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microscopía electrónica de barrido de campo cercano

microscopía electrónica de barrido de campo cercano, Total: 194 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopía electrónica de barrido de campo cercano son: Metales no ferrosos, Equipo óptico, Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Educación, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Tratamiento superficial y revestimiento., Calidad del aire, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Circuitos integrados. Microelectrónica, Pinturas y barnices, pruebas de metales, Fibras textiles, Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales de construcción, Física. Química, Productos de hierro y acero., Cerámica, Pesca y cría de peces., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Dispositivos semiconductores.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

ESD - ESD ASSOCIATION, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SP14.5-2015 Escaneo de inmunidad de campo cercano: nivel de componente/módulo/PCB

TIA - Telecommunications Industry Association, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

EIA/TIA-455-165A-1993 Medición del diámetro del campo en modo FOTP-165 mediante técnica de escaneo de campo cercano

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

International Organization for Standardization (ISO), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

British Standards Institution (BSI), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Commodity Inspection, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

American National Standards Institute （ANSI), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

ANSI/ESD SP14.5-2021 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Inmunidad de campo cercano Componente de escaneo/módulo/nivel de PCB
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

KR-KS, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14e1
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
GB/T 17362-1998
GB/T 17359-1998
GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.

Group Standards of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.

Professional Standard - Petroleum, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Association of German Mechanical Engineers, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

国家能源局, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

RU-GOST R, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SF/T 0139-2023

International Electrotechnical Commission (IEC), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

IEC TR 61967-1-1:2010 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1: Condiciones generales y definiciones - Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
IEC TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones - Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
IEC 61967-1-1:2010 Circuitos integrados – Medición de emisiones electromagnéticas – Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones – Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido

SE-SIS, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), microscopía electrónica de barrido de campo cercano

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Association Francaise de Normalisation, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.

Danish Standards Foundation, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

German Institute for Standardization, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994

ES-UNE, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

工业和信息化部, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Professional Standard - Public Safety Standards, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, microscopía electrónica de barrido de campo cercano

GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido

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