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cd47+
cd47+, Total: 8 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en cd47+ son: Circuitos integrados. Microelectrónica.
International Electrotechnical Commission (IEC), cd47+
- IEC 47A/785/CD:2008 CEI/TS 62433-1, ed. 1: Modelado de circuitos integrados de EMC - Parte 1: Marco de modelado general
- IEC 47A/808/CD:2009 CEI/TS 62433-1, ed. 1: Modelado de circuitos integrados de EMC - Parte 1: Marco de modelado general
- IEC 47A/880/CD:2012 Circuitos Integrados - Medición de Emisiones Electromagnéticas - Parte 3: Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie
- IEC 47A/887/CD:2012 CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.
- IEC 47A/898/CD:2013 CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados, medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.
- IEC 47A/900/CD:2013 CEI/TS 61967-3, ed. 2: Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 3: Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie
- IEC 47A/903/CD:2013 CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados, medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.
- IEC 47A/912/CD:2013 CEI/TS 61967-3, ed. 2: Circuitos Integrados - Medición de Emisiones Electromagnéticas - Parte 3: Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie