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astm +1894

astm +1894, Total: 19 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en astm +1894 son: Productos de caucho y plástico., Materiales semiconductores, Mediciones de radiación, Materiales de construcción.


未注明发布机构, astm +1894

American Society for Testing and Materials (ASTM), astm +1894

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  • ASTM D1894-00 Método de prueba estándar para coeficientes de fricción estáticos y cinéticos de películas y láminas plásticas
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  • ASTM F1894-98 Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM E1894-97 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM E1894-08 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM C1894-19 Guía estándar para la corrosión de productos de hormigón inducida por microbios
  • ASTM E1894-18 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM E1894-13 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM E1894-13a Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM C1894-22 Guía estándar para la corrosión de productos de hormigón inducida por microbios
  • ASTM D1894-14 Método de prueba estándar para coeficientes de fricción estáticos y cinéticos de películas y láminas plásticas
  • ASTM D1894-08 Método de prueba estándar para coeficientes de fricción estáticos y cinéticos de películas y láminas plásticas
  • ASTM D1894-11 Método de prueba estándar para coeficientes de fricción estáticos y cinéticos de películas y láminas plásticas
  • ASTM F1894-98(2003) Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM F1894-98(2011) Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM E1894-97(2002) Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
  • ASTM D1894-11e1 Método de prueba estándar para coeficientes de fricción estáticos y cinéticos de películas y láminas plásticas




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