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Fotodiodo de avalancha
Fotodiodo de avalancha, Total: 21 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Fotodiodo de avalancha son: Optoelectrónica. Equipo láser, Comunicaciones de fibra óptica., Circuitos impresos y placas..
Professional Standard - Military and Civilian Products, Fotodiodo de avalancha
- WJ 2100-2004 Método de prueba para fotodiodos de silicio y fotodiodos de avalancha de silicio.
- WJ 2265-1995 Especificaciones para fotodiodos de avalancha de silicio preamplificados
Professional Standard - Post and Telecommunication, Fotodiodo de avalancha
邮电部, Fotodiodo de avalancha
Professional Standard - Electron, Fotodiodo de avalancha
- SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
- SJ/T 2354-2015/0352 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
- SJ 2354.5-1983 Método de medición de capacitancia de fotodiodos PIN y de avalancha.
- SJ 2354.3-1983 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos PIN y de avalancha.
- SJ 2354.6-1983 Método de medición de la capacidad de respuesta de PIN y fotodiodos de avalancha.
- SJ 2354.13-1983 Método de medición del factor de multiplicación de PIN y fotodiodos de avalancha.
- SJ 2354.4-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de PIN y fotodiodos de avalancha
- SJ 2354.1-1983 Procedimientos generales de medición de parámetros eléctricos y ópticos de fotodiodos PIN y de avalancha.
- SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.
- SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.
- SJ 2354.2-1983 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos PIN y de avalancha
- SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha
- SJ 2354.9-1983 Método de medición de la potencia equivalente de ruido de fotodiodos PIN y de avalancha
- SJ 2354.8-1983 Método de medición del tiempo de subida y bajada del pulso de fotodiodos PIN y de avalancha
- SJ 2354.12-1983 Método de medición del factor de temperatura del voltaje de ruptura inverso de PIN y fotodiodos de avalancha
- SJ 2354.7-1983 Método de medición de la curva de respuesta espectral y el rango de respuesta espectral de fotodiodos PIN y de avalancha
GB-REG, Fotodiodo de avalancha
- REG NASA-LLIS-1840--2006 Lecciones aprendidas: falla eléctrica del conjunto del detector de fotodiodo de avalancha (APD) CALIPSO