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Parámetros básicos del espectrofotómetro.

Parámetros básicos del espectrofotómetro., Total: 213 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros básicos del espectrofotómetro. son: Óptica y medidas ópticas., tubos electronicos, Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos de visualización electrónica., Equipo óptico, Comunicaciones de fibra óptica., Metrología y medición en general., Mediciones de radiación, Pruebas no destructivas, Equipos de construcción, Equipo de trabajo sin chip, Pinturas y barnices, carbones, Medidas lineales y angulares., Lámparas y equipos relacionados., Equipo medico, Red Digital de Servicios Integrados (RDSI), Maquinaria textil, Medición del flujo de fluido., Instalaciones en edificios, ingeniería de energía solar, Industria de construccion, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Encendiendo, Papel y cartón, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Equipos para la industria del caucho y del plástico., Minerales metalíferos, Calidad del agua, Terminal de TI y otros equipos periféricos, Circuitos integrados. Microelectrónica.

Professional Standard - Machinery, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

JB/T 9325-1999 Serie de espectrofotómetros y su parámetro básico.
JB/T 10574-2006 Instrumentos ópticos de medición de longitud - Parámetros básicos
JB/T 10574-2013 Parámetros básicos de los instrumentos ópticos de medición de longitud.
JB/T 9346-1999 Parámetros básicos para espectrofotómetro.
JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
JB/T 6859-1993 Parámetros básicos de los láseres de gas.
JB/T 9330-1999 El parámetro básico para la placa de diafragma del instrumento óptico.
JB/T 6266-1992 Comparador óptico para medición de ángulos - Parámetro básico
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 6176-1992 Parámetro básico del casete de placas fotográficas y del marco del casete para espectrógrafo.
JB/T 12767.1-2015 Maquinaria para conformado de metales.AOPD.Parte 1: Tipos y parámetros básicos

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

GB/T 3720-1988 Instrumentos ópticos de medición de longitud. Parámetros básicos.
GB/T 16850.3-1999 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido.
GB/T 16850.1-1997 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia.
GB/T 16850.5-2001 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 5: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia.
GB/T 16850.2-1999 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 2: Métodos de prueba para parámetros de potencia.
GB/T 16850.6-2001 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 6: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas.
GB/T 16850.4-2006 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores de fibra óptica. Parte 4: Métodos de prueba para parámetros analógicos. Pendiente de ganancia.
GB/T 29024.3-2012 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz de una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas de transmisión líquida de extinción de luz.
GB/T 29024.2-2016 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de la luz de una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.

RU-GOST R, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

GOST 17485-1977 Fotocélulas. Parametros basicos
GOST 17470-1977 Fototubos multiplicadores. Parametros basicos
GOST 19319-1982 Láseres de estado sólido. Parametros basicos
GOST 23547-1979 Conmutadores optoelectrónicos. Parametros basicos
GOST 24458-1980 Acopladores optoelectrónicos de semiconductores. Parámetros esenciales
GOST 25369-1982 Fotocélulas de medición. Parámetros básicos, métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 25370-1982 Medición de fotomultiplicadores. Parámetros básicos, métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 9847-1979 Instrumentos ópticos para la medición de parámetros de rugosidad superficial. Parámetros y tipos básicos.
GOST 20186-1974 Tubos expositores luminiscentes al vacío. Parametros basicos
GOST 17457-1972 Tubos de tiratrones de descarga luminosa. Parametros basicos
GOST 23010-1978 Indicadores de descarga incandescente. Parametros basicos
GOST 25678-1983 Instrumentos para medidas de energía láser de pulso. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 17490-1977 Láseres de inyección y radiadores, diodos láser. Parámetros clave
GOST 19611-1974 Medidores de humedad de neutrones. Tipos y parámetros básicos.
GOST 30080-1993 Máquinas rectificadoras y pulidoras de piedra. Tipos y datos generales
GOST 25373-1982 Láseres de medición. Tipos. Parametros basicos. Requerimientos técnicos
GOST 23339-1978 Interruptores optoelectrónicos de señales lógicas. Parametros basicos
GOST 23340-1978 Conmutadores optoelectrónicos de señal analógica. Parametros basicos
GOST 20903-1975 Las celdas rectangulares de sílice fundida para los espectrofotómetros. Dimensiones básicas. Requerimientos técnicos
GOST 25677-1983
GOST R 57260-2016 Climatología de la construcción. Parámetros para el cálculo de la iluminación natural según la distribución del brillo del cielo
GOST 13659-1978 Vidrio óptico incoloro. Propiedades físicas y químicas. Parametros basicos
GOST 32246-2013 Brasas. Método para la determinación espectrométrica de parámetros genéticos y tecnológicos.
GOST 19300-1986 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Contacte con perfilógrafos y perfilómetros. Tipos y parámetros principales.
GOST 20766-1975 Detectores de espectrómetros semiconductores de radiación ionizante. Tipos y parámetros básicos.
GOST 27047-1986 Pantallas fluoroscópicas. Parámetros básicos, requisitos técnicos generales y métodos de prueba.
GOST 17173-1981 Rendijas espectrales y accesorios a ellas. Tipos, parámetros básicos y dimensiones. Requerimientos técnicos
GOST 26874-1986 Espectrómetros de potencia de radiación ionizante. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 28871-1990 Equipos de trayectoria de transmisión en línea de sistemas de transmisión digitales por fibra óptica. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 27641-1988 Máquinas para medir la longitud de la banda textil. Tipos, parámetros básicos y requisitos técnicos.
GOST 18230-1972 Fuentes de alimentación para detectores espectrométricos de radiación semiconductora. Tipos y parámetros básicos.
GOST R 51597-2000 Ingeniería energética no tradicional. Módulos solares fotovoltaicos. Tipos y parámetros básicos.
GOST 25811-1983 Significa medir la potencia promedio de salida del láser. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición
GOST 25312-1982 Medición de transductores de radiación láser termoeléctricos térmicos. Tipos y parámetros básicos. Métodos de medición
GOST 27908-1988 El sistema de fibra óptica digital se une a la transmisión de la red primaria del circuito de comunicación automatizado unificado (UACC). Nomenclatura y parámetros principales.
GOST 9244-1975 Pies de rey interiores graduados en 0,001 y 0,002 mm. Especificaciones
GOST 16330-1985 Sistemas de procesamiento de información. Fuentes para el reconocimiento óptico de caracteres. Tipos de parámetros y dimensiones básicos.
GOST 25368-1982 Medios para medir la potencia máxima de la radiación láser pulsada. Tipos y parámetros principales. Métodos de medición
GOST 17447-1972 Circuitos integrados para computadoras digitales y sistemas automáticos discretos. Parametros basicos
GOST 29115-1991 Conjuntos de detectores de radiación gamma para espectrometría. Métodos de medición de parámetros básicos.

RO-ASRO, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

STAS 7353/5-1982 MICROSCOPIOS Parámetros ópticos básicos
STAS 12258/1-1984 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES OPTOELECTRÓNICOS Terminología general y nomenclatura de parámetros básicos generales

CU-NC, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

NC 90-13-21-1984 Aseguramiento Metrológico. Espectrofotómetros. Disoluciones de referencia para la verificación de espectrofotómetros

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Medidor de potencia óptica
EN 61290-1-3:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-3: métodos de prueba para parámetros de ganancia Medidor de potencia óptica
EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
EN 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 1-1: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro óptico
EN 61290-3:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61290-1-3:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
EN 60904-3:1993 Dispositivos fotovoltaicos Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia

Association Francaise de Normalisation, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

NF EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Medidor de potencia óptica.
NF C93-805-2-3*NF EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Medidor de potencia óptica.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-6-1*NF EN 61290-6-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 6-1: métodos de prueba para los parámetros de fuga de la bomba. Demultiplexor óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-3:2001 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 3: métodos de prueba para parámetros de figura de ruido.
NF EN 61290-6-1:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 6-1: métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas. Demultiplexor óptico.
NF EN IEC 63356-2:2022 Características de la fuente de luz LED - Parte 2: Parámetros y valores de diseño
NF C93-805-1-3*NF EN 61290-1-3:2016 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
NF EN IEC 61290-1-3:2021 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia - Método del dispositivo de medición de potencia óptica
NF EN ISO 25178-2:2022 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 2: términos, definiciones y parámetros de acabado superficial
NF EN ISO 21920-2:2022 Especificación geográfica de productos (GPS) - Estado de superficie: método de perfil - Parte 2: términos, definiciones y parámetros de estado de superficie
NF C57-323:2008 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia.
NF EN IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición de dispositivos solares fotovoltaicos (PV) para uso terrestre, incluidos datos de iluminancia espectral de referencia
NF C57-323*NF EN 60904-3:2016 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
NF C57-323*NF EN IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia

CZ-CSN, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

CSN 66 6630-1978 Papeles fotográficos en blanco y negro. Valores de los parámetros del sensitometrio bájico.
CSN 66 6605-1973
CSN 25 7859-1990 Medidores de gas de diafragma. Parámetros fundamentales y requisitos técnicos.
CSN 25 2300-1972 Clasificación de instrumentos y aparatos o medida de los parámetros geométricos de acabado superficial.

British Standards Institution (BSI), Parámetros básicos del espectrofotómetro.

BS EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Medidor de potencia óptica
BS EN 61290-6-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas. Demultiplexor óptico
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas de extinción de luz
BS ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas con dispersión de luz
21/30430895 DC BS EN IEC 63356-2. Características de la fuente de luz LED. Parte 2. Parámetros y valores de diseño.
BS ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula: contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz
20/30410203 DC BS EN IEC 61290-1-3. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3. Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Parámetros básicos del espectrofotómetro.

TIA/EIA-455-211-2000 FOTP-211 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-3 - Especificaciones básicas Parte 2-3: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Medidor de potencia óptica
TIA/EIA-455-208-2000 FOTP-208 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-1-3 - Especificaciones básicas Parte 1-3: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Medidor de potencia óptica
TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-1 - Especificaciones básicas Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
TIA/EIA-455-206-2000 FOTP-206 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-1-1 - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
TIA/EIA-455-222-2001 FOTP-222 IEC 61290-3 Amplificadores de fibra óptica Especificación básica Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido
TIA-455-212-2000 IEC 61290-6-1: Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas - Demulplexor óptico
TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-2 - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

American National Standards Institute （ANSI), Parámetros básicos del espectrofotómetro.

ANSI/TIA/EIA 455-211-2000 FOTP211 - IEC 61290-2-3 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica - Parte 2-3: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Demultiplexor del medidor de potencia óptica
ANSI/TIA/EIA 455-208-2000 FOTP208- IEC 61290-1-3 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-3: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Medidor de potencia óptica
ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-222-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido
ANSI/TIA-455-211-2000 FOTP211 - IEC 61290-2-3 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica - Parte 2-3: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Demultiplexor del medidor de potencia óptica
ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-208-2000 FOTP208- IEC 61290-1-3 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 1-3: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Medidor de potencia óptica
ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA/EIA 455-212-2000 FOTP212 - IEC 61290-6-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bomba - Demultiplexor óptico
ANSI/TIA-455-212-2000 IEC 61290-6-1: Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas - Demultiplexor óptico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico

International Electrotechnical Commission (IEC), Parámetros básicos del espectrofotómetro.

IEC 61290-1-3:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
IEC 61290-1-3:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
IEC 61290-1-3:2021 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
IEC 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-3: Métodos de prueba para parámetros de potencia. Medidor de potencia óptica.
IEC 61290-1-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-3: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Medidor de potencia óptica.
IEC 63356-2:2022 Características de la fuente de luz LED - Parte 2: Parámetros y valores de diseño
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-3:2021 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
IEC 60904-3:2019 RLV Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros básicos del espectrofotómetro.

KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-2007(2017) Amplificadores de fibra óptica－Especificación básica－Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido
KS C IEC 61290-6-1-2013(2018) Amplificadores de fibra óptica－Especificación básica－Parte 6-1: Métodos de prueba para los parámetros de fuga de la bomba－Demultiplexor óptico
KS C IEC 61290-3:2007 Amplificadores de fibra óptica－Especificación básica－Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido
KS M 5506-2011 Método de prueba de reflectancia infrarroja (a partir de la fecha espectrofotométrica)
KS M 5506-1986 Método de prueba de reflectancia infrarroja (a partir de la fecha espectrofotométrica)
KS C IEC 61290-6-1:2013 Amplificadores de fibra óptica－Especificación básica－Parte 6-1: Métodos de prueba para los parámetros de fuga de la bomba－Demultiplexor óptico
KS C IEC 61290-10-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificador de fibra óptica - Parte 10-3: Parámetros multicanal - Método de sonda
KS C 6821-2007 Amplificadores de fibra óptica-Métodos de prueba-Parte 1:Métodos de prueba para parámetros de ganancia
KS C 6822-2000 Amplificadores de fibra óptica-Métodos de prueba- Parte 2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica
KS E ISO 4691:2010 Minerales de hierro－Determinación de titanio－Método espectrofotométrico de diantipirilmetano
KS C IEC 60904-3-2010(2020) Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
KS I ISO 6439-2007(2012) Calidad del agua－Determinación del índice de fenol (métodos espectrométricos de 4-aminoantipirina después de la destilación)
KS C IEC 61280-2-2-2007(2017) Procedimientos de prueba básicos del subsistema de comunicación de fibra óptica －Parte 2-2: Sistemas digitales －Medición del patrón de ojo óptico, forma de onda y relación de extinción
KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) Método de prueba básico para amplificadores de fibra óptica. Parte 5-3: Método de prueba para parámetros de reflexión. Método de prueba para tolerancia a la reflexión utilizando un analizador de espectro eléctrico.

International Commission on Illumination (CIE), Parámetros básicos del espectrofotómetro.

CIE 170-2-2015 Diagrama de cromaticidad fundamental con ejes fisiológicos - Parte 2: Funciones de eficiencia luminosa espectral y diagramas de cromaticidad

German Institute for Standardization, Parámetros básicos del espectrofotómetro.

DIN EN 61290-1-3:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica (IEC 61290-1-3:2015); Versión alemana EN 61290-1-3:2015
DIN EN 61290-1-3:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica (IEC 61290-1-3:2005); Versión alemana EN 61290-1-3:2005
DIN 53145-2:2012-03 Ensayos de papel y cartón. Parámetros básicos para la determinación del factor de reflectancia. Parte 2: Mediciones realizadas en muestras fluorescentes.
DIN 5032-8:2017-02 Fotometría - Parte 8: Hoja de datos para medidores de iluminancia
DIN EN 61290-6-1:1999 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas; demultiplexor óptico (IEC 61290-6-1:1998); Versión alemana EN 61290-6-1:1998
DIN 58960-1:1988-05 Fotómetros para pruebas analíticas; procesos básicos físico-químicos utilizados
DIN EN 61290-5-3:2002-11 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia; Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-3:2002); Versión alemana EN 61290-5-3:2002
DIN EN 61290-6-1:1999-08 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas; demultiplexor óptico (IEC 61290-6-1:1998); Versión alemana EN 61290-6-1:1998
DIN 5032-8:2017 Fotometría - Parte 8: Hoja de datos para medidores de iluminancia
DIN 5032-8:1986 Fotometría; hoja de datos para medidores de iluminancia
DIN 53145-2:2012 Ensayos de papel y cartón. Parámetros básicos para la determinación del factor de reflectancia. Parte 2: Mediciones realizadas en muestras fluorescentes.
DIN 53145-2:2000 Ensayos de papel y cartón. Parámetros básicos para la determinación del factor de reflectancia. Parte 2: Mediciones realizadas en muestras fluorescentes.
DIN 53145-1:2012-03 Ensayos de papel y cartón. Parámetros básicos para la determinación del factor de reflectancia. Parte 1: Mediciones realizadas en muestras no fluorescentes.
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