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Friabilidad del núcleo del chip

Friabilidad del núcleo del chip, Total: 41 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Friabilidad del núcleo del chip son: Farmacia, Tecnología del cuero, Plástica, Minerales no metalíferos, Sistemas de microprocesador, Productos de caucho y plástico., Materiales para el refuerzo de composites., Circuitos integrados. Microelectrónica, Materias primas para caucho y plástico., Residuos.


Professional Standard - Agriculture, Friabilidad del núcleo del chip

  • 170药典 三部-2010 Apéndice V Método de prueba de friabilidad de tabletas VE
  • 2366药典 二部-2010 Apéndice Método de prueba de friabilidad de la tableta XG
  • 216药典 三部-2020 Método de examen físico 0923 Método de prueba de friabilidad de la tableta
  • 117药典 四部-2020 0900 Método de inspección de características 0923 Método de inspección de friabilidad de comprimidos
  • 136药典 四部-2015 0900 Método de inspección de características 0923 Método de inspección de friabilidad de comprimidos
  • 197药典 三部-2015 Método de inspección física 0923 Método de inspección de friabilidad de tabletas regla general 46
  • 840兽药典 一部-2015 Contenido del Apéndice 0900 Método de inspección de características 0923 Método de inspección de friabilidad de tabletas

Professional Standard - Machinery, Friabilidad del núcleo del chip

工业和信息化部, Friabilidad del núcleo del chip

Association Francaise de Normalisation, Friabilidad del núcleo del chip

  • NF EN 16701:2014 Materiales energéticos de defensa - Seguridad, vulnerabilidad - Friabilidad

German Institute for Standardization, Friabilidad del núcleo del chip

  • DIN EN 16701:2015-04 Materiales energéticos para la defensa - Seguridad, vulnerabilidad - Friabilidad; Versión alemana EN 16701:2014

RU-GOST R, Friabilidad del núcleo del chip

IN-BIS, Friabilidad del núcleo del chip

  • IS 10419-1982 MÉTODO PARA LA DETERMINACIÓN DE LA FRAGILIDAD DE UNA PELÍCULA FOTOGRÁFICA

American Society for Testing and Materials (ASTM), Friabilidad del núcleo del chip

  • ASTM D4508-10 Método de prueba estándar para la resistencia al impacto de virutas de plásticos
  • ASTM D1790-21 Método de prueba estándar para la temperatura de fragilidad de láminas de plástico por impacto
  • ASTM D4508-05 Método de prueba estándar para la resistencia al impacto de virutas de plásticos
  • ASTM D4508-06 Método de prueba estándar para la resistencia al impacto de virutas de plásticos
  • ASTM D3313-99 Método de prueba estándar para la dureza de los pellets individuales de negro de humo
  • ASTM D3313-12e1 Método de prueba estándar para negro de humo y dureza de pellets individuales
  • ASTM E1109-86(2004) Método de prueba estándar para determinar la densidad aparente de fracciones de desechos sólidos
  • ASTM E1109-86(1996) Método de prueba estándar para determinar la densidad aparente de fracciones de desechos sólidos
  • ASTM E1109-86(2009) Método de prueba estándar para determinar la densidad aparente de fracciones de desechos sólidos

未注明发布机构, Friabilidad del núcleo del chip

  • BS 3482-11:1991(1999) Métodos de prueba para desecantes. Parte 11: Determinación de la friabilidad y el contenido de polvo.

British Standards Institution (BSI), Friabilidad del núcleo del chip

  • BS 5806:1979 Método de medición de espesor para bloques, adelgazamientos, películas y escisiones de mica.

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Friabilidad del núcleo del chip

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Friabilidad del núcleo del chip

  • GB/T 31294-2014 El núcleo de la pala de una turbina eólica. Método de prueba para la división del revestimiento de paneles sándwich.

Group Standards of the People's Republic of China, Friabilidad del núcleo del chip

  • T/CESA 1119-2020 Chips de IA: índice de prueba y método de prueba de chips de aprendizaje profundo para el lado de la nube
  • T/CESA 1121-2020 Chips de IA: métricas de prueba y método de prueba de chips de aprendizaje profundo para el lado del terminal
  • T/CESA 1120-2020 Chips de IA: métricas de prueba y método de prueba de chips de aprendizaje profundo para el lado del borde

SE-SIS, Friabilidad del núcleo del chip

  • SIS SMS 1843-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Paso 6/12 Axel
  • SIS SMS 1837-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ftuppgifter Pitch 12/24 Axel
  • SIS SMS 1847-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pifch 4/8 Axel
  • SIS SMS 1845-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Paso 5/10 Axel
  • SIS SMS 1841-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Spiinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 8/16 Axel
  • SIS SMS 1839-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 10/20 Axel
  • SIS SMS 1844-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 5/10 Nav
  • SIS SMS 1838-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 10/20 Nav
  • SIS SMS 1836-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 12/24 Nav
  • SIS SMS 1840-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 8/16 Nav
  • SIS SMS 1846-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 4/8 Nav
  • SIS SMS 1842-1958 Bomf?rband med Evolutionntprofil (Splinef?rband med Evolutionntprofil) M?ttuppgifter Pitch 6/12 Nav




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