermodulación pasiva en los cordones coaxiales
• NF EN 62037-4:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• NF L54-002-006*NF EN 2591-203:1994 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 203: continuidad eléctrica a nivel de microvoltios.
• NF C93-557-1*NF EN 62037-1:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 1: requisitos generales y métodos de medición.
• NF C93-557-1*NF EN IEC 62037-1:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 1: requisitos generales y métodos de medición.
• NF EN IEC 62037-1:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 1: requisitos generales y métodos de medición
• NF C93-557-2*NF EN 62037-2:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 2: medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• NF EN ISO 17751-2:2016 Textiles - Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas - Parte 2: método de microscopía electrónica de barrido
• NF C93-557-2*NF EN IEC 62037-2:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 2: medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• NF C93-557-5*NF EN 62037-5:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: medición de la intermodulación pasiva en filtros
• NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• NF X21-007:2008 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono del acero mediante un método de curva de calibración.
• NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
• NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• NF C93-557-5*NF EN IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: medición de la intermodulación pasiva en filtros
• NF T16-404:2020 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
• NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
• NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión
• NF C93-557-3*NF EN 62037-3:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• NF EN IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación - Parte 5: medida de la intermodulación pasiva en filtros
• NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
• NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
• NF C93-557-3*NF EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• NF EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos RF y microondas pasivas, medida del nivel de intermodulación - Parte 3: medida de la intermodulación pasiva en los conectores coaxiales
• NF C31-888-7:2003 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
• NF V03-098*NF EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente).
• NF EN 3475-802:2009 Serie aeroespacial - Cables eléctricos para uso aeronáutico - Métodos de prueba - Parte 802: desequilibrio de capacidad
• NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
• NF X43-050:2021 Calidad del aire - Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión - Método indirecto
• NF C86-241:1986 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Circuitos integrados con microprocesador digital. Especificación detallada en blanco.
• NF X43-050:1996 Calidad del aire. Determinación de la concentración de fibras de amianto mediante microscopía electrónica de transmisión. Método indirecto.
• NF F99-020/A1*NF EN 50500/A1:2015 Procedimientos de medición de los niveles de campos magnéticos generados por aparatos electrónicos y eléctricos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana.
• NF EN 50500:2008 Procedimientos para medir los niveles de campos magnéticos generados por dispositivos eléctricos y electrónicos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana
• NF EN 50500/A1:2015 Procedimientos para medir los niveles de campos magnéticos generados por dispositivos eléctricos y electrónicos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana
• NF X31-411:2011 Calidad del suelo - Determinación de la capacidad efectiva de intercambio catiónico y nivel de saturación de bases utilizando una solución de cloruro de bario.

International Organization for Standardization (ISO), Balanza microelectrónica

• ISO 13067:2011 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano
• ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
• ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción de retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
• ISO 23833:2013 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• ISO 23833:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
• ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
• ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
• ISO 14595:2003 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) (Première édition)
• ISO/PRF 14595 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• ISO 14595:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• ISO 16564:2004/Amd 1:2006 Caucho natural en bruto. Determinación de la masa molecular media y de la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC).
• ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
• ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
• ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
• ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
• ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
• ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
• ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) TÉCNICA DE RECTIFICACIÓN 1 (Edición inaugural)
• ISO/TS 16965:2013 Calidad del suelo. Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
• ISO 16592:2006 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• ISO 16592:2012 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
• ISO 12208:2015 Sistemas espaciales - Entorno espacial (natural y artificial) - Fluencias de protones observadas durante un período prolongado en la órbita geoestacionaria y directrices para la selección del nivel de confianza en el modelo estadístico de fluencias de protones solares
• ISO/TS 12208:2011 Sistemas espaciales - Entorno espacial (natural y artificial) - Fluencias de protones observadas durante un período prolongado en la órbita geoestacionaria y directrices para la selección del nivel de confianza en el modelo estadístico de fluencias de protones solares
• ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía de longitud de onda dispersiva
• ISO 23692:2021 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente
• ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• ISO/DIS 24173:2023 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• ISO 11452-6:1997/Cor 1:1999 Vehículos de carretera. Perturbaciones eléctricas debidas a energía electromagnética radiada de banda estrecha. Métodos de prueba de componentes. Parte 6: Antena de placa paralela; Corrigendum técnico 1
• ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
• ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
• ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

German Institute for Standardization, Balanza microelectrónica

• DIN ISO 13067:2021-08 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2020)
• DIN ISO 13067:2015 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2011)
• DIN ISO 13067:2021 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2020)
• DIN 29571-3:1990-10 Aeroespacial; equipo eléctrico; Análisis de capacidad de carga y fuente de energía.
• DIN EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas (IEC 62037-6:2013); Versión alemana EN 62037-6:2013
• DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
• DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
• DIN 44402 Bb.1:1986 Medición de las propiedades eléctricas de tubos electrónicos; Normas IEC, normas DIN (incluidos tubos de microondas y dispositivos fotosensibles; base de clavijas, conceptos, sistema CECC)
• DIN EN 2591-203:1998 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; métodos de prueba - Parte 203: Continuidad eléctrica a nivel de microvoltios; Versión alemana EN 2591-203:1996
• DIN ISO 24173:2013-04 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones (ISO 24713:2009)
• DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
• DIN ISO 16592:2015 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración (ISO 16592:2012)
• DIN ISO 22036:2009-06 Calidad del suelo - Determinación de oligoelementos en extractos de suelo mediante plasma acoplado inductivamente - espectrometría de emisión atómica (ICP-AES) (ISO 22036:2008) / Nota: Se sustituirá por DIN EN ISO 22036 (2022-07).
• DIN EN 15111:2007-06 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente); Versión alemana EN 15111:2007
• DIN EN 61788-7:2007 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2006); Versión alemana EN 61788-7:2006
• DIN ISO 24173:2013 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones (ISO 24713:2009)
• DIN 22022-5:2001-02 Combustibles sólidos - Determinación de oligoelementos - Parte 5: Espectrometría de absorción atómica aplicando la atomización electrotérmica

国家质量监督检验检疫总局, Balanza microelectrónica

• SN/T 4095.2-2017 Especificaciones de verificación electrónica del período de saldo

British Standards Institution (BSI), Balanza microelectrónica

• BS ISO 13067:2011 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
• BS ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
• 19/30365236 DC BS ISO 13067. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
• BS EN IEC 62037-6:2022 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
• BS EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
• BS ISO 23833:2013 Análisis de microhaces. Vocabulario del microanálisis con sonda electrónica (EPMA)
• BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
• DD IEC/TS 62564-1:2009 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos
• BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
• 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
• 20/30409226 DC BS EN IEC 62037-6. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 6. Medida de la intermodulación pasiva en antenas
• BS ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
• 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
• BS ISO 19463:2018 Análisis de microhaces. Microanalizador de sonda electrónica (EPMA). Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad.
• BS ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• BS EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación - Medidas de campo de intermodulación pasiva
• BS ISO 23692:2021 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente.
• BS ISO 14595:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• BS ISO 14595:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
• 22/30430960 DC BS ISO 14595. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• 20/30393735 DC BS ISO 23692. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente.
• 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
• BS ISO 11438-5:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de telurio
• BS ISO 11438-6:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de talio
• BS ISO 11438-7:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de plata
• BS ISO 11438-8:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de indio
• BS EN 61788-7:2002 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
• BS EN 61788-7:2007 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
• BS EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en cables coaxiales.
• PD ISO/TS 16965:2013 Calidad del suelo. Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
• BS EN 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Requisitos generales y métodos de medición.
• BS EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación - Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• BS EN IEC 62037-1:2021 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Requisitos generales y métodos de medición.
• BS ISO 16592:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
• BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
• BS EN 160200-2:1998 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación seccional - Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada - Índice de métodos de prueba
• BS EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Medidas características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas.
• BS EN 61788-16:2013 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Resistencia superficial dependiente de la potencia de superconductores en frecuencias de microondas.
• BS EN IEC 62037-2:2021 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medición de intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• BS EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
• 23/30425940 DC BS ISO 14594. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• BS ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
• BS 4319-1:1968 Métodos de medición de las propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos (excluidos los dispositivos de microondas) - Condiciones esenciales para medir admitancias de entrada y salida equivalentes
• BS EN 3475-802:2002 Serie aeroespacial - Cables eléctricos, uso aeronáutico - Métodos de prueba - Desequilibrio de capacitancia
• BS EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales.
• BS EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
• BS EN IEC 62037-5:2021 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
• BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
• BS ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
• BS IEC 61501:2001 Instrumentación del reactor nuclear - Medidor de tasa de fluencia de neutrones de amplio rango - Método del voltaje medio cuadrático
• BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
• BS ISO 22036:2008 Calidad del suelo. Determinación de oligoelementos en extractos de suelo mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
• BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
• BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
• 20/30409196 DC BS EN 62037-1. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 1. Requisitos generales y métodos de medición.
• 20/30414828 DC BS EN 62037-2. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 2. Medida de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• BS EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
• BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
• BS ISO 21363:2020 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
• 21/30398224 DC BS ISO 23749. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
• BS EN 62037-2:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medición de intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• 20/30405209 DC BS EN IEC 62037-7. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 7. Medidas de campo de la intermodulación pasiva.
• BS EN IEC 62037-8:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Medición de la intermodulación pasiva generada por objetos expuestos a la radiación RF
• BS EN 61788-15:2011 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas.
• BS EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
• BS EN 62047-9:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
• 23/30435799 DC BS ISO 24173. Análisis de microhaces. Directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
• 18/30370111 DC BS EN 61788-7. Superconductividad. Parte 7. Medidas de características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores a frecuencias de microondas.
• BS EN 60835-2-2:1995 Métodos de medición para equipos utilizados en sistemas digitales de transmisión de radio por microondas. Mediciones en sistemas de radioenlaces terrestres. Antena
• 20/30409222 DC BS EN IEC 62037-5. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 5. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
• BS EN 60835-3-2:1996 Métodos de medición para equipos utilizados en sistemas digitales de transmisión de radio por microondas. Mediciones en estaciones terrenas de satélite. Antena
• BS EN 190110:1994 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: circuitos integrados de microprocesador digital

PL-PKN, Balanza microelectrónica

• PN T04813-1971 ¿Bajo consumo electrónico? ¿ubet M?Hiod de m?a?ur?men? de micropkonic noiic whh aicHation tocando

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• DB50/T 540-2014 Medidor de flujo de gas másico térmico microelectrónico

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Balanza microelectrónica

• KS D ISO 23833:2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
• KS D ISO 14595:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
• KS M ISO 16564:2007 Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
• KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
• KS M ISO 16564-2007(2022) Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
• KS M ISO 16564-2007(2017) Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
• KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
• KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
• KS D ISO 14595:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• KS D ISO 16592-2011(2021) Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
• KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
• KS D ISO 14594:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
• KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
• KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
• KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
• KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 16592:2011 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• KS D ISO 16592-2011(2016) Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
• KS D 1674-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro.
• KS D ISO 11437-2-2012(2017) Aleaciones de níquel－Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica－Parte 2:Determinación del contenido de plomo
• KS D ISO 11437-2-2012(2022) Aleaciones de níquel－Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica－Parte 2:Determinación del contenido de plomo
• KS C 6111-3-2007(2022) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
• KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
• KS C 6111-3-2007(2017) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
• KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
• KS C CISPR 19-2004 Compatibilidad electromagnética (EMC): orientación sobre el uso del método de sustitución para medir la radiación de hornos microondas para frecuencias superiores a 1 GHz.
• KS C IEC 61788-16:2020 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia a frecuencias de microondas.
• KS B ISO 13919-1:2018 Soldadura. Uniones soldadas por rayos láser y electrónicos. Orientación sobre los niveles de calidad para las imperfecciones. Parte 1: Acero.

KR-KS, Balanza microelectrónica

• KS D ISO 23833-2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
• KS D ISO 14595-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
• KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
• KS D ISO 14595-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
• KS D ISO 14594-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 14594-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 22489-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
• KS D ISO 11438-5-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 5:Determinación del contenido de teluro
• KS D ISO 11438-6-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 6:Determinación del contenido de talio
• KS D ISO 11438-8-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 8:Determinación del contenido de indio
• KS D ISO 11438-4-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 4:Determinación del contenido de estaño
• KS D ISO 11438-3-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 3:Determinación del contenido de antimonio
• KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
• KS C ISO 21363-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
• KS D ISO 11438-2-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 2:Determinación del contenido de plomo
• KS D ISO 11438-7-2012 Ferroníquel －Determinación del contenido de oligoelementos mediante método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica －Parte 7:Determinación del contenido de plata
• KS A ISO 7832-2018(2023) Cinematografía. Factor de salida fotoeléctrica de películas de prueba de nivel de audio de tipo fotográfico. Medición y calibración.
• KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
• KS C IEC 61788-16-2020 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia a frecuencias de microondas.
• KS B ISO 13919-1-2018 Soldadura. Uniones soldadas por rayos láser y electrónicos. Orientación sobre los niveles de calidad para las imperfecciones. Parte 1: Acero.

Society of Automotive Engineers (SAE), Balanza microelectrónica

• SAE AMS2690A-1982 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690C-2011 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690C-2001 Soldadura de espacios en paralelo, interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690B-1993 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690C-1988 (No actual) Interconexiones microelectrónicas de soldadura de espacios en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE ARP4260B-2019 Procedimientos de medición fotométrica y colorimétrica para pantallas planas electrónicas aerotransportadas
• SAE ARP4260B-2014 Procedimientos de medición fotométrica y colorimétrica para pantallas planas electrónicas aerotransportadas

SAE - SAE International, Balanza microelectrónica

• SAE AMS2690B-1988 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690D-2017 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE ARP4260A-2009 Procedimientos de medición fotométrica y colorimétrica para pantallas planas electrónicas aerotransportadas

Professional Standard - Meteorology, Balanza microelectrónica

• QX/T 307-2015 Método de observación de la concentración de masa de aerosol atmosférico. Microbalanza oscilante de elemento cónico

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Balanza microelectrónica

• ASHRAE 4256-1999 Mediciones de emisiones de compuestos orgánicos volátiles (COV) de tintes para madera mediante una balanza electrónica

Danish Standards Foundation, Balanza microelectrónica

• DS/EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• DS/EN 2591-B3:1994 Serie aeroespacial-Elementos de conexión eléctrica y óptica-Métodos de prueba-Parte B3: Continuidad eléctrica a nivel de microvoltios
• DS/EN ISO 9220:1995
• DS/EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• DS/EN 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• DS/ISO/TS 16965:2013 Calidad del suelo: determinación de oligoelementos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
• DS/EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
• DS/EN 61788-7:2007
• DS/EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• DS/EN 160201:1998 Especificación detallada en blanco: Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada - Aprobación de capacidad
• DS/EN 50500:2008
• DS/EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Balanza microelectrónica

• EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de rf y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Mediciones de campo de intermodulación pasiva
• EN 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• EN 62037-2:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
• EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
• EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.

International Electrotechnical Commission (IEC), Balanza microelectrónica

• IEC 62037-6:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• IEC 62037-6:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• IEC 107/91/DTS:2008 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos
• IEC TS 62564-1:2009 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos
• IEC 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• IEC 62037-2:2013 RF pasiva y microondas, medida de nivel de intermodulación -Parte 2:Medida de intermodalación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• IEC 62037-1:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• IEC 62037-1:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• IEC 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas. Medición del nivel de intermodulación. Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición.
• IEC 62037-2:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
• IEC 62037-5:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• IEC 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• IEC 62037-3:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• IEC 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• IEC 61788-7:2020 RLV Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
• IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
• IEC 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales

AENOR, Balanza microelectrónica

• UNE-EN 62037-6:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• UNE-EN 62037-4:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
• UNE-EN 62037-1:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• UNE-EN 62037-2:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
• UNE-EN 62037-5:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
• UNE-EN 62037-3:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• UNE-EN 50500:2009 Procedimientos de medición de los niveles de campos magnéticos generados por aparatos electrónicos y eléctricos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana.
• UNE-EN 50500:2009/A1:2015 Procedimientos de medición de los niveles de campos magnéticos generados por aparatos electrónicos y eléctricos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana.

ES-UNE, Balanza microelectrónica

• UNE-EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
• UNE-EN IEC 62037-1:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición de nivel de intermodulación - Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición
• UNE-EN IEC 62037-2:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
• UNE-EN IEC 62037-5:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
• UNE-EN IEC 62037-3:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
• UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2022.)
• UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
• UNE-EN 160201:1997 ESPECIFICACIÓN DE DETALLE EN BLANCO: UNIDADES ELECTRÓNICAS MODULARES DE MICROONDAS DE CALIDAD EVALUADA CAPACIDAD HOMOLOGADA (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)
• UNE-EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)
• UNE-EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas (Ratificada por AENOR en mayo de 2013.)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• CNS 14741-2007 Medidor de gas tipo diafragma con microcomputadoras para uso de gas natural
• CNS 14741-2003 Medidor de gas tipo diafragma con microcomputadoras para uso de gas natural
• CNS 12865.11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.
• CNS 12865-11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.
• CNS 12865-9-1991 Método de Prueba para Microelectrónica Digital (Medidas de Retardo)
• CNS 12865.9-1991 Método de Prueba para Microelectrónica Digital (Medidas de Retardo)
• CNS 6673-1980 Método de prueba para concentrar y medir trazas de cobre en agua de alta pureza utilizada en la industria electrónica

U.S. Military Regulations and Norms, Balanza microelectrónica

• ARMY MIL-S-52156 D-1988 SET DE LEVANTAMIENTO, MICROONDAS ELECTRÓNICOS PARA MEDICIÓN DE DISTANCIAS

American Society for Testing and Materials (ASTM), Balanza microelectrónica

• ASTM B808-10 Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo
• ASTM D7739-11 Práctica estándar para la medición de la estabilidad térmica oxidativa mediante una microbalanza de cristal de cuarzo
• ASTM D7739-11(2020) Práctica estándar para la medición de la estabilidad térmica oxidativa mediante una microbalanza de cristal de cuarzo
• ASTM B808-05 Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo
• ASTM B808-97 Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo
• ASTM B808-97(2003) Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo
• ASTM B808-10(2015) Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo
• ASTM D7739-11(2016)
• ASTM E341-08(2020) Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
• ASTM F459-84(2001) Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
• ASTM F459-84(1995)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
• ASTM F459-13 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
• ASTM F459-13(2018) Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
• ASTM D6831-05a Método de prueba estándar para tomar muestras y determinar partículas en gases de chimenea utilizando una microbalanza inercial en la chimenea
• ASTM D6831-05 Método de prueba estándar para tomar muestras y determinar partículas en gases de chimenea utilizando una microbalanza inercial en la chimenea
• ASTM E341-96(2002) Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
• ASTM E341-96 Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
• ASTM E341-08 Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
• ASTM E341-08(2015)
• ASTM D6831-02 Método de prueba estándar para tomar muestras y determinar partículas en gases de chimenea utilizando una microbalanza inercial en la chimenea
• ASTM D6831-11 Método de prueba estándar para tomar muestras y determinar partículas en gases de chimenea utilizando una microbalanza inercial en la chimenea
• ASTM D6831-11(2018) Método de prueba estándar para tomar muestras y determinar partículas en gases de chimenea utilizando una microbalanza inercial en la chimenea
• ASTM F459-06 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
• ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
• ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
• ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
• ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
• ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
• ASTM F1593-97 Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en aluminio de calidad electrónica mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
• ASTM F1593-97(2002) Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en aluminio de calidad electrónica mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
• ASTM F1593-08 Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en aluminio de calidad electrónica mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
• ASTM F1710-08 Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en titanio de grado electrónico mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
• ASTM D5756-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
• ASTM D5756-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto

SE-SIS, Balanza microelectrónica

• SIS SS IEC 615:1983 Equipos de medición electrónicos: terminología para aparatos de microondas.
• SIS SS-ISO 9220:1989

工业和信息化部, Balanza microelectrónica

• YD/T 2827.6-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de radiofrecuencia y microondas para comunicaciones inalámbricas Parte 6: Antenas
• YD/T 2827.4-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de radiofrecuencia y microondas en comunicaciones inalámbricas Parte 4: Cables coaxiales
• YD/T 2827.2-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de microondas y radiofrecuencia de comunicaciones inalámbricas Parte 2: Conjuntos de cables coaxiales
• YD/T 2827.1-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de radiofrecuencia y microondas para comunicaciones inalámbricas Parte 1: Requisitos generales
• YD/T 2827.1-2020 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de radiofrecuencia y microondas para comunicaciones inalámbricas Parte 1: Requisitos generales
• YD/T 2827.3-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de RF y microondas de comunicaciones inalámbricas Parte 3: Conectores coaxiales

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• GOST 24613.11-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir el voltaje de entrada para niveles bajos y altos de interruptores de señales lógicas.
• GOST 24613.12-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir el voltaje de salida para niveles bajos y altos de interruptores de señal lógica.
• GOST R 8.697-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Espaciamientos interpenares en cristales. Método de medición mediante microscopio electrónico de transmisión.
• GOST 24613.10-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir la corriente de ruido y el voltaje de ruido para niveles altos y bajos de interruptores de señales lógicas.
• GOST 24613.14-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos. Método para medir corrientes de consumo de niveles bajos y altos de interruptores de señales lógicas.
• GOST 30350-1996 Circuitos integrados analógicos. Requisitos generales para aparatos y condiciones para la medición de parámetros eléctricos.
• GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
• GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
• GOST 25645.139-1986 Cinturones de radiación natural de la Tierra. Modelo de distribución espacial y energética del flujo de electrones.
• GOST 23089.8-1983 Circuitos integrados. Método de medición de la deriva de voltaje de temperatura promedio de los amplificadores operacionales y la fem de compensación cero
• GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
• GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
• GOST 23089.9-1983 Circuitos integrados. Método de medición de la deriva de temperatura de la corriente de polarización de entrada de los amplificadores operacionales y las corrientes de entrada

BR-ABNT, Balanza microelectrónica

• ABNT NBR 14521-2011 Aceptación de lotes de contadores electrónicos de potencia - Procedimiento

CZ-CSN, Balanza microelectrónica

• CSN 34 8030-1984 Aisladores. Medición del nivel de interferencias de radio.
• CSN 50 3176-1960 Panel aislante para uso eléctrico (calidad media)

未注明发布机构, Balanza microelectrónica

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• BS ISO 16564:2004(2006) Caucho natural en bruto. Determinación de la masa molecular media y de la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
• BS EN 160201:1998 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Aprobación de capacidad.
• BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
• BS EN 160200-1:1998 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos Especificación seccional: Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Parte 1: Procedimiento de aprobación de capacidad.
• DIN EN 160200-2:1998 Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Parte 2: Índice de métodos de prueba.
• DIN EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de la distribución del tamaño y la forma de las partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.

IEC - International Electrotechnical Commission, Balanza microelectrónica

• TS 62564-1-2009 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos (Edición 1.0)

Institute of Environmental Sciences and Technology, Balanza microelectrónica

• IEST RP-CC024.1-1994 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA
• IEST RP-CC024.1-2002 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA (5TA IMPRESIÓN)
• IEST RP-CC004.3-2004 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA (5TA IMPRESIÓN)

Professional Standard - Aviation, Balanza microelectrónica

• HB 8422-2014 Método de detección cuantitativa de EPMA para oligoelementos en aleaciones.
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Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Balanza microelectrónica

• GJB 2823-1997 Método de evaluación para el nivel de calidad promedio de fábrica de productos de componentes electrónicos.

工业和信息化部/国家能源局, Balanza microelectrónica

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• T/SYECA 0002-2017 Especificación de evaluación de calidad integral de la plataforma de comercio electrónico
• T/ZEA 005-2021 Requisitos básicos para el control de la calidad y la seguridad de los productos comercializados en plataformas de comercio electrónico
• T/ZAS 3012-2021 Requisitos básicos para el monitoreo de calidad y seguridad de los productos de la plataforma de comercio electrónico.

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• DB51/T 2039-2015 Especificación de evaluación de calidad integral de la plataforma de comercio electrónico

Professional Standard - Electron, Balanza microelectrónica

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IN-BIS, Balanza microelectrónica

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• JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
• JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
• JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

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Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

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Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Balanza microelectrónica

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国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Balanza microelectrónica

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• GB/T 27896-2018 Método de prueba para el contenido de vapor de agua del gas natural: analizadores electrónicos de humedad.
• GB/T 21021.4-2021 Medición del nivel de intermodulación para dispositivos pasivos de RF y microondas. Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales.
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• GB/T 41076-2021 Análisis de microhaz: difracción por retrodispersión de electrones: determinación cuantitativa de austenita en acero
• GB/T 21021.2-2021 Medición del nivel de intermodulación para dispositivos pasivos de RF y microondas. Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
• GB/T 21021.1-2021 Medición de nivel de intermodulación para dispositivos pasivos de RF y microondas. Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición.
• GB/T 21021.3-2021 Medición del nivel de intermodulación para dispositivos pasivos de RF y microondas. Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales.
• GB/T 40602.2-2021 Antenas y sistemas de recepción para interferencias de radio. Parte 2: Medición básica. Método para medir el campo cercano en un patrón de antena de alta ganancia en una cámara anecoica de microondas.

Professional Standard - Commodity Inspection, Balanza microelectrónica

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Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

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• EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
• EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
• EN 3475-802:2002 Serie aeroespacial - Cables eléctricos, uso en aeronaves - Métodos de prueba - Parte 802: Capacitancia desequilibrada
• EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
• prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
• prEN ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• DB44/T 1935-2016 Determinación de oligoelementos en el cabello mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Public Safety Standards, Balanza microelectrónica

• GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)

BE-NBN, Balanza microelectrónica

• NBN-EN 2591-B3-1994 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte B3: Continuidad eléctrica al nivel de microvoltios

PH-BPS, Balanza microelectrónica

• PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Balanza microelectrónica

• GJB 950.3A-2008 Métodos de análisis de elementos menores de metales preciosos y sus aleaciones. Parte 3: Determinación de paladio menor y rodio en aleaciones de platino mediante método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GJB 950.2A-2008 Métodos de análisis de elementos menores de metales preciosos y sus aleaciones.Parte 2: Determinación de oro y hierro menores en platino y aleaciones de platino, aleaciones de paladio mediante método pedrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

• DB43/T 2356-2022 Especificaciones Técnicas para Registros de Verificación Electrónica Basados en Plataforma Confiable de Medición de Energía Blockchain

Association of German Mechanical Engineers, Balanza microelectrónica

• VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
• VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
• VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
• VDI 2083 Blatt 13.2-2009 Tecnología de salas blancas - Calidad, producción y distribución de agua ultrapura - Microelectrónica y otras aplicaciones técnicas

Lithuanian Standards Office , Balanza microelectrónica

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• LST EN 50500-2009 Procedimientos de medición de los niveles de campos magnéticos generados por aparatos electrónicos y eléctricos en el entorno ferroviario con respecto a la exposición humana.
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CEN - European Committee for Standardization, Balanza microelectrónica

• EN 3475-802:2009 Serie aeroespacial - Cables@ eléctricos@ uso aeronáutico - Métodos de prueba - Parte 802: Desequilibrio de capacitancia

Professional Standard - Building Materials, Balanza microelectrónica

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AT-ON, Balanza microelectrónica

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• ONORM EN 2591-B3-1994 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte B3: Continuidad eléctrica a nivel de microvoltios

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza microelectrónica

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Professional Standard - Coal, Balanza microelectrónica

• MT/T 1014-2006 Determinación de elementos mayoritarios y mineros en cenizas de carbón mediante plasma acoplado inductivamente. Espectrometría de emisión atómica

Professional Standard - Nuclear Industry, Balanza microelectrónica

• EJ/T 20170-2018 Determinación de 20 elementos traza de impurezas en uranio metálico mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Energy, Balanza microelectrónica

• NB/T 11245-2023 Determinación de oligoelementos en combustibles de biomasa sólida mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• NB/T 20215-2013 Prueba de tipo de cámara de microfisión móvil para centrales nucleares de reactores de agua a presión, medición del flujo de neutrones en el núcleo

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Balanza microelectrónica

• REPORT RA.2188-2010 Densidad de flujo de potencia y niveles de pire potencialmente perjudiciales para los receptores de radioastronomía

Standard Association of Australia （SAA）, Balanza microelectrónica

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Balanza microelectrónica

• SMPTE ST 183:1996 ST 183:1996 - Estándar SMPTE - Para películas cinematográficas - Películas fotográficas de prueba de nivel de audio - Medición del factor de salida fotoeléctrica

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CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Balanza microelectrónica

• EN 160201:1997 Especificación detallada en blanco: Unidades electrónicas modulares de microondas con aprobación de capacidad de calidad evaluada

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