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Rendimiento del instrumento de parámetros

Rendimiento del instrumento de parámetros, Total: 27 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Rendimiento del instrumento de parámetros son: Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Optoelectrónica. Equipo láser, Engranajes.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rendimiento del instrumento de parámetros

• GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
• GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.

International Organization for Standardization (ISO), Rendimiento del instrumento de parámetros

• ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rendimiento del instrumento de parámetros

• KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.

British Standards Institution (BSI), Rendimiento del instrumento de parámetros

• BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
• BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
• BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
• BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
• 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rendimiento del instrumento de parámetros

• JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

German Institute for Standardization, Rendimiento del instrumento de parámetros

• DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...

Group Standards of the People's Republic of China, Rendimiento del instrumento de parámetros

• T/GDCKCJH 065-2022 Requisitos de rendimiento y métodos de prueba para probadores de parámetros de CC de pararrayos de óxido de zinc

Standard Association of Australia （SAA）, Rendimiento del instrumento de parámetros

• AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

KR-KS, Rendimiento del instrumento de parámetros

• KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Rendimiento del instrumento de parámetros

• IEEE 2700-2014 Definiciones de parámetros de rendimiento del sensor

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Rendimiento del instrumento de parámetros

• IEEE 2700-2017 Definiciones de parámetros de rendimiento del sensor

RU-GOST R, Rendimiento del instrumento de parámetros

• GOST 25678-1983 Instrumentos para medidas de energía láser de pulso. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición de parámetros básicos.

AT-ON, Rendimiento del instrumento de parámetros

• ONORM M 6773-2001 Textura de la superficie de los flancos de los dientes: parámetros de rugosidad, determinación de parámetros de rugosidad mediante palpadores, instrumentos de medición y condiciones de medición.

Otros:   Parámetros del instrumento de citometría de flujo, Parámetros de rendimiento, Parámetros del instrumento, Rendimiento del instrumento, Instrumentos de prueba paramétricos., Parámetros de medición del instrumento., Rendimiento del instrumento, Parámetros de rendimiento del instrumento, Rendimiento del instrumento de parámetros, Instrumento de medición de parámetros., Parámetros del instrumento de prensado en caliente., Parámetros del instrumento, Parámetros de rendimiento del instrumento, Parámetros de rendimiento del instrumento de prueba, Rendimiento del instrumento, Instrumento de medición de parámetros., Parámetros de rendimiento de la fibra., Parámetros de rendimiento del instrumento, Parámetros de rendimiento, Instrumentos paramétricos.