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Chip de componente óptico

Chip de componente óptico, Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Chip de componente óptico son: Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Comunicaciones de fibra óptica., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Equipo óptico, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Equipos e instrumentos a bordo., Dibujos tecnicos, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Óptica y medidas ópticas., Frutas. Verduras, Dispositivos semiconductores, Equipos para la construcción y mantenimiento de ferrocarriles y teleféricos., Tecnología gráfica, Componentes electrónicos en general..


German Institute for Standardization, Chip de componente óptico

  • DIN 58002:2001 Óptica integrada: medición de campo cercano para componentes de chips ópticos monomodo
  • DIN EN IEC 62148-19:2020-07 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de interfaz y paquetes - Parte 19: Paquete de escala de chip fotónico (IEC 62148-19:2019); Versión alemana EN IEC 62148-19:2019
  • DIN 58161-2:2002 Pruebas de componentes ópticos - Parte 2: Gafas de prueba con superficie esférica
  • DIN 58161-1:2002 Pruebas de componentes ópticos - Parte 1: Gafas de prueba con superficie plana
  • DIN ISO 10110-10:2004 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados (ISO 10110-10:2004).
  • DIN 58140-2:1986 Fibra óptica; clasificación de elementos de fibra óptica
  • DIN EN ISO 13696:2022-11 Óptica y fotónica - Método de prueba para la dispersión total por componentes ópticos (ISO 13696:2022); Versión alemana EN ISO 13696:2022
  • DIN 58161-4:1971-03 Pruebas de componentes ópticos; pantallas de enfoque
  • DIN EN ISO 11151-2:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para la gama espectral infrarroja (ISO 11151-2:2000); Versión alemana EN ISO 11151-2:2000
  • DIN 58140-2:2012 Fibra óptica - Parte 2: Clasificación de elementos de fibra óptica; Texto en alemán e inglés.
  • DIN 58140-2:2009 Fibra óptica - Parte 2: Clasificación de los elementos de fibra óptica
  • DIN ISO 14997:2018 Óptica y fotónica. Métodos de prueba para imperfecciones superficiales de elementos ópticos (ISO 14997:2017)
  • DIN ISO 14997:2013 Óptica y fotónica. Métodos de ensayo para imperfecciones superficiales de elementos ópticos (ISO 14997:2011)
  • DIN EN 2591-606:2002-12 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 606: Elementos ópticos; Diafonía; Versión alemana EN 2591-606:2002 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 2591-100 (2006-08).
  • DIN 58926-2:1988 Piezas en bruto para elementos ópticos; lentes de óptica de precisión; desviaciones permitidas
  • DIN ISO 10110-1:2007 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: General (ISO 10110-1:2006); Versión en inglés de DIN ISO 10110-1:2007-08
  • DIN ISO 10110-1:2020-09 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: General (ISO 10110-1:2019)
  • DIN EN 2591-607:2002-12 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 607: Elementos ópticos; Inmunidad al acoplamiento de luz ambiental; Versión alemana EN 2591-607:2002 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 2591-100 (2006-08).
  • DIN EN ISO 11151-2:2015-12 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo (ISO 11151-2:2015); Versión alemana EN ISO 11151-2:2015
  • DIN EN 2591-228:2019-01 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 228: Fuerza de extracción del casquillo; Versión alemana e inglesa EN 2591-228:2018 / Nota: Aplicable en combinación con DIN EN 2591-100 (2018-10).
  • DIN EN ISO 11551:2020-05 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Método de prueba para la absorbancia de componentes de láser óptico (ISO 11551:2019, versión corregida 2020-01); Versión alemana EN ISO 11551:2019
  • DIN ISO 10110-12:2021-09 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas (ISO 10110-12:2019)
  • DIN EN 2591-613:2002-12 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 613: Elementos ópticos; Prueba de impacto; Versión alemana EN 2591-613:2002 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 2591-100 (2006-08).
  • DIN EN 2591-617:2002-12 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 617: Elementos ópticos; Ciclos de temperatura; Versión alemana EN 2591-617:2002 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 2591-100 (2006-08).
  • DIN EN 2591-605:2002-12 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 605: Elementos ópticos; Pérdida de devolución; Versión alemana EN 2591-605:2002 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 2591-100 (2006-08).
  • DIN ISO 10110-17:2004 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 17: Umbral de daño por irradiación láser (ISO 10110-17:2004)
  • DIN ISO 10110-6:2016 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado (ISO 10110-6:2015)
  • DIN ISO 10110-6:2016-06 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado (ISO 10110-6:2015)
  • DIN EN 2591-6403:2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; Métodos de prueba - Parte 6403: Elementos ópticos; Vibraciones; Versión alemana e inglesa EN 2591-6403:2001
  • DIN ISO 10110-6:2000 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado (ISO 10110-6:1996)
  • DIN ISO 10110-12:2009 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas (ISO 10110-12:2007); Versión en inglés de DIN ISO 10110-12:2009-01
  • DIN ISO 10110-19:2016-04 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 19: Descripción general de superficies y componentes (ISO 10110-19:2015)
  • DIN EN ISO 24013:2007-02 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada (ISO 24013:2006); Versión alemana EN ISO 24013:2006 / Nota: Será reemplazada por DIN EN ISO 24013 (2022-09).
  • DIN EN ISO 24013:2022-09 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada (ISO/DIS 24013:2022); Versión alemana e inglesa prEN ISO 24013:2022 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-12*Inten...

Association Francaise de Normalisation, Chip de componente óptico

  • NF C93-404:1988 Componentes electrónicos. Portador de chips.
  • NF C93-883-19*NF EN IEC 62148-19:2019 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquete e interfaz. Parte 19: paquete de escala de chip fotónico.
  • NF EN IEC 62148-19:2019 Componentes y dispositivos activos fibrónicos. Estándares de paquetes e interfaz. Parte 19: paquete de chips fotónicos.
  • NF S10-008-10:2005 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 10: tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados.
  • NF S10-046:2012 Óptica y fotónica - Métodos de ensayo para imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF S10-046*NF ISO 14997:2017 Óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF EN ISO 13696:2022 Óptica y fotónica: métodos para probar la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • NF S10-115*NF EN ISO 13696:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • NF S10-024*NF ISO 22531:2020 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo para la resistencia climática del vidrio óptico
  • NF L54-002-131*NF EN 2591-6414:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6414: elementos ópticos - Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
  • NF ISO 22531:2020 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo de resistencia climática del vidrio óptico
  • NF S10-008-10:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 10: tabla que representa datos de un elemento de lente.
  • NF S10-200*NF ISO 17328:2022 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo para el índice de refracción de materiales ópticos infrarrojos
  • NF ISO 14997:2017 Óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • NF ISO 17328:2022 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo para el índice de refracción de materiales ópticos infrarrojos
  • NF ISO 10110-1:2020 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: general.
  • NF S10-048*NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica: métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos
  • NF ISO 19962:2019 Óptica y fotónica - Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos con planos paralelos
  • NF L54-002-086*NF EN 2591-604:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 604: elementos ópticos - Capacidad de limpieza de la cara óptica.
  • NF EN 61755-3-8:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Interfaces ópticas de conectores de fibra óptica - Parte 3-8: Interfaces ópticas, casquillos compuestos cilíndricos APC - Ángulo de 8 grados, diámetro de 2,5 mm y 1,25 mm...
  • NF S10-008-12/A1:2013 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: superficies asféricas - ENMIENDA 1
  • NF L54-002-088*NF EN 2591-606:2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 606: elementos ópticos - Diafonía
  • NF L54-002-110*NF EN 2591-6307:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6307: elementos ópticos - Niebla salina
  • NF EN 2591-6307:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 6307: elementos ópticos - Niebla salina
  • NF EN 2591-606:2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 606: elementos ópticos - Diafonía
  • NF S10-201*NF ISO 17411:2014 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo de homogeneidad de vidrios ópticos mediante interferometría láser
  • NF ISO 10110-8:2020 Óptica y fotónica. Indicaciones en los planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 8: acabado superficial.
  • NF S10-008-1:2006 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: general.
  • NF S10-008-1*NF ISO 10110-1:2020 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: general.
  • NF EN ISO 11151-2:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • NF S10-111-2:2001 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: componentes para la gama espectral infrarroja.
  • NF S10-111-2*NF EN ISO 11151-2:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • NF ISO 17411:2023 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método para comprobar la homogeneidad de vidrios ópticos mediante interferometría láser
  • NF EN 2591-602:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de prueba - Parte 602: miembros ópticos - Variación de atenuación y discontinuidad óptica
  • NF L54-002-121*NF EN 2591-6318:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6318: elementos ópticos - Resistencia al fuego
  • NF L54-002-106*NF EN 2591-6301:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6301: elementos ópticos - Resistencia a la temperatura
  • NF S10-008-5:2008 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: tolerancias de forma de superficies.
  • NF S10-008-5*NF ISO 10110-5:2015 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 5: tolerancias de forma de superficies.
  • NF S10-008-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: generales.
  • NF ISO 10110-12:2020 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: superficies asféricas
  • FD ISO/TR 14997-2:2022 Óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos. Parte 2: Visión.
  • NF ISO 10110-7:2017 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 7: imperfección de la superficie.
  • NF ISO 10110-6:2015 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: tolerancias de centrado.
  • NF L54-002-084*NF EN 2591-602:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 602: elementos ópticos - Variación de atenuación y discontinuidad óptica
  • NF L54-002-118*NF EN 2591-6315:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6315: elementos ópticos - Resistencia a fluidos
  • NF L54-002-119*NF EN 2591-6316:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6316: elementos ópticos - Resistencia al ozono
  • NF L54-002-105*NF EN 2591-6101:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6101: elementos ópticos - Examen visual
  • NF L54-002-125*NF EN 2591-6401:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6401: elementos ópticos - Aceleración en estado estacionario
  • NF L54-002-083*NF EN 2591-601:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 601: elementos ópticos - Pérdida de inserción
  • NF EN 2591-6316:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 6316: elementos ópticos - Resistencia al ozono
  • NF EN 2591-601:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 601: elementos ópticos - Pérdidas de inserción
  • NF S10-113:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de prueba de absorbancia de componentes de láser óptico.
  • NF EN 2591-607:2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctricos y ópticos - Métodos de ensayo - Parte 607: elementos ópticos - Inmunidad del acoplamiento a la luz ambiental
  • NF S10-008-17*NF ISO 10110-17:2005 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 17: Umbral de daño por irradiación láser.
  • NF L54-002-096*NF EN 2591-614:2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 614: elementos ópticos - Conector de compresión radial.
  • NF S10-008-6*NF ISO 10110-6:2015 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: tolerancias de centrado.
  • NF S10-008-7*NF ISO 10110-7:2017 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 7: imperfecciones de la superficie.
  • NF S10-008-8*NF ISO 10110-8:2020 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 8: textura superficial.
  • NF C96-435-5*NF EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 5. Dispositivos de matriz y oblea.
  • NF EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 5: dispositivos con chip y obleas.
  • NF ISO 10110-19:2015 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 19: descripción general de superficies y componentes.
  • NF EN ISO 11551:2019 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Método para probar el factor de absorción de componentes ópticos para láseres
  • NF L54-002-124*NF EN 2591-6324:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6324: elementos ópticos - Sellado interfacial
  • NF S10-008-12:2007 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: superficies asféricas.
  • NF S10-008-11*NF ISO 10110-11:2016 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 11: Datos no tolerados.
  • NF S10-008-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: tolerancias de centrado.
  • NF ISO 10110-5:2015 Óptica y fotónica. Orientación sobre dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: tolerancias de forma de superficies.
  • NF EN ISO 21987:2017 Óptica oftálmica - Lentes oftálmicas montadas
  • NF S10-049:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Medida de reflectancia de superficies planas y transmitancia de elementos planos paralelos.
  • NF EN ISO 24013:2007 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada
  • NF EN 61755-3-7:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Interfaces ópticas de conectores de fibra óptica - Parte 3-7: interfaces ópticas, casquillos compuestos cilíndricos de PC, diámetro de 2,5 mm y 1,25 mm, que utilizan titanio...
  • NF L54-002-132*NF EN 2591-6415:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6415: elementos ópticos - Daño de la sonda de prueba
  • NF L54-002-109*NF EN 2591-6306:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6306: elementos ópticos - Crecimiento de moho

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Chip de componente óptico

British Standards Institution (BSI), Chip de componente óptico

  • BS EN IEC 62148-19:2019 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquete e interfaz: paquete de escala de chip fotónico
  • BS EN 2591:6307:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Niebla salina
  • BS EN 2591:6402:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Choque
  • BS EN 2591:6403:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Vibraciones
  • BS EN 2591-6402:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Choque
  • BS EN 2591-6317:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Inflamabilidad
  • BS EN 2591-6403:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Vibraciones
  • BS EN 2591-6307:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. niebla salina
  • BS EN 2591-6414:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
  • BS EN 2591:6414:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
  • BS EN 2591:6317:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Inflamabilidad
  • BS EN 2591-604:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Capacidad de limpieza de la cara óptica
  • BS ISO 10110-10:2005 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados.
  • BS ISO 10110-10:2004 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tabla representativa de datos de elementos ópticos y conjuntos cementados
  • BS EN 2591:6101:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Examen visual
  • BS EN 2591:6306:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Crecimiento de moho
  • BS EN 2591-601:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Pérdidas de inserción
  • BS EN 2591:6404:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Carga transversal
  • BS EN 2591:6405:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Carga axial
  • BS EN 2591:6318:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia al fuego
  • BS EN 2591-605:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Pérdida de retorno
  • BS EN 2591-613:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Ensayo de impacto
  • BS EN 2591-6405:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Carga axial
  • BS EN 2591-6316:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia al ozono
  • BS EN 2591-6315:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia a los fluidos
  • BS EN 2591-6306:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. El crecimiento de moho
  • BS EN 2591-6324:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Sellado interfacial
  • BS EN 2591-6404:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Carga transversal
  • BS EN 2591-6318:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistente al fuego
  • BS EN 2591-6101:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Examinación visual
  • BS EN 2591:6301:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Resistencia a la temperatura
  • BS EN 2591:6406:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia mecánica
  • BS EN 2591:6324:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Sellado interfacial
  • BS EN 2591:6316:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Elementos ópticos - Resistencia al ozono
  • BS EN 2591-6406:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Resistencia mecánica
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  • BS EN 2591-602:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Variación de atenuación y discontinuidad óptica
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  • BS EN 2591:6315:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Resistencia a fluidos
  • BS EN 2591:6305:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Cambio rápido de temperatura
  • BS EN 2591:6415:2002 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Daños en la sonda de prueba
  • BS EN 2591:6401:2001 Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Aceleración en estado estacionario
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  • BS EN 2591-6321:2002 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Calor húmedo, prueba cíclica.
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  • BS ISO 10110-14:2008 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Tolerancia a la deformación del frente de onda
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  • BS EN 2591:6323:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Elementos ópticos - Choque térmico (Dispositivos sellados herméticamente)
  • BS EN 2591-6323:2002 Serie aeroespacial. Elementos de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba - Elementos ópticos. Choque térmico (Dispositivos sellados herméticamente)
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  • BS EN ISO 11151-1:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Componentes para los rangos espectrales UV, visible e infrarrojo cercano.
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  • BS EN 60876-1:2014 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Conmutadores espaciales de fibra óptica. Especificación genérica
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  • PD ISO/TR 14999-2:2019 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos. Técnicas de medición y evaluación.
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  • 17/30345524 DC BS ISO 2100-6317. Elementos aeroespaciales de conexión eléctrica y óptica. Métodos de prueba. Parte 6317. Elementos ópticos. Inflamabilidad
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  • BS ISO 10110-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Tolerancias de centrado
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  • KS B ISO 10110-10:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 10: Tabla que representa datos de un elemento de lente
  • KS B ISO 10110-10:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa los datos de un elemento de lente.
  • KS B ISO 13696-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • KS B ISO 14997:2019 Óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 10110-10:2018 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados.
  • KS B ISO 13696-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • KS B ISO 11151-2:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser-Componentes ópticos estándar-Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo
  • KS B ISO 11151-2:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Componentes ópticos estándar?; Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • KS B ISO 11151-2:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • KS B ISO 14997:2004 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 14997:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 13696:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • KS B ISO 10110-1:2017 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: Generalidades.
  • KS B ISO 11151-2-2015(2020) Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • KS B ISO 10110-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 1:General
  • KS B ISO 10110-1-2017(2022) Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: Generalidades.
  • KS B ISO 11551-2015(2020) Óptica e instrumentos ópticos ― Láseres y equipos relacionados con el láser ― Método de prueba para la absorbancia de componentes de láser óptico
  • KS B ISO 10110-12:2018 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • KS B ISO TR 14999-2:2011 Óptica y fotónica-Medida interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 2:Técnicas de medida y evaluación
  • KS B ISO 10110-6:2007 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 6:Tolerancias de centrado
  • KS B ISO TR 14999-2-2011(2021) Óptica y fotónica-Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 2:Técnicas de medición y evaluación
  • KS B ISO TR 14999-2-2011(2016) Óptica y fotónica-Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 2:Técnicas de medición y evaluación
  • KS B ISO TR 14999-1:2011 Óptica y fotónica-Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 1:Términos, definiciones y relaciones fundamentales
  • KS B ISO 10110-11:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 11: Datos no tolerados.
  • KS B ISO 10110-12:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 12:Superficies asféricas
  • KS B ISO 10110-12:2013 Óptica e instrumentos ópticos. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • KS B ISO 10110-11:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos-Parte 11:Datos no tolerados
  • KS B ISO 10110-8:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 8: Textura de la superficie
  • KS B ISO 10110-6:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 6:Tolerancias de centrado
  • KS B ISO 10110-6-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 6:Tolerancias de centrado
  • KS B ISO 10110-8-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 8: Textura de la superficie

International Organization for Standardization (ISO), Chip de componente óptico

  • ISO 10110-10:2004 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 10: Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados
  • ISO 13696:2022 Óptica y fotónica. Método de prueba para la dispersión total por componentes ópticos.
  • ISO 10110-10:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa los datos de un elemento de lente.
  • ISO 14997:2017 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO 22576:2020 Óptica y fotónica. Materiales y componentes ópticos. Especificación del fluoruro de calcio utilizado en el espectro infrarrojo.
  • ISO 11151-2:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • ISO 11151-2:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • ISO 21575:2018 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - El método de prueba en polvo para la resistencia al agua del vidrio óptico
  • ISO/TR 16743:2013 Óptica y fotónica - Sensores de frente de onda para la caracterización de sistemas ópticos y componentes ópticos
  • ISO 14997:2011 Óptica y fotónica. Métodos de ensayo para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO 14997:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • ISO/DIS 8237:2014 Óptica y fotónica. Materiales y componentes ópticos. Especificación del vidrio de calcogenuro utilizado en el espectro infrarrojo.
  • ISO 17328:2021 Óptica y fotónica. Materiales y componentes ópticos. Método de ensayo para determinar el índice de refracción de materiales ópticos infrarrojos.
  • ISO 19740:2018 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de prueba de homogeneidad de materiales ópticos infrarrojos
  • ISO 13696:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • ISO 10110-1:2019 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: Generalidades.
  • ISO 19962:2019 Óptica y fotónica. Métodos de medición espectroscópica para la dispersión integrada por elementos ópticos planos paralelos.
  • ISO 10110-1:2006 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: General
  • ISO 10110-12:2007 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 12: Superficies asféricas
  • ISO 10110-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 1: Generalidades
  • ISO 10110-12:2019 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • ISO 10110-6:2015 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 6: Tolerancias de centrado
  • ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas; Enmienda 1
  • ISO 10110-19:2015 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 19: Descripción general de superficies y componentes.
  • ISO 10110-6:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 6: Tolerancias de centrado.
  • ISO/FDIS 10110-16 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 16: Superficies difractivas.
  • ISO 1011:1973 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 8: Textura superficial.
  • ISO 10110-8:2019 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 8: Textura superficial.
  • ISO 10110-16:2023 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 16: Superficies difractivas.
  • ISO 19742:2018 Óptica y fotónica - Materiales y componentes ópticos - Método de ensayo para detectar burbujas e inclusiones en materiales ópticos infrarrojos
  • ISO/TR 14999-2:2019 Óptica y fotónica. Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos. Parte 2: Técnicas de medición y evaluación.
  • ISO 23701:2023 Óptica y fotónica. Láser y equipos relacionados con el láser. Técnica fototérmica para la medición de la absorción y el mapeo de componentes de láser óptico.
  • ISO/PRF 24013 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada.
  • ISO 10110-17:2004 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 17: Umbral de daño por irradiación láser.
  • ISO/TR 14999-2:2005 Óptica y fotónica - Medición interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos - Parte 2: Técnicas de medición y evaluación
  • ISO 10110-5:2007 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
  • ISO 10110-11:1996 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 11: Datos no tolerados
  • ISO/CD 10110-11.2 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 11: Datos no tolerados.
  • ISO 10110-5:2015 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 5: Tolerancias de forma de superficies.
  • ISO 10110-11:2016 Óptica y fotónica - Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos - Parte 11: Datos no tolerados
  • ISO/TR 14997-2:2022 Óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos. Parte 2: Visión artificial.
  • ISO/TR 22588:2005 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Medición y evaluación de efectos inducidos por absorción en componentes ópticos láser
  • ISO 24013:2023 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada.

American National Standards Institute (ANSI), Chip de componente óptico

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Chip de componente óptico

  • GB/T 20244-2006 Dispositivos de fibra óptica para transmisión de imágenes.
  • GB/T 42706.5-2023 Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos y dispositivos semiconductores - Parte 5: Chips y obleas
  • GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
  • GB/T 26597-2011 Método de prueba de dispositivos de fibra óptica para transmisión de imágenes.

RU-GOST R, Chip de componente óptico

  • GOST R 59420-2021 Óptica y fotónica. Elementos ópticos. Defectos superficiales. Control visual
  • GOST R 59422.2-2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Elementos ópticos estándar. Parte 2. Elementos ópticos estándar para equipos láser que operan en el rango espectral infrarrojo. Requisitos técnicos generales
  • GOST R 53784-2010 Elementos ópticos para dispositivos de señalización luminosa de un transporte ferroviario. Especificaciones
  • GOST R 59422.1-2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Elementos ópticos estándar. Parte 1. Elementos ópticos estándar para equipos láser que operan en los rangos espectrales ultravioleta, visible e infrarrojo cercano. Requisitos técnicos generales
  • GOST 34707-2021 Elementos ópticos para dispositivos de señalización luminosa del transporte ferroviario. Especificaciones

KR-KS, Chip de componente óptico

  • KS B ISO 14997-2019 Óptica y fotónica. Métodos de prueba para detectar imperfecciones superficiales de elementos ópticos.
  • KS B ISO 10110-10-2018 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 10: Tabla que representa datos de elementos ópticos y conjuntos cementados.
  • KS B ISO 10110-1-2017 Óptica y fotónica. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: Generalidades.
  • KS B ISO 10110-12-2018 Óptica y fotónica. Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 12: Superficies asféricas.
  • KS B ISO 10110-6-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 6:Tolerancias de centrado
  • KS B ISO 10110-8-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 8: Textura de la superficie

HU-MSZT, Chip de componente óptico

U.S. Military Regulations and Norms, Chip de componente óptico

IN-BIS, Chip de componente óptico

  • IS 988-1959 REQUISITOS GENERALES PARA COMPONENTES ÓPTICOS
  • IS 12713-1989 INSTRUMENTOS ÓPTICOS: DEFECTOS COSMÉTICOS PERMITIDOS E INSPECCIÓN DE COMPONENTES ÓPTICOS

Professional Standard - Machinery, Chip de componente óptico

Danish Standards Foundation, Chip de componente óptico

  • DS/EN 2591-6414:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6414: Elementos ópticos - Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
  • DS/EN ISO 13696:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba para la radiación dispersada por componentes ópticos.
  • DS/EN 2591-604:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 604: Elementos ópticos - Capacidad de limpieza de la cara óptica
  • DS/EN 2591-606:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 606: Elementos ópticos - Diafonía
  • DS/EN 2591-6307:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6307: Elementos ópticos - Niebla salina
  • DS/EN 2591-6402:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6402: Elementos ópticos - Choque
  • DS/EN 2591-6403:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6403: Elementos ópticos - Vibraciones
  • DS/EN ISO 11151-2:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo.
  • DS/EN 2591-6317:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6317: Elementos ópticos - Inflamabilidad
  • DS/EN 2591-6318:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Piezas 6318: Elementos ópticos - Resistencia al fuego
  • DS/EN ISO 11551:2004 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Método de prueba para la absorbancia de componentes de láser óptico
  • DS/EN 2591-602:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 602: Elementos ópticos - Variación de atenuación y discontinuidad óptica
  • DS/EN 2591-601:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 601: Elementos ópticos - Pérdida de inserción
  • DS/EN 2591-605:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 605: Elementos ópticos - Pérdida de retorno
  • DS/EN 2591-6101:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6101: Elementos ópticos - Examen visual
  • DS/EN 2591-613:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 613: Elementos ópticos - Ensayo de impacto
  • DS/EN 2591-617:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 617: Elementos ópticos - Ciclos de temperatura
  • DS/EN 2591-6306:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6306: Elementos ópticos - Crecimiento de moho
  • DS/EN 2591-6315:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6315: Elementos ópticos - Resistencia a fluidos
  • DS/EN 2591-6316:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6316: Elementos ópticos - Resistencia al ozono
  • DS/EN 2591-6324:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6324: Elementos ópticos - Sellado interfacial
  • DS/EN 2591-6404:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6404: Elementos ópticos - Carga transversal
  • DS/EN 2591-6405:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6405: Elementos ópticos - Carga axial
  • DS/EN 2591-607:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 607: Elementos ópticos - Inmunidad al acoplamiento de la luz ambiental
  • DS/EN ISO 24013:2007 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Medición del retardo de fase de componentes ópticos para radiación láser polarizada
  • DS/EN 2591-6301:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6301: Elementos ópticos - Resistencia a temperatura
  • DS/EN 2591-6314:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6314: Elementos ópticos - Inmersión a baja presión de aire
  • DS/EN 2591-6401:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6401: Elementos ópticos - Aceleración en estado estacionario
  • DS/EN 2591-6406:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6406: Elementos ópticos - Resistencia mecánica
  • DS/EN 2591-6303:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6303: Elementos ópticos - Frío/baja presión y calor húmedo
  • DS/EN 2591-6305:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6305: Elementos ópticos - Cambio rápido de temperatura
  • DS/EN 2591-6321:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6321: Elementos ópticos - Calor húmedo, prueba cíclica
  • DS/EN 2591-6415:2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6415: Elementos ópticos - Daño de la sonda de prueba

Lithuanian Standards Office , Chip de componente óptico

  • LST EN 2591-6414-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6414: Elementos ópticos - Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón
  • LST EN 2591-604-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 604: Elementos ópticos - Capacidad de limpieza de la cara óptica
  • LST EN 2591-6403-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6403: Elementos ópticos - Vibraciones
  • LST EN 2591-6402-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6402: Elementos ópticos - Choque
  • LST EN 2591-6307-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6307: Elementos ópticos - Niebla salina
  • LST EN 2591-606-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 606: Elementos ópticos - Diafonía
  • LST EN 2591-6318-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6318: Elementos ópticos - Resistencia al fuego
  • LST EN 2591-6317-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6317: Elementos ópticos - Inflamabilidad
  • LST EN 2591-602-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 602: Elementos ópticos - Variación de atenuación y discontinuidad óptica
  • LST EN 2591-6316-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6316: Elementos ópticos - Resistencia al ozono
  • LST EN 2591-6315-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6315: Elementos ópticos - Resistencia a fluidos
  • LST EN 2591-6101-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6101: Elementos ópticos - Examen visual
  • LST EN 2591-601-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 601: Elementos ópticos - Pérdida de inserción
  • LST EN 2591-6405-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6405: Elementos ópticos - Carga axial
  • LST EN 2591-6404-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6404: Elementos ópticos - Carga transversal
  • LST EN 2591-6306-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6306: Elementos ópticos - Crecimiento de moho
  • LST EN 2591-6324-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6324: Elementos ópticos - Sellado interfacial
  • LST EN 2591-605-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 605: Elementos ópticos - Pérdida de retorno
  • LST EN 2591-617-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 617: Elementos ópticos - Ciclos de temperatura
  • LST EN 2591-613-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 613: Elementos ópticos - Ensayo de impacto
  • LST EN 2591-607-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 607: Elementos ópticos - Inmunidad al acoplamiento de la luz ambiental
  • LST EN 2591-6314-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6314: Elementos ópticos - Inmersión a baja presión de aire
  • LST EN 2591-6301-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6301: Elementos ópticos - Resistencia a temperatura
  • LST EN 2591-6406-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6406: Elementos ópticos - Resistencia mecánica
  • LST EN 2591-6401-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de ensayo - Parte 6401: Elementos ópticos - Aceleración en estado estacionario
  • LST EN ISO 11151-2:2002 Láseres y equipos relacionados con el láser. Componentes ópticos estándar. Parte 2: Componentes para el rango espectral infrarrojo (ISO 11151-2:2000)
  • LST EN ISO 11551:2004 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Método de prueba para la absorbancia de componentes de láser óptico (ISO 11551:2003).
  • LST EN 2591-6415-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6415: Elementos ópticos - Daño de la sonda de prueba
  • LST EN 2591-6305-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6305: Elementos ópticos - Cambio rápido de temperatura
  • LST EN 2591-6303-2002 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6303: Elementos ópticos - Frío/baja presión y calor húmedo
  • LST EN 2591-6321-2003 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica - Métodos de prueba - Parte 6321: Elementos ópticos - Calor húmedo, prueba cíclica

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Chip de componente óptico

TIA - Telecommunications Industry Association, Chip de componente óptico

International Electrotechnical Commission (IEC), Chip de componente óptico

  • IEC 63267-1:2023 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Interfaces ópticas de conectores de fibra óptica. Parte 1: Fibras multimodo con diámetro de núcleo de 50 μm con pérdida de flexión macro mejorada. Generalidades y orientación.
  • IEC PAS 62005-9-2:2003 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes ópticos pasivos. Parte 9-2: Calificación de confiabilidad para conectores de fibra óptica.
  • IEC TR 61292-1:1998 Fibra óptica: parámetros de los componentes del amplificador.
  • IEC 62077:2022 RLV Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Circuladores de fibra óptica - Especificación genérica
  • IEC 62077:2022 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Circuladores de fibra óptica - Especificación genérica
  • IEC 62005-9-1:2015 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Fiabilidad. Parte 9-1: Calificación de componentes ópticos pasivos.
  • IEC 62148-19:2019 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de paquete e interfaz. Parte 19: Paquete de escala de chip fotónico.
  • IEC 61754-28:2012 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Interfaces de conectores de fibra óptica. Parte 28: Familia de conectores tipo LF3.
  • IEC 61977:2020 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Filtros fijos de fibra óptica - Especificación genérica
  • IEC 61977:2020 RLV Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Filtros fijos de fibra óptica - Especificación genérica

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Chip de componente óptico

  • PREN 2591-FD14-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte FD14 - Elementos ópticos Desacoplamiento de elementos de conexión óptica de liberación de cordón (Edición P 1)
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