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Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro

Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro, Total: 8 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro son: Óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares..


American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro

  • ASTM E958-93(2005) Práctica estándar para medir el ancho de banda espectral práctico de espectrofotómetros ultravioleta-visible
  • ASTM E958-93(1999) Práctica estándar para medir el ancho de banda espectral práctico de espectrofotómetros ultravioleta-visible
  • ASTM E388-04(2009) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia.
  • ASTM E388-72(1998) Método de prueba estándar para el ancho de banda espectral y la precisión de la longitud de onda de los espectrómetros de fluorescencia
  • ASTM E925-09(2022) Práctica estándar para monitorear la calibración de espectrofotómetros ultravioleta-visible cuyo ancho de banda espectral no exceda los 2 nm

German Institute for Standardization, Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro

  • DIN 32877-2:2021 Especificación geométrica de producto (GPS) - Equipos de medición dimensional: Medición optoelectrónica de longitud - Parte 2: Características de diseño y características metrológicas para los principios de medición de dispersión hacia atrás
  • DIN 32877-2:2021-07 Especificación geométrica de producto (GPS) - Equipos de medición dimensional: Medición optoelectrónica de longitud - Parte 2: Características de diseño y características metrológicas para los principios de medición de dispersión hacia atrás

Association Francaise de Normalisation, Cómo medir el ancho de banda de un espectrofotómetro

  • NF EN ISO 25178-600:2019 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: Superficie - Parte 600: características metrológicas para métodos de medición de topografía superficial




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