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Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

Microscopía electrónica y microscopía electrónica., Total: 68 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía electrónica y microscopía electrónica. son: Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipo óptico, Metrología y medición en general., Vocabularios, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, Conjuntos de componentes electrónicos..


American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

Professional Standard - Machinery, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
  • JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
  • JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
  • JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
  • JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.

International Organization for Standardization (ISO), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
  • ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
  • ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
  • ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

British Standards Institution (BSI), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
  • BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
  • BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica-Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico-Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
  • KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica-Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico-Parte 2: Microscopios de alto rendimiento

KR-KS, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

Association Francaise de Normalisation, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • JJG(地质) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0581-2020 Reglas generales para los métodos de análisis de microscopía electrónica de transmisión.
  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
  • GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.

Association of German Mechanical Engineers, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)

RU-GOST R, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • GOST 21006-1975 Microscopios electrónicos. Términos, definiciones y símbolos de letras.

Military Standards (MIL-STD), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

Professional Standard - Medicine, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • YY 1296-2016 Microscopios quirúrgicos ópticos y fotónicos Fotopeligros de los microscopios quirúrgicos oftálmicos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • IPC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos
  • IPC TM-650 2.6.22-1995 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.

German Institute for Standardization, Microscopía electrónica y microscopía electrónica.

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)




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