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Enfoque del microscopio 17

Enfoque del microscopio 17, Total: 36 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Enfoque del microscopio 17 son: Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Combustibles, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, carbones, Productos de la industria química., Sistemas de máquinas herramienta, producción de metales, Química analítica, Medidas lineales y angulares..

International Organization for Standardization (ISO), Enfoque del microscopio 17

• ISO 21073:2019 Microscopios — Microscopios confocales — Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
• ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal

British Standards Institution (BSI), Enfoque del microscopio 17

• BS ISO 21073:2019 Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
• 18/30339977 DC BS ISO 21073. Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
• BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
• BS EN ISO 25178-607:2019 Especificaciones geométricas de producto (GPS). Textura de la superficie: Areal - Características nominales de los instrumentos sin contacto (microscopía confocal)

Association Francaise de Normalisation, Enfoque del microscopio 17

• NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
• NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios de fluorescencia confocales para imágenes biológicas

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Enfoque del microscopio 17

• DB23/T 1531-2013 Requisitos técnicos para la microscopía confocal diferencial de cambio de fase
• DB23/T 1529-2013 Requisitos básicos para la microscopía confocal de espectro continuo
• DB23/T 1525-2013 Requisitos básicos para la microscopía confocal de fluorescencia reflectante

American Society for Testing and Materials (ASTM), Enfoque del microscopio 17

• ASTM D3997-97 Práctica estándar para preparar muestras de coque para análisis microscópico mediante luz reflejada
• ASTM D3997-97(2004) Práctica estándar para preparar muestras de coque para análisis microscópico mediante luz reflejada
• ASTM D5061-07 Método de prueba estándar para la determinación microscópica de los componentes texturales del coque metalúrgico
• ASTM D5061-19 Método de prueba estándar para la determinación microscópica de los componentes texturales del coque metalúrgico
• ASTM D3997/D3997M-97(2009) Práctica estándar para preparar muestras de coque para análisis microscópico mediante luz reflejada
• ASTM D3997/D3997M-16
• ASTM D5061-92(2004) Método de prueba estándar para la determinación microscópica del porcentaje en volumen de componentes texturales en coque metalúrgico

Association of German Mechanical Engineers, Enfoque del microscopio 17

• DVS 2801-1968 Soldadura por resistencia en microscopía (encuesta)
• DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
• DVS 2802-1970 Proceso de soldadura ultrasónica en microscopía (encuesta)
• DVS 2804-1975 Soldadura con herramienta calentada (soldadura por termocompresión) en microscopía (encuesta)
• VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.

Professional Standard - Education, Enfoque del microscopio 17

• JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Enfoque del microscopio 17

• CNS 11018-1984 Método de preparación de muestras de carbón para análisis microscópico mediante luz reflejada

Group Standards of the People's Republic of China, Enfoque del microscopio 17

• T/CSTM 00799-2023 Determinación del tamaño de grano en acero: método de microscopio confocal de barrido láser de alta temperatura

Defense Logistics Agency, Enfoque del microscopio 17

• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A-1988 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X

German Institute for Standardization, Enfoque del microscopio 17

• DIN 22020-3:1998-08 Investigaciones de materias primas en la minería de hulla. Examen microscópico de hulla, coque y briquetas. Parte 3: Análisis maceral en bloques particulados.
• DIN 22020-4:1998-12 Investigaciones de materias primas en la minería de hulla. Examen microscópico de hulla, coque y briquetas. Parte 4: Análisis de microlitotipo en bloques de partículas.
• DIN 22020-1:1998-08 Investigaciones de materias primas en la minería de hulla - Examen microscópico de hulla, coque y briquetas - Parte 1: Términos, estudio de procesos y sus aplicaciones
• DIN 22020-5:2005-02 Investigaciones de la materia prima en la minería de hulla - Exámenes microscópicos de hulla, coque y briquetas - Parte 5: Mediciones de reflectancia en vitrinitas / Nota: DIN 22020-5 (1986-09) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2005-07 -31.

工业和信息化部, Enfoque del microscopio 17

• SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Enfoque del microscopio 17

• GB/T 34879-2017 Especificaciones geométricas del producto (GPS): características metrológicas y guía para la incertidumbre de medición de microscopios ópticos confocales.

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