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Analizador óptico de campo cercano

Analizador óptico de campo cercano, Total: 208 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Analizador óptico de campo cercano son: Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Metales no ferrosos, Medicina de laboratorio, Protección contra el fuego, Optoelectrónica. Equipo láser, Metales ferrosos, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Comunicaciones de fibra óptica., Productos de la industria textil., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Medidas lineales y angulares., Pulpas, Papel y cartón, Refractarios, Fibras textiles, Radiocomunicaciones, Combustibles, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Minerales no metalíferos, carbones, Lubricantes, aceites industriales y productos afines..

U.S. Air Force, Analizador óptico de campo cercano

AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

Professional Standard - Machinery, Analizador óptico de campo cercano

JB/T 10556-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Analizador óptico de campo cercano

GB/T 20732-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.
GB/T 26328-2010 Filtros de interferencia óptica para analizador bioquímico.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 21030-2007 Método de prueba para la media y distribución del diámetro de la fibra de lana y otras fibras animales. Analizador de diámetro de fibra óptica (OFDA)

ZA-SANS, Analizador óptico de campo cercano

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

International Organization for Standardization (ISO), Analizador óptico de campo cercano

ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO 17123-7:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 7: Instrumentos ópticos de plomería.
ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 9: Escáneres láser terrestres.
ISO 12857-3:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Instrumentos geodésicos - Procedimientos de campo para determinar la precisión - Parte 3: Distancimetros electroópticos (instrumentos EDM)
ISO 17123-4:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (instrumentos EDM).
ISO 17123-1:2010
ISO 17123-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 1: Teoría.
ISO 12857-2:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Instrumentos geodésicos - Procedimientos de campo para determinar la precisión - Parte 2: Teodolitos
ISO 17123-4:2012 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (mediciones EDM a reflectores).
ISO 17123-5:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 5: Tacómetros electrónicos.
ISO 17123-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 2: Niveles.
ISO 17123-3:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 3: Teodolitos.
ISO 17123-5:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 5: Estaciones totales.
ISO 17123-5:2012 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 5: Estaciones totales.
ISO 17123-6:2003
ISO 17123-6:2022 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 6: Láseres giratorios.
ISO 17123-6:2012 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 6: Láseres giratorios.
ISO 17123-8:2007 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 8: Sistemas de medición de campo GNSS en cinemática en tiempo real (RTK).
ISO 17123-8:2015
ISO/IEEE 11073-90101:2008 Informática sanitaria. Comunicación de dispositivos médicos en el punto de atención. Parte 90101: Instrumentos analíticos. Prueba en el punto de atención.
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies - Perfilado en profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica
ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies: información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por contenedores de carbono.
ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica

British Standards Institution (BSI), Analizador óptico de campo cercano

BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
21/30393812 DC BS ISO 17123-6. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 6. Láseres giratorios
BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS 1902-9.1:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de aluminosilicato mediante fluorescencia de rayos X
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN ISO 10058-1:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica.
BS 1902 Sec.9.1:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios. Análisis químico por métodos instrumentales. Análisis de refractarios de aluminosilicato mediante fluorescencia de rayos X.
BS EN ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica (ISO 10058-1:2008)
BS 1902 Sec.9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios. Análisis químico por métodos instrumentales. Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X.
BS EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
BS ISO 22581:2021 Análisis químico de superficies. Información casi en tiempo real procedente del escaneo de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Reglas para la identificación y corrección de la contaminación de superficies por compuestos que contienen carbono

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Analizador óptico de campo cercano

KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS B ISO 12857-2-2002(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Procedimientos de campo para determinar la precisión－Parte 2: Teodolitos
KS B ISO 12857-1-2002(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Procedimientos de campo para determinar la precisión－Parte 1：Niveles
KS B ISO 12857-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Procedimientos de campo para determinar la precisión－Parte 1：Niveles
KS B ISO 12857-2:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 2: Teodolitos
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS B ISO 12857-1-2002(2017) Óptica e instrumentos ópticos－Instrumentos geodésicos－Procedimientos de campo para determinar la precisión－Parte 1：Niveles
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS E ISO 10086-1:2007 Carbón－Métodos para evaluar floculantes para su uso en la preparación de carbón－Parte 1:Parámetros básicos
KS L ISO 10058-1:2012 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X)-Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica
KS L ISO 21587-1:2012 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Analizador óptico de campo cercano

JJG 801-2004 Analizadores quimioluminiscentes de NO/NOx
JJG 895-1995 Reglamento de Verificación del Sistema de Caracterización del Perfil de Índice de Refracción y Parámetros Geométricos de la Fibra Óptica
JJG 801-1993 Regulación de verificación del analizador quimioluminiscente de NO/NO

Professional Standard - Medicine, Analizador óptico de campo cercano

YY/T 1174-2010

RU-GOST R, Analizador óptico de campo cercano

GOST R 57986-2017 Compuestos poliméricos. Espectroscopia infrarroja. Análisis cualitativo del infrarrojo cercano.
GOST R ISO 17123-4-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4. Medidores de distancia electroópticos (instrumentos EDM)
GOST R ISO 17123-7-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 7. Instrumentos ópticos de plomería.
GOST R ISO 17123-2-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 2. Niveles
GOST R ISO 17123-3-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 3. Teodolitos
GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
GOST R ISO 17123-1-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 1. Teoría
GOST R ISO 17123-8-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 8. Sistemas de medición de campo GNSS en cinemática en tiempo real (RTK)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Analizador óptico de campo cercano

JJF 1849-2020 Especificación de calibración para analizadores de quimioluminiscencia de microplacas
JJF 1361-2012 Programa de Evaluación de Patrones de Analizadores Quimioluminiscentes de NO/NO

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Analizador óptico de campo cercano

JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

KR-KS, Analizador óptico de campo cercano

KS D ISO 17054-2018(2023) Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción
KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

German Institute for Standardization, Analizador óptico de campo cercano

DIN ISO 17123-2:2021-02 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 2: Niveles (ISO 17123-2:2001); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2021-01-08
DIN ISO 17123-3:2019 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 3: Teodolitos (ISO 17123-3:2001)
DIN ISO 17123-2:2021 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 2: Niveles (ISO 17123-2:2001); Texto en alemán e inglés.
DIN ISO 17123-4:2017-09 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (mediciones EDM a reflectores) (ISO 17123-4:2012)
DIN ISO 17123-1:2017 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 1: Teoría (ISO 17123-1:2014)
DIN ISO 17123-4:2017 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (mediciones EDM a reflectores) (ISO 17123-4:2012)
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN EN 61290-10-1:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-1:2009); Versión alemana EN 61290-10-1:2009
DIN EN ISO 21587-1:2007-12 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica (ISO 21587-1:2007); Versión alemana EN ISO 21587-1:2007
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica (ISO 21587-1:2007); Versión en inglés de DIN EN ISO 21587-1:2007-12

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador óptico de campo cercano

DB43/T 1897-2020 Requisitos técnicos generales para fuentes de luz de referencia para analizadores de inmunoensayo por quimioluminiscencia.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Analizador óptico de campo cercano

EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Analizador óptico de campo cercano

IPC TM-650 2.2.14.2-1995 Distribución del tamaño de partículas de polvo de soldadura: método de analizador de imágenes ópticas

American Society for Testing and Materials (ASTM), Analizador óptico de campo cercano

ASTM E1775-20 Guía estándar para evaluar el rendimiento de la extracción in situ y del análisis electroquímico o espectrofotométrico portátil sobre el terreno para plomo
ASTM E1775-16 Guía estándar para evaluar el rendimiento de la extracción in situ y del análisis electroquímico o espectrofotométrico portátil sobre el terreno para plomo
ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM E1775-96 Guía estándar para evaluar el rendimiento de la extracción in situ y del análisis electroquímico o espectrofotométrico portátil sobre el terreno para plomo
ASTM E1775-01 Guía estándar para evaluar el rendimiento de la extracción in situ y del análisis electroquímico o espectrofotométrico portátil sobre el terreno para plomo
ASTM E1775-07(2016)
ASTM E1775-07 Guía estándar para evaluar el rendimiento de la extracción in situ y del análisis electroquímico o espectrofotométrico portátil sobre el terreno para plomo
ASTM D7112-09 Método de prueba estándar para determinar la estabilidad y compatibilidad de fueloil pesado y petróleo crudo mediante un analizador de estabilidad de fueloil pesado (detección óptica)
ASTM E1944-98(2002) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98 Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98(2007) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98(2013) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM D7417-10 Método de prueba estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un probador integrado particular de cuatro partes (espectroscopia de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Analizador óptico de campo cercano

EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (Incorpora corrección de errores de diciembre de 2006)
EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico
EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: Parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.

Professional Standard - Textile, Analizador óptico de campo cercano

FZ/T 20026-2013 Método de prueba para la longitud de la fibra y el diámetro de la parte superior y de las astillas de lana. Analizador óptico

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Analizador óptico de campo cercano

GB/T 34509.1-2017 Calibración radiométrica de campo en órbita para un sensor remoto óptico de un satélite de observación terrestre. Parte 1: infrarrojo visible cercano.
GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

International Electrotechnical Commission (IEC), Analizador óptico de campo cercano

IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC TR 63099-3:2022 Equipos de transmisión y recepción para radiocomunicaciones. Tecnologías de radio sobre fibra para la medición de campos electromagnéticos. Parte 3: Medición del patrón de campo cercano de antenas utilizando técnicas ópticas.
IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
IEC TR 61292-2:2003 Informes técnicos de amplificadores ópticos - Parte 2: Antecedentes teóricos para la evaluación de la figura de ruido utilizando el analizador de espectro eléctrico
IEC 61280-1-4:2003 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica - Parte 1-4: Subsistemas de comunicación generales; Recopilación y reducción de datos bidimensionales de campo cercano para transmisores láser de fibra multimodo

Association Francaise de Normalisation, Analizador óptico de campo cercano

NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF B40-670-1*NF EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
NF EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos de aluminosilicato refractarios (método alternativo al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: equipos, reactivos, disolución y contenido de sílice por gravimetría

未注明发布机构, Analizador óptico de campo cercano

DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Métodos de prueba para amplificadores de fibra óptica – Parte 1 1: Parámetros de ganancia y rendimiento óptico – Método del analizador de espectro óptico
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.

Standard Association of Australia （SAA）, Analizador óptico de campo cercano

AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

American National Standards Institute （ANSI), Analizador óptico de campo cercano

ANSI/TAPPI T271 om-2012 Longitud de fibra de pulpa y papel mediante analizador óptico automatizado que utiliza luz polarizada.

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador óptico de campo cercano

DB15/T 1270-2017 Método de prueba para diámetro y longitud promedio de lana y otras fibras animales Método de analizador óptico

European Committee for Standardization (CEN), Analizador óptico de campo cercano

EN ISO 20565-1:2008 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica