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Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X., Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X. son: Protección de radiación, Química analítica, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, pruebas de metales, Metales ferrosos, Centrales eléctricas en general, Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Materiales de construcción, Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Vocabularios, Refractarios, Minerales metalíferos, Productos de hierro y acero., Productos de la industria química., Pruebas no destructivas, Ferroaleaciones, Equipo de minería, Productos de metales no ferrosos., químicos inorgánicos, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Calidad del aire, Minerales no metalíferos, Calidad del agua, Ingredientes de pintura, Productos petrolíferos en general, tubos electronicos, Protección contra el fuego, Residuos, Materiales semiconductores, carbones, Procesos de fabricación en las industrias del caucho y del plástico., Educación, Calidad del suelo. Pedología, Combustibles, Tratamiento superficial y revestimiento., Productos de la industria textil., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Vaso, Cerámica, Protección contra el crimen, Equipo medico, Medicina de laboratorio, Equipo óptico, Fotografía, Geología. Meteorología. Hidrología.

PT-IPQ, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

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ANSI/ASTM D6247:1998 Método de prueba para el análisis del contenido elemental en poliolefinas mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

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KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
KS E 3045-2002(2007) Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS L 3316-2014 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS D 1686-2011(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS L 3316-2014(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1998 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS L 3316-1988 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
KS E 3076-2017 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS E 3076-2022 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS D 2597-1996(2021) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
KS L 5222-2009(2019) Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
KS L 3316-2009 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos y morteros refractarios.
KS E 3075-2002 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1655-2008(2019) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS M 1068-2005 Cribado cualitativo/cuantitativo mediante espectrometría XRF
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS E 3075-2017 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS D 1686-2011(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
KS E 3075-2022 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra caliza y dolomita.
KS E 3076-2002 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de piedra de sílice y arena de sílice.
KS D 2597-1996(2016) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de circonio y aleaciones de circonio.
KS D ISO 17054:2018 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
KS M ISO 14597:2003 Productos derivados del petróleo－Determinación del contenido de vanadio y níquel－Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
KS E ISO 10086-2:2007 Carbón－Métodos para evaluar floculantes para su uso en la preparación de carbón－Parte 2: Floculantes como coadyuvantes de filtración en sistemas de filtración rotativa al vacío
KS L ISO 21587-2:2012 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 15472-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS M ISO 12980-2004(2009) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque verde y coque calcinado para electrodos－Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X
KS L ISO 21587-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS L ISO 10058-2:2012 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 20565-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 10058-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 21587-2-2012(2022) Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS L ISO 20565-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 10058-2-2012(2017) Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS L ISO 20565-2:2012 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) －Parte 2: Análisis químico húmedo
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS M ISO 12980:2004 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio-Coque verde y coque calcinado para electrodos-Análisis mediante método de fluorescencia de rayos X
KS M ISO 12980:2013 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio－Coque verde y coque calcinado para electrodos－Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

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GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
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GB/T 16597-1996 Métodos analíticos de productos metalúrgicos. Regla general para los métodos espectrométricos de fluorescencia de rayos X.
GB/Z 42520-2023 Directrices para la práctica de laboratorio de espectrometría de fluorescencia de rayos X para el análisis de minerales de hierro
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 29513-2013 Análisis químico de polvo y lodos que contienen hierro mediante XRF. Método de perlas fundidas fundidas
GB/T 21114-2007 Análisis espectroquímico de fluorescencia de rayos X de materiales refractarios: método de disco de vidrio fundido
GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
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GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.
GB/T 14849.5-2014 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 5: Determinación del contenido de impurezas. Método de fluorescencia de rayos X.
GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 17362-1998
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
GB/T 17359-1998
GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

RU-GOST R, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

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GOST R 55410-2013 Refractario. Análisis por fluorescencia de rayos X (XRF)
GOST R 55080-2012 Hierro fundido. Método de análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
GOST 16865-1979 Aparatos de rayos X para análisis estructurales y espectrales. Términos y definiciones
GOST 30608-1998 Bronces de estaño. Método de análisis fluorescente de rayos X.
GOST 30609-1998 Piezas fundidas de latón. Método de análisis fluorescente de rayos X.
GOST 33850-2016 Suelos. Determinación de la composición química mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
GOST R ISO 16258-1-2017 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 1. Método directo sobre el filtro
GOST 19647-1974 Métodos y medios de análisis de rayos X con radioisótopos. Términos y definiciones
GOST R ISO 12980-2017 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio. Coque verde y coque calcinado para electrodos. Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.

Professional Standard - Electricity, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

Professional Standard - Machinery, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

JB/T 9401-1999 Tubo de rayos X para análisis de fluorescencia con ventana lateral
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 8425-1996 Método de prueba estándar de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X del contenido de cromo, níquel, molibdeno y vanadio en aerosoles polvorientos a base de hierro

Professional Standard - Building Materials, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

JC/T 1085-2008 Analizador de fluorescencia de rayos X para cemento.

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

EJ/T 1067-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de americio-241 para rayos X
EJ/T 1068-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de plutonio-238 para rayos X
EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
EJ/T 805-1993 Fuentes de fotones de baja energía para análisis de fluorescencia de rayos X
EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil
EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil

工业和信息化部, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
JB/T 14323-2021 Máquina clasificadora de fluorescencia de rayos X
YS/T 1344.3-2020 Método de análisis químico de polvo de óxido de indio dopado con estaño Parte 3: Análisis de fase Método de análisis de difracción de rayos X
YS/T 483-2022 Métodos de análisis para cobre y aleaciones de cobre. Espectrometría de fluorescencia de rayos X (tipo dispersión de longitud de onda)
YS/T 1033-2015 Determinación del contenido de elementos de materiales secos antifiltración mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
YS/T 806-2020 Métodos de análisis químico para aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación del contenido elemental. Espectrometría de fluorescencia de rayos X.
YS/T 575.23-2021 Métodos de análisis químico de minerales de bauxita. Parte 23: Determinación del contenido elemental. Espectrometría de fluorescencia de rayos X.
YS/T 581.15-2012 Métodos para el análisis químico y la determinación de las propiedades físicas del fluoruro de aluminio Parte 15: Determinación del contenido elemental mediante el método de espectrometría de fluorescencia de rayos X (prensado de tabletas)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

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JIS H 1292:2018 Aleaciones de cobre - Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
JIS M 8205:1983 Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
JIS G 1256:1982 Método de análisis de rayos X de fluorescencia del acero.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1292:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
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JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1292:1997 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
JIS G 1256 AMD 2:2013 Hierro y acero. Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 2)
JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
JIS G 1204:1978 Reglas generales para el análisis de rayos X fluorescentes de hierro y acero.
JIS R 2216:1995 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ladrillos refractarios y morteros refractarios.
JIS R 5204:2002 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
JIS R 5204:2019 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
JIS K 0145:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
JIS K 0148:2005 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
JIS A 1481-3:2014 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
JIS K 0152:2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
JIS Z 4752-2-6:2001 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imágenes médicas. Parte 2-6: Pruebas de constancia. Equipos de rayos X para tomografía computarizada.
JIS Z 4752-2-6:2012 Evaluación y pruebas de rutina en departamentos de imágenes médicas. Parte 2-6: Pruebas de constancia. Rendimiento de imágenes de equipos de rayos X de tomografía computarizada.
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X (Enmienda 1).
JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

German Institute for Standardization, Análisis de fluorescencia de rayos X y análisis de difracción de rayos X.

DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura (IEC 62495:2011)
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DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo
DIN 55912-2 Bb.2:1999 pigmentos - pigmentos de dióxido de titanio - métodos de análisis; establecer un gráfico de calibración utilizando el análisis de fluorescencia de rayos X
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN EN ISO 12677:2013-02 Análisis químico de productos refractarios mediante fluorescencia de rayos X (XRF) - Método de perlas fundidas (ISO 12677:2011); Versión alemana EN ISO 12677:2011
DIN 55912-2 Bb.1:1999 Pigmentos: pigmentos de dióxido de titanio; métodos de análisis: ejemplos que utilizan el análisis de fluorescencia de rayos X para determinar componentes menores
DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06
DIN EN ISO 21587-2:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 21587-2:2007); Versión en inglés de DIN EN ISO 21587-2:2007-12
DIN EN ISO 21587-2:2007-12 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 21587-2:2007); Versión alemana EN ISO 21587-2:2007
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DIN EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de vanadio y níquel - Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (ISO 14597:1997); Versión alemana EN ISO 14597:1999
DIN 25703:1993 Determinación del contenido de uranio y plutonio en soluciones de ácido nítrico mediante análisis de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda.
DIN 51729-10:1996 Ensayos de combustibles sólidos. Determinación de la composición química de las cenizas de combustible. Parte 10: Análisis de fluorescencia de rayos X.
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