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Parámetros del láser de mesa

Parámetros del láser de mesa, Total: 489 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros del láser de mesa son: Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo de proteccion, Óptica y medidas ópticas., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Mediciones de radiación, Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo de trabajo sin chip, Materiales para la construcción aeroespacial., Astronomía. Geodesia. Geografía, Herramientas de máquina, Vocabularios, Comunicaciones de fibra óptica., AGRICULTURA, (Sin título), Equipo óptico, Metrología y medición en general., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos de interfaz e interconexión., tubos electronicos, Maquinaria para movimiento de tierras, Medidas lineales y angulares., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Química analítica, Agricultura y silvicultura, Alambres y cables eléctricos., Redes de transmisión y distribución de energía., carbones, Llantas, Cinematografía, Sistemas de automatización industrial, Medición del flujo de fluido., Características y diseño de máquinas, aparatos, equipos., Lámparas y equipos relacionados., Fotografía, Plástica, Tecnología gráfica, Geología. Meteorología. Hidrología, Procesos tecnológicos de la madera., pruebas de metales, Dibujos tecnicos, Sistemas de vehículos de carretera, ingeniería de energía solar, Dispositivos de visualización electrónica., Procesos de conformado de fabricación., Física. Química, Engranajes, Vaso, Pruebas eléctricas y electrónicas., Condiciones y procedimientos de prueba en general., válvulas, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dispositivos semiconductores, Pruebas ambientales, Aplicaciones de la tecnología de la información., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., muelles, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Fertilizantes, Seguridad de la maquinaria, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Dispositivos de almacenamiento de datos, Estandarización. Reglas generales, Materiales semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Sistemas de telecomunicaciones.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros del láser de mesa

KS B ISO 12005:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser-Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser-Polarización
KS B ISO 12005:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser?; Polarización
KS B ISO 12005:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser ― Métodos de prueba para parámetros del rayo láser ― Polarización
KS B ISO 12005:2020 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización.
KS B ISO 11670:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser?; Estabilidad posicional del haz
KS B ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser-Métodos de prueba para los parámetros del haz láser-Estabilidad posicional del haz
KS B ISO 11670:2015 Óptica e instrumentos ópticos ― Láser y equipos relacionados con el láser ― Métodos de prueba para determinar la potencia, energía y características temporales del rayo láser
KS B ISO 11670:2020 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz.
KS B ISO 11146:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para parámetros de haz láser. Anchos de haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz.
KS B ISO 11146:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Métodos de prueba para los parámetros del láser baem?; Anchos de haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz.
KS B ISO 11146:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser ― Métodos de prueba para parámetros del sistema láser ― Anchos de haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz
KS B ISO 11146-2015(2020) Láseres y equipos relacionados con el láser ― Métodos de prueba para parámetros del sistema láser ― Anchos de haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz
KS C 6701-2013 Glosario de términos utilizados en seguridad láser
KS B ISO 11254-1:2003 Láser y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte de la prueba 1:1 a 1.
KS B ISO 11254-1:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas?; Parte 1: prueba 1 a 1
KS B ISO 11254-2:2007 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte 2: Prueba S-on-1.
KS B ISO 11254-1:2015 Láseres y láser ― equipos relacionados ― Determinación del láser ― umbral de daño inducido de superficies ópticas ― Parte 1: Prueba 1 a 1
KS B ISO 11254-2:2015 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte 2: Prueba S-on-1.
KS B ISO 11254-2-2015(2020) Láseres y equipos relacionados con el láser－Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas－Parte 2: Prueba S-on-1
KS B ISO 11254-1-2015(2020) Láseres y láser ― equipos relacionados ― Determinación del láser ― umbral de daño inducido de superficies ópticas ― Parte 1: Prueba 1 a 1
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 62341-6:2007 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) －Parte 6: Métodos de medición
KS L 2105-2006 Método de medición del coeficiente de expansión térmica lineal para vidrios de baja expansión mediante interferometría láser.
KS C 6925-1995 Métodos de prueba para parámetros estructurales de fibras ópticas monomodo.
KS C 6922-1995 Métodos de prueba para parámetros estructurales de fibras ópticas multimodo.
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61194-2002(2022) Parámetros característicos de los sistemas fotovoltaicos (PV) autónomos
KS C IEC 61194-2002(2017) Parámetros característicos de los sistemas fotovoltaicos (PV) autónomos
KS C 6925-1995(2020) Métodos de prueba para parámetros estructurales de fibras ópticas monomodo.
KS B 0162-1999(2009) Rugosidad de la superficie－Terminología－Parte 1：Superficie y sus parámetros
KS C 6951-1993 Métodos de prueba para parámetros estructurales de todas las fibras ópticas multimodo de plástico.

International Organization for Standardization (ISO), Parámetros del láser de mesa

ISO 12005:1999 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización
ISO 12005:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización
ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización.
ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Estabilidad posicional del haz
ISO 11670:1999 Láser y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser - Estabilidad posicional del rayo
ISO 11146:1999 Láser y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Anchos de haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz
ISO 11670:2003/cor 1:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Estabilidad posicional del haz; Corrigendum técnico 1
ISO 11254-1:2000 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño de superficies ópticas inducido por láser. Parte 1: prueba 1 a 1.
ISO 11254-3:2006 Láseres y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño de las superficies ópticas inducido por el láser. Parte 3: Garantía de la capacidad de manejo de la potencia (energía) del láser.
ISO 11254-2:2001
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 1878:1974 Falta el título: documento en papel heredado
ISO 1878:1983 Clasificación de instrumentos y dispositivos para la medición y evaluación de los parámetros geométricos del acabado superficial.
ISO/TS 22247:2022 Óptica y fotónica. Apertura numérica efectiva de lentes láser. Procedimiento de definición y verificación.
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

KR-KS, Parámetros del láser de mesa

KS B ISO 12005-2020 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización.
KS B ISO 11670-2020 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz.

European Committee for Standardization (CEN), Parámetros del láser de mesa

EN ISO 12005:1999 Láseres y equipos relacionados con láseres. Métodos de prueba para parámetros del haz láser. Polarización ISO 12005: 1999.
EN ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO 12005:2022)
EN ISO 11670:1999 Láseres y equipos relacionados con láseres. Métodos de prueba para parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz ISO 11670:1999.
EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Estabilidad posicional del haz ISO 11670: 2003.
EN ISO 12005:2003 Láseres y equipos relacionados con láseres: métodos de prueba para parámetros del haz láser: polarización
prEN ISO 12005:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO/DIS 12005:2021)
EN ISO 11146:2000 Láser y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Ancho del haz, ángulo de divergencia y factor de propagación del haz ISO 11146: 1999
EN ISO 11670:2003/AC:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003/Cor.1:2004).
EN ISO 13694:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con láser - Métodos de prueba para la distribución de densidad de potencia (energía) del haz láser Incorporación de corrección de errores de octubre de 2007
EN ISO 11254-1:2000 Láseres y equipos relacionados con láseres. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte 1: Prueba 1 a 1 ISO 11254-1:2000
EN 60908:1992 Sistema de audio digital de disco compacto (IEC 908:1987)
EN 60908:1992/prA1:1992 Sistema de audio digital de disco compacto (IEC 908:1987/AMD 1, prueba de impresión 1992)
EN ISO 22007-4:2017 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 4: Método de flash láser.
EN ISO 22007-4:2012 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 4: Método de flash láser (ISO 22007-4:2008)
FprCEN/TS 17725-2021 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (indicada en masa o volumen)
EN 15042-1:2006 Medición de espesor de recubrimientos y caracterización de superficies con ondas superficiales - Parte 1: Guía para la determinación de constantes elásticas, densidad y espesor de películas mediante ondas acústicas superficiales inducidas por láser

Association Francaise de Normalisation, Parámetros del láser de mesa

NF S10-123*NF EN ISO 12005:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización
NF EN ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos para probar los parámetros del rayo láser - Polarización
NF S10-122*NF EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser: Estabilidad posicional del haz.
NF EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos para probar los parámetros del rayo láser - Estabilidad de la orientación del rayo
NF S10-112-3:2006 Láseres y equipos relacionados con láseres. Determinación del umbral de daño de superficies ópticas inducido por láser. Parte 3: garantía de las capacidades de manejo de potencia (energía) del láser.
NF S10-114*NF EN ISO 13697:2006 Óptica y fonótica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para la reflectancia y transmitancia especular de componentes de láseres ópticos.
NF EN ISO 11551:2019 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Método para probar el factor de absorción de componentes ópticos para láseres
NF EN ISO 14881:2021 Óptica integrada - Interfaces - Parámetros que caracterizan las propiedades de acoplamiento
NF EN ISO 25178-2:2022 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Acabado superficial: superficie - Parte 2: términos, definiciones y parámetros de acabado superficial
NF EN ISO 21920-2:2022 Especificación geográfica de productos (GPS) - Estado de superficie: método de perfil - Parte 2: términos, definiciones y parámetros de estado de superficie
NF C93-805-2-3*NF EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Medidor de potencia óptica.
NF EN ISO 12085:1998 Especificación geométrica de producto (GPS) - Acabado superficial: método del perfil - Parámetros relacionados con el patrón
NF E11-016:1987 Instrumentos de medición de longitud: recuento de franjas, interferómetros con fuente láser
NF C93-805-1-3:2006 Amplificador óptico - Métodos de prueba - Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia - Método del medidor de potencia óptica.
NF C93-805-1-3*NF EN IEC 61290-1-3:2021 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
NF EN ISO 11146-2:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos para probar anchos de haz, ángulos de divergencia y factores límite de difracción. Parte 2: haces astigmáticos generales.
NF EN ISO 11146-1:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos para probar anchos de haz, ángulos de divergencia y factores límite de difracción. Parte 1: haces estigmáticos y astigmáticos únicos.
E11-016:1987 Instrumentos de medida de longitud. Conteo de franjas, interferómetros con fuente láser.
NF C57-340*NF EN 50524:2021 Ficha técnica de inversores fotovoltaicos
NF EN 50524:2021 Ficha técnica de inversores fotovoltaicos
NF EN 61106:1993 Videodiscos - Métodos de medición de parámetros.
NF EN 61194:1996 Parámetros descriptivos de sistemas fotovoltaicos autónomos.
NF C57-332*NF EN 61194:1996 Parámetros característicos de los sistemas fotovoltaicos (PV) autónomos.
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
XP U45-004*XP CEN/TS 17725:2022 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (indicada en masa o volumen)
XP CEN/TS 17725:2022 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (expresada en masa o volumen)
NF EN 62149-7:2012 Componentes y dispositivos de fibra óptica activa. Estándar de rendimiento. Parte 7: dispositivos láser discretos de emisión de superficie de 1310 nm.

German Institute for Standardization, Parámetros del láser de mesa

DIN EN ISO 12005:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO 12005:2003); Versión alemana EN ISO 12005:2003
DIN EN ISO 12005:2022-11 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO 12005:2022); Versión alemana EN ISO 12005:2022
DIN EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003); Versión alemana EN ISO 11670:2003
DIN EN ISO 11670:2003-10 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003); Versión alemana EN ISO 11670:2003
DIN EN ISO 12005:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización (ISO/DIS 12005:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 12005:2021
DIN EN ISO 11670 Corrigendum 1:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003) Corrigendum 1 a la versión inglesa de DIN EN ISO 11670:2003-10.
DIN EN ISO 11254-3:2006 Láseres y equipos relacionados con láser. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte 3: Garantía de las capacidades de manejo de potencia (energía) del láser (ISO 11254-3:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 11254-3:2006-12
DIN EN 4867:2019 Serie aeroespacial - Marcado láser de superficies mediante decoloración; Versión alemana e inglesa EN 4867:2019
DIN EN 4867:2019-11 Serie aeroespacial - Marcado láser de superficies mediante decoloración; Versión alemana e inglesa EN 4867:2019
DIN 4000-193:2023-06 Diseños tabulares de propiedades - Parte 193: Dispositivo de medición láser
DIN 2311-1:1998 Especificación y aprobación del tratamiento de superficies con rayo láser utilizando materiales adicionales. Parte 1: Especificación del tratamiento de superficies con láser utilizando consumibles.
DIN 4000-1:1992 Lista de parámetros de objetos; conceptos y principios
DIN EN 15042-1:2006-06 Medición de espesor de recubrimientos y caracterización de superficies con ondas superficiales - Parte 1: Guía para la determinación de constantes elásticas, densidad y espesor de películas mediante ondas acústicas superficiales inducidas por láser; Versión alemana EN 15042-1:2006
DIN EN 61291 Bb.1:1999 Fibra óptica. Parámetros de los componentes del amplificador (Informe técnico IEC 61292-1:1998)
DIN EN 61194:1996 Parámetros característicos de los sistemas fotovoltaicos (PV) autónomos (IEC 61194:1992, modificada); Versión alemana EN 61194:1995
DIN 3969-1:1991 Rugosidad de la superficie de los flancos de los dientes; parámetros de rugosidad, grados de superficie
DIN 3969-1:1991-10 Rugosidad de la superficie de los flancos de los dientes; parámetros de rugosidad, grados de superficie
DIN 4000-85:1995 Lista de parámetros de objetos - Parte 85: Para subprocesos
DIN 58768:2005 Producción en ingeniería óptica: parámetros de entrada para máquinas herramienta CNC
DIN EN 61290-1-3:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: Parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica (IEC 61290-1-3:2005); Versión alemana EN 61290-1-3:2005
DIN CLC/TS 50654-2:2018 Sistemas de red HVDC y estaciones convertidoras conectadas - Guías y listas de parámetros para especificaciones funcionales - Parte 2: Listas de parámetros; Versión alemana e inglesa CLC/FprTS 50654-2:2017
DIN EN ISO 22007-4:2017-11 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 4: Método de flash láser (ISO 22007-4:2017); Versión alemana EN ISO 22007-4:2017
DIN EN 61096:1993 Métodos de medición de las características de los equipos de reproducción de discos compactos de audio digital (IEC 61096:1992); Versión alemana EN 61096:1993
DIN-Fachbericht ISO/TR 28980:2007 Óptica oftálmica - Lentes para gafas - Parámetros que afectan a la medición de la potencia de la lente; Versión alemana ISO/TR:28980:2007
DIN 4000-125:1999 Listas de parámetros de objetos - Parte 125: Montajes de elastómero
DIN 41746-1:1972 Fuentes de alimentación estabilizadas con salida dc; recomendaciones para hojas de datos
DIN EN 17725:2023-06 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (indicada en masa o volumen); Versión en alemán e inglés prEN 17725:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-05-19*Previsto como reemplazo de DIN CEN/TS 17725 (2022-07).
DIN CEN/TS 17725:2022-07 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (indicada en masa o volumen); Versión alemana CEN/TS 17725:2022
DIN 58143-1:2020 Especificación de fichas técnicas de productos de fibra óptica - Parte 1: Fibras ópticas; Texto en alemán e inglés.
DIN 58143-1:2020-09 Especificación de fichas técnicas de productos de fibra óptica - Parte 1: Fibras ópticas; Texto en alemán e inglés.

ES-UNE, Parámetros del láser de mesa

UNE-EN ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de ensayo de parámetros del haz láser - Polarización (ISO 12005:2022) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)
UNE-EN ISO 11670:2004/AC:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003/Cor.1:2004).
UNE-EN 4867:2019 Serie Aeroespacial - Marcado láser de superficies por decoloración (Hotificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2019.)
UNE-EN 50524:2022 Ficha técnica de inversores fotovoltaicos
UNE-CLC/TS 50654-2:2020 Sistemas de red HVDC y estaciones convertidoras conectadas - Guías y listas de parámetros para especificaciones funcionales - Parte 2: Listas de parámetros (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2020.)
UNE-CEN/TS 17725:2022 Bioestimulantes vegetales - Determinación de la cantidad (indicada en masa o volumen) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

Professional Standard - Machinery, Parámetros del láser de mesa

JB/T 6859-1993 Parámetros básicos de los láseres de gas.
JB/T 9492-1999 Serie de parámetros para láseres Nd:YAG
JB/T 9491-1999 Método de medición del parámetro principal de los láseres He-Ne
JB/T 6249-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de helio cadmio.
JB/T 9489-1999 Método de medición del parámetro principal de los láseres de iones de argón
JB/T 6250.1-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de onda continua YAG.
JB/T 6250.2-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de pulso YAG.
JB/T 5748-1991 Método de prueba de los principales parámetros del láser de rubí.
JB/T 5749-1991 Método de prueba de los principales parámetros del láser de vidrio de neodimio.
JB/T 9490-1999 Método de medición de parámetros principales para láseres de CO2
JB/T 9490-2013 Método de prueba del parámetro principal del láser de CO2
JB/T 5772-1991 Tipo de vibrador eléctrico y parámetros básicos.
JB/T 4136.1-1999 Parámetros del torno medidor
JB/T 5548.1-2015
JB/T 5548.1-2006 Vibrador eléctrico Parte 1: Tipos y parámetros básicos
JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
JB/T 8204-1996 Instrumento de medición de rugosidad de superficie de bola láser de rodamiento rodante
JB/T 10564-2006 Parámetros básicos para instrumentos de medición de flujo.
JB/T 9325-1999 Serie de espectrofotómetros y su parámetro básico.
JB/T 12392-2015 Representación de parámetro tecnológico para mecanizado mecánico.
JB/T 8078-1999 Rectificadoras para la superficie interna del aro exterior de los parámetros de los rodamientos.
JB/T 8079-1999 Molinillo para la superficie exterior de los aros interiores de los parámetros de los rodamientos.
JB/T 8080-1999 Rectificadoras para la superficie interna del aro interior de los parámetros de los rodamientos.
JB/T 8079.1-1999 Parámetros de la rectificadora de superficie exterior del anillo interior del rodamiento
JB/T 9346-1999 Parámetros básicos para espectrofotómetro.
JB/T 9330-1999 El parámetro básico para la placa de diafragma del instrumento óptico.
JB/T 10080.1-2000 Lecturas digitales para transductor de rejilla.
JB/T 6266-1992 Comparador óptico para medición de ángulos - Parámetro básico
JB/T 10934-2010 Especificación para la limpieza de cuchillas de tambores fotoconductores de fotocopiadoras digitales e impresoras láser.
JB/T 9912.4-2006 Rectificadoras de perfiles de proyección óptica—Parámetros
JB/T 10574-2006 Instrumentos ópticos de medición de longitud - Parámetros básicos
JB/T 10574-2013 Parámetros básicos de los instrumentos ópticos de medición de longitud.
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 10935-2010 Especificación del magroller de desarrollo para fotocopiadora digital e impresora láser.

RU-GOST R, Parámetros del láser de mesa

GOST 19319-1982 Láseres de estado sólido. Parametros basicos
GOST R ISO 12005-2013 Láser y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para parámetros del rayo láser. Polarización
GOST R 51106-1997
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GOST R ISO 11670-2010 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para parámetros del rayo láser. Estabilidad posicional de vigas
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