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Medidor de espesor de película delgada

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medidor de espesor de película delgada son: Química analítica, Pruebas no destructivas.

International Organization for Standardization (ISO), Medidor de espesor de película delgada

• IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
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Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Medidor de espesor de película delgada

• GJB/J 5463-2005 Reglamento de verificación para equipos de medición del índice de refracción y espesor de películas ópticas.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Medidor de espesor de película delgada

• GJB 8687-2015 Procedimientos de calibración para probadores de espesor e índice de refracción de películas ópticas.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Medidor de espesor de película delgada

• GB/T 33826-2017 Medición del espesor de nanopelículas sobre sustrato de vidrio: método perfilométrico

Association Francaise de Normalisation, Medidor de espesor de película delgada

• NF EN ISO 18452:2016 Cerámica técnica - Determinación del espesor de películas cerámicas con perfilómetro de contacto

German Institute for Standardization, Medidor de espesor de película delgada

• PAS 1022-2004 Procedimiento de referencia para la determinación de propiedades ópticas y dieléctricas de materiales y el espesor de capa de películas delgadas mediante elipsometría.

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