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Retroceso positivo

Retroceso positivo, Total: 18 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Retroceso positivo son: Dispositivos semiconductores, Vehículos de carretera en general, herramientas de mano, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Mediciones de vibraciones, golpes y vibraciones., Circuitos integrados. Microelectrónica.


RU-GOST R, Retroceso positivo

  • GOST 18986.9-1973 Diodos semiconductores. Método para medir la tensión continua del pulso y el tiempo de recuperación directa.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Retroceso positivo

  • GB/T 6323.4-1994 Procedimiento de prueba de controlabilidad y estabilidad para automóviles-Prueba de retornabilidad

American Society of Mechanical Engineers (ASME), Retroceso positivo

  • ASME B107.2 Errata-1993 Llaves de tubo, extensiones, adaptadores y juntas universales, de accionamiento eléctrico (impacto) (serie en pulgadas); Erratas

Professional Standard - Post and Telecommunication, Retroceso positivo

  • YD/T 2064-2009 Especificación de equipos desulfatación de pulsos de borde positivo Sharp para baterías de plomo-ácido para telecomunicaciones

International Electrotechnical Commission (IEC), Retroceso positivo

  • IEC PAS 62260:2001 Pérdida de retorno de pulso/paso procedente de la medición en el dominio de la frecuencia utilizando la Transformación Discreta Inversa de Fourier (IDFT)

ZA-SANS, Retroceso positivo

  • SANS 16063-31:2009 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 31: Prueba de sensibilidad a la vibración transversal.

Defense Logistics Agency, Retroceso positivo

  • DLA SMD-5962-92267 REV B-1996 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, BÚFER/CONDUCTOR DE LÍNEA NO INVERSOR DE 20 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL Y OSCILACIÓN DE VOLTAJE DE SALIDA LIMITADA, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-92176 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, BÚFER OCTAL/CONDUCTOR DE LÍNEA CON SALIDAS DE TRES ESTADOS NO INVERSORES, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-89766 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, BÚFER OCTAL NO INVERSOR/CONDUCTOR DE LÍNEA CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-94501 REV A-1998 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, BÚFER/CONDUCTOR DE 16 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS NO INVERSORES, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-94509 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, BÚFER/CONDUCTOR DE 10 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS NO INVERSORES, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-92185 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, BÚFER OCTAL/CONDUCTOR DE LÍNEA CON SALIDAS NO INVERSAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-92186 REV B-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, BÚFER OCTAL/CONDUCTOR DE LÍNEA CON SALIDAS NO INVERSAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-92199 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, BÚFER/CONDUCTOR DE LÍNEA DE 10 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS NO INVERSORES, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
  • DLA SMD-5962-93174 REV D-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, BÚFER/CONDUCTOR DE 16 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS NO INVERSORES, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO

American Society for Testing and Materials (ASTM), Retroceso positivo

  • ASTM F1017-86(1994) Método de prueba estándar para probar la liberación lateral de la punta de fijaciones de esquí alpino para adultos bajo carga de impacto (retirado en 2002)

International Telecommunication Union (ITU), Retroceso positivo

  • ITU-T I.610 AMD 2 FRENCH-2006 Principios y funciones de operación y mantenimiento de la RDSI-BA: Enmienda 2: Medición del retardo de ida y vuelta utilizando una célula de bucle de retorno Comisión de Estudio 13
  • ITU-T I.610 AMD 2 SPANISH-2006 Principios y funciones de operación y mantenimiento de la RDSI-BA: Enmienda 2: Medición del retardo de ida y vuelta utilizando una célula de bucle de retorno Comisión de Estudio 13

  Retroceso, Retroceso positivo.

 




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