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nanosonda

nanosonda, Total: 42 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en nanosonda son: Materiales para el refuerzo de composites., Dispositivos semiconductores, Agricultura y silvicultura, Equipo medico, Química analítica, Pruebas no destructivas, Frutas. Verduras, Física. Química, Pruebas mecánicas, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas..


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, nanosonda

  • GB/T 39978-2021 Nanotecnología: resistividad del polvo de nanotubos de carbono: método de cuatro sondas

Group Standards of the People's Republic of China, nanosonda

  • T/CASAS 019-2021 Método de prueba de resistividad de compactos sinterizados de micro y nanometal: método de cuatro sondas
  • T/NTJGXH 074-2019 Reglamento técnico para la conservación en fresco de los nanoenvases de Flammulina velutipes
  • T/ZGKSL 007-2023 La directriz de composición y aplicación del sistema de administración transdérmica de fármacos con nanopuntos de contacto
  • T/BEA 43002-2023 Especificación de calibración para instrumentos de plasma con sonda Langmuir única

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, nanosonda

  • DB32/T 4378-2022 Método de cuatro sondas para pruebas no destructivas de resistencia laminar de películas delgadas a escala nanométrica y submicrónica sobre la superficie del sustrato

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), nanosonda

  • KS C 1802-1986 Estimuladores fóticos para electroencefalógrafos.
  • KS C IEC TS 62607-6-1:2022 Nanofabricación. Características de control clave. Parte 6-1: Material a base de grafeno. Resistividad del volumen: método de cuatro sondas.

German Institute for Standardization, nanosonda

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, nanosonda

  • GB/T 33826-2017 Medición del espesor de nanopelículas sobre sustrato de vidrio: método perfilométrico

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, nanosonda

  • CNS 12846-1991 Prueba de fugas con espectrómetro de masas de helio mediante el método de sonda de seguimiento

British Standards Institution (BSI), nanosonda

  • PD IEC TS 62607-6-1:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Material a base de grafeno. Resistividad de volumen: método de cuatro sondas
  • PD IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías. Una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • BS PAS 133:2007 Terminología para mediciones e instrumentación a nanoescala comunes
  • BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, nanosonda

  • JJF 1981-2022 Especificaciones de calibración para instrumentos de nanoindentación

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, nanosonda

  • JJG 508-2004 Instrumentos de medición de resistividad con cuatro: método de matriz de sondas
  • JJG(地质) 1017-1990 Reglamento de verificación para instrumentos de sonda electrónica.
  • JJG 901-1995 Reglamento de verificación del microanalizador de sonda electrónica.
  • JJG 508-1987 Regulación de verificación de instrumentos de medición de resistividad con método de matriz de cuatro propiedades

Association Francaise de Normalisation, nanosonda

  • XP CEN/TS 17275:2019 Nanotecnologías - Directrices para la gestión y eliminación de residuos procedentes de la fabricación y transformación de nanoobjetos manufacturados

International Organization for Standardization (ISO), nanosonda

  • IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • IEC/TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
  • ISO/TS 10867:2010 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
  • ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, nanosonda

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, nanosonda

  • GJB 1713-1993 Especificaciones para interferómetros de polarización nanoláser

IX-IX-IEC, nanosonda

  • IEC TS 62607-6-8:2023 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-8: Grafeno - Resistencia de la lámina: Sonda de cuatro puntos en línea

International Electrotechnical Commission (IEC), nanosonda

  • IEC TS 62607-6-1:2020 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-1: Material a base de grafeno - Resistividad del volumen: método de cuatro sondas

KR-KS, nanosonda

  • KS C IEC TS 62607-6-1-2022 Nanofabricación. Características de control clave. Parte 6-1: Material a base de grafeno. Resistividad del volumen: método de cuatro sondas.

American Society for Testing and Materials (ASTM), nanosonda

  • ASTM E499-95(2006) Métodos de prueba estándar para fugas utilizando el detector de fugas del espectrómetro de masas en el modo de sonda detectora

Professional Standard - Electron, nanosonda

  • SJ/T 10314-1992 Especificación genérica del instrumento de medición de resistividad con sonda de cuatro puntos.
  • SJ/T 31122-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para sondas de cuatro puntos.

工业和信息化部/国家能源局, nanosonda

  • JB/T 12721-2016 Especificaciones técnicas para el probador de nanoindentación/rayado in situ para materiales sólidos

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