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Microscopio electrónico a largo plazo.

Microscopio electrónico a largo plazo., Total: 286 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopio electrónico a largo plazo. son: Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Equipo medico, Medidas lineales y angulares., Sistemas de microprocesador, Materiales y accesorios de embalaje., Equipos de elevación, Alambres y cables eléctricos., Radiocomunicaciones, Química analítica, Equipo óptico, Componentes electrónicos en general., ingenieria electrica en general, Aplicaciones de imágenes de documentos, Ciencias de la información. Publicación, Circuitos integrados. Microelectrónica, Aplicaciones de la tecnología de la información., Materiales celulares, Dispositivos semiconductores, Tecnología gráfica, Conjuntos de componentes electrónicos., Tratamiento superficial y revestimiento., Construcción naval y estructuras marinas en general, Materiales aislantes, Accesorios electricos, Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Telecontrol. Telemetría, Equipos de interfaz e interconexión., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Transformadores. reactores, Redes de transmisión y distribución de energía., Redes.

Government Electronic & Information Technology Association, Microscopio electrónico a largo plazo.

GEIA-STD-0003-2006 Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos

SAE - SAE International, Microscopio electrónico a largo plazo.

SAE GEIASTD0003A-2017 Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos

Society of Automotive Engineers (SAE), Microscopio electrónico a largo plazo.

SAE GEIASTD0003-2006 Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos

Danish Standards Foundation, Microscopio electrónico a largo plazo.

DS/EN 16128:2011 Método de prueba de referencia para la liberación de níquel de aquellas partes de monturas de gafas y gafas de sol destinadas a entrar en contacto cercano y prolongado con la piel.
DS/CLC/TS 50466:2006
DS/EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
DS/EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9: Casos especiales.
DS/ISO 19005-4:2020 Gestión de documentos – Formato de archivo de documentos electrónicos para preservación a largo plazo – Parte 4: Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
DS/ISO 19005-1/Cor 2:2012 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
DS/ISO 19005-1/Cor. 1:2012 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
DS/ISO 19005-1:2005 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
DS/EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de los apuntalantes.
DS/ISO 19005-2:2011 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para preservación a largo plazo - Parte 2: Uso de ISO 32000-1 (PDF/A-2)
DS/ISO 19005-3:2012 Gestión de documentos - Formato de archivo de documento electrónico para preservación a largo plazo - Parte 3: Uso de ISO 32000-1 con soporte para archivos incrustados (PDF/A-3)

Lithuanian Standards Office , Microscopio electrónico a largo plazo.

LST EN 16128-2011 Método de prueba de referencia para la liberación de níquel de aquellas partes de monturas de gafas y gafas de sol destinadas a entrar en contacto cercano y prolongado con la piel.
LST EN IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (IEC 62435-8:2020)
LST EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (IEC 62435-7:2020)
LST ISO 19005-1:2008 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1) (ISO 19005-1:2005, idéntico)
LST EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de apuntalantes (ISO 13503-5:2006).
LST ISO 19005-1:2008/AC:2008 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1) (ISO 19005-1:2005/Cor.1:2007)
LST ISO 19005-2:2011 Gestión de documentos. Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo. Parte 2: Uso de ISO 32000-1 (PDF/A-2) (ISO 19005-2:2011, idéntico)

AENOR, Microscopio electrónico a largo plazo.

UNE-EN 16128:2011 Método de prueba de referencia para la liberación de níquel de aquellas partes de monturas de gafas y gafas de sol destinadas a entrar en contacto cercano y prolongado con la piel.
UNE-ISO/TR 18492:2008 IN Preservación a largo plazo de información basada en documentos electrónicos.
UNE-ISO 19005-1:2008 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1).

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopio electrónico a largo plazo.

GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/Z 23283-2009
GB/T 42706.1-2023 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 1: General.
GB/T 42706.2-2023 Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos y dispositivos semiconductores Parte 2: Mecanismos de degradación
GB/T 42706.5-2023 Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos y dispositivos semiconductores - Parte 5: Chips y obleas
GB/Z 28820.3-2012 Envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros. Parte 3: Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión.
GB/T 23286.1-2009/XG1-2010 Gestión de documentos: formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo. Parte 1: Uso de PDF1.4 (PDF/A-1)
GB/T 23286.1-2009(XG1-2010) Gestión de documentos: formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo. Parte 1: Uso de PDF1.4 (PDF/A-1)
GB/T 23286.1-2009

British Standards Institution (BSI), Microscopio electrónico a largo plazo.

BS EN 16128:2011 Método de prueba de referencia para la liberación de níquel de aquellas partes de monturas de gafas y gafas de sol destinadas a entrar en contacto cercano y prolongado con la piel.
PD ISO/TR 18492:2005 Preservación a largo plazo de información basada en documentos electrónicos.
BS DD CLC/TS 50466:2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación
BS DD CLC/TS 50466:2008 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos. Especificación para la implementación
DD CLC/TS 50466:2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos. Especificación para la implementación
BS DD IEC/PAS 62435:2006 Componentes electrónicos - Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Guía para la implementación
BS EN IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Almacenamiento
DD IEC/PAS 62435:2005 Componentes electrónicos. Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos. Orientación para la implementación
BS PD ISO/TS 22077-3:2015 Informática de la salud. Formato de forma de onda médica. Electrocardiografía a largo plazo
PD ISO/TS 22077-3:2015 Informática de la salud. Formato de forma de onda médica. Electrocardiografía a largo plazo
BS ISO 22077-3:2023 Informática de la salud. Formato de forma de onda médica: electrocardiografía a largo plazo
BS EN IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Datos
BS EN 62435-1:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - General
BS EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Dispositivos microelectromecánicos.
BS EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Casos especiales
BS PD ISO/TR 17797:2014 Archivo electrónico. Selección de medios de almacenamiento digital para preservación a largo plazo.
PD ISO/TR 17797:2014 Archivo electrónico. Selección de medios de almacenamiento digital para preservación a largo plazo.
BS EN IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Dispositivos electrónicos pasivos
15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
18/30379483 DC BS EN 62435-7. Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos. Parte 7. Dispositivos microelectromecánicos.
19/30390555 DC BS EN 62435-8. Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos. Parte 8. Dispositivos electrónicos pasivos
18/30379487 DC BS EN 62435-8. Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos. Parte 8. Dispositivos electrónicos pasivos
BS EN 62435-2:2017 Componentes electrónicos: almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. - Parte 2: Mecanismos de deterioro
BS EN IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos: dispositivos empaquetados o terminados
BS ISO 14533-3:2017 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Perfiles de firma de larga duración. Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas en PDF (PAdES)
BS EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos: almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. - Parte 5: Dispositivos de matriz y oblea.
18/30367158 DC BS EN 62435-3. Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3. Datos
23/30452592 DC BS ISO 22077-3. Informática de la salud. Formato de forma de onda médica - Parte 3. Electrocardiografía a largo plazo
BS 7816-3:1998 Determinación del envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros. Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión.
23/30474611 DC BS EN IEC 61810-7-49. Relés eléctricos. Pruebas y mediciones - Parte 7-49. Estabilidad del sellado a largo plazo
20/30424473 DC BS EN 62435-9. Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9. Casos especiales
BS ISO 19005-1:2005 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
BS ISO 19005-4:2020 Gestión de documentos. Formato de archivo de documento electrónico para conservación a largo plazo. Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
BS EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural - Fluidos y materiales de terminación - Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de los apuntalantes
14/30296860 DC BS ISO 14533-1. Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Perfiles de firma de larga duración. Parte 1. Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas (CAdES) de CMS
BS ISO 19005-2:2011 Gestión de documentos. Formato de archivo de documento electrónico para conservación a largo plazo. Uso de ISO 32000-1 (PDF/A-2)
BS EN 62361-100:2016 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Perfiles CIM a mapeo de esquema XML
BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
21/30445983 DC BS EN IEC 61810-7-49. Relés eléctricos todo o nada. Pruebas y mediciones - Parte 7-49. Estabilidad del sellado a largo plazo
22/30455099 DC BS EN IEC 61810-7-49. Relés eléctricos todo o nada. Pruebas y mediciones - Parte 7-49. Estabilidad del sellado a largo plazo
20/30349565 DC BS ISO 19005-4. Gestión de documentos. Formato de archivo de documento electrónico para conservación a largo plazo. Parte 4. Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BS ISO 14533-1:2022 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Firma a largo plazo - Perfiles para Firmas Electrónicas Avanzadas (CAdES) CMS
BS EN 62361-2:2013 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Códigos de calidad de extremo a extremo para control de supervisión y adquisición de datos (SCADA)
BS ISO 14533-2:2021 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Firma a largo plazo. Perfiles para Firmas Electrónicas Avanzadas XML (XAdES)
19/30363066 DC BS EN IEC 63120. Renovación de equipos eléctricos médicos, sistemas y subconjuntos eléctricos médicos y reutilización de componentes como parte del ciclo de vida extendido.
BS EN 62361-2:2014 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Códigos de calidad de extremo a extremo para control de supervisión y adquisición de datos (SCADA)
BS ISO 19005-3:2012 Gestión de documentos. Formato de archivo de documento electrónico para conservación a largo plazo. Uso de ISO 32000-1 con soporte para archivos incrustados (PDF/A-3)
BS EN 60811-408:2012 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Pruebas diversas. Prueba de estabilidad a largo plazo de compuestos de polietileno y polipropileno.

RU-GOST R, Microscopio electrónico a largo plazo.

GOST R 54989-2012 Preservación a largo plazo de información basada en documentos electrónicos.
GOST 24927-1981 Productos electrónicos. Requisitos generales para la protección temporal contra la corrosión y métodos de prueba.
GOST 9.056-1975 Sistema unificado de protección contra la corrosión y el envejecimiento. Cascos de barcos de acero. Protección electroquímica en anclajes de larga duración. Requerimientos generales
GOST R 57659-2017 El transporte ferroviario se propone probar métodos de prolongación del ciclo de funcionamiento. Parte 1. Transformadores de potencia y autotransformadores para subestaciones eléctricas ferroviarias, subestaciones transformadoras y dispositivos lineales de suministro de energía.

American National Standards Institute （ANSI), Microscopio electrónico a largo plazo.

ANSI/GEIA STD-0003-2006 Procedimientos para el almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos
ANSI/AIIM/CGATS/ISO 19005-1:2005 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
ANSI/HL7 EHRLTCFP, R 1-2010 Perfil funcional de atención a largo plazo del sistema EHR HL7, versión 1 - Reino de EE. UU.

American Petroleum Institute (API), Microscopio electrónico a largo plazo.

API RP 19D-2021 Medición de la conductividad a largo plazo de los apuntalantes

International Organization for Standardization (ISO), Microscopio electrónico a largo plazo.

ISO/TR 18492:2005 Preservación a largo plazo de información basada en documentos electrónicos.
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO/TR 17797:2014 Archivo electrónico: selección de medios de almacenamiento digital para la conservación a largo plazo
ISO/FDIS 22077-3 Informática sanitaria. Formato de forma de onda médica. Parte 3: Electrocardiografía a largo plazo.
ISO/TS 22077-3:2015 Informática de la salud - Formato de forma de onda médica - Parte 3: Electrocardiografía a largo plazo
ISO 22077-3:2023 Informática sanitaria. Formato de forma de onda médica. Parte 3: Electrocardiografía a largo plazo.
ISO 14533-3:2017 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Perfiles de firma a largo plazo. Parte 3: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas en PDF (PAdES).
ISO 14533-1:2012 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 1: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas CMS (CAdES)
ISO 14533-1:2014 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 1: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas CMS (CAdES)
ISO 14533-2:2012 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 2: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas XML (XAdES)
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 19005-4:2020 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 4: Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
ISO 19005-1:2005 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 19005-2:2011 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para preservación a largo plazo - Parte 2: Uso de ISO 32000-1 (PDF/A-2)
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 19005-1:2005/cor 1:2007 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1); Corrigendum técnico 1
ISO/CD 19005-4:2018 Gestión de documentos. Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo. Parte 4: Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
ISO 16429:2004 Implantes para cirugía: mediciones del potencial de circuito abierto para evaluar el comportamiento de corrosión de materiales metálicos implantables y dispositivos médicos durante períodos de tiempo prolongados.
ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de los apuntalantes.
ISO 14533-2:2021 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Firma a largo plazo. Parte 2: Perfiles para Firmas Electrónicas Avanzadas XML (XAdES).
ISO 14533-1:2022 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración. Firma a largo plazo. Parte 1: Perfiles para firmas electrónicas avanzadas CMS (CAdES).

IETF - Internet Engineering Task Force, Microscopio electrónico a largo plazo.

RFC 5230-2008 Filtrado de correo electrónico con tamiz: extensión de vacaciones

Professional Standard - Machinery, Microscopio electrónico a largo plazo.

JB/T 11864-2014

Professional Standard - Construction Industry, Microscopio electrónico a largo plazo.

JG/T 5111-1999 Cabrestante de cable tipo motor de torque de tracción a largo plazo

International Telecommunication Union (ITU), Microscopio electrónico a largo plazo.

ITU-R P.371-8-1999 Elección de índices para predicciones ionosféricas a largo plazo
ITU-R P.371-8 FRENCH-1999 Elección de índices para predicciones ionosféricas a largo plazo
ITU-R P.371-8 SPANISH-1999 ELECCIÓN DE ÍNDICES PARA PREDICCIONES IONOSFÉRICAS A LARGO PLAZO
ITU-R P.371-1999 Elección de índices para predicciones ionosféricas a largo plazo
ITU-R RESOLUCION 15-4 SPANISH-2000 Nombramiento y mandato máximo de los presidentes y vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 15-3 CHINESE-2000 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 49-2000 Nombramiento y mandato máximo del Presidente y Vicepresidentes del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 49 ARABIC-2000 Nombramiento y mandato máximo del Presidente y Vicepresidentes del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 49 CHINESE-2000 Nombramiento y mandato máximo del Presidente y Vicepresidentes del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-T N.73-1988 MANTENIMIENTO DE ENLACES Y CONEXIONES DE CIRCUITOS INTERNACIONALES DE TELEVISIÓN PERMANENTES
ITU-R RESOLUTION 15-4-2007 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones, del Comité de Coordinación del Vocabulario y del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 15-4 ARABIC-2007 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones, del Comité de Coordinación del Vocabulario y del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-R RESOLUTION 15-4 RUSSIAN-2007 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones, del Comité de Coordinación del Vocabulario y del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-T RESOLUTION 35-2008 Nombramiento y mandato máximo de los presidentes y vicepresidentes de las Comisiones de Estudio del UIT-T y del GANT

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Microscopio electrónico a largo plazo.

CLS/TS 50466-2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación
CLC/TS 50466:2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación
EN IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 4: Almacenamiento.
EN 62435-1:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 1: Generalidades.
EN IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3: Datos.
EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
EN IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos.
EN 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 2: Mecanismos de deterioro.
EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9: Casos especiales.
EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 5: Dispositivos de matriz y oblea.
EN IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados.
prEN IEC 63120:2021 Reacondicionamiento de equipos eléctricos médicos, sistemas y subconjuntos eléctricos médicos y reutilización de componentes como parte del ciclo de vida extendido
EN 62361-100:2016 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 100: Mapeo de perfiles CIM a esquemas XML.

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Microscopio electrónico a largo plazo.

ITU-R P.371-7-1995 Elección de índices para predicciones ionosféricas a largo plazo
RESOLUTION 15-3-2000 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones
RESOLUTION 49-2000 Nombramiento y mandato máximo del Presidente y Vicepresidentes del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones
ITU-R P.371-6-1990 Elección de índices para predicciones ionosféricas a largo plazo - Sección 6E - Predicción de la propagación ionosférica a frecuencias entre 1,6 y 30 MHz aproximadamente
RESOLUTION 15-4-2007 Nombramiento y mandato máximo de los Presidentes y Vicepresidentes de las Comisiones de Estudio de Radiocomunicaciones del Comité de Coordinación del Vocabulario y del Grupo Asesor de Radiocomunicaciones

German Institute for Standardization, Microscopio electrónico a largo plazo.

DIN CLC/TS 50466:2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación; Versión alemana CLC/TS 50466:2006
DIN CLC/TS 50466:2006-12 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación; Versión alemana CLC/TS 50466:2006
DIN EN IEC 62435-9:2022-09 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9: Casos especiales (IEC 62435-9:2021); Versión alemana EN IEC 62435-9:2021 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-05
DIN ISO 14533-2:2015-05 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 2: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas XML (XAdES) (ISO 14533-2:2012)
DIN ISO 14533-1:2015-05 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 1: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas (CAdES) CMS (ISO 14533-1:2014)
DIN ISO 14533-1:2015 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 1: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas (CAdES) CMS (ISO 14533-1:2014)
DIN ISO 14533-3:2016 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 3: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas en PDF (PAdES) (ISO/DIS 14533-3:2016); Texto en alemán e inglés.
DIN ISO 14533-3:2023-05 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 3: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas en PDF (PAdES) (ISO 14533-3:2017)
DIN ISO 14533-3:2023 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 3: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas en PDF (PAdES) (ISO 14533-3:2017)
DIN EN 62435-6:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados (IEC 47/2390/CD:2017)
DIN ISO 14533-2:2015 Procesos, elementos de datos y documentos en el comercio, la industria y la administración - Perfiles de firma a largo plazo - Parte 2: Perfiles de firma a largo plazo para Firmas Electrónicas Avanzadas XML (XAdES) (ISO 14533-2:2012)
DIN EN ISO 13503-5:2006-10 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de apuntalantes (ISO 13503-5:2006); Versión en inglés EN ISO 13503-5:2006
DIN EN IEC 61810-7-49:2022-08 Relés eléctricos todo o nada - Pruebas y mediciones - Parte 7-49: Estabilidad del sellado a largo plazo (IEC 94/582/CD:2021); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2022-07-29
DIN EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de apuntalantes (ISO 13503-5:2006); Versión en inglés EN ISO 13503-5:2006
DIN EN 62361-100:2017-10 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 100: Mapeo de perfiles CIM a esquemas XML (IEC 62361-100:2016); Versión en inglés EN 62361-100:2016
DIN EN 62361-2:2014-08 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 2: Códigos de calidad de extremo a extremo para control de supervisión y adquisición de datos (SCADA) (IEC 62361-2:2013); Versión en inglés EN 62361-2:2013

IET - Institution of Engineering and Technology, Microscopio electrónico a largo plazo.

STRUG FOR UNITY-2008 La lucha por la unidad: la televisión en color en los años de formación

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DL/T 1008-2019 Especificación funcional de la plataforma de comercialización de energía eléctrica a mediano y largo plazo.
DL/T 2190-2020 Especificaciones técnicas del control de seguridad del comercio de energía a mediano y largo plazo

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopio electrónico a largo plazo.

T/CSEE 0088-2018 Especificaciones técnicas de previsión de carga eléctrica a medio y largo plazo.

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Professional Standard - Archives, Microscopio electrónico a largo plazo.

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AS ISO 19005.1:2006 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
AS ISO 19005.1:2006/Amdt 1:2007 Gestión de documentos - Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo - Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)
AS/NZS ISO 19005.4:2022 Gestión de documentos: formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo, Parte 4: Uso de ISO 32000-2 (PDF/A-4)
AS ISO 19005.3:2017 Gestión de documentos: formato de archivo de documento electrónico para preservación a largo plazo, Parte 3: Uso de ISO 32000-1 con soporte para archivos incrustados (PDF/A-3)

International Electrotechnical Commission (IEC), Microscopio electrónico a largo plazo.

IEC PAS 62435:2005 Componentes electrónicos - Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Guía para la implementación
IEC 62435-1:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 1: Generalidades.
IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 4: Almacenamiento.
IEC 62435-7:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3: Datos.
IEC 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 2: Mecanismos de deterioro.
IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9: Casos especiales.
IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos.
IEC 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 5: Dispositivos de matriz y oblea.
IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados.
IEC TR2 61244-3:1998 Envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros. Parte 3: Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión.
IEC TR 62361-103:2018 Gestión de sistemas eléctricos e intercambio de información asociado. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 103: Perfilado estándar.
IEC TS 61244-3:2005 Envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros. Parte 3: Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión.
IEC TS 62361-102:2018 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 102: CIM - Armonización IEC 61850
IEC 15E/252/DTS:2004 CEI 61244-3, TS, ed. 2: Envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros. Parte 3: Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión.
IEC 62361-100:2016 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 100: Mapeo de perfiles CIM a esquemas XML.
IEC 60811-408:2012 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de ensayo para materiales no metálicos. Parte 408: Ensayos varios. Ensayo de estabilidad a largo plazo de compuestos de polietileno y polipropileno.

Association Francaise de Normalisation, Microscopio electrónico a largo plazo.

UTE C96-029U*UTE C96-029:2011 Componentes electrónicos - Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Guía de implementación
NF UTE C96-029:2011 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de componentes electrónicos - Guía de implementación
NF C96-435-3*NF EN IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3: datos.
NF C96-435-1*NF EN 62435-1:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 1: general.
NF C96-435-4*NF EN IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 4: almacenamiento.
NF EN IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 4: almacenamiento.
NF EN 62435-1:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 1: general.
NF EN IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 3: datos.
NF EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: dispositivos microelectromecánicos.
NF C96-435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: dispositivos microelectromecánicos.
NF C96-435-8*NF EN IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 8: dispositivos electrónicos pasivos.
NF EN IEC 62435-8:2020 Composants électroniques - Almacenamiento de larga duración de dispositivos eléctricos y semiconductores - Parte 8: dispositivos eléctricos pasivos
NF C96-435-2*NF EN 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 2: mecanismos de deterioro.
NF C96-435-9*NF EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 9: casos especiales.
NF EN 62435-2:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 2: mecanismos de deterioro.
NF EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: casos especiales.
NF C96-435-5*NF EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 5. Dispositivos de matriz y oblea.
NF C96-435-6*NF EN IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 6: dispositivos empaquetados o terminados.
NF EN IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 6: dispositivos encapsulados o terminados.
NF EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 5: dispositivos con chip y obleas.
NF M87-272-5*NF EN ISO 13503-5:2010 Industrias del petróleo y del gas natural - Fluidos y materiales de terminación - Parte 5: procedimiento para medir la conductividad a largo plazo de los apuntaladores.
NF EN ISO 13503-5:2010 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: procedimiento para medir la conductividad a largo plazo de los apuntalantes.
NF C46-961-100*NF EN 62361-100:2016 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 100: Mapeo de perfiles CIM a esquemas XML.
NF EN 62361-100:2016 Gestión de sistemas eléctricos e intercambios de información asociados. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 100: mapeo de perfiles CIM con el esquema XML.
NF C32-011-408*NF EN 60811-408:2012 Cables eléctricos y de fibra óptica. Métodos de prueba para materiales no metálicos. Parte 408: pruebas diversas. Prueba de estabilidad a largo plazo de compuestos de polietileno y polipropileno.
NF EN 62361-2:2014 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 2: Códigos de calidad de extremo a extremo para control de supervisión y adquisición de datos (SCADA)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopio electrónico a largo plazo.

JIS Z 6017:2006 Gestión de documentos: conservación a largo plazo de documentos de imágenes electrónicas
JIS Z 6017:2013 Gestión de documentos: conservación a largo plazo de documentos de imágenes electrónicas

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Microscopio electrónico a largo plazo.

JEDEC JEP160-2011 Almacenamiento a largo plazo para obleas, dados y dispositivos electrónicos de estado sólido

GB-REG, Microscopio electrónico a largo plazo.

REG NASA-LLIS-0802--2000 Lecciones aprendidas: verificación de baterías mediante simulación a largo plazo

VE-FONDONORMA, Microscopio electrónico a largo plazo.

COVENIN 738-1974 CONDENSADORES ELECTROLITICOS DE ALUMINIO DE LARGA DURACION (TIPO 1 ) Y DE USO GENERAL (TIPO 2)

IEC - International Electrotechnical Commission, Microscopio electrónico a largo plazo.

PAS 62435-2005 Componentes electrónicos Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos Guía para la implementación (Edición 1.0)
TS 61244-3-2005 Envejecimiento por radiación a largo plazo en polímeros – Parte 3: Procedimientos para el monitoreo en servicio de materiales de cables de baja tensión (Edición 2.0)
TS 62361-102-2018 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 102: CIM - Armonización IEC 61850 (Edición 1.0)

TIA - Telecommunications Industry Association, Microscopio electrónico a largo plazo.

EIA/TIA-455-96-1990 Prueba de temperatura de almacenamiento a largo plazo del cable de fibra óptica FOTP-96 para entornos extremos

PH-BPS, Microscopio electrónico a largo plazo.

PNS IEC 62435-1:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 1: Generalidades.
PNS IEC 62435-3:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3: Datos.
PNS IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
PNS IEC 62435-5:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 5: Dispositivos de matriz y oblea.

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UNE-EN 62435-1:2017 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 1: General (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)
UNE-EN IEC 62435-4:2018 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 4: Almacenamiento (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)
UNE-EN IEC 62435-3:2020 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 3: Datos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)
UNE-EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores - Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2021.)
UNE-EN IEC 62435-8:2020 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
UNE-EN 62435-2:2017 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores - Parte 2: Mecanismos de deterioro (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)
UNE-EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores - Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)
UNE-EN 62435-5:2017 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 5: Dispositivos de matriz y oblea (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2017.)
UNE-EN IEC 62435-6:2018 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 6: Dispositivos Empaquetados o Terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)
UNE-EN 9145:2018 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 6: Dispositivos Empaquetados o Terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)
UNE-EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural - Fluidos y materiales de terminación - Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de apuntalantes (ISO 13503-5:2006) (Ratificada por AENOR en septiembre de 2006.)
UNE-EN 62361-100:2016 Gestión de sistemas eléctricos e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 100: Mapeo de perfiles CIM a esquemas XML (Ratificada por AENOR en noviembre de 2016.)
UNE-EN 62361-2:2013 Gestión de sistemas eléctricos e intercambio de información asociada - Interoperabilidad a largo plazo - Parte 2: Códigos de calidad de extremo a extremo para el control de supervisión y adquisición de datos (SCADA) (Ratificada por AENOR en octubre de 2014.)

Underwriters Laboratories (UL), Microscopio electrónico a largo plazo.

UL SUBJECT 4143-2016 Esquema de la investigación para un generador de turbina eólica: extensión de la vida útil (LTE) (Número 1)
UL 4143 BULLETIN-2016 Estándar UL para generadores de turbinas eólicas de seguridad: extensión de vida útil (LTE) (COMENTARIOS DEBIDOS: 7 de diciembre de 2016)
UL 4143 BULLETIN-2017 Estándar UL para generadores de turbinas eólicas de seguridad: extensión de vida útil (LTE) (COMENTARIOS DEBIDOS: 17 de julio de 2017)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopio electrónico a largo plazo.

ASTM C1303/C1303M-12 Método de prueba estándar para predecir la resistencia térmica a largo plazo del aislamiento de espuma de celda cerrada
ASTM C1303/C1303M-10
ASTM C1303/C1303M-11 Método de prueba estándar para predecir la resistencia térmica a largo plazo del aislamiento de espuma de celda cerrada
ASTM C1303/C1303M-11a Método de prueba estándar para predecir la resistencia térmica a largo plazo del aislamiento de espuma de celda cerrada
ASTM C1303/C1303M-15 Método de prueba estándar para predecir la resistencia térmica a largo plazo del aislamiento de espuma de celda cerrada

GM Europe, Microscopio electrónico a largo plazo.

GME 01202 PART 6-2011 Espejos/Espejos electrocrómicos (Número 2; inglés/alemán; esta norma puede aplicarse solo para proyectos actuales. Ha sido reemplazada para todos los proyectos futuros y reemplazada por GMW16157)
GME 01202 PART 4-2011 Espejos/Espejos exteriores, eléctricos y calefactables (Número 3; inglés/alemán; esta norma puede aplicarse solo para proyectos actuales. Ha sido reemplazada para todos los proyectos futuros y reemplazada por GMW15799 y GMW16157)

ZA-SANS, Microscopio electrónico a largo plazo.

SANS 19005-1:2006 Gestión de documentos: formato de archivo de documento electrónico para conservación a largo plazo Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A-1)

PL-PKN, Microscopio electrónico a largo plazo.

PN-EN IEC 62435-3-2020-11 E Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 3: Datos (IEC 62435-3:2020)
PN-EN IEC 62435-7-2021-08 E Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (IEC 62435-7:2020).
PN-EN IEC 62435-8-2021-04 E Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (IEC 62435-8:2020)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Microscopio electrónico a largo plazo.

PREN 3475-301-1992 Cables de la serie aeroespacial@ Eléctricos@ Métodos de prueba para uso en aeronaves Parte 301: Resistencia eléctrica por unidad de longitud (Edición P 1)
PREN 2591-C6-1992 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte C6: Crecimiento de moho (Número P 1)
PREN 3006-1987 Pernos de la serie aeroespacial @ Cabeza hexagonal @ Vástago aliviado @ Rosca larga @ en acero resistente al calor FE-PA92HT (A286) Clasificación 900 MPa/650 grados Celsius Sin chapar (Edición P 1)

AT-OVE/ON, Microscopio electrónico a largo plazo.

OVE EN IEC 62435-9:2021 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos - Parte 9: Casos especiales (IEC 47/2667/CDV) (versión en inglés)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopio electrónico a largo plazo.

KS C IEC TS 62361-102:2018 Gestión de sistemas eléctricos e intercambio de información asociado. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 102: CIM. Armonización IEC 61850.
KS P ISO 16429:2010 Implantes para cirugía: Mediciones del potencial de circuito abierto para evaluar el comportamiento de corrosión de materiales implantables metálicos y dispositivos médicos durante períodos de tiempo prolongados.
KS C IEC 60811-408:2016 Cables eléctricos y de fibra óptica ― Métodos de prueba para materiales no metálicos ― Parte 408: Pruebas diversas ― Prueba de estabilidad a largo plazo de compuestos de polietileno y polipropileno

KR-KS, Microscopio electrónico a largo plazo.

KS C IEC TS 62361-102-2018 Gestión de sistemas eléctricos e intercambio de información asociado. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 102: CIM. Armonización IEC 61850.
KS C IEC 60811-408-2016 Cables eléctricos y de fibra óptica ― Métodos de prueba para materiales no metálicos ― Parte 408: Pruebas diversas ― Prueba de estabilidad a largo plazo de compuestos de polietileno y polipropileno

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), Microscopio electrónico a largo plazo.

ETSI TR 103 401-2016 Sistemas de red inteligente y otros sistemas de radio adecuados para operaciones de servicios públicos @ y sus requisitos de espectro a largo plazo (V1.1.1)
ETSI TS 102 778-4-2009 Firmas e Infraestructuras Electrónicas (ESI); Perfiles de Firma Electrónica Avanzados en PDF; Parte 4: PAdES Largo Plazo - Perfil PAdES-LTV (V1.1.2)
ETSI TS 126 131-2017 Sistema Universal de Telecomunicaciones Móviles (UMTS); LTE; Características acústicas de terminales para telefonía; Requisitos (V14.1.0; 3GPP TS 26.131 versión 14.1.0 Versión 14)

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, Microscopio electrónico a largo plazo.

TR 103 401-2016 Sistemas de red inteligente y otros sistemas de radio adecuados para operaciones de servicios públicos @ y sus requisitos de espectro a largo plazo (V1.1.1)
TS 102 778-4-2009 Firmas e Infraestructuras Electrónicas (ESI); Perfiles de Firma Electrónica Avanzados en PDF; Parte 4: PAdES Largo Plazo - Perfil PAdES-LTV (V1.1.2)
TR 103 554-1-2019 Telecomunicaciones Ferroviarias (RT); Sistema de comunicación de próxima generación; Simulaciones y evaluaciones del rendimiento de radio en el entorno ferroviario; Parte 1: Evolución a largo plazo (LTE) (V1.2.1)
TS 136 201-2010 LTE; Acceso Radioeléctrico Terrestre Universal Evolucionado (E-UTRA); capa física de evolución a largo plazo (LTE); Descripción general (V9.1.0; 3GPP TS 36.201 versión 9.1.0 Versión 9)
TS 136 201-2009 LTE; Acceso Radioeléctrico Terrestre Universal Evolucionado (E-UTRA); capa física de evolución a largo plazo (LTE); Descripción general (V8.2.0; 3GPP TS 36.201 versión 8.2.0 Versión 8)
TS 136 201-2008 LTE; Acceso Radioeléctrico Terrestre Universal Evolucionado (E-UTRA); capa física de evolución a largo plazo (LTE); Descripción general (V8.1.0; 3GPP TS 36.201 versión 8.1.0 Versión 8)

未注明发布机构, Microscopio electrónico a largo plazo.

BS ISO 19005-1:2005(2012) Gestión de documentos. Formato de archivo de documentos electrónicos para conservación a largo plazo. Parte 1: Uso de PDF 1.4 (PDF/A - 1)

国家食品药品监督管理局, Microscopio electrónico a largo plazo.

YY/T 1552-2017 Método de medición de potencial de circuito abierto para evaluar el comportamiento de corrosión a largo plazo de materiales metálicos para implantes y dispositivos médicos en implantes quirúrgicos.

European Committee for Standardization (CEN), Microscopio electrónico a largo plazo.

EN ISO 13503-5:2006 Industrias del petróleo y del gas natural. Fluidos y materiales de terminación. Parte 5: Procedimientos para medir la conductividad a largo plazo de los apuntalantes.

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BULLETIN 517-2006 EXAMEN DE PROPIEDADES MECÁNICAS Y CORROSIÓN DE ALEACIONES DE ALTA TEMPERATURA DESPUÉS DE SERVICIO A LARGO PLAZO EN CONDICIONES AVANZADAS DE CALDERAS DE PLANTAS ELÉCTRICAS LOS ESTUDIOS EDDYSTONE

American Welding Society (AWS), Microscopio electrónico a largo plazo.

WRC 517:2006 Examen de las propiedades mecánicas y la corrosión de aleaciones de alta temperatura después de un servicio prolongado en condiciones avanzadas de calderas de centrales eléctricas: los estudios de Eddystone

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopio electrónico a largo plazo.

GB/T 35718.2-2017 Gestión de sistemas de energía e intercambio de información asociada. Interoperabilidad a largo plazo. Parte 2: Códigos de calidad de extremo a extremo para control de supervisión y adquisición de datos (SCADA).

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopio electrónico a largo plazo.

GB/T 23286.3-2021 Gestión de documentos. Formato de archivo de documentos electrónicos para la preservación a largo plazo. Parte 3: Uso de ISO 32000-1 con soporte para archivos incrustados (PDF/A-3).