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Espectrometría de masas de iones

Espectrometría de masas de iones, Total: 23 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectrometría de masas de iones son: Química analítica, Educación, ingeniería de energía nuclear, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Medicina de laboratorio.

International Organization for Standardization (ISO), Espectrometría de masas de iones

ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo

British Standards Institution (BSI), Espectrometría de masas de iones

BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente)

Association Francaise de Normalisation, Espectrometría de masas de iones

NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta

KR-KS, Espectrometría de masas de iones

KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectrometría de masas de iones

ASTM E1504-11 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-11 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM C1476-00 Método de prueba estándar para el análisis de orina para tecnecio-99 mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
ASTM C1379-10 Método de prueba estándar para el análisis de orina en busca de isótopos de uranio-235 y uranio-238 mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Education, Espectrometría de masas de iones

JY/T 0568-2020 Reglas generales para la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectrometría de masas de iones

GB/T 39486-2020 Reactivo químico: reglas generales para la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Standard Association of Australia （SAA）, Espectrometría de masas de iones

AS 4873.1:2005 Práctica recomendada para espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS): principios y técnicas

European Committee for Standardization (CEN), Espectrometría de masas de iones

EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente)