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Fuente de luz ultratraza

Fuente de luz ultratraza, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Fuente de luz ultratraza son: Lámparas y equipos relacionados., Equipo óptico, Optoelectrónica. Equipo láser, pruebas de metales, Plástica, Óptica y medidas ópticas., Encendiendo, Calidad del aire, ingeniería de energía nuclear, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materiales conductores, Comunicaciones de fibra óptica., Materiales magnéticos, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Vocabularios, Química analítica, Carne, productos cárnicos y otros productos animales., Químicos orgánicos, Protección del medio ambiente, Protección contra el crimen, Protección de radiación, Mediciones de radiación, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Biología. Botánica. Zoología, Equipos para la industria química., Sistemas de automatización industrial, Medidas lineales y angulares., Alambres y cables eléctricos., Sistemas de telecomunicaciones, Productos petrolíferos en general, Circuitos integrados. Microelectrónica, Minerales metalíferos, carbones, Combustibles, Pruebas eléctricas y electrónicas., Dispositivos de visualización electrónica., Metales no ferrosos, Calidad del agua, Productos de la industria química., Equipo medico, Microbiología, Aplicaciones de imágenes de documentos, Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Materiales semiconductores, Sistemas de turbinas eólicas y otras fuentes alternativas de energía., Fotografía, Agricultura y silvicultura, Residuos, químicos inorgánicos, Minerales no metalíferos, ingenieria electrica en general, ingeniería de energía solar, Metrología y medición en general., Ferroaleaciones, Centrales eléctricas en general, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Cinematografía, Ingeniería vial.

Group Standards of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

T/JSQA 127-2022 Fuente de iluminación de exposición paso a paso de arco corto de presión ultraalta
T/JGXH 005-2020 Equipos de micro y nano mecanizado de precisión láser ultrarrápidos
T/CWAN 0045-2020 Método de inspección de calidad de juntas microsoldadas por láser de superaleaciones ultrafinas a base de Ni
T/AHEPI 0001-2023 Guía técnica para la integración espacio-aire-tierra mediante teledetección hiperespectral y trazabilidad de emisiones de gases traza
T/CWAN 0044-2020 Especificación del proceso de microsoldadura láser de superaleaciones ultrafinas a base de Ni
T/SUCA 002-2021 Dispositivo de visualización de ultra alta definición Requisito técnico general de la unidad de retroiluminación AM Mini-LED
T/CVIA 72-2019 Método de medición del índice óptico del módulo de fuente de luz de TV láser.
T/GVS 006-2022 Método para medir la estabilidad de la desviación de salida para fuentes de alimentación de RF de semiconductores y fuentes de alimentación de microondas
T/IAWBS 012-2019 Método de prueba para calidad de superficie y microtubo? ¿Densidad? de carburo de silicio? ¿Cristal único? Obleas de pulido: óptica de interferometría confocal y diferencial
T/AHEPI 0002-2023 Guía técnica para la monitorización mediante teledetección de gases traza mediante imágenes hiperespectrales dirigidas
T/NAIA 0223-2023 Determinación del contenido de mercurio en azufre industrial mediante digestión por microondas-fotometría de fluorescencia atómica
T/AHEPI 02-2020 Método de PCR cuantitativa fluorescente de alto rendimiento para la detección de genes de resistencia a antibióticos microbianos ambientales

British Standards Institution (BSI), Fuente de luz ultratraza

BS ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación: microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
BS EN IEC 60598-2-23:2021 Luminarias. Requisitos particulares. Sistemas de iluminación de muy baja tensión para fuentes de luz ELV
21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Parte 3. Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
BS EN 61788-7:2002 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
BS EN 61788-7:2007 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
BS EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Medidas características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas.
BS EN 61788-16:2013 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Resistencia superficial dependiente de la potencia de superconductores en frecuencias de microondas.
BS EN 61788-15:2011 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas.
BS EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
BS ISO 23833:2013 Análisis de microhaces. Vocabulario del microanálisis con sonda electrónica (EPMA)
BS EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación - Medidas de campo de intermodulación pasiva
PD IEC/TR 62221:2012 Fibra óptica. Métodos de medición. Sensibilidad a la microflexión
BS IEC 62595-2-5:2021 Unidad de iluminación de display. Método de medición de cantidades ópticas de fuentes de luz no planas.
BS EN 62148-5:2003 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de paquete e interfaz - Módulos de fibra óptica SC 1x9
BS EN 61300-3-31:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Exámenes y mediciones - Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica
PD IEC TR 62221:2001 Fibra óptica. Métodos de medición. Sensibilidad a la microflexión
18/30370111 DC BS EN 61788-7. Superconductividad. Parte 7. Medidas de características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores a frecuencias de microondas.
BS EN IEC 62037-6:2022 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
BS EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación - Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales
BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
BS EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
BS EN 61300-3-43:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.
BS EN IEC 62037-5:2021 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
BS EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en cables coaxiales.
BS ISO 6200:1999 Micrografía. Microformas de gelatina de plata de primera generación de documentos originales. Especificaciones de densidad y método de medición.
BS ISO 9848:2004 Fotografía - Microfilmes del documento fuente - Determinación de la velocidad ISO y del gradiente medio ISO
BS EN 62037-2:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medición de intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
20/30405209 DC BS EN IEC 62037-7. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 7. Medidas de campo de la intermodulación pasiva.
20/30409226 DC BS EN IEC 62037-6. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 6. Medida de la intermodulación pasiva en antenas
BS EN IEC 62037-2:2021 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medición de intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
BS EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales.
BS EN IEC 62037-8:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Medición de la intermodulación pasiva generada por objetos expuestos a la radiación RF
BS EN 61300-3-32:2006 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Exámenes y mediciones - Medición de dispersión del modo de polarización para componentes ópticos pasivos
BS ISO 14595:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS ISO 14595:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS EN IEC 61300-3-55:2020 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición - Exámenes y mediciones. Relación de extinción de polarización y precisión de codificación de componentes ópticos pasivos que mantienen la polarización.
BS ISO 22682:2017 Minerales de hierro. Determinación de oligoelementos. Método espectrométrico de plasma
20/30409222 DC BS EN IEC 62037-5. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 5. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
BS EN 61683:2000 Sistemas fotovoltaicos. Acondicionadores de potencia. Procedimiento para medir la eficiencia.
BS EN IEC 61280-1-4:2023 Cambios rastreados. Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica. Subsistemas generales de comunicación. Método de medición del flujo rodeado de fuente de luz
BS EN 61280-1-4:2010 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica - Subsistemas de comunicación generales - Método de medición del flujo rodeado de fuente de luz
20/30409218 DC BS EN 62037-3. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 3. Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales
BS ISO 11438-5:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de telurio
BS ISO 11438-6:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de talio
BS ISO 11438-7:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de plata
BS ISO 11438-8:1993 Ferroníquel. Determinación del contenido de oligoelementos mediante el método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica - Determinación del contenido de indio
BS EN 60793-1-47:2002 Fibras ópticas - Métodos de medición y procedimientos de prueba - Pérdida por macroflexión
BS EN ISO 15586:2003 Calidad del agua. Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de absorción atómica con horno de grafito.
20/30414828 DC BS EN 62037-2. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Parte 2. Medida de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
19/30396953 DC BS EN IEC 62595-2-5. Unidad de iluminación de display. Parte 2-5. Método de medición de cantidades ópticas de fuentes de luz no planas.
15/30300365 DC BS EN 62595-2. Unidad de iluminación de display. Parte 2. Métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED.
BS ISO 16592:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

DB41/T 848-2013 Fuente de luz LED para proyección de micropantallas

International Organization for Standardization (ISO), Fuente de luz ultratraza

ISO 19056-3:2022 Microscopios. Definición y medición de las propiedades de iluminación. Parte 3: Microscopía de fluorescencia de luz incidente con fuentes de luz incoherentes.
ISO 4765:2022 Emisión de fotones ultradébiles (UPE) inducida químicamente: medición como método de análisis de la degradación de material polimérico
ISO 23833:2013 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
ISO 23833:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 14595:2003 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) (Première édition)
ISO 14595:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 7589:1984 Fotografía; Iluminantes para sensitometría; Especificaciones para luz diurna y tungsteno incandescente.
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 18412:2005 Calidad del agua - Determinación de cromo(VI) - Método fotométrico para agua débilmente contaminada
ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
ISO/DIS 4484-2.2 Textiles y productos textiles. Microplásticos de origen textil. Parte 2: Análisis cualitativo y cuantitativo de microplásticos.
ISO 8687:1987 Cinematografía; Relación señal-ruido de discos de sonido fotográficos de área variable Tipo S de 8 mm, 16 mm y 35 mm; Método de medición
ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) TÉCNICA DE RECTIFICACIÓN 1 (Edición inaugural)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Fuente de luz ultratraza

JIS K 7351:2018 Método de medición sensible del peróxido en plásticos mediante la detección de emisiones de fotones ultradébiles
JIS H 7307:2005 Superconductividad - Parte 7: Mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
JIS H 7307:2010 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
JIS Z 8724:2015 Métodos de medición del color: color de la fuente de luz.
JIS Z 8724:1997 Métodos de medición del color: color de la fuente de luz.
JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
JIS C 61300-3-31:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-31: Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica.
JIS C 61300-3-43:2012 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.
JIS C 61300-3-32:2013 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-32: Exámenes y mediciones. Medición de dispersión del modo de polarización para componentes ópticos pasivos.
JIS C 61280-1-4:2022 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica. Parte 1-4: Subsistemas de comunicación generales. Método de medición del flujo rodeado de fuente de luz.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Fuente de luz ultratraza

GJB 9462-2018 Especificación para vitrocerámicas de expansión ultrabaja para giroscopios láser
GJB 8149-2013
GJB 950.5-1990 Método de análisis de oligoelementos de metales preciosos y sus aleaciones. Determinación de trazas de hierro en aleaciones de paladio mediante el método fotométrico del ácido sulfosálico.
GJB 1484A-2001 Método de análisis espectroscópico químico de trazas de boro en aluminio y aleaciones de aluminio.
GJB 1484-1992 Método de análisis espectroscópico químico de trazas de boro en aluminio y aleaciones de aluminio.

Professional Standard - Coal, Fuente de luz ultratraza

MT/T 525-1995 Caudalímetro ultrasónico de microordenador LCZ-80
MT/T 1086-2008 Determinación de elementos mayores y menores en cenizas de carbón y coque mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

German Institute for Standardization, Fuente de luz ultratraza

DIN 5032-4:1999 Fotometría - Parte 4: Medición de luminarias
DIN 5032-3:1976 Fotometría; términos de medición en luminarias de gas
DIN 5033-8:1982-04 Colorimetría; condiciones de medición para fuentes de luz
DIN 5032-9:2015-01 Fotometría - Parte 9: Medición de las cantidades fotométricas de fuentes de luz semiconductoras emisoras incoherentes
DIN EN 61788-7:2007 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2006); Versión alemana EN 61788-7:2006
DIN 5032-9:2015 Fotometría - Parte 9: Medición de las cantidades fotométricas de fuentes de luz semiconductoras emisoras incoherentes
DIN 5030-2:1982-09 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
DIN 6803-2:2020-12 Dosimetría para braquiterapia con fotones - Parte 2: Fuentes de radiación, calibración de fuentes, prueba de fuentes y cálculo de dosis
DIN 5030-2:1982 Medición espectral de radiación; fuentes de radiación; Criteria de selección
DIN 6803-2:2020 Dosimetría para braquiterapia con fotones - Parte 2: Fuentes de radiación, calibración de fuentes, prueba de fuentes y cálculo de dosis
DIN 58959-4:1997 Gestión de calidad en microbiología médica - Parte 4: Requisitos para investigaciones con microscopios ópticos
DIN 5033-8:1982 Colorimetría; condiciones de medición para fuentes de luz
DIN EN 61300-3-31:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-31: Exámenes y mediciones; Medición de relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica (IEC 61300-3-31:2003); Versión alemana EN 61300-3-31:2003
DIN EN 61300-3-43:2010-02 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica (IEC 61300-3-43:2009); Versión alemana EN 61300-3-...
DIN EN 61300-3-32:2007 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-32: Exámenes y mediciones. Medición de la dispersión del modo de polarización para componentes ópticos pasivos (IEC 61300-3-32:2006); Versión alemana E
DIN EN 61300-3-32:2007-04 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-32: Exámenes y mediciones. Medición de la dispersión del modo de polarización para componentes ópticos pasivos (IEC 61300-3-32:2006); versión alemana...
DIN 58175-2:2021-04 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación de las propiedades de los pulsos láser ultracortos. Parte 2: Método de medición por autocorrelación; Texto en alemán e inglés.
DIN V 32938:1998
DIN EN IEC 61300-3-55:2022-09 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Parte 3-55: Exámenes y mediciones - Relación de extinción de polarización y precisión de codificación de componentes ópticos pasivos que mantienen la polarización (...
DIN EN IEC 61788-7:2021 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2020); Versión alemana EN IEC 61788-7:2020
DIN EN 300463:2001 Transmisión y multiplexación (TM): requisitos de las redes de acceso óptico (OAN) pasivas para proporcionar servicios de hasta 2 Mbit/s de capacidad portadora (Aprobación de la versión en inglés EN 300463 V 1.1.2 (2000-06) como estándar alemán)
DIN 67520-4:2005 Materiales retrorreflectantes para la seguridad del tráfico. Parte 4: Requisitos fotométricos mínimos para láminas retrorreflectantes de construcciones microprismáticas.

Professional Standard - Nuclear Industry, Fuente de luz ultratraza

EJ/T 823-1994 Analizador de uranio de trazas de fluorescencia láser
EJ/T 823-2016 Analizador de trazas de uranio fluorescente
EJ/T 1221-2007 Determinación de microbromo en hexafluoruro de uranio mediante espectrofotometría.
EJ/T 296.2-2014 Determinación de trazas de uranio en orina mediante fluorometría líquida mediante ultravioleta.
EJ 296.2-1987 Método analítico de trazas de uranio en orina método de fluorescencia líquida con láser
EJ/T 1184-2005 Determinación de micro silicio en tetrafluoruro de uranio empobrecido por método espectrofotométrico
EJ/T 754-1993 Determinación de trazas de selenio en rocas que contienen uranio mediante espectrometría de fluorescencia atómica
EJ/T 20141-2016 Determinación de trazas de uranio en polvo de dióxido de plutonio de grado nuclear mediante el método de fluorescencia láser
EJ/T 296.1-1987 Método analítico de trazas de uranio en orina método de fluorescencia sólida
EJ/T 691-1992 Determinación de trazas de plata en minerales que contienen uranio mediante espectrometría de absorción atómica
EJ/T 861-1994 Determinación de trazas de rubidio y estroncio en rocas mediante espectrometría de absorción atómica

Professional Standard - Agriculture, Fuente de luz ultratraza

280药典三部-2020 Método de inspección microbiológica 3308 Método de inspección por PCR cuantitativa fluorescente (Q-PCR) para virus de origen aviar
229药典四部-2020 3300 Método de inspección microbiológica 3308 Método de inspección por PCR cuantitativa por fluorescencia (Q-PCR) de virus de origen aviar
GB 6324.6-1986 Método fotométrico para la determinación de trazas de compuestos carbonílicos en productos químicos orgánicos.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

JJF 1836-2020 Especificación de calibración para microespectrofotómetros
JJF 1261.12-2017 Reglas de pruebas de metrología para la eficiencia energética de microcomputadoras
JJF 1261.12-2013 Reglas de pruebas de metrología para etiquetas de eficiencia energética de microcomputadoras
JJF 1261.10-2017 Reglas de pruebas de metrología para la eficiencia energética de hornos microondas domésticos y similares
JJF 1261.10-2023 Reglas de pruebas de metrología para la eficiencia energética de hornos microondas domésticos y similares
JJF 1261.10-2013 Reglas de pruebas de metrología para etiquetas de eficiencia energética de hornos microondas domésticos y similares

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Fuente de luz ultratraza

GB/T 26179-2010 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz.
GB/T 28208-2011 Espectroradiometría de fuentes de radiación óptica pulsada.
GB/T 19267.8-2008 Examen físico y químico de trazas de evidencia en ciencias forenses.Parte 8: Microespectrofotometría
GB/T 19267.8-2003
GB/T 12377-1990 Método analítico de microcantidades de uranio en el aire mediante fluormetría láser.
GB/T 7922-2008 Método de medición del color de las fuentes de luz.
GB/T 7922-2023 Método para medir el color de las fuentes de iluminación.
GB/T 7922-2003 Método de medición del color de las fuentes de luz.
GB/T 14852-1993 Determinación de trazas de oxígeno en gas Método luminiscente de fósforo amarillo
GB/T 26180-2010 Método de medición y especificación de la reproducción cromática de fuentes de luz.
GB/T 18311.31-2007 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos Procedimientos básicos de prueba y medición Parte 3-31: Exámenes y mediciones Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica
GB/T 5832.3-2011 Determinación de la humedad en gases. Parte 3: El método de espectroscopía de cavidad anular hacia abajo.
GB 10267.2-1988 Métodos analíticos para el calcio metálico: determinación fotométrica de trazas de silicio.
GB/T 10267.2-1988 Método para el análisis del calcio metálico. Determinación de microcantidades de silicio mediante el método fotométrico.
GB/T 6160-2003
GB/T 16673-1996 Medición de la radiación UV-A (luz negra) utilizada en ensayos no destructivos
GB/T 8762.5-1988 Óxido de itrio de grado fósforo. Determinación del contenido de trazas de óxido de tierras raras. Método espectroquímico y método espectrográfico directo.
GB/T 12378-1990 Método analítico de microcantidades de uranio en aire mediante espectrofotofluoremetría tras extracción con TBP
GB/T 6324.6-1986 Productos químicos orgánicos para uso industrial--Determinación del contenido de compuestos carbonílicos presentes en pequeñas cantidades--Método fotométrico
GB/T 19267.3-2008 Examen físico y químico de trazas de evidencia en ciencias forenses. Parte 3: Fluoroespectrometría molecular
GB/T 19267.3-2003 Examen físico y químico de trazas de evidencia en ciencias forenses. Parte 3: Fluoroespectrometría molecular

International Commission on Illumination (CIE), Fuente de luz ultratraza

CIE 63-1984 La medición espectroradiométrica de fuentes de luz (E)
CIE 13.3-1995 Método de medición y especificación de propiedades de reproducción cromática de fuentes de luz (E)

TH-TISI, Fuente de luz ultratraza

TIS 624-1986 Estándar para medir el color de la fuente de luz.
TIS 2519-2012 Método para medir y especificar las propiedades de reproducción cromática de fuentes de luz.

PL-PKN, Fuente de luz ultratraza

PN E04042-02-1991 Mediciones de radiación óptica Colorimetría Iluminantes y fuentes estándar
PN E85203-01-1991 Calibres para portalámparas de fuentes de luz eléctrica Generalidades
PN E85201-03-1985 Fuentes de luz eléctricas Calibres para casquillos Calibre ?Go" para casquillos E40
PN E85201-15-1985 Fuentes de luz eléctrica Calibres para tapones Calibre ?Go" para tapones BA20
PN E85201-33-1986
PN E85201-46-1986
PN E85201-49-1986
PN E85201-50-1986
PN E85201-55-1990
PN E85201-24-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para tapones Calibre ?Go" para tapones BAY15d
PN E85201-57-1991 Fuentes de luz eléctrica. Galgas para tapones Calibre "Go" para tapones GR8
PN E85201-39-1986
PN E85203-38-1991 Calibres para portalámparas de fuentes de luz eléctrica Calibre ?Go" para portalámparas G4
PN E85203-40-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica Calibre ?Go" para portalámparas G9,5
PN E85203-42-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica calibre ?Go" para portalámparas GX9,5
PN E85200-46-1990 Fuentes de luz eléctrica Casquillos Dimensiones de casquillos GX9,5
PN E85201-40-1986
PN E85201-58-1991 Fuentes de luz eléctrica. Calibres para tapones. Calibre para casquillo GR8 en lámpara terminada
PN E85201-02-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para tapones Medidores ?Go" para tapones E5 y E10
PN E85201-04-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para casquillos Medidores ?Go" para casquillos E14 y E27
PN E85201-41-1986
PN E85201-17-1985 Fuentes de luz eléctrica Calibres para casquillos Calibre ?Go" para casquillos B22d-3/90°/135°/25X26
PN E85201-18-1985 Fuentes de luz eléctrica Calibres para casquillos Calibres "Not go" para casquillos de bayoneta
PN E85201-47-1986
PN E85201-01-1986 Fuentes de luz eléctrica Calibres para casquillos Resoluciones generales
PN E85201-38-1986
PN E85201-16-1985 Fuentes de luz eléctrica Calibres para tapones Calibres ?Go" para tapones BA9, B15, BA15 y B22
PN E85201-27-1986 Fuentes de luz eléctrica ' Calibres para casquillos Calibre ?Go" para casquillos G5 en lámpara terminada
PN E85201-31-1986
PN E85201-07-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para casquillos Medidores "Not go" para casquillos E14 y E27
PN E85201-32-1986
PN E85201-44-1986
PN E85201-45-1986
PN E85201-52-1986
PN E85201-53-1986
PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E Superconductividad - Parte 7: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2020)
PN E85203-29-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica. Calibres "Go" para portalámparas G6,35; GX6,35 y GY6,35
PN E85201-56-1991
PN E04042-03-1991 Mediciones de radiación óptica Colorimetría Métodos para la determinación de características espectrales y colorimétricas de fuentes de luz.
PN E85201-37-1986
PN E85203-45-1991 Calibres para portalámparas M de las fuentes de luz eléctrica Calibres para portalámparas GY9,5 y GZ9,5
PN E85201-26-1986 Fuentes de luz eléctrica Medidores para casquillos Medidores "Pasa" y "No pasa" para casquillos G5
PN E85201-28-1986 Fuentes de luz eléctrica Medidores para casquillos Medidores "Pasa" y "No pasa" para casquillos G13
PN E85201-35-1986
PN E85201-48-1986
PN E85201-05-1985 Fuentes de luz eléctricas calibres para casquillos Calibres Go" para las dimensiones Si y S de casquillos E14 y E27
PN E85201-25-1985 Fuentes de luz eléctrica Calibres para casquillos Calibres para dimensión B de casquillos BA 15 y BAY15d
PN E85203-37-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica Calibre ?E" para fuerza mínima de contacto en portalámparas G23
PN E85203-39-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica Calibre para fuerza mínima de contacto en portalámparas Gi4
PN E85203-43-1991 Calibres para portalámparas de fuentes de luz eléctrica Calibre para fuerza mínima de contacto en portalámparas GX9,5
PN E85201-29-1986
PN E85201-30-1986
PN E85201-51-1986
PN E85201-54-1991
PN E85201-42-1986
PN E85201-34-1986
PN E85201-36-1986
PN EN 10179-1992 Análisis químico de materiales ferrosos. Determinación de nitrógeno (trazas) en aceros. Método espectrofotométrico
PN E85203-32-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica. Calibre "C" para comprobar la fuerza mínima de retención en el portalámparas GR8
PN E85201-21-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para tapas Medidores para probar el diámetro interno y la profundidad de las tapas de bayoneta
PN E85203-34-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica Calibre ?B" para comprobar la fuerza máxima de inserción en el portalámparas G23
PN E85203-35-1991 Calibres para portalámparas de fuentes de luz eléctrica Calibre ?C" para comprobar la fuerza mínima de retención en portalámparas G23
PN E85203-36-1991 Calibres para portalámparas de fuentes de luz eléctrica Calibre ?D" para comprobar la fuerza máxima de retirada del contacto en portalámparas G23
PN E85203-41-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica Calibre para fuerza mínima de retención de contacto en portalámparas Gi9,5
PN-EN IEC 60598-2-23-2021-06 E Luminarias - Parte 2-23: Requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV (IEC 60598-2-23:2020)
PN E85203-30-1991 Calibres para portalámparas de las fuentes de luz eléctrica. Calibre para fuerza mínima de contacto en portalámparas G6,35; GX6,35 y GY6,35
PN E85201-22-1985 Fuentes de luz eléctrica Medidores para tapones Medidores para probar la inserción de tapones B15d y B22d en el soporte

American National Standards Institute （ANSI), Fuente de luz ultratraza

ANSI/TIA-455-203-A-2009 Método de medición del flujo rodeado por fuente de luz
ANSI/VITA 66.3-2012 Interconexión óptica en VPX: variante de haz mini expandido
ANSI/EIA/TIA 455-3A:1989 Procedimiento para medir los efectos de los ciclos de temperatura en fibra óptica, cable óptico y otros componentes pasivos de fibra óptica
ANSI/TIA/EIA 455-180-A-1999 FOTP-180, Medición de los coeficientes de transferencia óptica de un dispositivo de ramificación pasiva (acoplador)
ANSI/TIA-455-175-B-2003 Medición de la dispersión cromática del método de cambio de fase diferencial óptico monomodo
ANSI/TIA-455-3B-2009 Procedimiento para medir los efectos de los ciclos de temperatura en unidades de fibra óptica, cables ópticos y otros componentes pasivos de fibra óptica

TIA - Telecommunications Industry Association, Fuente de luz ultratraza

TIA-455-203-A-2009 Método de medición de flujo rodeado de fuente de luz FOTP-203
TIA-455-203-A-2009(2014) Método de medición de flujo rodeado de fuente de luz FOTP-203

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Fuente de luz ultratraza

KS C 6111-5-2008(2018) Mediciones del espesor de películas superconductoras en frecuencias de microondas.
KS A 0068-2015(2020) Métodos de medición del color de fuentes de luz.
KS C IEC 62221:2005 Fibras ópticas-Métodos de medición-Sensibilidad a la microflexión
KS C IEC TR 62221:2005 Fibras ópticas－Métodos de medición－Sensibilidad a la microflexión
KS C IEC TR 62221-2005(2020) Fibras ópticas. Métodos de medición. Sensibilidad a la microflexión.
KS C IEC 61300-3-31:2012 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos－Procedimientos básicos de prueba y medición－Parte 3－31：Exámenes y mediciones－Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS C IEC 61300-3-31-2004(2009) Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos－Procedimientos básicos de prueba y medición－Parte 3－31：Exámenes y mediciones－Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica
KS C IEC 61788-16:2020 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia a frecuencias de microondas.
KS D ISO 22309-2011(2016) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS X ISO 6200-2007(2022) Micrografía－Microformas de gelatina de plata de primera generación de documentos originales－Especificaciones de densidad y método de medición
KS X ISO 6200-2007(2017) Micrografía－Microformas de gelatina de plata de primera generación de documentos originales－Especificaciones de densidad y método de medición
KS C 6111-3-2007(2022) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
KS C 6111-3-2007(2017) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
KS I ISO 18412:2006 Calidad del agua－Determinación de cromo (VI)－Método fotométrico para agua débilmente contaminada
KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS A 3601-1990 Fuente de luz para determinar la sensibilidad fluorográfica de materiales sensibles a la fotografía utilizados con pantalla fluorescente verde
KS D ISO 14594:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS E 4005-2007(2012) Microscopio polarizador portátil para tomar muestras y determinar materia incombustible en mezclas de carbón y polvo de roca.
KS I ISO 15586-2010(2015) Calidad del agua－Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de absorción atómica con horno de grafito.
KS E 4005-1981 Microscopio polarizador portátil para tomar muestras y determinar materia incombustible en mezclas de carbón y polvo de roca.
KS D ISO 16592:2011 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración

HU-MSZT, Fuente de luz ultratraza

MSZ 17060-1976 VILLAMOS F?NYFORR?SOK F?NYTECHNIKAI JELLEMZ?INEK M?R?SE
MNOSZ 17055-1953 SZ?NM?R?S AZ ?NVIL?G?T?K (F?NYFORR?SOK) K?ZVETLEN SZ?NEINEK JELLEMZ?SE
MSZ 9619/5-1979 SZINM?R?S Els?dleges fényforrások x, y színkoordinátáinak meghatározása spektroradiometriás módszerrel

International Electrotechnical Commission (IEC), Fuente de luz ultratraza

IEC 61788-7:2002
IEC 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
IEC TR 62221:2001 Fibras ópticas - Métodos de medición - Sensibilidad a la microflexión
IEC TR 62221:2012 Fibras ópticas - Métodos de medición - Sensibilidad a la microflexión
IEC 61788-7:2020 RLV Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Mediciones de campo de intermodulación pasiva
IEC 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
IEC 60598-2-23:2020 Luminarias - Parte 2-23: Requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV
IEC 62037-6:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
IEC 62037-6:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
IEC 62037-5:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
IEC 61300-3-31:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-31: Exámenes y mediciones; Medición de relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica.
IEC 62037-2:2013 RF pasiva y microondas, medida de nivel de intermodulación -Parte 2:Medida de intermodalación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
IEC 62595-2-5:2021 Unidad de iluminación de pantalla - Parte 2-5: Método de medición de cantidades ópticas de fuentes de luz no planas
IEC 62037-3:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
IEC 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
IEC 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
IEC 62037-2:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
IEC 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
IEC 61300-3-32:2006 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-32: Exámenes y mediciones. Medición de la dispersión del modo de polarización para componentes ópticos pasivos.
IEC 62037-2:2012 Dispositivos pasivos de rf y microondas, Medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos coaxiales
IEC 61300-3-55:2020 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-55: Exámenes y mediciones. Relación de extinción de polarización y precisión de codificación de pola.
IEC PAS 61300-3-43:2006 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.
IEC 61300-3-43:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Fuente de luz ultratraza

EN 61788-7:2006 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de rf y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Mediciones de campo de intermodulación pasiva
EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.
EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
EN IEC 60598-2-23:2021 Luminarias - Parte 2-23: Requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV
EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
EN 62037-2:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
EN 61300-3-43:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.
EN 61300-3-31:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Parte 3-31: Exámenes y mediciones - Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Fuente de luz ultratraza

EN 61788-7:2002 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
EN 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas

Association Francaise de Normalisation, Fuente de luz ultratraza

NF X21-009:2008 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario.
NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
NF C31-888-7:2003 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
NF EN IEC 62037-7:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Mediciones de campo de intermodulación pasiva
NF EN 61300-2-38:2007 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Métodos fundamentales de prueba y medición. Parte 2-38: pruebas. Sellado de recintos de fibra óptica sobrepresurizados internamente.
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF C71-023/A1*NF EN 60598-2-23/A1:2001 Luminarias - Teil 2-23 : requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy baja tensión para lámparas de incandescencia
NF EN IEC 60598-2-23:2021 Luminarias - Parte 2-23: requisitos especiales - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV
NF C31-888-15*NF EN 61788-15:2012 Superconductividad - Parte 15: mediciones de características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
NF EN 61788-15:2012 Superconductividad - Parte 15: mediciones de características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
NF X42-204:1989 BIOTECNOLOGÍA. EQUIPOS UTILIZADOS PARA FILTRACIÓN,MICROFILTRACIÓN,ULTRAFILTRACIÓN. CLASIFICACIÓN.
NF C93-557-6*NF EN 62037-6:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
NF EN 15505:2008 Productos alimentarios - Determinación de oligoelementos - Determinación de sodio y magnesio mediante espectrometría de absorción atómica de llama tras digestión con microondas
NF C71-023*NF EN IEC 60598-2-23:2021 Luminarias - Parte 2-23: requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV
NF EN 14084:2003 Productos alimentarios - Determinación de oligoelementos - Determinación de plomo, cadmio, zinc, cobre y hierro mediante espectrometría de absorción atómica (EAA) tras digestión con microondas
NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: mediciones de características eléctricas - Resistencia superficial de superconductores dependiente de la potencia en frecuencias de microondas
NF C93-557-5*NF EN 62037-5:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: medición de la intermodulación pasiva en filtros
NF C93-557-6*NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de los superconductores a las microondas en función de la potencia
NF C71-023*NF EN 60598-2-23:1997 Luminarias. Parte 2: requisitos particulares. Sección 23: sistemas de iluminación de muy baja tensión para lámparas de incandescencia
NF C93-557-4*NF EN 62037-4:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
NF C93-557-5*NF EN IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: medición de la intermodulación pasiva en filtros
NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación - Parte 6: medida de la intermodulación pasiva en antenas
NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura crítica en frecuencias de microondas
NF C93-557-3*NF EN 62037-3:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
NF EN IEC 62037-2:2021 Dispositivos RF y microondas pasivas, medida del nivel de intermodulación - Parte 2: medida de la intermodulación pasiva en los cordones coaxiales
NF EN IEC 62037-5:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación - Parte 5: medida de la intermodulación pasiva en filtros
NF EN 62037-4:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
NF X21-001:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
NF ISO 21033:2016 Grasas de origen animal y vegetal - Determinación de oligoelementos en grasas mediante espectrometría de emisión óptica de plasma inducido de alta frecuencia (ICP-OES)
NF C93-557-2*NF EN 62037-2:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 2: medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
NF C93-557-3*NF EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
NF EN IEC 62037-3:2021 Dispositivos RF y microondas pasivas, medida del nivel de intermodulación - Parte 3: medida de la intermodulación pasiva en los conectores coaxiales
NF EN 61300-3-31:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Métodos fundamentales de prueba y medición. Parte 3-31: exámenes y mediciones. Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica.
NF C93-557-2*NF EN IEC 62037-2:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 2: medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
NF E11-016:1987 Instrumentos de medición de longitud: recuento de franjas, interferómetros con fuente láser
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
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NF EN ISO 15586:2004 Calidad del agua - Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de absorción atómica en horno de grafito
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江西省市场监督管理局, Fuente de luz ultratraza

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Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

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Danish Standards Foundation, Fuente de luz ultratraza

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DS/EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
DS/IEC 62595-2-5:2021 Unidad de iluminación de pantalla - Parte 2-5: Método de medición de cantidades ópticas de fuentes de luz no planas
DS/EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
DS/EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
DS/EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
DS/EN 61300-3-31:2003
DS/EN 61300-3-43:2009
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DS/EN ISO 15586:2004 Calidad del agua - Determinación de oligoelementos mediante espectrometría de absorción atómica con horno de grafito

中华全国供销合作总社, Fuente de luz ultratraza

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CZ-CSN, Fuente de luz ultratraza

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ZA-SANS, Fuente de luz ultratraza

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RO-ASRO, Fuente de luz ultratraza

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STAS 8675-1979 DE TERMINACIÓN DE LAS CARACTERÍSTICAS DE FOTOMETRÍA DE FUENTES LUMÍNICAS Medición del flujo luminoso de lámparas fluorescentes tubulares y lámparas de vapor de mercurio de alta presión
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CU-NC, Fuente de luz ultratraza

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中华人民共和国环境保护部, Fuente de luz ultratraza

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RU-GOST R, Fuente de luz ultratraza

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GOST 24613.2-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir la corriente de fuga.
GOST 24613.3-1981 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Método para medir el voltaje de entrada.
GOST 24613.6-1981 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la tensión de aislamiento.
GOST 24613.19-1977 Microcircuitos integrados optoelectrónicos y optoacopladores. Método para medir la relación de transferencia de corriente.
GOST 22466.1-1988 Fuentes de descarga gaseosa de radiación óptica de alta intensidad. Método para medir parámetros luminosos.
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GOST R 50737-1995 Interruptores pasivos láser. Métodos de medición y evaluación de parámetros.
GOST R 55839-2013 Fuentes de luz y accesorios de iluminación. Formato de archivo de medidas y presentación.
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GOST 24613.8-1983 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Métodos para medir la tasa de cambio crítico del voltaje dieléctrico.

GOSTR, Fuente de luz ultratraza

GOST R 55702-2020 Fuentes de luz eléctrica. Métodos de medición de características eléctricas y luminosas.

未注明发布机构, Fuente de luz ultratraza

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ES-UNE, Fuente de luz ultratraza

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UNE-EN IEC 60598-2-23:2022 Luminarias - Parte 2-23: Requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV
UNE-EN 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Medidas características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas (Ratificada por AENOR en marzo de 2012.)
UNE-EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas (Ratificada por AENOR en mayo de 2013.)
UNE-EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
UNE-EN IEC 62037-5:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
UNE-EN IEC 62037-3:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
UNE-EN IEC 62037-2:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales
UNE-EN 61300-3-43:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica.
UNE-EN IEC 61300-3-55:2020 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Parte 3-55: Exámenes y mediciones - Relación de extinción de polarización y precisión de codificación de componentes ópticos pasivos que mantienen la polarización (E...

Illuminating Engineering Society of North America, Fuente de luz ultratraza

IESNA LM-80-2008 Medición del mantenimiento del lúmenes de fuentes de luz LED
IESNA LM-58-2013 Método aprobado para métodos de medición espectroradiométrica de fuentes de luz

Professional Standard - Petrochemical Industry, Fuente de luz ultratraza

SH/T 1493-2015 C Olefinas. Determinación de trazas de carbonilos. Método espectrofotométrico.
SH/T 1493-1992 Determinación de trazas de compuestos carbonílicos en 1-buteno para uso industrial Método espectrofotométrico

Professional Standard - Chemical Industry, Fuente de luz ultratraza

HG/T 4376-2012 Analizador de humedad de trazas láser en línea para la industria química
HG/T 2416-2007 Productos químicos fotográficos. Métodos de medición de trazas de azufre en las parejas de colores. Métodos de análisis espectrofotométricos de absorciones moleculares.
HG/T 2416-1993 Determinación de trazas de azufre en acopladores químicos fotográficos Espectrofotometría de absorción molecular

American Society for Testing and Materials (ASTM), Fuente de luz ultratraza

ASTM F728-81(1997)e1 Práctica estándar para preparar un microscopio óptico para mediciones dimensionales
ASTM F72-95(2001) Especificación estándar para alambre de oro para unión de conductores de semiconductores
ASTM D5174-97 Método de prueba estándar para trazas de uranio en agua mediante fosforimetría láser pulsada
ASTM D5174-02 Método de prueba estándar para trazas de uranio en agua mediante fosforimetría láser pulsada
ASTM D1685-00 Método de prueba estándar para trazas de tiofeno en benceno mediante espectrofotometría
ASTM D6161-10 Terminología estándar utilizada para procesos de microfiltración, ultrafiltración, nanofiltración y membranas de ósmosis inversa
ASTM F3294-18 Guía estándar para realizar mediciones cuantitativas de la intensidad de la fluorescencia en ensayos celulares con microscopía de epifluorescencia de campo amplio

Professional Standard - Electricity, Fuente de luz ultratraza

DL 430-1992 Método de prueba de trazas de cobre en aceite (método espectrofotométrico con reactivo de zinc)
DL/T 386-2010 Calibración para espectrómetro de emisión atómica de llama de segunda derivada

海关总署, Fuente de luz ultratraza

SN/T 5256-2020 Determinación del contenido de fósforo en el carbón Espectrofotometría de incineración por microondas

Lithuanian Standards Office , Fuente de luz ultratraza

LST EN 61788-7-2007 Superconductividad. Parte 7: Medidas características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2006)
LST EN 61788-15-2012 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas (IEC 61788-15:2011)
LST EN 61300-3-31-2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-31: Exámenes y mediciones. Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica.
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LST EN 62037-3-2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales (IEC 62037-3:2012)
LST EN 62121-2003 Métodos de medición para grabadores/reproductores de minidisc (IEC 62121:2001)
LST EN 61300-3-43-2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-43: Exámenes y mediciones. Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica (IEC 61300-3-43:2009).
LST EN IEC 60598-2-23:2021 Luminarias - Parte 2-23: Requisitos particulares - Sistemas de iluminación de muy bajo voltaje para fuentes de luz ELV (IEC 60598-2-23:2020)

AENOR, Fuente de luz ultratraza

UNE-EN 62037-6:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
UNE-EN 62037-5:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
UNE-EN 62037-4:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
UNE-EN 62037-3:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 3: Medición de la intermodulación pasiva en conectores coaxiales
UNE-EN 61300-3-31:2004 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 3-31: Exámenes y mediciones. Medición de la relación de potencia acoplada para fuentes de fibra óptica.
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中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Fuente de luz ultratraza

GB/T 22586-2018 Mediciones características electrónicas: resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
GB/T 34894-2017 Tecnología de sistemas microelectromecánicos: método de medición para mediciones de gradiente de deformación de microestructuras MEMS utilizando un interferómetro óptico
GB/T 34893-2017 Tecnología de sistemas microelectromecánicos: método de medición para mediciones de longitud en el plano de microestructuras MEMS utilizando un interferómetro óptico
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Association of German Mechanical Engineers, Fuente de luz ultratraza

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Medición óptica y microtopografías - Calibración de microscopios de interferencia y estándares de medición de profundidad para medición de rugosidad
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
VDI 2083 Blatt 13.2-2009 Tecnología de salas blancas - Calidad, producción y distribución de agua ultrapura - Microelectrónica y otras aplicaciones técnicas

Professional Standard - Military and Civilian Products, Fuente de luz ultratraza

WJ 2437-1997 Regulaciones de verificación del instrumento de medición del número T de la lente del objetivo con poca luz TCY

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

DB23/T 2963-2021 Determinación del contenido de trazas de calcio en grafito en escamas naturales mediante el método espectrofotométrico Calcio-Arsenazo Ⅲ
DB23/T 3327-2022 Determinación del contenido de trazas de pentóxido de fósforo en grafito en escamas naturales mediante espectrofotometría de azul fosforema
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IT-UNI, Fuente de luz ultratraza

UNI 6996-1971 Instrumentos de medición. Utilice y no utilice calibres de enchufe para tamaños nominales superiores a 1,5 a 50 mm.
UNI 6992-1971 Instrumentos de medición. Utilice calibres de enchufe para tamaños nominales superiores a 1,5 y 50 mm.
UNI 6993-1971 Los instrumentos de medición utilizan calibres de enchufe para tamaños nominales superiores a 50 a 100 mm.
UNI 6994-1971 Instrumentos de medición. No se recomienda enchufar calibres para tamaños nominales de 1,5 a 50 mm.
UNI 6995-1971 Instrumentos de medición. No enchufe calibres para tamaños nominales superiores a 50 a 100 mm.
UNI 6980-1971
UNI 6981-1971 Instrumentos de medición. Pie de rey Go and not go, de doble mordaza, para medidas nominales superiores a 3 hasta 100 mm.

Professional Standard - Petroleum, Fuente de luz ultratraza

SY/T 0528-1993 Determinación de trazas de arsénico en petróleo crudo mediante espectrometría de absorción atómica

KR-KS, Fuente de luz ultratraza

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KS D ISO 14594-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS M ISO 5938-2003(2023) Naturales industriales. Criolita artificial y fluoruro de aluminio - Determinación del contenido de azufre - Espectroscopía de fluorescencia de rayos X
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工业和信息化部, Fuente de luz ultratraza

YS/T 1210-2018 Método de prueba de polarización microscópica para determinar el contenido de oxígeno en cobre.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

农业农村部, Fuente de luz ultratraza

NY/T 3677-2020 Método de detección por PCR cuantitativa por fluorescencia de microsporidios Bombyx mori

ES-AENOR, Fuente de luz ultratraza

UNE 72-003-1985 Especificación numérica del colorfísico de una luz (física)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Fuente de luz ultratraza

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GB/T 38569-2020 Evaluación del rendimiento de una cepa de microorganismos industriales: espectroscopía Raman.
GB/T 21021.2-2021 Medición del nivel de intermodulación para dispositivos pasivos de RF y microondas. Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.

Professional Standard - Machinery, Fuente de luz ultratraza

JB/T 2542-1991 Especificaciones generales para dispositivos micrométricos optomecánicos para instrumentos de metrología óptica.

国家能源局, Fuente de luz ultratraza

NB/T 10909-2021 Selección de micrositio de análisis de recursos de energía eólica y método de cálculo de generación de energía.

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Fuente de luz ultratraza

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Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Fuente de luz ultratraza

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Standard Association of Australia （SAA）, Fuente de luz ultratraza

AS 2879.7:1997(R2013) Alúmina - Determinación de oligoelementos - Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
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OVE EN IEC 62037-7:2021 Dispositivos pasivos de RF y Microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 7: Medidas de campo de intermodulación pasiva (IEC 46/827/CDV) (versión en inglés)

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PAS 61300-3-43-2006 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos – Procedimientos básicos de prueba y medición – Parte 3-43: Exámenes y mediciones – Medición de la función de transferencia de modo para fuentes de fibra óptica (Edición 1.0)

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SNI 13-6345-2000 Determinación de oligoelementos en cenizas de carbón y coque mediante espectrofotómetro de absorción atómica.

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BE-NBN, Fuente de luz ultratraza

NBN T 94-402-1977 Determinación de la masa de zinc en partículas recogidas por filtración de aire - Espectrofotometría de absorción atómica
NBN T 94-404-1977 Determinación de la masa de cobre en partículas recogidas por filtración de aire - Espectrofotometría de absorción atómica
NBN T 94-403-1977
NBN T 94-401-1977 Determinación de la masa de plomo en partículas recogidas por filtración de aire - Espectrofotometría de absorción atómica
NBN T 94-406-1977 Determinación de la masa de hierro en partículas recogidas por filtración de aire - Espectrofotometría de absorción atómica
NBN T 94-405-1977 Determinación de la masa de níquel en partículas recogidas mediante filtración de aire. Espectrofotometría de absorción atómica.

European Committee for Standardization (CEN), Fuente de luz ultratraza

EN 10179:1989 Análisis químico de materiales ferrosos: determinación de nitrógeno (montajes de trazas) en acero Método espectrofotométrico