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espectrómetro analítico

espectrómetro analítico, Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectrómetro analítico son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Equipo medico, Química analítica, Minerales metalíferos, Optoelectrónica. Equipo láser, Pruebas no destructivas, Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Ferroaleaciones, Metales no ferrosos, Componentes electrónicos en general., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Geología. Meteorología. Hidrología, Centrales eléctricas en general, ingeniería de energía nuclear, Medicina de laboratorio, Metrología y medición en general., Estandarización. Reglas generales, Gas natural, Medidas lineales y angulares., Metales ferrosos, Minerales no metalíferos, Productos de metales no ferrosos., Metalurgia de polvos, Calidad, Educación, Pruebas eléctricas y electrónicas., Juegos de caracteres y codificación de información., Ciencias de la información. Publicación, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Equipo óptico, pruebas de metales, Combustibles, Productos de la industria química., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Productos de hierro y acero., Componentes de tuberías y tuberías., Equipos de diagnóstico, mantenimiento y prueba., Refractarios, Vocabularios, Equipos para trabajar la madera, Materiales de construcción.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, espectrómetro analítico

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico
CNS 10006-1984 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de hierro y acero.
CNS 9706-1984 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de hierro y acero
CNS 13921-1997 Método de análisis espectrofotoeléctrico de emisión atómica para fundición a presión de aleaciones de zinc.
CNS 10005-1984 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de materiales metálicos
CNS 12416-1988 Reglas generales para el análisis espectroscópico de emisión
CNS 14896-14-2005 Titanio - Método de análisis espectrométrico de emisión atómica
CNS 12416-2006 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
CNS 14896.14-2005 Titanio - Método de análisis espectrométrico de emisión atómica
CNS 9705-1984 Reglas generales para el análisis espectroscópico de emisión de hierro y acero
CNS 10503-1984 Análisis espectroscópico de emisión para arrabio y hierro fundido
CNS 11209-1995 Reglas generales para el análisis químico mediante espectrofotometría de absorción atómica

U.S. Air Force, espectrómetro analítico

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59112 A VALID NOTICE 1-2012 Analizador de Espectro 100 HZ a 1,8 GHZ
AIR FORCE A-A-59130 VALID NOTICE 1-2012 Analizador de Espectro 10 KHZ a 50 GHZ
AIR FORCE A-A-59130-1997 ANALIZADOR DE ESPECTRO DE 10 KHZ A 50 GHZ
AIR FORCE A-A-59112 A-2002 ANALIZADOR DE ESPECTRO 100 HZ A 1,8 GHZ

European Committee for Standardization (CEN), espectrómetro analítico

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
PREN 14726-2003 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
CEN EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio. Análisis químico. Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa.
EN 12019:1997 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica

Association Francaise de Normalisation, espectrómetro analítico

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF C46-256:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento del analizador de gases - Parte 6: analizadores fotométricos
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF X11-682:1984 Análisis del tamaño de partículas mediante sedimentación por gravedad en un líquido Método de ocultación - Fotosedimentómetro
NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF C46-253*NF EN 61207-3:2002 Analizadores de gases - Expresión de rendimiento - Parte 3: analizadores de oxígeno paramagnéticos.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
NF A07-510X2:1975 ANÁLISIS DE ALUMINIO NO ALADO MEDIANTE ESPECTROGRAFÍA DE EMISIÓN.
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
NF EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
NF A07-510:1971 Análisis de aluminio no aleado mediante espectrografía de emisión.
NF A07-515:1971 Análisis de aleaciones de aluminio y cobre mediante espectrografía de emisión.
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.

British Standards Institution (BSI), espectrómetro analítico

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS 6329:1982 Método de expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS ISO 22029:2013 Análisis de microhaces. Formato de archivo estándar EMSA/MAS para intercambio de datos espectrales
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 23219:2022 Gas natural. Formato para datos de analizadores cromatógrafos de gases para gas natural. Formato de archivo XML
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN 61207-6:2015 Cambios rastreados. Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores fotométricos
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
20/30379704 DC BS ISO 23219. Gas natural. Formato para datos de analizadores cromatógrafos de gases para gas natural. Formato de archivo XML
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X

International Electrotechnical Commission (IEC), espectrómetro analítico

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 60714:1981 Expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61207-3:1998 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61455:1995
IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.

Danish Standards Foundation, espectrómetro analítico

DS/EN 62129/Corr. 1:2007
DS/EN 62129:2006
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DS/EN 61290-5-2:2004
DS/EN 61290-10-1:2009
DS/EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
DS/EN 61290-10-2:2008
DS/EN 61290-10-4:2007

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), espectrómetro analítico

JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS K 0127:1992 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
JIS H 1183:2007 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
JIS H 1305:2005 Método para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS H 1683:2002 Tantalio - Método de análisis espectrométrico de absorción atómica
JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS Z 8826:2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, espectrómetro analítico

JJG 1035-2022 Analizador de espectro de comunicación
JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones
JJG 501-2000 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 9-1985 2107 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 10-1985 2112 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(地质) 1005-1990 Reglamento de verificación para el analizador láser de uranio
JJG(电子) 07010-1991 Especificación para la verificación de analizadores de espectro panorámicos modelo YH4032
JJG(电子) 07007-1989 Reglamento de verificación del analizador de espectro 141T/8554B/8552B

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), espectrómetro analítico

KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS M 0028-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión de luz.
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D 1681-2003 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS D 1684-2008 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-2008 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS C IEC 61207-6-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D 2086-2004 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
KS D 2518-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D ISO 3815-2002(2006) Zinc y aleaciones de zinc－Análisis espectrográfico
KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS M ISO 78-4:2010 Diseños para estándares －Parte 4: Estándar para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
KS D ISO 3815:2011 Zinc y aleaciones de zinc－Análisis espectrográfico
KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
KS D 2553-2015 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS D 1680-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotográfica de materiales metálicos.
KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2568-2008 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2553-2015(2020) Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS E 3030-2007(2012) Análisis espectroquímico de absorción atómica para minerales de hierro.
KS D 2568-2019 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS E 3030-1982 Análisis espectroquímico de absorción atómica para minerales de hierro.

Group Standards of the People's Republic of China, espectrómetro analítico

T/ZPP 017-2023 Analizador de citometría de masas
T/CSTM 00964-2022 Reglas generales para la evaluación del desempeño del espectrómetro atómico.
T/CSTM 00159-2020 Métodos de calibración de espectroscopía Raman portátil.
T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
T/ZZB 019-2015 Analizador de gases láser sintonizable
T/SHDSGY 031-2023 Especificación técnica para espectrómetro de alta resolución.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, espectrómetro analítico

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GB/T 5123-1985 Níquel: método de análisis espectral
GB/T 11461-1989
GB/T 19627-2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
GB/T 20732-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.
GB/T 5871-1986 Método de análisis espectrográfico del aluminio y sus aleaciones.
GB/T 25476-2010 Analizador de gases láser sintonizable
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 16599-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
GB/T 16600-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
GB/T 9259-1988 Terminología del análisis espectroquímico de emisiones.
GB/T 6040-2002 Reglas generales para el análisis infrarrojo.
GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 11170-1989 Método para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de acero inoxidable.
GB/T 15337-1994 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.
GB/T 15337-2008 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.

ZA-SANS, espectrómetro analítico

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 5567:1968 Análisis espectrográfico del cobre.
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

Lithuanian Standards Office , espectrómetro analítico

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 61207-6-2001 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994)
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
LST EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)

German Institute for Standardization, espectrómetro analítico

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006, corrección de errores según DIN EN 62129:2007-01; Versión alemana CENELEC-Cor. :2006 según EN 62129:2006
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN EN 61207-6:1995 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994); Versión alemana EN 61207-6:1994
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 61207-6:2016-03 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:2014); Versión alemana EN 61207-6:2015 / Nota: DIN EN 61207-6 (1995-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de diciembre de 2017.
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN ISO 13321:2004 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopía de correlación de fotones (ISO 13321:1996)
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN 51009:2013-11 Análisis espectral atómico óptico: principios y definiciones.
DIN EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica (incluye AC:2000); Versión alemana EN 12938:1999 + AC:2000
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-10-1:2010-01 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009 / Nota: DIN EN 61290-10-1 (2004-02) sigue siendo válida junto...
DIN 51009:2013 Análisis espectral atómico óptico: principios y definiciones.
DIN 51009:2001 Análisis espectral atómico óptico: principios y definiciones.

IEC - International Electrotechnical Commission, espectrómetro analítico

PAS 62129-2004 Calibración de analizadores de espectro óptico (Edición 1.0;: 2006)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, espectrómetro analítico

EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (Incorpora corrección de errores de diciembre de 2006)
EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

ES-UNE, espectrómetro analítico

UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN 61207-6:2015 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 6: Analizadores fotométricos (Ratificada por AENOR en febrero de 2015.)
UNE-EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en abril de 2004.)
UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)
UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)
UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)
UNE-EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 10-1: Parámetros multicanal - Método de impulsos mediante interruptor óptico y analizador de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)

工业和信息化部/国家能源局, espectrómetro analítico

JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento

Indonesia Standards, espectrómetro analítico

SNI 06-6596-2001 Tratamiento de agua para análisis de metales mediante espectrofotómetros de absorción atómica.

CZ-CSN, espectrómetro analítico

CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros
CSN 42 0600 Cast.3-1975 Antimonio de alta paridad. Métodos de análisis químico y espectral. Eliminación de arsénico por método fotométrico.

SE-SIS, espectrómetro analítico

SIS SS IEC 714:1983 Equipos electrónicos de medida - Expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.

Professional Standard - Electron, espectrómetro analítico

SJ/Z 3206.3-1989 Instrumento y sus requisitos de rendimiento para la determinación del espectro de emisión.
SJ/T 10234-1991 Analizador de espectro para QF4031
SJ 20914-2004 Especificaciones generales para analizador de espectro.
SJ 2656-1986 Método de análisis espectral de tungsteno.
SJ 2657-1986 Método de análisis espectral del molibdeno.
SJ/T 10606-1994 Especificación genérica para analizadores de espectro de vídeo.
SJ 20251-1993
SJ 20250-1993
SJ 20249-1993 Regulación de verificación de analizadores de espectro de baja frecuencia modelo BP28A.

IN-BIS, espectrómetro analítico

IS 12803-1989 MÉTODO DE ANÁLISIS DEL CEMENTO HIDRÁULICO MEDIANTE ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X
IS 11148-1984 EXPRESIÓN DE LAS PROPIEDADES DE LOS ANALIZADORES DE ESPECTRO
IS 7658-1975 MÉTODO DE ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DEL ALUMINIO
IS 2271-1967 MÉTODO RECOMENDADO PARA EL ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DEL PLATINO

Professional Standard - Chemical Industry, espectrómetro analítico

HG/T 2954~2955-2008 Formato de escritura estándar para el método de análisis espectroscópico de absorción atómica Formato de escritura estándar para el método de análisis espectroscópico de absorción molecular
HG/T 2955-2008 Diseños para estándares de análisis espectrométrico de absorción molecular.
HG/T 2954-2008 Diseños para el estándar de análisis espectrométrico de absorción atómica.
HG/T 2954-1985(1997) Diseños de estándar de análisis espectrométrico de absorción atómica para productos químicos.

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IEEE 748-1979 NORMA PARA ANALIZADORES DE ESPECTRO

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ISO 23219:2022 Gas natural: formato para datos de analizadores cromatógrafos de gases para gas natural: formato de archivo XML
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 22029:2012 Análisis de microhaces: formato de archivo estándar EMSA/MAS para el intercambio de datos espectrales
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 13321:1996 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopia de correlación de fotones
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 3815:1976 Zinc y aleaciones de zinc; Análisis espectrográfico
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 78-4:1983 Diseños para estándares; Parte 4: Norma para el análisis espectrométrico de absorción atómica
ISO 22029:2022 Análisis de microhaces: formato de archivo estándar EMSA/MAS para el intercambio de datos espectrales
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

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JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
JJF 1396-2013 Especificación de calibración para analizador de espectro
JJF 1361-2012 Programa de Evaluación de Patrones de Analizadores Quimioluminiscentes de NO/NO
JJF 1568-2016 Especificación para la calibración de analizadores de flujo espectrofotométricos
JJF 2022-2023 Especificación de calibración para cromatógrafo de gases para análisis de licores.
JJF 1211-2008 Especificación de calibración para analizadores de tamaño de partículas por dispersión de luz estática
JJF 1362-2012 Programa de evaluación de patrones de analizadores de gases de combustión
JJF 2036-2023 Especificaciones de calibración para analizadores bioquímicos secos.

KR-KS, espectrómetro analítico

KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

中国气象局, espectrómetro analítico

QX/T 565-2020 Medidor de fenómeno de precipitación de espectro de caída láser

RO-ASRO, espectrómetro analítico

STAS 1706/17-1971 Análisis speelroquímico de COBRE
STAS 11564-1982 ACEROS RÁPIDOS PARA HERRAMIENTAS Análisis espectrográfico en emisión
STAS 11607-1981 ACEROS AL CARBONO DE BAJA Y MEDIA ALEACIÓN Análisis espectrográfico
STAS 11464-1980 HIERRO Y ACERO Análisis espectroquímico
STAS 5177-1981 Terminología del ANÁLISIS ESPECTROGRÁFICO DE EMISIÓN

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), espectrómetro analítico

IEEE Std 748-1979 Estándar IEEE para analizadores de espectro

Professional Standard - Electricity, espectrómetro analítico

DL/T 386-2010 Calibración para espectrómetro de emisión atómica de llama de segunda derivada

Professional Standard - Nuclear Industry, espectrómetro analítico

EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil
EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil
EJ/T 823-1994 Analizador de uranio de trazas de fluorescencia láser
EJ/T 823-2016 Analizador de trazas de uranio fluorescente

国家药监局, espectrómetro analítico

YY/T 1792-2021 Analizador de inmunocromatografía de fluorescencia
YY/T 1155-2019 Inmunoanalizador de luminiscencia completamente automático

RU-GOST R, espectrómetro analítico

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GOST 14339.5-1991 Tungsteno. Métodos de análisis espectral.
GOST 8857-1977 Dirigir. Método de análisis espectral.
GOST 12223.0-1976 Iridio. Método de análisis espectral.
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GOST 14316-1991 Molibdeno. Métodos de análisis de espectro.
GOST 8776-1979 Cobalto. Métodos de análisis espectral de emisiones químico-atómicas.
GOST 18895-1997 Acero. Método de análisis espectral fotoeléctrico.
GOST 17261-1977 Zinc. Método espectral de análisis.
GOST 15483.10-2004 Estaño. Métodos de análisis espectral de emisiones atómicas.
GOST 3221-1985 Aluminio primario. Métodos de análisis espectral.
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GOST 22397-1977 Polvo de zinc. Método de análisis espectral.
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GOST 15483.10-1978 Estaño. Métodos espectrales para la determinación de bismuto, hierro, cobre, arsénico, plomo, antimonio, zinc y aluminio.
GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
GOST 23328-1995 Aleaciones de zinc. Métodos de análisis espectral.
GOST 1367.1-1983 Antimonio. Método espectral para la determinación de impurezas sin concentración preliminar.
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GOST 7728-1979 Aleaciones de magnesio. Métodos de análisis espectral.
GOST 12224.1-1978 Osmímo. Método de análisis químico-espectral.
GOST 13348-1974 Antimonuros antimonicos. Método de análisis espectral.
GOST 23902-1979 Aleaciones de titanio. Métodos de análisis espectral.
GOST 7.28-1980 Sistema de normas "información, bibliotecas y publicaciones". Representación del alfabeto latino extendido para intercambio de información en cintas magnéticas.
GOST 23328-1978 Aleaciones antifricción de zinc. Métodos de análisis espectral.
GOST 4.361-1985 Sistema de índice de calidad del producto. Analizadores espectrométricos de masas. Nomenclatura del índice
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GOST 27809-1995
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GOST 12554.2-1983 Aleaciones de platino-rutenio. Método de análisis espectral.
GOST 12555.2-1983 Aleaciones de plata-platino. Método de análisis espectral.
GOST 12556.2-1982 Aleaciones platino-rodio. Métodos de análisis espectral.
GOST 12558.2-1978 Aleaciones de paladio-plata. Método de análisis espectral.
GOST 12562.2-1982 Aleaciones oro-platino. Métodos de análisis espectral.
GOST 12563.2-1983 Aleaciones de oro-paladio. Método de análisis espectral.
GOST 16321.2-1970 Aleaciones de plata-cobre. Método de análisis espectral.
GOST 16273.1-1985 Selenio técnico. Método de análisis espectral.
GOST 27809-1988 Acero y hierro fundido. Métodos de análisis espectrogapnico.
GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
GOST 17261-2008 Zinc. Métodos de análisis espectral de emisiones atómicas.
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GOST 12552.2-1977 Aleaciones de platino-níquel. Método de análisis espectral.
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GOST 12560.2-1978 Aleaciones de paladio-plata-cobalto. Método de análisis espectral.
GOST 12561.2-1978 Aleaciones de paladio-plata-cobre. Método de análisis espectral.
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BR-ABNT, espectrómetro analítico

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American Society for Testing and Materials (ASTM), espectrómetro analítico

ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D7941/D7941M-23 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM E498-95(2000) Métodos de prueba estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM E498/E498M-11(2017) Práctica estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM E498/E498M-11(2022) Práctica estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo de sonda trazadora
ASTM D7941/D7941M-14 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM E1603-99 Métodos de prueba estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM E1603-99(2006) Métodos de prueba estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM E1603/E1603M-11 Práctica estándar para la medición de fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas o el analizador de gases residuales en el modo campana
ASTM E1009-95(2000) Práctica estándar para evaluar un espectrómetro de vacío de emisión óptica para analizar acero al carbono y de baja aleación
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E718-80 Método para el análisis espectrográfico de cartuchos de latón.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, espectrómetro analítico

EN 61207-6:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 6: Analizadores fotométricos
EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 10-1: Parámetros multicanal Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.

Professional Standard - Medicine, espectrómetro analítico

YY/T 0655-2008 Analizador de química seca
YY/T 1155-2009 Analizador automático de inmunoensayo de luminiscencia

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BS EN 61290-3-1:2003(2004) Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3 - 1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Métodos de prueba para amplificadores de fibra óptica – Parte 1 1: Parámetros de ganancia y rendimiento óptico – Método del analizador de espectro óptico

Defense Logistics Agency, espectrómetro analítico

DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL
DLA A-A-50767-1983 ANALIZADOR DE ACABADO SUPERFICIAL

Professional Standard - Education, espectrómetro analítico

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JY/T 0573-2020 Reglas generales del método de análisis de espectroscopia láser Raman
JY/T 002-1996 Reglas generales para los métodos de análisis de espectroscopia láser Raman
JY/T 0572-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de espectroscopia de dicroísmo circular

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Professional Standard - Non-ferrous Metal, espectrómetro analítico

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YS/T 83-2006 Paladio básico como análisis espectral.
YS/T 84-2006 Basis iridum como análisis espectral.
YS/T 85-2006 Rodio básico como análisis espectral.
YS/T 82-1994 Sustratos de platino para análisis espectroscópicos.
YS/T 83-1994 Matriz de paladio para análisis espectroscópico
YS/T 84-1994 Matriz de iridio para análisis espectroscópicos.
YS/T 85-1994 Matriz de rodio para análisis espectroscópico
YS/T 631-2007 Métodos de análisis del zinc. La espectrometría de emisión óptica.
YS/T 558-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
YS/T 559-2009 Métodos para el análisis del espectro de emisión de tungsteno.
YS/T 558-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de molibdeno
YS/T 559-2006 Método de análisis de espectroscopía de emisión de tungsteno
YS/T 464-2003 Métodos analíticos de cátodos de cobre: espectrometría de emisión óptica.

工业和信息化部, espectrómetro analítico

YS/T 84-2020 Matriz de iridio para análisis espectroscópicos.
YS/T 82-2020 Matriz de platino para análisis espectroscópico.
YS/T 83-2020 Matriz de paladio para análisis espectroscópicos.
YS/T 85-2020 Matriz de rodio para análisis espectroscópicos.
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YS/T 1033-2015 Determinación del contenido de elementos de materiales secos antifiltración mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
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Standard Association of Australia （SAA）, espectrómetro analítico

AS 4549.1:1999 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopia de correlación de fotones
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Professional Standard - Machinery, espectrómetro analítico

JB/T 10556-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.

CEN - European Committee for Standardization, espectrómetro analítico

EN 14726:2019 Aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación de la composición química del aluminio y aleaciones de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica por chispa.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, espectrómetro analítico

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JJG(教委) 021-1996 Reglamento de verificación para cromatógrafo de gases analítico
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Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, espectrómetro analítico

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American National Standards Institute （ANSI), espectrómetro analítico

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ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, espectrómetro analítico

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YB/T 4177-2008 Determinación de la composición química en ciervos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, espectrómetro analítico

GB/T 6040-2019 Reglas generales para el análisis infrarrojo.
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JJF（闽）1085-2018 Especificación de calibración para instrumentos portátiles de detección rápida de espectro Raman
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SAE - SAE International, espectrómetro analítico

SAE AIR1255-1971 Analizadores de espectro para mediciones de interferencias electromagnéticas

Association of German Mechanical Engineers, espectrómetro analítico

VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 11-2003 Calibración de equipos de medida de magnitudes eléctricas - Analizadores de espectro

Society of Automotive Engineers (SAE), espectrómetro analítico

SAE AIR1255-2009 Analizadores de espectro para mediciones de interferencias electromagnéticas

BE-NBN, espectrómetro analítico

NBN P 32-015-1977 Zinc y aleaciones de zinc - Análisis espectrográfico

The American Road & Transportation Builders Association, espectrómetro analítico

AASHTO DIVISION I-A 4.4 Método de análisis espectral monomodo: procedimiento 2

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