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Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar, Total: 105 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar son: Condiciones y procedimientos de prueba en general., Química analítica, Medidas lineales y angulares., Componentes electrónicos en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Tabaco, productos del tabaco y equipos relacionados., Productos petrolíferos en general.

IN-BIS, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

IS 11148-1984 EXPRESIÓN DE LAS PROPIEDADES DE LOS ANALIZADORES DE ESPECTRO

Group Standards of the People's Republic of China, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

T/CSTM 00964-2022 Reglas generales para la evaluación del desempeño del espectrómetro atómico.

International Organization for Standardization (ISO), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO/TR 19319:2003
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
GB/T 20726-2015
GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 28971-2012 Cigarrillos. Determinación de N-nitrosaminas específicas del tabaco en humo secundario. Método GC-TEA
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.

Professional Standard - Electron, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

SJ/Z 3206.3-1989 Instrumento y sus requisitos de rendimiento para la determinación del espectro de emisión.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

British Standards Institution (BSI), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.

未注明发布机构, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.
DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Métodos de prueba para amplificadores de fibra óptica – Parte 1 1: Parámetros de ganancia y rendimiento óptico – Método del analizador de espectro óptico

工业和信息化部/国家能源局, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento

Association Francaise de Normalisation, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

KR-KS, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.

German Institute for Standardization, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8470-22 Práctica estándar para el desarrollo y la implementación de pruebas de rendimiento de instrumentos para su uso en sistemas analizadores multivariados en línea, en línea y basados en espectroscopía de laboratorio
ASTM D6122-21 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20a Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-20 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM D6122-22 Práctica estándar para la validación del rendimiento de espectrofotómetros infrarrojos multivariados en línea, en línea, de campo y de laboratorio, y sistemas analizadores basados en espectrómetro Raman
ASTM F1375-92(2012)
ASTM E1944-98(2002) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98 Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98(2007) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno
ASTM E1944-98(2013) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de los espectrómetros de laboratorio de infrarrojo cercano por transformada de Fourier (FT-NIR): pruebas de nivel cero y nivel uno

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

International Electrotechnical Commission (IEC), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

IEC 61455:1995

GM Europe, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

GME14441-2009 Análisis de protección de fusibles Inglés; Esta especificación puede aplicarse sólo para proyectos actuales incl. Épsilon global e (37
GME14032-2007 Modalanalyse, Pr眉fung und Auswertung Análisis, prueba y evaluación modales Inglés/Alemán; Nota: Esta especificación puede aplicarse solo para proyectos actuales incl. Épsilon global e (37

Standard Association of Australia （SAA）, Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

AS ISO 19319:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia electrónica Augur y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vista por el analizador
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Actualmente, los espectrómetros de energía pueden analizar

IEEE Std 1214-1992 Formato de intercambio de datos de histograma del analizador multicanal (MCA) estándar IEEE para espectroscopia nuclear