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Espectrómetros y sistemas
Espectrómetros y sistemas, Total: 78 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectrómetros y sistemas son: Vocabularios, Óptica y medidas ópticas., Protección de radiación, Calidad, Telecomunicaciones en general, ingeniería de energía nuclear, Aplicaciones de la tecnología de la información., Equipo medico, Lámparas y equipos relacionados., Química analítica, Sistemas y operaciones espaciales., Pruebas no destructivas, Equipo óptico, Comunicaciones de fibra óptica., Dibujos tecnicos, Optoelectrónica. Equipo láser, Geología. Meteorología. Hidrología.
German Institute for Standardization, Espectrómetros y sistemas
- DIN 51008-2:2001-12 Espectrometría de emisión óptica (OES) - Parte 2: Términos para sistemas de llama y plasma
- DIN ISO 8576:2002-06 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada (ISO 8576:1996)
- DIN ISO 9358:2021-08 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velante de sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición (ISO 9358:1994).
- DIN ISO 14490 Beiblatt 1:2016-06 Óptica e instrumentos ópticos - Métodos de prueba para sistemas telescópicos; Suplemento 1: Guía para métodos de prueba abreviados e informe de prueba ejemplar
- DIN ISO 8576:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada (ISO 8576:1996)
American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectrómetros y sistemas
- ASTM D8470-22 Práctica estándar para el desarrollo y la implementación de pruebas de rendimiento de instrumentos para su uso en sistemas analizadores multivariados en línea, en línea y basados en espectroscopía de laboratorio
- ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
- ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
- ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
- ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
- ASTM E388-04(2023) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
- ASTM E1507-98 Guía estándar para describir y especificar el espectrómetro de un instrumento de lectura directa por emisión óptica
- ASTM E3029-15(2023) Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
- ASTM E388-04(2015) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
- ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
- ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
- ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
- ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
- ASTM E356-78(1996) Prácticas para describir y especificar el espectrógrafo
- ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
RU-GOST R, Espectrómetros y sistemas
- GOST 27176-1986 Instrumentos ópticos espectroscópicos. Términos y definiciones
- GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
- GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
International Electrotechnical Commission (IEC), Espectrómetros y sistemas
- IEC 63085:2021 Instrumentación de protección radiológica - Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes (sistemas Raman)
- IEC TR3 61276:1994
British Standards Institution (BSI), Espectrómetros y sistemas
- BS IEC 63085:2021 Instrumentación de protección radiológica. Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes (sistemas Raman)
- BS ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
- BS EN IEC 61280-1-3:2021 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica. Subsistemas generales de comunicación. Medición de longitud de onda central, ancho espectral y características espectrales adicionales.
- BS ISO 10110-17:2004 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Umbral de daño por irradiación láser
- 18/30352698 DC BS IEC 63085. Instrumentación de protección radiológica. Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes.
- 20/30391483 DC BS ISO 24121. Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Transformación de preprocesamiento espectral para compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales
- BS ISO 14490-2:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para sistemas telescópicos - Métodos de prueba para sistemas binoculares
- BS EN 62471-5:2015 Seguridad fotobiológica de lámparas y sistemas de lámparas - Proyectores de imágenes
- BS ISO 9358:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velado de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
- BS ISO 10110-13:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Umbral de daño por irradiación láser
- BS ISO 10110-8:1998 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Textura superficial
- BS ISO 10110-8:2010 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Textura de superficie; rugosidad y ondulación
RO-ASRO, Espectrómetros y sistemas
- STAS 12814-1990 ALUMINIO Y ALEACIONES DE ALUMINIO Análisis por espectrometría de emisión óptica
- STAS SR ISO 8624:1993 Óptica e instrumentos ópticos. Óptica oftálmica. Sistema de medición para monturas de gafas.
International Telecommunication Union (ITU), Espectrómetros y sistemas
Professional Standard - Machinery, Espectrómetros y sistemas
- JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
Group Standards of the People's Republic of China, Espectrómetros y sistemas
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectrómetros y sistemas
- KS B ISO 8599:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
- KS B ISO 8599:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
- KS B ISO 8599-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
- KS B ISO 9358-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos -- Deslumbramiento velador de los sistemas de formación de imágenes -- Definiciones y métodos de medición
- KS B ISO 8576:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada.
- KS B ISO 9358:2006 Óptica e instrumentos ópticos Deslumbramiento velador de sistemas de formación de imágenes: definiciones y métodos de medición
- KS B ISO 8576-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- KS B ISO 9358-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos -- Deslumbramiento velador de los sistemas de formación de imágenes -- Definiciones y métodos de medición
- KS B ISO 10109-4:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 4:Requisitos de prueba para sistemas telescópicos
- KS B ISO 10110-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 1:General
European Committee for Standardization (CEN), Espectrómetros y sistemas
- EN ISO 8599:1996 Óptica e Instrumentos Ópticos - Lentes de Contacto - Determinación de la Transmitancia Espectral y Luminosa ISO 8599 : 1994
Association Francaise de Normalisation, Espectrómetros y sistemas
- NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
- NF S10-042:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Evaluación de calidad de sistemas ópticos. Determinación de la distorsión.
- NF S10-043*NF ISO 9358:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Resplandor velador de los sistemas formadores de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
- NF S10-008-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: generales.
International Organization for Standardization (ISO), Espectrómetros y sistemas
- ISO 8599:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
- ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
- ISO 8576:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- ISO 9039:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Evaluación de la calidad de los sistemas ópticos - Determinación de la distorsión
- ISO 9358:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Deslumbramiento velante de los sistemas de formación de imágenes - Definiciones y métodos de medición
- ISO 10109-4:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 4: Requisitos de prueba para sistemas telescópicos.
- ISO 10110-1:2006 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: General
- ISO 10110-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: Generalidades
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectrómetros y sistemas
- DB44/T 1496.1-2014 Método de calibración del instrumento de prueba LED Parte 1: Integración del sistema de prueba de espectro de esfera
未注明发布机构, Espectrómetros y sistemas
- BS ISO 9358:1994(2000) Óptica e instrumentos ópticos. Resplandor velador de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
- BS EN ISO 8599:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
KR-KS, Espectrómetros y sistemas
- KS B ISO 8576-2023 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
- KS B ISO 9358-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Deslumbramiento velante de los sistemas de formación de imágenes. Definiciones y métodos de medición.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectrómetros y sistemas
- GB/T 33672-2017 Sistema de espectroscopia de cavidad anular para medir el metano atmosférico
Professional Standard - Agriculture, Espectrómetros y sistemas
- JJG(教委) 022-1996 Reglamento de Verificación de Espectrómetros de Absorción Ultravioleta y Visible
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Espectrómetros y sistemas
- JJG 2083-1990 Esquema de verificación de instrumentos de medición de radiancia e irradiancia espectrales.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectrómetros y sistemas
- JIS B 7261:2005 Óptica e instrumentos ópticos -- Requisitos ambientales -- Requisitos de prueba para sistemas telescópicos
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Espectrómetros y sistemas
- GJB 9236-2017 Especificaciones del sistema de plataforma Starlight de instrumentos Sanfu