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Analizador cuantitativo espectral

Analizador cuantitativo espectral, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Analizador cuantitativo espectral son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Comunicaciones de fibra óptica., Minerales metalíferos, Centrales eléctricas en general, ingeniería de energía nuclear, Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general., Metales no ferrosos, Vocabularios, Calidad, Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Productos de la industria química., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Productos de la industria textil., Equipo medico, Fertilizantes, Pruebas no destructivas, Corrosión de metales, Equipos para la industria química., Sistemas de automatización industrial, Medidas lineales y angulares., Metales ferrosos, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., pruebas de metales, Leche y productos lácteos, Alimentos para animales, químicos inorgánicos, Ferroaleaciones, Combustibles, Sistemas de telecomunicaciones, Calidad del suelo. Pedología, Productos petrolíferos en general, Fluidos aislantes, Mediciones de radiación, Productos de metales no ferrosos., METALURGIA, Productos de hierro y acero., Minerales no metalíferos.

International Organization for Standardization (ISO), Analizador cuantitativo espectral

ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 23674:2022 Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio).
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior
ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18118:2015
ISO 7530-3:1990 Aleaciones de níquel: Análisis espectrométrico de absorción atómica de llamaParte 3: Determinación del contenido de cromo
ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Analizador cuantitativo espectral

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico
CNS 12013-1987 Método de prueba de plomo en gasolina mediante espectrometría de absorción atómica
CNS 7518-1981 Método para la determinación de cobalto en minerales (método polarográfico)

U.S. Air Force, Analizador cuantitativo espectral

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Analizador cuantitativo espectral

JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones
JJG 1035-2022 Analizador de espectro de comunicación
JJG 501-2000 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 9-1985 2107 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 10-1985 2112 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(地质) 1005-1990 Reglamento de verificación para el analizador láser de uranio
JJG(电子) 07010-1991 Especificación para la verificación de analizadores de espectro panorámicos modelo YH4032
JJG(电子) 07007-1989 Reglamento de verificación del analizador de espectro 141T/8554B/8552B
JJG 945-2010 Reglamento de verificación de micro analizadores de oxígeno.
JJG(电子) 07005-1988 Regulaciones de verificación de prueba del analizador de espectro de alta frecuencia QF4021
JJG(电子) 07008-1991 Reglamento de verificación para el analizador de espectro barrido por vídeo SWOF
JJG(邮电) 016-1992 Especificación para la verificación de analizadores de redes de cantidades escalares.
JJG 1104-2015 Analizadores de tamaño de partículas por dispersión dinámica de luz
JJG 955-2000 Reglamento de Verificación de Microdensitímetros de Análisis Especial

British Standards Institution (BSI), Analizador cuantitativo espectral

BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS ISO 11505:2012 Análisis químico de superficies. Procedimientos generales para el perfilado cuantitativo de la profundidad de la composición mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
21/30387777 DC BS EN ISO 23674. Cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos por descomposición térmica. Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
BS DD ISO/TS 9941:2006 Leche y leche evaporada enlatada - Determinación del contenido de estaño - Método espectrométrico
BS 5766-3:1999 Métodos de análisis de piensos para animales. Determinación del contenido de fósforo (método espectromético)
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
DD 220-1994 Calidad del suelo. Determinación del contenido de aceite mineral. Método por espectrometría infrarroja y método de cromatografía de gases.
BS EN ISO 10700:1995 Acero y hierro - Determinación del contenido de manganeso - Método espectrométrico de absorción atómica de llama
BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS 7020-9.1:1989 Análisis de minerales de hierro - Métodos para la determinación del contenido de manganeso - Método espectrofotométrico
BS 7020-10.2:1988 Análisis de minerales de hierro - Métodos para la determinación del contenido de cobre - Método espectrométrico de absorción atómica de llama
BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

European Committee for Standardization (CEN), Analizador cuantitativo espectral

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
prEN ISO 23674:2021 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica - Espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO/DIS 23674:2021)

Association Francaise de Normalisation, Analizador cuantitativo espectral

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Procedimientos de prueba y medición. Parte 2: Transceptores ATM-PON.
NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF U44-145:1984 FERTILIZANTES Y ACONDICIONADORES DE SUELOS. DETERMINACIÓN DE MAGNESIO MEDIANTE EL MÉTODO ESPECTROMÉTRICO DE ABSORCIÓN ATÓMICA.
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
NF A08-344:1996 Acero y hierro. Determinación del contenido de vanadio. Método espectrométrico de absorción atómica de llama.
NF A06-653:1993 Análisis químico de titanio y aleaciones de titanio. Determinación del contenido de hierro. Método de espectrometría de absorción molecular.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X20-302:1974 Análisis de gases por espectrometría de masas. Determinación de la composición química de los gases.
NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
NF A08-709:1983 Análisis químico de aleaciones de cobre. Determinación del contenido de antimonio. Método de espectrometría de absorción atómica.
NF A08-341:1987 Análisis químico del acero. Determinación del contenido de silicio. Método espectrométrico de absorción atómica de llama.
NF A08-309:2018 Análisis químico de aceros - Determinación del contenido de molibdeno - Método espectrométrico de absorción atómica de llama
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF A08-908*NF ISO 7530-8:2007 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica con llama. Parte 8: determinación del contenido de silicio.
NF A08-909*NF ISO 7530-9:2007 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica con llama. Parte 9: determinación del contenido de vanadio.
NF A08-902:1991 Aleaciones de níquel. Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama. Parte 2: determinación del contenido de cobalto.

International Electrotechnical Commission (IEC), Analizador cuantitativo espectral

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

Danish Standards Foundation, Analizador cuantitativo espectral

DS/EN 62129/Corr. 1:2007
DS/EN 62129:2006
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Analizador cuantitativo espectral

JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Analizador cuantitativo espectral

EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (Incorpora corrección de errores de diciembre de 2006)
EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

ES-UNE, Analizador cuantitativo espectral

UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN ISO 23674:2023 Cosméticos - Métodos analíticos - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio) (ISO 23674:2022)
UNE-EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en abril de 2004.)
UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)

工业和信息化部/国家能源局, Analizador cuantitativo espectral

JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento
JB/T 12962.1-2016 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 1: Técnicas generales

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Analizador cuantitativo espectral

KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS D ISO 22309-2011(2016) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 10701:2002 Acero y hierro－Determinación del contenido de azufre－Método espectrofotométrico de azul de metileno
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 10700:2008 Acero y hierro-Determinación del contenido de manganeso-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
KS D ISO 9647:2002 ¿Acero y hierro? Determinación del contenido de vanadio — Método espectrométrico de absorción atómica de llama
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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KS D ISO 7530-7-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
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YS/T 556.7-2009 Métodos de análisis químico de concentrados de antimonio.Parte 7:Determinación del contenido de mercurio.Espectrometría de fluorescencia atómica
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YS/T 229.3-2013 Métodos para el análisis químico de plomo de alta pureza. Parte 3: Determinación del contenido de antimonio. Espectrometría de fluorescencia atómica
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YS/T 536.6-2006 Método de análisis químico de bismuto Espectrometría de absorción atómica electrotérmica Determinación de plomo
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YS/T 536.6-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de plomo. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
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YS/T 536.13-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de cadmio. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
YS/T 536.11-2006 Método de análisis químico de bismuto Determinación de mercurio mediante espectrometría de absorción atómica de vapor frío
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YS/T 581.16-2008 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico del fluoruro de aluminio industrial. Parte 16: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos.
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YS/T 227.1-2010 Métodos para el análisis químico del teluro-Parte 1: Determinación del contenido de bismuto-Generación de hidruros-Espectrometría de fluorescencia atómica
YS/T 227.10-2010 Métodos para el análisis químico del teluro. Parte 10: Determinación del contenido de arsénico. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
YS/T 74.9-2010 Métodos para el análisis químico de cadmio. Parte 9: Determinación del contenido de estaño. Generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
YS/T 461.6-2013 Métodos para el análisis químico de concentrados a granel de plomo y zinc. Parte 6: Determinación del contenido de mercurio. Espectrometría de fluorescencia atómica
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HB 7716.8-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 8: Determinación del contenido de trazas de cobre-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.5-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 5: Determinación del contenido de trazas de molibdeno-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
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HB 6731.5-1993 Determinación del contenido de cadmio en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
HB 6731.6-1993 Determinación del contenido de hierro en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
HB 6731.7-1993 Determinación del contenido de manganeso en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
HB 6731.8-1993 Determinación del contenido de níquel en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
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HB 6731.2-2005 Métodos para el análisis espectromértico de aleaciones de aluminio. Parte 2: Determinación del contenido de magnesio mediante el método espectrométrico de absorción atómica de llama.
HB 6731.3-2005 Métodos para el análisis espectromértico de aleaciones de aluminio. Parte 1: Determinación del contenido de zinc mediante el método espectrométrico de absorción atómica de llama.
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HB 6731.5-2005 Métodos para el análisis espectromértico de aleaciones de aluminio. Parte 5: Determinación del contenido de cadmio mediante el método espectrométrico de absorción atómica de llama.
HB 6731.6-2005 Métodos para el análisis espectromértico de aleaciones de aluminio. Parte 6: Determinación del contenido de hierro mediante el método espectrométrico de absorción atómica de llama.
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HB 7716.9-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 9: Determinación del contenido de manganeso-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.11-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 11: Determinación del contenido de hierro-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.12-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 12: Determinación del contenido de silicio-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.1-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 1: Determinación del contenido de aluminio-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.2-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 2: Determinación del contenido de vanadio-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.3-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 3: Determinación del contenido de cromo-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.4-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 4: Determinación del contenido de molibdeno-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
HB 7716.6-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 6: Determinación del contenido de estaño-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
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SH/T 0940-2016 Métodos de prueba para analizar lubricantes en servicio utilizando probadores específicos cuatro en uno (espectrometría de emisión atómica, espectroscopia infrarroja, viscosidad y contador de partículas láser)