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Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica., Total: 10 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica. son: Equipo óptico, Química analítica, Cerámica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• GB/T 17365-1998 Método de preparación de muestras de metal y aleaciones en microanálisis con sonda electrónica.
• GB/T 17366-1998 Métodos de preparación de muestras de minerales y rocas para EPMA.
• GB/T 17363-1998

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• NEMA LL 6-1999 Procedimientos para la preparación de muestras de lámparas fluorescentes compactas electrónicas integrales y el TCLP

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

KR-KS, Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

British Standards Institution (BSI), Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
• BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda

Association Francaise de Normalisation, Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Preparación de muestras para instrumento de sonda electrónica.

• JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

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