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Subdifracción

Subdifracción, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Subdifracción son: Óptica y medidas ópticas., Radiocomunicaciones, Química analítica, Educación, Metales no ferrosos, Refractarios, Pruebas no destructivas, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Plástica, Protección de radiación, Productos de la industria química., Vocabularios, muelles, pruebas de metales, Equipo óptico, Materiales para el refuerzo de composites., Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Optoelectrónica. Equipo láser, químicos inorgánicos, Materiales de construcción, Protección contra el fuego, Equipo medico, Cerámica, Tratamiento superficial y revestimiento., Pinturas y barnices, producción de metales, Materiales semiconductores, Metalurgia de polvos, Productos de hierro y acero., Combustibles, Calidad del agua, Minerales no metalíferos, Productos de caucho y plástico., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Calidad del aire, Medidas lineales y angulares., Odontología, Ingredientes de pintura, Componentes de tuberías y tuberías., Acústica y mediciones acústicas., Centrales eléctricas en general, Químicos orgánicos.

Professional Standard - Agriculture, Subdifracción

784兽药典一部-2015 Apéndice Contenido 0400 Espectroscopia 0451 Difracción de rayos X
77药典四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X
57药典四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
2355药典二部-2010 Apéndice IX Método de difracción de polvo de rayos FX
SN/T 5579-2023 Determinación del grado de grafitización de materiales de carbono. Método de difracción de rayos X.
130药典三部-2010 Contenido de cada monografía Ⅲ Diagnóstico in vivo de derivados proteicos puros similares al BCG
131药典三部-2010 Capítulo Ⅲ Diagnóstico in vivo de derivados proteicos puros similares a Brucella
129药典三部-2010 Capítulo Ⅲ Diagnóstico in vivo de derivados proteicos puros similares a la tuberculina
SN/T 5499-2023 Determinación del contenido de talco en productos minerales Método de ajuste de espectro completo por difracción de rayos X
SN/T 3797-2014 Método de detección de fibras de circonio en materiales refractarios de construcción Método de difracción de rayos X
SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X
392兽药典二部-2015 Nombre del Producto Catálogo Materiales y Piezas Medicinales Diez Pintura Shegan
764兽药典二部-2015 Apéndice Contenido 0100 Preparaciones Reglas generales 0113 Inyecciones
754兽药典一部-2015 Apéndice Contenido 0100 Preparaciones Reglas generales 0102 Inyecciones

Professional Standard - Machinery, Subdifracción

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
JB/T 8239.2-1999 Especificación para rejilla de difracción
JB/T 8426-1996 Revestimiento metálico. Método de prueba de difracción de rayos X para recubrimientos de aleación de níquel-fósforo

International Telecommunication Union (ITU), Subdifracción

ITU-R P.526-11-2009 Propagación por difracción
ITU-R P.526-2013 Propagación por difracción
ITU-R P.526-10-2007 Propagación por difracción
ITU-R P.526-11 FRENCH-2009 Propagación por difracción Propagación por difracción
ITU-R P.526-11 SPANISH-2009 Propagación por difracción Propagaci髇 por difracci髇

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Subdifracción

ITU-R P.526-4-1995 Propagación por difracción
ITU-R P.526-12-2012 Propagación por difracción
ITU-R P.526-5-1997 Propagación por difracción
ITU-R P.526-6-1999 Propagación por difracción
ITU-R P.526-2-1992 Propagación por difracción
ITU-R P.526-7-2001 Propagación por difracción
ITU-R P.526-14-2018 Propagación por difracción
ITU-R P.526-9-2005 Propagación por difracción
ITU-R P.526-3-1994 Propagación por difracción
ITU-R P.526-8-2003 Propagación por difracción (Cuestión UIT-R 202/3)
ITU-R P.526-1-1982 Propagación por difracción - Sección 5B - Efectos del suelo (incluida la propagación de la onda terrestre)

PT-IPQ, Subdifracción

E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Subdifracción

KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS A ISO 13320:2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS A ISO 13320-2014(2019) Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS A ISO 13320:2014 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS B ISO 15902:2013 Óptica e instrumentos ópticos ― Óptica DiffrN ― Vocabulario
KS B ISO 15902:2008 Óptica y fotónica-Óptica difractiva-Vocabulario
KS B ISO 15902:2018 Óptica y fotónica — Óptica difractiva — Vocabulario
KS P 3001-2007 Agujas de inyección desechables
KS P 3001-1987 Agujas de inyección desechables
KS P 3001-2007(2017) Agujas de inyección desechables
KS P 3004-2009 Jeringa de plástico desechable
KS P 3004-2020 Jeringa de plástico desechable
KS P 3004-1986 Jeringa de plástico desechable
KS A ISO 13320-1-2004(2009) Análisis del tamaño de partículas Métodos de difracción láser - Parte 1 Principios generales
KS P ISO 7885:2017 Odontología－Agujas de inyección estériles de un solo uso
KS M ISO 8130-13:2008 Polvos de recubrimiento －Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
KS B ISO 15626:2019 Ensayos no destructivos de soldaduras. Técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD). Niveles de aceptación.
KS M ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
KS A ISO 13320-1:2004 Análisis del tamaño de partículas Métodos de difracción láser - Parte 1 Principios generales
KS B ISO 10863:2014 Ensayos no destructivos de soldaduras. Uso de la técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD)
KS L 1614-2001(2016) Determinación de distribuciones de tamaño de partículas para polvos cerámicos finos en bruto mediante el método de difracción láser.
KS A ISO 13320-1:2014 Análisis del tamaño de partículas Métodos de difracción láser - Parte 1 Principios generales
KS P ISO 7885:2011 Odontología-Agujas de inyección estériles de un solo uso
KS D 0287-2005(2020) Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
KS L 1614-2001 Determinación de distribuciones de tamaño de partículas para polvos cerámicos finos en bruto mediante el método de difracción láser.
KS L 1614-2001(2021) Determinación de distribuciones de tamaño de partículas para polvos cerámicos finos en bruto mediante el método de difracción láser.

IET - Institution of Engineering and Technology, Subdifracción

GEOMET THEO DIFF-1994 Teoría geométrica de la difracción
THEO EDGE DIFF ELECTRO-2009 Teoría de la difracción de bordes en electromagnético: origen y validación de la teoría física de la difracción
APRT ANT DIFF THEO-1981 Antenas de apertura y teoría de la difracción
GEOMET THEO DIFF ELECTRO WAV-1979 Teoría geométrica de la difracción de ondas electromagnéticas

Association of German Mechanical Engineers, Subdifracción

VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015 Sistemas ópticos de rayos X - Rejillas de difracción

American Society for Testing and Materials (ASTM), Subdifracción

ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E2373-09 Práctica estándar para el uso de la técnica de difracción ultrasónica del tiempo de vuelo (TOFD)
ASTM D5187-91(2007) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-98 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E2860-12 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM D8352-20 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita beta mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2008)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM E2860-20 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
ASTM E3294-22 Guía estándar para el análisis forense de materiales geológicos mediante difracción de rayos X en polvo
ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D934-08 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM D934-80(1999) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM F3419-22 Método de prueba estándar para la caracterización mineral de materiales de superficie equinos mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX)
ASTM D5758-01(2021) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM E2373/E2373M-19 Práctica estándar para el uso de la técnica de difracción ultrasónica del tiempo de vuelo (TOFD)
ASTM E1106-86(2002)e1 Método estándar para la calibración primaria de sensores de emisiones acústicas
ASTM E1106-12(2021) Método de prueba estándar para la calibración primaria de sensores de emisiones acústicas
ASTM D5187-10 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
ASTM D5758-01(2011)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM F2024-10(2016) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM F2024-10(2021) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM D934-22 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D3906-19 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM F2024-00 Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM D3906-03(2008) Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM D934-13 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5758-01(2015) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-10(2015)e1 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM E2373-04 Práctica estándar para el uso de la técnica de difracción ultrasónica del tiempo de vuelo (TOFD)
ASTM E2373/E2373M-14 Práctica estándar para el uso de la técnica de difracción ultrasónica del tiempo de vuelo (TOFD)
ASTM D3906-97 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM D3720-90(2005) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
ASTM E1426-98 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM E1426-98(2009)e1 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM F2024-10 Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
ASTM E3340-22 Guía estándar para el desarrollo de métodos de análisis del tamaño de partículas por difracción láser para materiales en polvo
ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D3720-90(1999) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-21 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D3906-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X

Universal Oil Products Company (UOP), Subdifracción

UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Subdifracción

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino

Professional Standard - Education, Subdifracción

JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY 141-1982 Interferencia de luz, difracción, demostrador de polarización.
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

工业和信息化部, Subdifracción

YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
YB/T 4677-2018 Determinación de la textura en el método de difracción retrodispersada de electrones (EBSD) de acero
YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.
HG/T 5705-2020 Determinación del contenido de fase de dióxido de titanio en catalizadores de hidrogenación mediante el método de difracción de rayos X.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
HG/T 5595-2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas de catalizadores de polimerización de olefinas mediante el método de difracción láser.
JB/T 13935-2020 Instrumento de prueba no destructivo, detección ultrasónica, detector de tiempo de sonido por difracción ultrasónica
YS/T 1344.3-2020 Método de análisis químico de polvo de óxido de indio dopado con estaño Parte 3: Análisis de fase Método de análisis de difracción de rayos X

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Subdifracción

YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
YB/T 4183-2009 Método de difracción láser para la determinación de la distribución del tamaño de partículas del polvo de escoria de fundición

Society of Automotive Engineers (SAE), Subdifracción

SAE HS-784-2003 Medición de tensión residual SAE mediante difracción de rayos X, edición de 2003
SAE J784-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Subdifracción

GB/T 19501-2004 Guía general para el análisis de difracción por retrodispersión de electrones.
GB/T 19077.1-2003 Análisis del tamaño de partículas: método de difracción láser.
GB/T 19077-2016 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/T 19501-2013 Análisis de microhaces. Guía general para el análisis de difracción por retrodispersión de electrones.
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 36165-2018 Determinación del tamaño medio de grano de metal. Método de difracción por retrodispersión de electrones (EBSD)
GB/T 30703-2014 Análisis de microhaces. Directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones.
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 38532-2020 Análisis de microhaz: difracción de retrodispersión de electrones: medición del tamaño medio de grano
GB/T 19077.1-2008 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser. Parte 1: Principios generales.
GB/T 20724-2006 Método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.
GB/T 26140-2023 Método de difracción de neutrones para pruebas no destructivas Medición de tensión residual
GB/T 21782.13-2009 Polvos de recubrimiento.Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
GB/T 26140-2010 Ensayos no destructivos. Método de ensayo estándar para determinar tensiones residuales mediante difracción de neutrones.
GB 15810-2001 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Parte 1: Jeringas para uso manual.
GB 15811-2001 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
GB 15811-2016 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
GB/T 23413-2009 Determinación del tamaño de los cristalitos y microdeformación de nanomateriales. Método de ampliación de la línea de difracción de rayos X.
GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
GB/T 30793-2014 Medición de la relación de anatasa a rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
GB 16352-1996 Normas para la esterilización por radiación de rayos γ de aparatos médicos desechables.
GB/T 24576-2009 Método de prueba para medir la fracción de Al en sustratos de AlGaAs mediante difracción de rayos X de alta resolución

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Subdifracción

JJF 1967-2022 Especificación de calibración para rejillas de reflexión por difracción láser
JJF 1447-2014 Especificación de calibración para detectores de fallas ultrasónicos mediante difracción de tiempo de vuelo

SAE - SAE International, Subdifracción

SAE J784A-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

国家质量监督检验检疫总局, Subdifracción

SN/T 4760-2017 Método de difracción de rayos X para la identificación de concentrados de zinc importados
SN/T 4844-2017 Determinación del tamaño de partículas del método de difracción láser de formulación de pesticidas líquidos

United States Navy, Subdifracción

NAVY UFGS-01 33 29-2010 DOCUMENTACIÓN LEED(TM)

KR-KS, Subdifracción

KS A ISO 13320-2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
KS B ISO 15902-2018 Óptica y fotónica — Óptica difractiva — Vocabulario
KS P 3001-2007(2022) Agujas de inyección desechables
KS P ISO 7885-2017 Odontología－Agujas de inyección estériles de un solo uso
KS P ISO 7885-2022 Odontología Agujas de inyección estériles de un solo uso
KS M ISO 8130-13-2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
KS B ISO 15626-2019 Ensayos no destructivos de soldaduras. Técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD). Niveles de aceptación.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Subdifracción

JIS Z 8825:2013 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
JIS Z 8825:2022 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS Z 8825-1:2001 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Parte 1: Principios generales
JIS T 6130:2007 Agujas de inyección dentales estériles de un solo uso.
JIS T 6130:2013 Agujas de inyección dentales estériles de un solo uso.
JIS Z 8791:2011 Métodos para medir la eficiencia de difracción y las características ópticas asociadas del holograma.

Danish Standards Foundation, Subdifracción

DS/ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
DS/EN ISO 15902:2005 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN ISO 8130-13:2011
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
DS/ISO 7864:1994 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
DS/EN ISO 15626:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras - Técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD) - Niveles de aceptación
DS/EN ISO 7885:2010
DS/ISO 7886-1:1994 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso-Parte 1: Jeringas para uso manual
DS/ISO 7864:1991 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
DS/EN ISO 7864:1996
DS/EN ISO 8537:1994 Jeringas estériles de un solo uso, con o sin aguja, para insulina

British Standards Institution (BSI), Subdifracción

BS ISO 13320:2020 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
BS ISO 13320:2010 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
BS ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
BS EN ISO 15902:2005 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
BS EN ISO 15902:2020 Óptica y fotónica. Óptica difractiva. Vocabulario
19/30333249 DC BS ISO 13320. Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS ISO 13320-1:2000 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Principios generales
BS ISO 13067:2011 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
BS ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
BS EN ISO 8130-13:2010 Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS EN ISO 8130-13:2001 Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
BS ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
19/30365236 DC BS ISO 13067. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
BS ISO 22262-3:2016 Calidad del aire. Grandes materiales. Determinación cuantitativa de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
21/30398224 DC BS ISO 23749. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
BS EN ISO 7886-1:1997 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Jeringas para uso manual.
BS EN ISO 7886-1:2018 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Jeringas para uso manual.
BS EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro: métodos XRD
23/30435799 DC BS ISO 24173. Análisis de microhaces. Directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
BS ISO 16258-1:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método directo en filtro
BS DD CEN/TS 14751:2004 Soldadura: uso de la técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD) para examinar soldaduras
BS EN ISO 15626:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras. Técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD). Niveles de aceptación
BS EN ISO 7885:2010 Odontología - Agujas de inyección estériles de un solo uso
BS EN ISO 10863:2011 Ensayos no destructivos de Soldaduras. Prueba de ultrasonido. Uso de la técnica de difracción del tiempo de vuelo (TOFD)
BS EN ISO 8130-13:2019 Cambios rastreados. Polvos de recubrimiento. Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
BS EN ISO 7864:1993 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
BS EN ISO 7886-2:1996 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Jeringas para uso con bombas de jeringa motorizadas

German Institute for Standardization, Subdifracción

DIN ISO 13320:2022-12 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser (ISO 13320:2020)
DIN EN ISO 15902:2005 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario (ISO 15902:2004); Versión alemana EN ISO 15902:2005
DIN EN ISO 15902:2020-05 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario (ISO 15902:2019); Versión alemana EN ISO 15902:2020
DIN ISO 13320:2022 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser (ISO 13320:2020)
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN ISO 13067:2021-08 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2020)
DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN ISO 15902:2020 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario (ISO 15902:2019)
DIN ISO 13067:2015 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2011)
DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN ISO 24173:2013-04 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones (ISO 24713:2009)
DIN EN ISO 8130-13:2019-08 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser (ISO 8130-13:2019); Versión alemana EN ISO 8130-13:2019
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN ISO 13067:2021 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano (ISO 13067:2020)
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN ISO 24173:2013 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción por retrodispersión de electrones (ISO 24713:2009)
DIN EN ISO 15626:2018-11 Ensayos no destructivos de soldaduras - Técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD) - Niveles de aceptación (ISO 15626:2018); Versión alemana EN ISO 15626:2018
DIN EN ISO 7864:1996 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso (ISO 7864:1993); Versión alemana EN ISO 7864:1995
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN ISO 7885:2010-06 Odontología - Agujas de inyección estériles de un solo uso (ISO 7885:2010); Versión alemana EN ISO 7885:2010
DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06
DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN EN ISO 7886-1:1997 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Parte 1: Jeringas para uso manual (ISO 7886-1:1993, incluido el corrigendum técnico 1:1995); Versión alemana EN ISO 7886-1:1996
DIN EN ISO 7886-2:1997 Jeringas hipodérmicas estériles para un solo uso. Parte 2: Jeringas para uso con bombas de jeringa motorizadas (ISO 7886-2:1997); Versión alemana EN ISO 7886-2:1997

American National Standards Institute （ANSI), Subdifracción

ANSI/HPS N43.2-2021 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales

Professional Standard - Commodity Inspection, Subdifracción

SN/T 3975-2014 El método de identificación del mineral de bauxita es el método de difracción de rayos X.
SN/T 4008-2013 Detección cualitativa rápida de talco en polvo. Método de difracción de rayos X en polvo.
SN/T 3231-2012 Determinación de amianto en talco. Microscopio de luz polarizada y método de difracción de rayos X.
SN/T 2731-2010 Identificación de amianto en minerales no metálicos. Método de observación mediante microscopio instrumental de difracción radial X.
SN/T 3514-2013 Método de identificación de análisis de textura para aceros eléctricos de grano orientado y no orientado. Difracción de rayos X (XRD)
SN/T 2649.2-2010 Determinación de amianto en cosméticos de importación y exportación. Parte 2: Método de difracción de rayos X y microscopía de luz polarizada.
SN/T 3011.1-2011 Identificación de residuos sólidos de importación relacionados con minerales metálicos mediante difracción de rayos X. Parte 1: Normas generales
SN/T 3131-2012 Determinación de amianto en gomas de frenos de bicicletas. Microscopio de luz palarizada y método de difracción de rayos X.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Public Safety Standards, Subdifracción

GA/T 2079-2023 Ciencia forense Pruebas de minerales Difracción de rayos X
GA/T 1422-2017 Método de difracción de rayos X para examinar la composición de fuegos y explosivos comunes en ciencias forenses

International Organization for Standardization (ISO), Subdifracción

ISO 13320:2020 Análisis del tamaño de partículas. Métodos de difracción láser.
ISO/CD 23699 Análisis de microhaces: difracción de electrones retrodispersados: vocabulario
ISO/CD TS 5973 Buenas prácticas para mediciones de difracción láser.
ISO 13320:2009 Análisis del tamaño de partículas: métodos de difracción láser.
ISO/CD TS 5973.2:2023 Buenas prácticas para mediciones de difracción láser.
ISO 15902:2004 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
ISO 15902:2019 Óptica y fotónica — Óptica difractiva — Vocabulario
ISO 13067:2011 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano
ISO/TTA 3:2001 Materiales policristalinos - Determinación de tensiones residuales mediante difracción de neutrones
ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción de retrodispersión de electrones. Medición del tamaño medio de grano.
ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
ISO/DIS 24173:2023 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
ISO 15902:2004/cor 1:2005 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario; Corrigendum técnico 1
ISO 13320-1:1999 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Parte 1: Principios generales
ISO 23071:2021 Productos refractarios. Determinación de especies reducidas en refractarios que contienen carbono mediante XRD.
ISO 8130-13:2001 Polvos de recubrimiento - Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
ISO 10863:2011 Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos ultrasónicos - Uso de la técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD)
ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
ISO 7885:2000 Agujas de inyección dentales estériles de un solo uso.
ISO 7885:2010 Odontología - Agujas de inyección estériles de un solo uso
ISO 22262-3:2016 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: Determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
ISO 7886-4:2018 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Parte 4: Jeringas con función de prevención de reutilización.
ISO 7886:1984 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso
ISO 7864:1993 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
ISO 7885:1996 Agujas de inyección dental estériles y de un solo uso.
ISO 7864:1988 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
ISO 7864:1984 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.

GOSTR, Subdifracción

GOST 6912.2-1993 Alúmina. Método difraccial de rayos X para la determinación de alfa-óxido-aluminio
GOST R 58565-2019 Óptica y fotónica. Óptica difractiva. Términos y definiciones
GOST R ISO 6009-2020 Agujas hipodérmicas de un solo uso. Codificación de colores para identificación.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Subdifracción

GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.
GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland
GB/T 41076-2021 Análisis de microhaz: difracción por retrodispersión de electrones: determinación cuantitativa de austenita en acero
GB/T 39860-2021 Identificación rápida del polvo mineral residual de la superficie en productos de látex: espectrometría de difracción de rayos X
GB/T 41116-2021 Pruebas no destructivas de soldaduras—Técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD)—Niveles de aceptación
GB 15810-2019 Jeringas estériles de un solo uso
GB/T 40023-2021 Instrumentos de prueba no destructivos—Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo—Requisitos técnicos
GB/T 41115-2021 Pruebas no destructivas de soldaduras—Pruebas ultrasónicas—Uso de la técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD)
GB/T 39849-2021 Instrumentos de prueba no destructivos. Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo. Métodos de pruebas de rendimiento.
GB/T 20724-2021 Análisis de microhaz: método de medición del espesor de cristales delgados mediante difracción de electrones de haz convergente.

水利部, Subdifracción

SL 536-2011 Método de calibración del dispositivo de medición de tensión por difracción de rayos X.
SL 547-2011 Método de prueba para la tensión residual de estructuras metálicas hidráulicas. Método de difracción de rayos X.

Group Standards of the People's Republic of China, Subdifracción

T/CSTM 00166.2-2020 Caracterización de materiales de grafeno Parte 2 Difracción de rayos X
T/CASAS 014-2021 Método de medición para la flexión del plano basal de un sustrato de SiC. Difractometría de rayos X de alta resolución.
T/ZZB 0693-2018 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.
T/YXNX 004-2021 Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X
T/CAMDI 011-2018 Aceite de silicona para jeringa desechable
T/ZZB 1160-2019 Jeringuilla de baja resistencia para un solo uso

Association Francaise de Normalisation, Subdifracción

NF A09-282:2019 Ensayos no destructivos - Cuantificación de fases mediante difracción de rayos X
NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de electrones retrodispersados
NF S10-133*NF EN ISO 15902:2020 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
NF EN ISO 15902:2020 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
NF X21-014:2012 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano.
NF S10-133:2005 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica difractiva - Vocabulario.
NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF X11-666:1984 ANÁLISIS DEL TAMAÑO DE PARTÍCULAS DE POLVOS. MÉTODO DE DIFRACCIÓN.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X.
NF T30-499-13*NF EN ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento - Parte 13: análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF EN ISO 8130-13:2019 Polvos para recubrimiento - Parte 13: análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
NF A09-285:1999 Ensayos no destructivos - Métodos de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales sólidos - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF T25-111-6:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 6: Análisis de la difracción del área seleccionada
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF T30-499-13:2011 Polvos de recubrimiento - Parte 13: análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser.
NF S91-114*NF EN ISO 7885:2010 Odontología - Agujas de inyección estériles de un solo uso
NF T31-207:1995 Pigmentos y diluyentes. Dióxido de titanio. Relación de anatasa a rutilo por difracción de rayos X.
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF A89-516*NF EN ISO 15626:2018 Ensayos no destructivos de soldaduras - Técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD) - Niveles de aceptación
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro - Parte 2: Métodos XRD.
NF EN ISO 21432:2020 Ensayos no destructivos: método estandarizado para determinar tensiones residuales mediante difracción de neutrones
NF S93-001-2:1997 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso. Parte 2: jeringas para uso con bombas de jeringa motorizadas.
NF S91-113:2007 Odontología - Cartuchos de un solo uso para anestésicos locales.
NF S91-113*NF EN ISO 11499:2014 Odontología - Cartuchos de un solo uso para anestésicos locales

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Subdifracción

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Subdifracción

EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
EJ/T 20221-2018 Determinación del tamaño de partícula del polvo de trióxido de uranio reprocesado mediante el método de difracción láser

Standard Association of Australia （SAA）, Subdifracción

AS 2879.3:1991 Alúmina - Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
AS 2879.3:2010(R2013) Alúmina - Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
AS 4863.1:2000 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de difracción láser - Principios generales
AS 2879.3:2010 Alúmina, Parte 3: Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
AS 1094.1:2004 Jeringas hipodérmicas estériles de un solo uso - Jeringas de uso manual
AS 1946:2002 Agujas hipodérmicas estériles de un solo uso.

CEN - European Committee for Standardization, Subdifracción

EN ISO 15902:2005 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario
EN ISO 8130-13:2019 Polvos de recubrimiento - Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser
PD CEN/TS 14751:2004 Soldadura: uso de la técnica de difracción de tiempo de vuelo (TOFD) para examinar soldaduras
EN 15617:2009 Ensayos no destructivos de soldaduras - Técnica de difracción por tiempo de vuelo (TOFD) - Niveles de aceptación

European Committee for Standardization (CEN), Subdifracción

EN ISO 15902:2020 Óptica y fotónica - Óptica difractiva - Vocabulario (ISO 15902:2019)
EN ISO 8130-13:2010 Polvos de recubrimiento. Parte 13: Análisis del tamaño de partículas mediante difracción láser (ISO 8130-13:2001)
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
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NB/T 47013.10-2015 Pruebas no destructivas de equipos a presión Parte 10: Pruebas ultrasónicas por difracción y tiempo de vuelo
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Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Subdifracción

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Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Subdifracción

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Professional Standard - Non-ferrous Metal, Subdifracción

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FCR 21 CFR PART 1050-2014 NORMAS DE RENDIMIENTO PARA PRODUCTOS EMISORES DE RADIACIÓN SÓNICA, INFRASÓNICA Y ULTRASÓNICA
FCR 21 CFR PART 1050-2013 NORMAS DE RENDIMIENTO PARA PRODUCTOS EMISORES DE RADIACIÓN SÓNICA, INFRASÓNICA Y ULTRASÓNICA