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Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia, Total: 105 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia son: tubos electronicos, Optoelectrónica. Equipo láser, Óptica y medidas ópticas., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Comunicaciones de fibra óptica., Acústica y mediciones acústicas., Química analítica, Fotografía, Metrología y medición en general., Aplicaciones de la tecnología de la información., Sistemas de alarma y alerta., Dispositivos semiconductores, Astronomía. Geodesia. Geografía.

Professional Standard - Electron, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

SJ/Z 731-1973 Series y tipos preferidos de tubos fotomultiplicadores.
SJ 2355.7-1983 Método de medición de la longitud de onda de emisión máxima y el ancho de banda de radiación espectral de dispositivos emisores de luz.
SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral
SJ/T 2658.12-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 12: Longitud de onda de emisión máxima y ancho de banda radiante espectral.

RU-GOST R, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

GOST 11612.17-1981 Fetomultiplicadores. Métodos para medir la sensibilidad espectral del ánodo.
GOST 11612.7-1983 Fotomultiplicadores. Métodos de medición de la luz y equivalente espectral del ruido de la corriente anódica producida por el flujo luminoso.
GOST 8.197-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Esquema de verificación estatal para instrumentos que miden la radiancia espectral, la potencia radiante espectral, la irradiancia espectral, la intensidad radiante espectral, la potencia y la intensidad radiante en el rango espectral.
GOST R 25645.162-1995

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

GJB 759-1989 Cristal de fosfato de potasio y titanio (KTP) para duplicador de frecuencia láser
GJB 1677-1993 Especificación para el recubrimiento antirreflectante con duplicación de frecuencia de titanilfosfato de potasio (KTP) para cristales ópticos no lineales

U.S. Air Force, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C IEC 61290-10-2:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado

American Society for Testing and Materials (ASTM), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

ASTM E520-08(2023) Práctica estándar para describir detectores fotomultiplicadores en espectrometría de emisión y absorción
ASTM E520-08(2015)e1 Práctica estándar para describir detectores fotomultiplicadores en espectrometría de emisión y absorción
ASTM E520-98 Práctica estándar para describir detectores fotomultiplicadores en espectrometría de emisión y absorción
ASTM E520-98(2003) Práctica estándar para describir detectores fotomultiplicadores en espectrometría de emisión y absorción
ASTM E827-07 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E827-95 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
ASTM E827-02 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger

British Standards Institution (BSI), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
PD IEC/TR 63100:2017 Equipos transmisores para radiocomunicaciones. Tecnologías de radio sobre fibra para la medición del espectro. Equipo de medición de espectro de 100 GHz
BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico

ZA-SANS, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.

International Organization for Standardization (ISO), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

ISO/DIS 13473-4 Caracterización de la textura del pavimento mediante el uso de perfiles de superficie. Parte 4: Análisis espectral de perfiles de superficie en banda de un tercio de octava.
ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
GB/T 37984-2019 Nanotecnologías: valor de corrección del desplazamiento Raman para la calibración del espectrómetro

International Telecommunication Union (ITU), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

ITU-T G.694.1-2002 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de frecuencias DWDM Serie G: Sistemas y Medios de Transmisión, Sistemas y Redes Digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Comisión de Estudio 15
ITU-T G.694.2-2003 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de longitud de onda CWDM Serie G: Sistemas y medios de transmisión Sistemas y redes digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Grupo de Estudio 15
ITU-R SM.667 SPANISH-1990 DATOS DE GESTIÓN DEL ESPECTRO NACIONAL

National Aeronautics and Space Administration (NASA), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

NASA NPR 2570.1 REV B-2008 MANUAL DE GESTIÓN DEL ESPECTRO DE RADIOFRECUENCIA (RF) DE LA NASA

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

ECA TEP 150-1964 Datos de respuesta espectral relativa para dispositivos fotosensibles (curvas "S")

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (Incorpora corrección de errores de diciembre de 2006)
EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos Métodos de prueba Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido Método del analizador de espectro óptico

Association Francaise de Normalisation, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF ISO 23166:2019 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método de espectrometría de emisión óptica con fuente de plasma inducida de alta frecuencia
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-805-5-1:2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico.
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-2: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro eléctrico.
NF EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre - Análisis por espectrometría de emisión óptica con fuente de plasma inducido de alta frecuencia
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros de canales múltiples. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico estroboscópico.
NF C93-805-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
NF EN ISO 26845:2008 Análisis químico de materiales refractarios - Requisitos generales para métodos de análisis químico húmedo, espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de emisión atómica con plasma inducido de alta frecuencia...
NF EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante espectrometría de emisión con plasma inducido de alta frecuencia y espectrómetro de masas (ICP-MS)
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF EN ISO 11885:2009 Calidad del agua - Determinación de elementos seleccionados mediante espectroscopía de emisión óptica de plasma inducido de alta frecuencia (ICP-OES)

ES-UNE, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)

工业和信息化部, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

JC/T 2418-2017 Condiciones técnicas generales y métodos de prueba para cristales autoduplicantes con láser de oxiborato de calcio y gadolinio-itrio dopados con neodimio

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

SMPTE 117M-2001 Película cinematográfica - Registro de audio fotográfico - Densidad espectral difusa

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

IEEE PC57.12.200/D10, January 2022 Borrador de guía IEEE para la medición por espectroscopia en el dominio de frecuencia de casquillos de transformadores
IEEE PC57.12.200/D12, July 2022 Borrador de guía aprobado por IEEE para la medición por espectroscopia en el dominio de frecuencia de casquillos de transformadores
ST 117:2001 ST 117:2001 - Estándar SMPTE - Para películas cinematográficas - Densidad de audio fotográfico - Medición de densidad espectral difusa
SMPTE ST 117:2001 ST 117:2001 - Estándar SMPTE - Para películas cinematográficas - Densidad de audio fotográfico - Medición de densidad espectral difusa

International Electrotechnical Commission (IEC), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC TR 63100:2017 Equipos de transmisión para radiocomunicaciones - Tecnologías de radio sobre fibra para medición del espectro - Equipos de medición del espectro en 100 GHz
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
IEC 61290-10-2:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.

American National Standards Institute （ANSI), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

ANSI/IEEE 1214:1993 Formato de intercambio de datos de histograma MCA para espectroscopia nuclear
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206 - IEC 61290-1-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico
ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2 - Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

Group Standards of the People's Republic of China, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

T/CCSAS 009-2021 Especificación técnica para el sistema de alerta temprana y monitoreo por video del espectro de gases peligrosos

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS C 6122-10-2:2010 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
GB/T 36063-2018 Nanotecnologías: curva estándar de desplazamiento Raman para la calibración de espectrómetros
GB/T 10725-1989 Reactivo químico: reglas generales para la espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado industrialmente

German Institute for Standardization, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

DIN EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado (IEC 61290-10-2:2007); Versión alemana EN 61290-10-2:2008
DIN EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medición de longitud de onda/frecuencia. Parte 1: Analizadores de espectro óptico (IEC 62129-1:2016); Versión alemana EN 62129-1:2016
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004

Professional Standard - Agriculture, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

GB 10725-1989 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica de plasma de alta frecuencia acoplado inductivamente con reactivos químicos

Danish Standards Foundation, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

DS/EN 61290-5-2:2004

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-2 - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro eléctrico

Professional Standard - Commodity Inspection, Luz espectral + pico de duplicación de frecuencia

SN/T 2413-2010 Determinación del contenido total de carbono y azufre del silicio metálico para importación y exportación: espectrometría de absorción infrarroja