Analizador de conductividad

Analizador de conductividad, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Analizador de conductividad son: Calidad del agua, Química analítica, Sistemas de automatización industrial, Metrología y medición en general., Medidas lineales y angulares., ingenieria de energia hidraulica, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Geología. Meteorología. Hidrología, Pruebas no destructivas, Centrales eléctricas en general, pruebas de metales, Medicina de laboratorio, químicos inorgánicos, Equipo óptico, Pruebas eléctricas y electrónicas., Pruebas ambientales, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos semiconductores, Comunicaciones de fibra óptica., Químicos orgánicos, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Equipos diversos domésticos y comerciales., Plástica, Óptica y medidas ópticas., Materiales conductores, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Compatibilidad electromagnética (CEM), Termodinámica y mediciones de temperatura., Equipos para la industria química., Análisis sensorial, Combustibles, Protección de y en edificios, ingeniería de energía nuclear, Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Vocabularios, Fotografía, Materiales semiconductores, Maquinaria rotativa, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Materiales aislantes, Componentes de tuberías y tuberías., Protección de radiación, Metales no ferrosos, Transformadores. reactores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Materiales de construcción, Alambres y cables eléctricos..

Professional Standard - Environmental Protection, Analizador de conductividad

HJ/T 97-2003 El requisito técnico para el analizador automático de electroconductividad de la calidad del agua.

German Institute for Standardization, Analizador de conductividad

DIN EN 60746-3:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica (IEC 60746-3:2002 + Corrigendum 2002); Versión alemana EN 60746-3:2002
DIN 10753:2021-06 Análisis de la miel - Determinación de la conductividad eléctrica.
DIN EN 60746-3:2003-05 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica (IEC 60746-3:2002 + Corrigendum 2002); Versión alemana EN 60746-3:2002 / Nota: DIN IEC 60746-3 (1988-01) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2005-09-01.
DIN 10753:2021 Análisis de la miel - Determinación de la conductividad eléctrica.
DIN EN 61207-7:2015-07 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables (IEC 61207-7:2013); Versión alemana EN 61207-7:2013 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61207-1 (2011-04).
DIN EN 61290-1-2:2006-07 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005 / Nota: DIN EN 61290-1-2 (1999-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2008-10-0...
DIN EN 61788-11:2012 Superconductividad - Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de NbSn (IEC 61788-11:2011); Versión alemana EN 61788-11:2011
DIN EN 61788-4:2012 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti (IEC 61788-4:2011); Versión alemana EN 61788-4:2011
DIN EN 61788-4:2008 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti (IEC 61788-4:2007); Versión alemana EN 61788-4:2007
DIN ISO 15632:2015 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica (ISO 15632:2012)
DIN EN 60746-2:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH (IEC 60746-2:2003 + Corrigendum 2003); Versión alemana EN 60746-2:2003
DIN EN 60746-1:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General (IEC 60746-1:2003); Versión alemana EN 60746-1:2003
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 60746-1:2003-09 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General (IEC 60746-1:2003); Versión alemana EN 60746-1:2003 / Nota: DIN IEC 60746-1 (1986-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2006-02-01.
DIN EN 60746-2 Berichtigung 1:2003-11 Corrección de errores según DIN EN 60746-2:2003-09
DIN EN 61290-1-2:2006 Amplificador óptico. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005); Versión alemana EN 61290-1-2:2005
DIN EN 17294:2019 Piensos para animales - Métodos de muestreo y análisis - Determinación de ácidos orgánicos mediante cromatografía lon con detección de conductividad (IC-CD)
DIN EN ISO 22007-3:2012-04 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 3: Método de análisis de ondas de temperatura (ISO 22007-3:2008); Versión alemana EN ISO 22007-3:2012
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN IEC 60746-5:1996 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 5: Potencial de oxidación-reducción o potencial redox (IEC 60746-5:1992)
DIN EN 61338-1-5:2016-04 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba - Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas (IEC 61338-1-5:2015); Versión alemana EN 6...

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Analizador de conductividad

KS C IEC 60746-3-2019 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
KS C IEC 60746-3-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
KS D ISO 17973-2021 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17974-2021 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 19319-2020 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
KS C IEC 61788-11:2005 Superconductividad －Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual －Relación de resistencia residual de superconductores compuestos Nb3Sn
KS C IEC 61788-16:2020 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia a frecuencias de microondas.
KS C IEC 60746-1-2019 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades
KS C IEC 60746-2-2019 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH.
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
KS C IEC 61290-5-1-2022 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 60746-1-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades
KS C IEC 60746-2-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH.
KS A ISO 16067-2-2020 Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS A ISO 16067-2:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de películas
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad

SCC, Analizador de conductividad

CEI EN 60746-3:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
DANSK DS/EN 60746-3:2002 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
AENOR UNE-EN 60746-3:2004 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
BS 6438-3:1986 Analizadores electroquímicos: método para especificar el rendimiento de los analizadores de conductividad electrolítica.
NS 4721:1973 Análisis de agua. Determinación de la conductividad.
DIN 10753 E:2020 Borrador de Documento - Análisis de la miel - Determinación de la conductividad eléctrica
CEI EN 61207-7/EC:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables
CEI EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables
DANSK DS/EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
DANSK DS/EN 61207-7/AC:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
BS ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS 6438-2:1984 Analizadores electroquímicos: método para especificar el rendimiento de los analizadores de valor de pH.
BS 6438-1:1984 Analizadores electroquímicos: método para especificar el rendimiento común a todos los analizadores.
CEI EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica Parte 1: Analizadores de espectro óptico
DANSK DS/EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica – Parte 1: Analizadores de espectro óptico
BS PD ISO/TR 19319:2003 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistos por el analizador
BS EN 61290-1-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos-Medidor de potencia óptica
NS-EN 13370:2003 Caracterización de residuos — Análisis de eluatos — Determinación de amonio, AOX, conductividad, Hg, índice de fenol, TOC, CN-, F- fácilmente liberables
BS EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico
DIN EN 62129-1 E:2014 Borrador de documento - Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 86/468/CD:2014)
DANSK DS/EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
CEI EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
UNE 77079:2002 Calidad del agua. Especificaciones técnicas de carácter general para instrumentos de medida continua de conductividad en residuos industriales.
AENOR UNE 77079:2002 Calidad del agua. Especificaciones técnicas generales para instrumentos de medida continua de conductividad en vertidos industriales.
06/30134637 DC Norma ISO 22007-3. Plástica. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad. Parte 3. Método de análisis de ondas de temperatura.
CEI EN 61290-2-2:1999 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
AWWA WQTC65722 Aplicación del analizador de tamaño de floculación para la evaluación de la eficiencia del proceso de floculación
BS ISO 15632:2002 Análisis de microhaces. Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
DANSK DS/EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
CEI EN 61788-16:2013 Superconductividad Parte 16: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores dependiente de la potencia en frecuencias de microondas
VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 BLATT 11:2003 Calibración de instrumentos de medida de magnitudes eléctricas: analizadores de espectro.
DANSK DS/EN 60746-2:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 2: valor de pH
NS 9013:1981 Cloro líquido para uso industrial. Determinación del contenido de agua mediante un analizador electrolítico.
AENOR UNE-EN 60746-1:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades
DIN EN ISO 22007-3 E:2011 Borrador de documento - Plásticos - Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica - Parte 3: Método de análisis de ondas de temperatura (ISO 22007-3:2008); Versión alemana FprEN ISO 22007-3:2011
DANSK DS/EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.
UNE-EN 13370:2004 Caracterización de residuos - Análisis de eluatos - Determinación de Amonio, AOX, conductividad, Hg, índice de fenol, TOC, CN-, F- fácilmente liberables
CEI EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
DANSK DS/EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
AWWA CSC91075 Análisis de tarifas y hojas de cálculo: la combinación perfecta
BS EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico
DANSK DS/EN 60746-1:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General
CEI EN 60746-1:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General
CEI EN 60746-2:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 2: valor de pH
AENOR UNE-EN 60746-2:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH.
DIN EN 61290-2-2:1999 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia; analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-2-2:1998); Versión alemana EN 61290-2-2:1998
BS DD ENV 13370:2001 Caracterización de residuos. Análisis de eluatos. Determinación de N-amonio, AOX, conductividad, Hg, índice de fenol, TOC, CN^- fácilmente liberable, F^-
CEI EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
AS 2614:1983 Cobre y aleaciones de cobre - Muestreo para análisis químicos y resistividad eléctrica
CEI EN 50080:1997 Caratteristiche radiofrequenza dei ricevitori via cavo MAC AM-VSB
BS PD ISO/TS 20498-4:2020 Medicina tradicional china. Sistema computarizado de análisis de imágenes de la lengua: instrumentos visuales periféricos.
DANSK DS/EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DANSK DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
CEI EN IEC 61290-1-1:2021 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS PD ISO/TR 22335:2007 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la tasa de sputtering. Método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
04/30098988 DC ISO 22335. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la tasa de sputtering. Método Meshreplica con el uso de un perfilómetro de lápiz mecánico.
DANSK DS/EN 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios
CEI EN 62047-20:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 20: Giroscopios
DANSK DS/EN 61788-7:2007 Superconductividad – Parte 7: Mediciones características electrónicas – Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
CEI EN 61788-7:2007 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
UNE-EN 61788-7:2003 Superconductividad - Parte 7: Mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
11/30199190 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica.
DANSK DS/EN 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.
CEI EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
DIN EN 17294 E:2018 Borrador de documento - Alimentos para animales: Métodos de muestreo y análisis - Determinación de ácidos orgánicos mediante cromatografía lon con detección de conductividad (IC-CD); Versión alemana e inglesa prEN 17294:2018
DIN EN 61788-16 E:2011 Borrador de documento - Superconductividad - Parte 16: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas (IEC 90/259/CD:2011)

Danish Standards Foundation, Analizador de conductividad

DS/EN 60746-3/Corr.1:2003
DS/EN 60746-3:2002
DS/EN 61290-1-2:2006
DS/EN 61290-5-3:2002
DS/EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.
DS/EN 60746-1:2003
DS/EN 60746-2/Corr.2:2004
DS/EN 60746-2/Corr.1:2004
DS/EN 60746-2:2003
DS/IEC 62539:2008
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico
DS/EN 61788-7:2007

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Analizador de conductividad

EN 60746-3:2002 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
EN 61788-11:2011 Superconductividad - Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb3Sn
EN 61788-4:2011 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual del superconductor compuesto de Nb-Ti
EN 61788-4:2016 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti y Nb3Sn
EN 61788-16:2013 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.
EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61788-7:2006 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
EN 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios

AENOR, Analizador de conductividad

UNE-EN 60746-3:2004 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
UNE-EN 60746-2:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH.
UNE-EN 60746-1:2003 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades.
UNE 34185:1984 AZÚCARES. DETERMINACIÓN DE CONDUCTIVIDAD CENIZA. MÉTODO DE ATRIBUCIÓN POR PUNTOS.

IN-BIS, Analizador de conductividad

IS 13673 Pt.3-1993 EXPRESIÓN DE RENDIMIENTO DE ANALIZADORES ELECTROQUÍMICOS PARTE 3 CONDUCTIVIDAD ELECTROLÍTICA
IS 13673 Pt.2-1993 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos. Parte 2: Valor de pH
IS 13673 Pt.1-1993 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades

British Standards Institution (BSI), Analizador de conductividad

BS EN 60746-3:2002(2003) Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
BS EN 60746-3:2002 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Conductividad electrolítica
BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS EN 61207-7:2013(2015) Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.
23/30469291 DC BS ISO 17973. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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BS EN 60746-2:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - valor de pH.
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
22/30400308 DC BS ISO 22804. Tecnología marina. Requerimiento técnico general de marina. Instrumento de medición de conductividad, temperatura y profundidad (CTD)
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BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
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GSO, Analizador de conductividad

GSO IEC 60746-3:2015 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
OS GSO IEC 60746-3:2015 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
BH GSO IEC 60746-3:2016 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
OS GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BH GSO ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
OS GSO ISO 17974:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BH GSO ISO 17974:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
GSO IEC 60747-5-4:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
GSO IEC 60747-15:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 15: Dispositivos semiconductores de potencia aislados
GSO IEC 61290-5-2:2014 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
BH GSO IEC 61290-5-2:2016 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
OS GSO IEC 61290-5-2:2014 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
GSO ASTM D4308:2022 Método de prueba estándar para la conductividad eléctrica de hidrocarburos líquidos mediante medidor de precisión
BH GSO ASTM D4308:2023 Método de prueba estándar para la conductividad eléctrica de hidrocarburos líquidos mediante medidor de precisión
BH GSO IEC 61290-1-2:2016 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
OS GSO IEC 61290-1-2:2014 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
GSO IEC 61290-1-2:2014 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
OS GSO ISO/TR 22335:2009 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica - Método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
GSO IEC 60746-2:2014 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 2: valor de pH
GSO IEC 61788-16:2021 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas.
GSO IEC 61788-4:2014 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
BH GSO IEC 60746-1:2016 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General
BH GSO IEC 60746-2:2016 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 2: valor de pH
GSO ISO 16067-2:2013 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
GSO IEC 61788-11:2013 Superconductividad - Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb3Sn
GSO IEC 60746-1:2014 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General
GSO IEC 61290-1-1:2013 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BH GSO IEC 61290-1-1:2016 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
OS GSO IEC 61290-1-1:2013 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
GSO IEC 61290-5-3:2014 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba de tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
OS GSO IEC 61290-5-3:2014 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba de tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
BH GSO IEC 61290-5-3:2016 Especificación básica para métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Método de prueba de tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
GSO IEC 62047-20:2021 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios
BH GSO IEC 62047-20:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios
GSO IEC 61788-7:2021 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
BH GSO IEC 61788-7:2022 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
OS GSO IEC 61338-1-5:2013 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.
BH GSO IEC 61338-1-5:2016 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.

Professional Standard - Electron, Analizador de conductividad

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SJ/T 11821-2022 Especificaciones generales para analizadores de potencia digitales
SJ 20234-1993 Reglamento de verificación del analizador de parámetros de semiconductores modelo HP4145A.
SJ/Z 9125.1-1987 Presentación para actuaciones de analizadores electroquímicos Parte 1: Normas generales
SJ/Z 9125.2-1987 Presentación para actuaciones de analizadores electroquímicos Parte 2: Valor de pH

International Electrotechnical Commission (IEC), Analizador de conductividad

IEC 60746-3:1985 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: Conductividad electrolítica.
IEC 60746-3:2002/COR1:2003 Expresión de desempeño de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica; Corrección 1
IEC 60746-3:2002 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 3: Conductividad electrolítica
IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables; Corrección 1
IEC 61788-4:2001 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual; Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
IEC 61788-11:2011 Superconductividad - Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de NbSn
IEC 61788-4:2007 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
IEC 61788-4:2011 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61788-4:2016 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti y Nb3Sn
IEC 61788-11:2003 Superconductividad - Parte 11: Medición de la relación de resistencia residual; Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de NbSn
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61788-14:2010
IEC 60746-2:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 2: valor de pH
IEC 60746-1:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - Parte 1: General
IEC 60746-1:1982 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades
IEC 60746-2:1982 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos. Parte 2: valor de pH
IEC 60746-5:1992 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos; parte 5: potencial de oxidación-reducción o potencial redox
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61788-7:2002
IEC 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
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NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
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NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 22007-3:2012 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 3: método de análisis de la oscilación de temperatura.
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NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
NF C42-695:1985 Instrumentos electrónicos de medida. Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico
NF T51-227-3*NF EN ISO 22007-3:2012 Plásticos. Determinación de la conductividad térmica y la difusividad térmica. Parte 3: método de análisis de ondas de temperatura.
NF C31-888-4:2012 Superconductividad - Parte 4: medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti.
NF EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 5-3: métodos de prueba para parámetros de reflectancia. Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico.
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NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: mediciones de características eléctricas - Resistencia superficial de superconductores dependiente de la potencia en frecuencias de microondas
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF C31-888-11:2003 Superconductividad - Parte 11: medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb3Sn.
NF C31-888-11:2011 Superconductividad - Parte 11: medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb3Sn.
NF C46-270-3*NF EN 60746-3:2004 Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 3: conductividad electrolítica.
FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 Análisis químico de superficie - Perfilado de profundidad - Medición de la tasa de pulverización catódica: método de réplica de malla utilizando un perfilómetro de lápiz mecánico
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF X20-355:1975 Análisis de gases-determinación de dióxido de azufre mediante conductimetría eléctrica.
NF EN 60746-1:2004 Expresión de las cualidades operativas de los analizadores electroquímicos - Parte 1: general
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF EN 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: giroscopios
NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
NF EN 60746-2:2004 Expresión de las cualidades operativas de los analizadores electroquímicos - Parte 2: medición del pH
NF C31-888-7:2003 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
NF C96-050-20*NF EN 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 20: giroscopios.

Professional Standard - Machinery, Analizador de conductividad

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工业和信息化部/国家能源局, Analizador de conductividad

JB/T 6855-2017 Medidor de conductividad industrial
JB/T 9366-2017 Medidor de conductividad de laboratorio

Professional Standard - Water Conservancy, Analizador de conductividad

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Lithuanian Standards Office , Analizador de conductividad

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LST EN 61290-1-2-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-1-2:2005)
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National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Analizador de conductividad

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未注明发布机构, Analizador de conductividad

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NL-NEN, Analizador de conductividad

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工业和信息化部, Analizador de conductividad

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Professional Standard - Electricity, Analizador de conductividad

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Professional Standard - Ocean, Analizador de conductividad

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Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador de conductividad

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Professional Standard - Energy, Analizador de conductividad

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NB/T 20559-2019 Directrices para el análisis de la secuencia de eventos en centrales nucleares
NB/T 20644-2023 Directrices para el análisis de eventos iniciadores en centrales nucleares
NB/T 20297-2014 Guía de análisis de confiabilidad humana para centrales nucleares.
NB/T 20642-2023 Directrices para el análisis de confiabilidad del personal de las centrales nucleares.
NB/T 35022-2014 Guía de diseño de análisis de ahorro energético para proyectos hidroeléctricos.
NB/T 20585-2021 Directrices para el análisis de tendencias de eventos durante la operación de centrales nucleares

Group Standards of the People's Republic of China, Analizador de conductividad

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T/CSO 1-2021 Método de comparación in situ del perfilador CTD.
T/CSEE 0285-2022 Directrices de prueba para el análisis del espectro de corriente del motor asíncrono (MCSA)
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Professional Standard - Medicine, Analizador de conductividad

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ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
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ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
ISO 11132:2021 Análisis sensorial - Metodología - Lineamientos para la medición del desempeño de un panel sensorial descriptivo cuantitativo
ISO 11132:2012 Análisis sensorial - Metodología - Directrices para el seguimiento del desempeño de un panel sensorial cuantitativo
ISO/PRF 22804 Tecnología marina: requisitos técnicos generales del instrumento de medición de conductividad, temperatura y profundidad (CTD) marino
ISO 22804:2023 Tecnología marina: requisitos técnicos generales del instrumento de medición de conductividad, temperatura y profundidad (CTD) marino
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
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ISO 2202:1972 Cloro líquido para uso industrial; Determinación del contenido de agua mediante un analizador electrolítico.
ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Analizador de conductividad

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Professional Standard - Geology, Analizador de conductividad

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Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador de conductividad

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UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en marzo de 2006.)
UNE-EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-3: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico. (Ratificada por AENOR en octubre de 2002.)
UNE-EN 60746-1:2004 ERRATUM Expresión del rendimiento de los analizadores electroquímicos. Parte 1: Generalidades.
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UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
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GB/T 4930-2021 Análisis de microhaces—Microanálisis con sonda electrónica—Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

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GME16644-2011 berprfung der Drehmomentgenauigkeit am Rollenprfstand Verificación de la precisión del par en el analizador de potencia dinámico Revisión 1; inglés/alemán; Incluye el Apéndice A

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JIS H 7307:2005 Superconductividad - Parte 7: Mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
JIS H 7307:2010 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
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Professional Standard - Railway, Analizador de conductividad

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BE-NBN, Analizador de conductividad

NBN-EN 60051-6-1994 Instrumentos de medida eléctricos analógicos indicadores de acción directa y sus accesorios Parte 6: Requisitos especiales para óhmetros (medidores de impedancia) y medidores de conductancia
NBN C 74-202-1986 APPAREILS ELECTRONEDICAUXDEUXIEME PARTIE: REGLES PAR-TICULIERES DE SECURITE POUR APPAREILS D'ELECTROCHIRUR-GIE A COURANT HAUTE FREQUEN-CE

Professional Standard - Agriculture, Analizador de conductividad

空气和废气监测分析方法 4.2.1-2003 Parte 4 Monitoreo de las precipitaciones Capítulo 2 Método de análisis del monitoreo de las precipitaciones 1 Conductividad

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PN T06031-01-1989 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos Conectores para frecuencias inferiores a 3 MHz para uso con placas impresas Reglas generales y guía para la preparación de especificaciones detalladas

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ASTM D4308-95 Método de prueba estándar para la conductividad eléctrica de hidrocarburos líquidos mediante medidor de precisión
ASTM D4308-21 Método de prueba estándar para la conductividad eléctrica de hidrocarburos líquidos mediante medidor de precisión
ASTM F673-90(1996)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad de rodajas de semiconductores o la resistencia laminar de películas semiconductoras con un medidor de corrientes de Foucault sin contacto
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ASTM D2624-09 Métodos de prueba estándar para la conductividad eléctrica de combustibles destilados y de aviación
ASTM D2624-01 Métodos de prueba estándar para la conductividad eléctrica de combustibles destilados y de aviación
ASTM D2624-00 Métodos de prueba estándar para la conductividad eléctrica de combustibles destilados y de aviación
ASTM D2624-22 Métodos de prueba estándar para la conductividad eléctrica de combustibles destilados y de aviación
ASTM D2624-15 Métodos de prueba estándar para la conductividad eléctrica de combustibles destilados y de aviación
ASTM D5084-16a Métodos de prueba estándar para medir la conductividad hidráulica de materiales porosos saturados utilizando un permeámetro de pared flexible
ASTM D5084-16 Métodos de prueba estándar para medir la conductividad hidráulica de materiales porosos saturados utilizando un permeámetro de pared flexible

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EN 61290-1-2:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificaciones básicas, parte 1-2: métodos de prueba para parámetros de ganancia Analizador de espectro eléctrico
EN 61788-4:2001 Superconductividad Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
EN 61788-4:2007 Superconductividad - Parte 4: Medición de la relación de resistencia residual - Relación de resistencia residual de superconductores compuestos de Nb-Ti
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico
EN 61788-7:2002 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico

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Professional Standard - Petrochemical Industry, Analizador de conductividad

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