ZH
RU
EN

Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

Análisis de parámetros de microscopio electrónico., Total: 496 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de parámetros de microscopio electrónico. son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Equipo óptico, pruebas de metales, Calidad del agua, Educación, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Comunicaciones de fibra óptica., Leche y productos lácteos, carbones, Mediciones de radiación, Aplicaciones de la tecnología de la información., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Calidad, Tecnología de la información (TI) en general, Cinematografía, Metales no ferrosos, Microbiología, Medidas lineales y angulares., Compatibilidad electromagnética (CEM), Combustibles, Agricultura y silvicultura, Fibras textiles, Equipo de trabajo sin chip, Termodinámica y mediciones de temperatura., Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Productos de la industria textil., Materias primas para caucho y plástico., Herramientas de máquina, Pruebas ambientales, Radiocomunicaciones, Circuitos integrados. Microelectrónica, Materiales aislantes, Pruebas no destructivas, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Protección contra mercancías peligrosas, Alambres y cables eléctricos., Pilas y baterías galvánicas., ingenieria electrica en general, Maquinaria rotativa, Dispositivos de visualización electrónica., Optoelectrónica. Equipo láser, Equipos terminales de telecomunicaciones, Zapatillas, Redes de transmisión y distribución de energía., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Sistemas de telecomunicaciones, Papel y cartón, Física. Química, ingeniería de energía solar.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
GB/T 30705-2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
GB/T 18735-2014 Análisis de microhaces. Guía general para la especificación de materiales de referencia finos nanométricos para microscopio electrónico de transmisión analítica (AEM/EDS)
GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
GB/T 18735-2002
GB/T 20726-2015
GB/T 17359-1998
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
GB/T 17362-1998
GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies
GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
GB/T 25635.2-2010 Desbarbadoras electroquímicas.Parte 2:Parámetros
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 26274-2010 Especificación general para el analizador de flujo de transporte de televisión digital.
GB/T 4796-2001 Clasificación de parámetros ambientales y sus severidades de productos eléctricos y electrónicos.
GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
GB/T 29310-2012 Guía para el análisis estadístico de datos de rotura de aislamiento eléctrico.
GB/T 25634.2-2010 Máquinas de electrodescarga de moldes de neumáticos.Parte 2:Parámetros
GB/T 10593.1-2005 Métodos de medición de parámetros ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 1: Vibración
GB/T 10593.2-2023 Métodos de medición de parámetros ambientales de productos eléctricos y electrónicos Parte 2: Niebla salina
GB/T 10593.2-2012 Método de medición de parámetros ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Niebla salina
GB/T 23480.2-2009 Máquinas de electrodescarga de perforación de alta velocidad para orificios pequeños.Parte 2: Parámetros
GB/T 13782-1992 Método de prueba para parámetros de distribución de longitud de fibras textiles. Método del condensador eléctrico.
GB/T 2679.11-2008 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 2679.11-1993 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX

Professional Standard - Machinery, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 5770.1-2006 Máquinas herramienta de conformado electrolítico vertical Parte 1: Parámetros
JB/T 11997.1-2014
JB/T 10329.2-2002 Máquinas eléctricas de fusión y explosión cilíndricas externas -Parte 2:Parámetros
JB/T 10329.2-2012 Máquinas de explosión por fusión eléctricas cilíndricas externas.Parte 2: Parámetros
JB/T 5548.1-2015
JB/T 5548.1-2006 Vibrador eléctrico Parte 1: Tipos y parámetros básicos
JB/T 8353.1-2006 Máquinas de fundición a presión con rotor de motor totalmente vertical Parte 1: Parámetros básicos
JB/T 11536.1-2013 Tolva de pesaje electrónica, parte 1: tipos y parámetros básicos
JB/T 10330.2-2004 Perforadoras de orificios pequeños por electrodescarga de alta velocidad Parte 2: Parámetros
JB/T 5814.1-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos-Parámetros básicos.Parte 1: General
JB/T 5814.2-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos de corriente continua. Parámetros básicos. Parte 2: Máquinas trefiladoras.
JB/T 5814.3-2008 Equipos para alambres y cables. Parámetros básicos. Parte 3: Máquinas trenzadoras.
JB/T 5814.4-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos de corriente continua. Parámetros básicos. Parte 4: Máquinas cableadoras.
JB/T 5814.5-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos de corriente continua. Parámetros básicos. Parte 5: Máquinas extrusoras.
JB/T 5814.6-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos. Parámetros básicos. Piezas 6: Máquinas esmaltadora.
JB/T 5814.7-2008 Equipos para hilos y cables eléctricos. Parámetros básicos. Parte 7: Trenzadoras.
JB/T 5814.4-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables. Parte 4: Equipos de cableado.
JB/T 5814.5-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 5: Equipos de extrusión
JB/T 5814.6-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 6: Equipos esmaltados
JB/T 5814.7-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables. Parte 7: Equipos de trenzado.
JB/T 5814.1-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 1: Disposiciones generales
JB/T 5814.2-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 2: Equipos de tracción
JB/T 5814.3-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 3: Equipos de alambre trenzado
JB/T 12382.1-2015 Prensa de tornillo eléctrica para la fabricación de ladrillos.Parte 1: Tipos y parámetros
JB/T 11194.1-2011 Prensa de tornillo eléctrica.Parte 1: Tipo y parámetro
JB/T 12285.1-2015 Alimentador vibratorio de horno eléctrico Parte 1: tipos y parámetros básicos
JB/T 5814.8-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos de corriente continua. Parámetros básicos. Parte 8: Máquinas de colada continua ascendente.
JB/T 5814.9-2008 Equipos para alambres y cables eléctricos de corriente continua. Parámetros básicos. Parte 9: Máquinas de colada continua y laminadoras.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 13366-1:2008 | IDF 148-1:2008 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)
ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 14594:2003 Analyse par microfaisceaux - Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) - Líneas directrices para la determinación de parámetros experimentales para la espectrometría de dispersión de longitud de onda
ISO 14594:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
ISO 7404-5:2009 Métodos para el análisis petrográfico de carbones - Parte 5: Método de determinación microscópica de la reflectancia de la vitrinita
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda; Corrigendum técnico 1
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 11775:2015
ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 2648:1974 Lana; Determinación de parámetros de distribución de longitud de fibras; método electrónico
ISO 2648:2020 Lana. Determinación de los parámetros de distribución de la longitud de las fibras. Método de capacitancia.
ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador espectral eléctrico.
NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
NF EN 60444-5:2001 Medición de parámetros de resonadores de cuarzo - Parte 5: métodos para determinar parámetros eléctricos equivalentes utilizando analizadores de redes automáticos y corrección de errores
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF C93-625*NF EN 60444-5:2001 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 5: métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores
NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
FD CEN/TR 15641:2007 Análisis de productos alimenticios - Determinación de residuos de pesticidas mediante LC-MS/MS - Parámetros de espectrometría de masas en tándem
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
FD V03-063*FD CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos - Determinación de residuos de pesticidas mediante LC-MS/MS - Parámetros de espectrometría de masas en tándem
NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF G07-094*NF ISO 2648:2020 Lana - Determinación de los parámetros de distribución de longitud de la fibra - Método de capacitancia
NF ISO 2648:2020 Lana - Determinación de los parámetros de distribución de longitud de las fibras - Método capacitivo
NF C97-001-4-4*NF EN 60958-4-4:2016 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-11-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 11-2: parámetro de dispersión del modo de polarización - Método de análisis de esfera de Poincaré
NF C58-982-1:2007 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera - Parte 1: parámetros de ensayo.
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
NF EN 62333-3:2012 Placa reductora de ruido para dispositivos y aparatos digitales - Parte 3: caracterización de los parámetros de la placa reductora de ruido
NF EN 60958-4-4:2016 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos
NF U47-700:2019 Métodos de análisis en Salud Animal - Sistema de intercambio de datos desmaterializados en laboratorios de análisis - ELabs Animal Health
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-11-1*NF EN 61290-11-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 11-1: parámetro de dispersión del modo de polarización. Análisis propio de la matriz de Jones (JME).

British Standards Institution (BSI), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 7404-5:2009 Métodos para el análisis petrográfico de carbones - Método de determinación microscópica de la reflectancia de la vitrinita
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 14594:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
BS ISO 14594:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
23/30425940 DC BS ISO 14594. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS EN 60444-5:1995 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo - Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes mediante técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores
BS EN 61290-3-2:2003
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN 60444-5:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes mediante técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores.
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-1-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 14595:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS ISO 14595:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-11-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetro de dispersión del modo de polarización - Método de análisis de esfera de Poincaré
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 2648:2020 Lana. Determinación de parámetros de distribución de longitud de fibras. Método de capacitancia
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-11-1:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba -Parte 11-1: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Análisis propio de la matriz de Jones (JME)
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BS EN 61982-1:2006 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera - Parte 1: Parámetros de ensayo
BS EN 61982-1:2007 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera. Parámetros de prueba
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico

工业和信息化部, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión
JBT13738-2019 Analizador portátil multiparamétrico de calidad del agua.
JB/T 13738-2019 Analizador portátil multiparamétrico de calidad del agua.
YD/T 3733-2020 Parámetros de análisis de compatibilidad y coexistencia, métodos de modelado y simulación de redes y sistemas IMT con otros servicios/sistemas de radio
YD/T 4043-2022 Arquitectura de referencia de plataforma multicéntrica de análisis colaborativo de datos médicos basada en inteligencia artificial
JB/T 8353.1-2021 Máquina de fundición a presión con rotor de motor completamente vertical, parte 1: Parámetros

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS H ISO 13366-1:2021 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)
KS D ISO 14594:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 14594:2012 Análisis de microhaces－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 60444-5-2016(2021) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores.
KS C IEC 61290-3-2:2005 Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 14595:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D 1678-2012(2017) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión de plasma acoplado inductivamente de aluminio y aleaciones.
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 60444-5:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores.
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS C 0278-1997 Clasificación de las condiciones ambientales Parte I: Clasificación de los parámetros ambientales y sus severidades.
KS K ISO 2648:2009 Lana－Determinación de los parámetros de distribución de longitud de la fibra－Método electrónico
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS C IEC 62341-6:2007 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) －Parte 6: Métodos de medición
KS K ISO 2648:2018 Lana. Determinación de los parámetros de distribución de la longitud de las fibras. Método electrónico.
KS C IEC 61290-5-3:2003 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos - Parte 5 - 3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
KS C IEC 60034-4:2002 Máquinas eléctricas rotativas－Parte 4: Métodos para determinar cantidades de máquinas síncronas a partir de pruebas.
KS C IEC 61982-1-2009(2014) Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera－Parte 1:Parámetros de prueba
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-11-1:2005 Métodos de prueba de amplificadores ópticos - Parte 11 - 1: Dispersión del modo de polarización - Método de análisis propio de la matriz de Jones (JME)

KR-KS, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS H ISO 13366-1-2021 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)
KS D ISO 14594-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 14594-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS C IEC 60444-5-2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores.
KS D ISO 14595-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS K ISO 2648-2018 Lana. Determinación de los parámetros de distribución de la longitud de las fibras. Método electrónico.

Professional Standard - Education, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

German Institute for Standardization, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

DIN 58389-2:1996 Telescopios - Parámetros fotométricos para telescopios de observación y miras telescópicas - Parte 2: Determinación de la transmisión espectral
DIN EN 61290-3-2:2009-06 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008); Versión alemana EN 61290-3-2:2008 / Nota: DIN EN 61290-3-2 (2003-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2011-10-01....
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 60444-5:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores (IEC 60444-5:1995); Versión alemana EN 60444-5:1997
DIN 55303-7:1996 Interpretación estadística de datos - Parte 7: Procedimientos de estimación y prueba para distribuciones de Weibull con dos parámetros
DIN EN 61290-1-2:2006-07 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005 / Nota: DIN EN 61290-1-2 (1999-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2008-10-0...
DIN 10186:2005 Análisis microbiológico de la leche - Enumeración de levaduras y mohos - Método de referencia
DIN 10186:2022-11 Análisis microbiológico de la leche - Enumeración de levaduras y mohos - Método de referencia
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-2:2009 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008); Versión alemana EN 61290-3-2:2008
DIN EN 60444-5:1997-10 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores (IEC 60444-5:1995); Versión alemana EN 60444-5:1997
DIN 10474:2003 Determinación del tipo de mantequilla con análisis de redes neuronales de parámetros composicionales - Método quimiométrico
DIN EN 61290-5-2:2004-12 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN 10474:2003-02 Determinación del tipo de mantequilla con análisis de redes neuronales de parámetros composicionales - Método quimiométrico
DIN EN 18029:2023-11 Animal health diagnostic analyses - Electronic data exchange in laboratory analysis; German and English version prEN 18029:2023 / Note: Date of issue 2023-10-13
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN-Fachbericht CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos - Determinación de residuos de pesticidas por LC-MS/MS - Parámetros espectrométricos de masas en tándem; Versión alemana CEN/TR 15641:2007
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN EN 61290-11-2:2005-11 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 11-2: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Método de análisis de la esfera de Poincaré (IEC 61290-11-2:2005); Versión alemana EN 61290-11-2:2005
DIN EN 60958-4-4:2017-01 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: Aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos (IEC 60958-4-4:2016); Versión alemana EN 60958-4-4:2016 / Nota: DIN EN 60958-4 (2008-09) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28 de abril de 2019.
DIN EN 61290-11-1:2009-02 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 11-1: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Análisis propio de la matriz de Jones (JME) (IEC 61290-11-1:2008); Versión alemana EN 61290-11-1:2008 / Nota: DIN EN 61290-11-1 (2003-11) sigue siendo válida junto con esta norma...
DIN CLC/TS 50654-2:2018 Sistemas de red HVDC y estaciones convertidoras conectadas - Guías y listas de parámetros para especificaciones funcionales - Parte 2: Listas de parámetros; Versión alemana e inglesa CLC/FprTS 50654-2:2017
DIN EN 61982-1:2007 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera. Parte 1: Parámetros de ensayo (IEC 61982-1:2006); Versión alemana EN 61982-1:2006
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007

RU-GOST R, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GOST 17363-1971 Analizadores de tiempo multicanal. Métodos de medición de parámetros.
GOST 22252-1982 Analizadores de amplitud multicanal. Métodos de medición de parámetros.
GOST 9507-1982 Lentes Fresnel para focos de estudios cinematográficos. Parámetros básicos, dimensiones y métodos de medición.
GOST 16957-1980 Analizadores de amplitud multicanal. Parámetros básicos y requisitos técnicos generales.
GOST R 50765-1995 Equipos de radioenlace. Clasificación. Parámetros básicos de la interfaz
GOST 23622-1979 Elementos lógicos de circuitos integrados. Parametros basicos
GOST 27506-1987 Equipo de canalización Telegraph TDM. Parámetros principales
GOST 28816-1990 Equipo de canalización Telegraph TDM. Métodos de medición de parámetros eléctricos.
GOST R IEC 61982-1-2011 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera. Parte 1. Parámetros de prueba

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ASHRAE 4086-1997 Análisis paramétrico de un tanque de hielo en bobina de fusión interna
ASHRAE 4325-2000 Análisis paramétrico de variables que afectan el rendimiento de un sistema de deshumidificación por desecante
ASHRAE 4637-2003 Un análisis paramétrico de un sistema BCHP independiente de la red: centrándose en el impacto de los avances tecnológicos
ASHRAE AT-01-5-1-2001 Refrigeración por ventilación nocturna de edificios de oficinas: análisis paramétricos de impactos energéticos conceptuales
ASHRAE 4223-1999 Análisis de interfaces de bombeo de transferencia para sistemas de almacenamiento térmico de agua helada estratificada: Parte 2: Estudio paramétrico
ASHRAE LV-11-028-2011 Análisis paramétrico para respaldar el diseño integrado y el modelado de rendimiento de viviendas de energía neta cero
ASHRAE LV-11-C026-2011 Análisis de la tasa de calentamiento de los centros de datos durante el corte de energía
ASHRAE 4389-2000 Análisis paramétrico y desarrollo de una herramienta de diseño para la ganancia de calor de cimientos para refrigeradores (RP-953)
ASHRAE LV-11-C003-2011 Análisis paramétrico y límites termodinámicos de sistemas geotérmicos de cogeneración y trigeneración asistidos por energía solar

International Electrotechnical Commission (IEC), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos - Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 60444-5:1995 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo - Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61745:1998 Procedimiento de análisis de imágenes de extremo para la calibración de equipos de prueba de geometría de fibra óptica.
IEC 61745:2017 Procedimiento de análisis de imágenes de extremo para la calibración de equipos de prueba de geometría de fibra óptica.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-11-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 11-2: Parámetro de dispersión del modo de polarización. Método de análisis de esfera de Poincaré.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61982-1:2006 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera - Parte 1: Parámetros de ensayo
IEC 62341-6-1:2017 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2009 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 60958-4-4:2016 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: Aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 62539:2007 Guía para el análisis estadístico de datos de rotura de aislamiento eléctrico.
IEC 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Método de prueba de tolerancia a la reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
IEC 60034-4:1985 Máquinas eléctricas rotativas; parte 4: métodos para determinar cantidades de máquinas síncronas a partir de pruebas
IEC 61290-11-1:2008 Amplificador óptico - Métodos de prueba - Parte 11-1: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Análisis propio de la matriz de Jones (JME)

CZ-CSN, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros
CSN 73 0209-1986 Precisión de parámetros geométricos en la edificación. Análisis de precisión estadística
CSN 44 1310-1989 Símbolos de parámetros analíticos y fórmulas para convertir los resultados de los análisis en diferentes estados de combustibles.
CSN 441310-2001 Combustibles sólidos: símbolos de parámetros analíticos y fórmulas para convertir los resultados de los análisis de diferentes estados de combustibles.
CSN 44 1310-2001 Combustibles sólidos: símbolos de parámetros analíticos y fórmulas para convertir los resultados de los análisis de diferentes estados de combustibles.

Professional Standard - Petroleum, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

国家能源局, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

未注明发布机构, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

BS EN ISO 13366-1:2008(2009) Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)
VDI VDE 2617 Blatt 2-1-2005 Precisión de los parámetros de la máquina de medición de coordenadas y su análisis.
JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS EN 61290-3-1:2003(2004) Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3 - 1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

AENOR, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

UNE-EN ISO 11715-1:2000 ÓPTICA OFTÁLMICA. FORMATO DE ARCHIVOS DE DATOS DIGITALES PARA TRANSFERENCIA DE DATOS PARA PERFILADO DE LENTES PARA GAFAS. PARTE 1: SEGUIDORES BIDIMENSIONALES. (ISO 11715-1:1998)
UNE-EN ISO 13366-1:2008 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia) (ISO 13366-1:2008)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JJF 2009-2022 Especificación de calibración para analizadores de precisión de parámetros de semiconductores

Professional Standard - Electron, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SJ 20234-1993 Reglamento de verificación del analizador de parámetros de semiconductores modelo HP4145A.
SJ/T 11211-1999 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo.Parte 5:Método para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes mediante técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores.
SJ 948-1984 Clasificación y parámetros básicos de los receptores de emisiones de televisión monocromáticas.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JJG(电子) 31010-2007 Reglamento de verificación para analizadores de precisión de parámetros de semiconductores
JJG(电子) 310003-2006 Especificación para la verificación de probadores de parámetros de condensadores para dispositivos semiconductores discretos.

International Dairy Federation (IDF), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

IDF 148-1-2008 Leche - Enumeración de células somáticas - Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)

Danish Standards Foundation, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

DS/EN 61290-3-2:2008
DS/EN 61290-5-2:2004
DS/EN 60444-5:1998
DS/EN 61290-1-2:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos - Determinación de residuos de pesticidas mediante LC-MS/MS - Parámetros de espectrometría de masas en tándem
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/IEC 62539:2008
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN 61290-11-2:2006
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DS/EN 61290-11-1:2008
DS/EN 61290-5-3:2002

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

EN 61290-3-2:2003 Amplificadores ópticos Parte 3-2: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido Método del analizador de espectro eléctrico
EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
EN 60444-5:1997 Medición de parámetros unitarios de cristal de cuarzo Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de analizador automático de redes y corrección de errores
EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 5-2: Parámetros de reflectancia Método del analizador de espectro eléctrico
EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico
EN 60958-4-4:2016 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: Aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos
CLC/TS 50654-2-2018 Sistemas de red HVDC y estaciones convertidoras conectadas - Guías y listas de parámetros para especificaciones funcionales - Parte 2: Listas de parámetros

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JIS C 6122-3-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-1-2:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico

ES-UNE, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

UNE-EN 61290-3-2:2008 Métodos de prueba de amplificadores ópticos -- Parte 3-2: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en febrero de 2009.)
UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)
UNE-EN 60444-5:1997 MEDICIÓN DE PARÁMETROS DE LA UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO. PARTE 5: MÉTODOS PARA LA DETERMINACIÓN DE PARÁMETROS ELÉCTRICOS EQUIVALENTES MEDIANTE TÉCNICAS DE ANALIZADOR AUTOMÁTICO DE REDES Y CORRECCIÓN DE ERRORES (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)
UNE-EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en marzo de 2006.)
UNE-EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en abril de 2004.)
UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)
UNE-CLC/TS 50654-2:2020 Sistemas de red HVDC y estaciones convertidoras conectadas - Guías y listas de parámetros para especificaciones funcionales - Parte 2: Listas de parámetros (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2020.)
UNE-EN 60958-4-4:2016 Interfaz de audio digital - Parte 4-4: Aplicaciones profesionales - Parámetros físicos y eléctricos (Ratificada por AENOR en agosto de 2016.)
UNE-EN 61290-11-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 11-2: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Método de análisis de la esfera de Poincaré (Ratificada por AENOR en septiembre de 2005.)
UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)
UNE-EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico. (Ratificada por AENOR en octubre de 2002.)
UNE-EN 61290-11-1:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 11-1: Parámetro de dispersión del modo de polarización - Análisis propio de la matriz de Jones (JME) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2008.)

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

T/QGCML 223-2021 Requisitos técnicos para un sistema de análisis y adquisición de datos multiparamétricos sobre la calidad del agua.
T/ZAI 9-2022 Marco de referencia técnica del análisis de big data de tecnología de la información
T/CA 224-2022 Analista de datos de deportes electrónicos
T/QGCML 1209-2023 E-commerce data analysis system functional requirements
T/CPIA 0019.2-2020 Métodos de prueba para parámetros eléctricos de módulos fotovoltaicos bifaciales Parte 2: Método de fórmula

Professional Standard - Aerospace, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

QJ 2670.4-1994 Método de análisis de errores y evaluación de precisión de parámetros de telemetría Cantidades digitales
QJ 2670.2-1994 Análisis de errores de parámetros de telemetría y evaluación de la precisión de la cantidad analógica
QJ 2670.1-1994 Reglas generales para el análisis de errores y la evaluación de la precisión de los parámetros de telemetría
QJ 2670.5-1994 Método de análisis de errores y evaluación de precisión de parámetros de telemetría Variable de velocidad
QJ 2670.3-1994 Método de análisis de errores y evaluación de la precisión de parámetros de medición remota

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

International Telecommunication Union (ITU), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ITU-R QUESTION 209/3-1993
ITU-R QUESTION 2093-1993 Parámetros de variabilidad y riesgo en el análisis del desempeño del sistema.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.
GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ASTM D7416-08 Práctica estándar para el análisis de lubricantes en servicio utilizando un sistema particular de cinco partes (permisividad dieléctrica, permitividad dieléctrica resuelta en el tiempo con campos magnéticos de conmutación, recuento de partículas láser
ASTM E1577-95(2000) Guía estándar para la generación de informes de los parámetros del haz de iones utilizados en el análisis de superficies
ASTM E1577-11 Guía estándar para la generación de informes de los parámetros del haz de iones utilizados en el análisis de superficies
ASTM E1577-04 Guía estándar para la generación de informes de los parámetros del haz de iones utilizados en el análisis de superficies
ASTM E2781-11 Práctica estándar para la evaluación de métodos para la determinación de parámetros cinéticos mediante análisis térmico
ASTM E2781-16 Práctica estándar para la evaluación de métodos para la determinación de parámetros cinéticos mediante calorimetría y calorimetría diferencial de barrido
ASTM D3849-02 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM D3849-04 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM D6480-99 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM E2958-19 Métodos de prueba estándar para parámetros cinéticos mediante salto de factor/termogravimetría modulada
ASTM E295-82(2000) Método de prueba estándar para la velocidad medida de bombas de difusión de aceite
ASTM E2958-21 Métodos de prueba estándar para parámetros cinéticos mediante salto de factor/termogravimetría modulada
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM D6480-05 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

QUESTION 209/3-1993 Parámetros de variabilidad y riesgo en el análisis del desempeño del sistema.
REPORT P.2089-2006 El análisis de datos de ruido de radio.

U.S. Air Force, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

AIR FORCE A-A-58042 A-1996 ANALIZADOR, DATOS DIGITALES, PRUEBA ELECTRÓNICA
AIR FORCE A-A-58042 A VALID NOTICE 1-2012 Analizador, Datos Digitales, Prueba Electrónica

IET - Institution of Engineering and Technology, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SWTH FUNC-2006 La Función de Conmutación: análisis de circuitos electrónicos de potencia.

Lithuanian Standards Office , Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

LST EN 61290-3-2-2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-3-2:2008).
LST EN ISO 13366-1:2008 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia) (ISO 13366-1:2008)
LST EN 60444-5-2001 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 5: Métodos para la determinación de parámetros eléctricos equivalentes utilizando técnicas de análisis automático de redes y corrección de errores (IEC 60444-5:1995)
LST EN 61290-5-2-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003)
LST EN ISO 13366-1:2008/AC:2009 Leche. Recuento de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia) (ISO 13366-1:2008/Cor 1:2009)
LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)
LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).

未注明发布机构, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

BS EN ISO 13366-1:2008(2009) Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 1: Método microscópico (Método de referencia)
VDI VDE 2617 Blatt 2-1-2005 Precisión de los parámetros de la máquina de medición de coordenadas y su análisis.
JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS EN 61290-3-1:2003(2004) Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3 - 1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

NEMA ABP 10-2015 Análisis de arco eléctrico: parámetros del sistema de servicios públicos críticos para un EPP preciso

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GJB 5382.13-2005 Métodos de prueba de parámetros físicos para pirotecnia. Parte 13: Determinación del coeficiente de expansión lineal método TMA
GJB 5895.7-2006 Método de prueba para misiles antitanque Parte 7: Inspección de la resistencia del circuito (parámetros eléctricos)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GJB 8683.13-2015 Métodos de prueba para parámetros físicos de pirotecnia Parte 13: Determinación del coeficiente de expansión lineal Método de análisis del motor térmico
GJB 8701.7-2015 Métodos de prueba de misiles antitanque Parte 7: Detección de resistencia del circuito (parámetros eléctricos)

农业农村部, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

NY/T 3496-2019 Parámetros cinéticos del craqueo térmico de materias primas de biomasa agrícola mediante análisis termogravimétrico.

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

IEEE P1110/D07-2019 Borrador de guía para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE P1110/D06-2018 Borrador de guía para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE 930-1987 Guía para el análisis estadístico de datos de resistencia de voltaje de aislamiento eléctrico

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

IEEE 1110-2019 Guía IEEE para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE Std 1110-2019 Guía IEEE para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE P1110/D07, July 2019 Borrador de la guía IEEE para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE P1110/D06, December 2018 Borrador de la guía IEEE para prácticas de modelado de generadores síncronos y verificación de parámetros con aplicaciones en análisis de estabilidad de sistemas eléctricos
IEEE Std 115-2019 Guía IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas, incluidas pruebas de aceptación y rendimiento y determinación de parámetros para análisis dinámico
IEEE 930-2004 Guía para el análisis estadístico de datos de rotura de aislamiento eléctrico
ANSI/IEEE Std 930-1987 Guía IEEE para el análisis estadístico de datos de resistencia de voltaje de aislamiento eléctrico
IEEE P115/D3, November 2019 Borrador de la guía IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas, incluidas pruebas de aceptación y rendimiento y determinación de parámetros para análisis dinámico
IEEE P115/D4, July 2019 Borrador de la guía IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas, incluidas pruebas de aceptación y rendimiento y determinación de parámetros para análisis dinámico
IEEE Std 115-2009 Guía IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas Parte I—Pruebas de aceptación y desempeño Parte II—Procedimientos de prueba y determinación de parámetros para análisis dinámico
IEEE P115/D5, September 2019 Borrador de guía aprobado por IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas, incluidas pruebas de aceptación y rendimiento y determinación de parámetros para análisis dinámico
P115/D5, September 2019 Borrador de guía aprobado por IEEE para procedimientos de prueba para máquinas síncronas, incluidas pruebas de aceptación y rendimiento y determinación de parámetros para análisis dinámico

工业和信息化部/国家能源局, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JB/T 13547.1-2018 Prensa electromagnética Parte 1: Parámetros básicos

European Committee for Standardization (CEN), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos - Determinación de residuos de pesticidas mediante LC-MS/MS - Parámetros de espectrometría de masas en tándem
PD CEN/TR 15641:2007 Análisis de alimentos - Determinación de residuos de pesticidas mediante LCMS/MS - Parámetros de espectrometría de masas en tándem

BELST, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

STB 1923-2008 Sistema para garantizar la precisión de los parámetros geométricos en la construcción. Análisis estadístico de precisión.
STB GOST R 50765-2000 Equipos de radioenlace. Clasificación. Parámetros básicos de la interfaz

GOSTR, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

GOST R 58946-2020 Sistema para garantizar la precisión de los parámetros geométricos en la construcción. Análisis estadístico de precisión.

ZA-SANS, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SANS 5275:2004 Gales y capas por unidad de longitud en tejidos de punto (método de conteo de vidrio)
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
SANS 61982-1:2008 Baterías secundarias para la propulsión de vehículos eléctricos de carretera Parte 1: Parámetros de ensayo
SANS 60034-4:2009 Máquinas eléctricas rotativas Parte 4: Métodos para determinar cantidades de máquinas síncronas a partir de pruebas

RO-ASRO, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

STAS 10350-1983 CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES Terminología y lista clasificada de principales parámetros
STAS 7712-1980 RECEPTORES DE TELEVISIÓN MONOCROMOS Clasificación y principales parámetros
STAS 7711-1972
STAS 10930-1977 TOPS DE LANA Determinación de parámetros de distribución de longitud de fibras (Método electrónico)

TIA - Telecommunications Industry Association, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

TIA/EIA-455-207-2000 FOTP-207 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-1-2 - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico (consulte IEC 61290-1-2)
TIA/EIA-455-221-2001 FOTP-221-IEC 61290-5-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico (consulte IEC 61290-5-1)

IX-IX-IEC, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-17: Material a base de grafeno - Parámetro de pedido: difracción de rayos X y microscopía electrónica de transmisión

American Welding Society (AWS), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

WRC 564:2020 El método de análisis centrado en lotes MPC para determinar los parámetros de resistencia a altas temperaturas

American National Standards Institute （ANSI), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA/EIA 455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-207-2000 FOTP207 - IEC 61290-1-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-2: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/IEEE 930:2005 Datos de resistencia de voltaje de aislamiento eléctrico, guía para el análisis estadístico de
ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/IEEE 115:2009 Guía de Procedimientos de Prueba para Máquinas Síncronas - Parte I - Pruebas de Aceptación y Desempeño - Parte II - Procedimientos de Prueba y Determinación de Parámetros para Análisis Dinámico

U.S. Military Regulations and Norms, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ARMY MIL-C-62207 B NOTICE 1-1996 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO: 11743667 CONVERTIDOR DIGITAL A ANALÓGICO
ARMY MIL-C-62207 B (2)-1993 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO: 11743667 CONVERTIDOR DIGITAL A ANALÓGICO
ARMY MIL-C-62207 B-1981 CONJUNTO DE TARJETA DE CIRCUITO: 11743667 CONVERTIDOR DIGITAL A ANALÓGICO

International Commission on Illumination (CIE), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

CIE 19/2.1-1981 Un modelo analítico para describir la influencia de los parámetros de iluminación en el rendimiento visual: Volumen 1: Fundamentos técnicos (E)
CIE 19.2.1-1981 UN MODELO ANALÍTICO PARA DESCRIBIR LA INFLUENCIA DE LOS PARÁMETROS LUMINÓGICOS SOBRE EL RENDIMIENTO VISUAL Volumen I: Fundamentos técnicos
CIE 19/2.2-1981 Un modelo analítico para describir la influencia de los parámetros de iluminación en el rendimiento visual: Volumen II: Resumen y pautas de aplicación (E)

VN-TCVN, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

TCVN 6850-1-2001 Transmisores de radio FM.Parte 1: Parámetros básicos

AT-ON, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

ONORM N 2504-1994 Análisis microbiológico de leche y productos lácteos - Enumeración de microorganismos (Técnica de recuento de colonias a 30 °C) - Método de referencia

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

EJ/T 20150.23-2018 Postiluminación del conjunto combustible de radiación de varillas PWR, parte 23: Análisis SEM de tubos de revestimiento de combustible

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-2 - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

Professional Standard - Energy, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

NB/T 20557-2019 Directrices para el análisis de datos de la evaluación probabilística de la seguridad de las centrales nucleares

机械电子工业部, Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

JB 5814.1-1991 Parámetros básicos de equipos especiales para alambres y cables Parte 1 Disposiciones generales

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Análisis de parámetros de microscopio electrónico.

SMPTE EG 10-2003 Parámetros de geometría de transporte de cinta para grabación de componentes digitales de televisión tipo D-1 de 19 mm