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Tensión de prueba de dos electrodos

Tensión de prueba de dos electrodos, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Tensión de prueba de dos electrodos son: Dispositivos semiconductores, Pruebas eléctricas y electrónicas., Protección contra descargas eléctricas, Optoelectrónica. Equipo láser, tubos electronicos, Protección del medio ambiente, Circuitos integrados. Microelectrónica, Redes de transmisión y distribución de energía., Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Construcción naval y estructuras marinas en general, Calidad del suelo. Pedología, ingenieria electrica en general, Celdas de combustible, Química analítica, Tecnología de vacío, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Fluidos aislantes, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., químicos inorgánicos, Materiales para la construcción aeroespacial., Accesorios electricos, Circuitos impresos y placas., Pilas y baterías galvánicas., pruebas de metales, Tratamiento superficial y revestimiento., Calidad del agua, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Minerales no metalíferos, Componentes electrónicos en general., Comunicaciones de fibra óptica., Productos de la industria química., ingeniería de energía solar, Materiales de construcción, Pruebas no destructivas, Corrosión de metales, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Resistencias, ingeniería de energía nuclear, Equipo medico, Movimientos de tierras. Excavaciones. Construcción de cimientos. Obras subterráneas, Metalurgia de polvos, Pruebas mecánicas, Conjuntos de componentes electrónicos., Quemadores. Calderas, Geología. Meteorología. Hidrología, Terminología (principios y coordinación), Centrales eléctricas en general, Sistemas de vehículos de carretera, Cerámica, Lámparas y equipos relacionados., Productos de metales no ferrosos., Productos de hierro y acero., Equipos para la industria del vidrio y la cerámica., Productos de caucho y plástico., Materiales aislantes.

RU-GOST R, Tensión de prueba de dos electrodos

GOST 18604.27-1986 Transistores bipolares de potencia de alto voltaje. Medición del voltaje de ruptura de la base del colector (base del emisor) en la corriente de corte del emisor (colector)
GOST 21107.3-1975 Dispositivos de descarga de gas. Decatrones. Poliatrones. Métodos de medición de parámetros eléctricos.
GOST 18604.3-1980 Transistores bipolares. Métodos para medir capacitancias de colectores y emisores.
GOST 18604.15-1977 Transistores osciladores de microondas bipolares. Técnicas para medir la corriente crítica.
GOST 18604.14-1977 Transistores osciladores de microondas bipolares. Técnicas para medir el módulo coeficiente de transmisión inversa de voltaje en el circuito con base general en alta frecuencia.
GOST 18604.22-1978 Transistores bipolares. Métodos para medir el voltaje de saturación colector-emisor y base-emisor.
GOST 18604.10-1976 Transistores bipolares. Técnica de medición de resistencia de entrada.
GOST 21011.2-1976 Kenotrones de alto voltaje. El método de medición de la corriente del ánodo dentro del pulso de voltaje.
GOST 18604.0-1983 Transistores bipolares. Requisitos generales para la medición de parámetros eléctricos.
GOST IEC 61243-3-2014 Vivir trabajando. Detectores de voltaje. Parte 3: tipo bipolar de bajo voltaje
GOST 18604.16-1978 Transistores bipolares. Método de medición de la relación de retroalimentación de voltaje en condiciones de señal baja.
GOST 18986.24-1983 Diodos semiconductores. Método de medición del voltaje de ruptura.
GOST 19138.2-1985 Tiristores triodo. Método para medir la corriente de compuerta directa y pico del disparador y el voltaje de compuerta directo y pico del disparador
GOST 18604.2-1980 Transistores bipolares. Métodos para medir el coeficiente estático de transmisión de corriente.
GOST 21011.4-1977 Kenotrones de alto voltaje. Métodos de prueba de resistencia eléctrica.
GOST 21011.6-1978 Kenotrones de alto voltaje. Método de prueba para encendidos y apagados múltiples de la tensión de calefacción.
GOST 19138.7-1974 Tiristores. Método de medición de la corriente máxima de apagado de la puerta, el voltaje máximo de apagado de la puerta y el coeficiente de apagado máximo
GOST 21011.3-1977 Kenotrones de alto voltaje. Método de medición de la corriente del calentador
GOST 21011.7-1980 Kenotrones de alto voltaje. El método de medición de la corriente de emisión.
GOST 22091.12-1984
GOST 18604.1-1980 Transistores bipolares. Método para medir la constante de tiempo colector-base a altas frecuencias
GOST 18986.13-1974 Diodos de túnel semiconductores. Métodos para medir la corriente del punto pico, la corriente del punto valle, el voltaje del punto pico, el voltaje del punto valle y el voltaje del punto pico proyectado
GOST 18485-1973 Tubos moduladores para funcionamiento en condiciones de pulso. Métodos para medir los voltajes de pulso de los electrodos.
GOST 25995-1983 Electrodos para medición de potenciales bioeléctricos. Requisitos técnicos generales y métodos de prueba.
GOST 24613.8-1983 Microcircuitos optoelectrónicos integrados y optopares. Métodos para medir la tasa de cambio crítico del voltaje dieléctrico.
GOST 18604.24-1981 Transistores bipolares de alta frecuencia. Técnicas para medir la potencia de salida, la ganancia de potencia y la eficiencia del colector.
GOST 18986.3-1973 Diodos semiconductores. Método de medición de tensión directa directa y corriente directa directa.
GOST 21011.0-1975 Kenotrones de alto voltaje. Métodos de medición de parámetros eléctricos. Requerimientos generales
GOST 18604.9-1982 Transistores bipolares. Métodos para determinar la frecuencia de corte y la frecuencia de transición.
GOST R 53919-2010 Electrodos implantables para marcapasos. Requisitos técnicos y métodos de prueba.
GOST 28106-1989 Catodos de cobre. Muestreo y preparación de muestras y probetas para determinación de resistividad eléctrica.
GOST 18604.13-1977 Transistores osciladores de microondas bipolares. Técnicas para medir la potencia de salida, la ganancia de potencia y la eficiencia del colector.
GOST 18986.16-1972 Diodos rectificadores. Métodos para medir el voltaje directo promedio y la corriente inversa promedio.
GOST 18986.9-1973 Diodos semiconductores. Método para medir la tensión continua del pulso y el tiempo de recuperación directa.
GOST 19656.1-1974 Diodos semiconductores mezcladores y detectores UHF. Método de medición de la relación de onda estacionaria de voltaje
GOST 28106-2015 Catodos de cobre. Muestreo y preparación de muestras y piezas para determinación de resistividad eléctrica.
GOST 21106.5-1977 Tubos osciladores, moduladores y de regulación; El ánodo disipó una potencia superior a 25 W. Métodos de medición de la corriente y el voltaje del filamento.

CZ-CSN, Tensión de prueba de dos electrodos

CSN 35 8757 Cast.12-1989
CSN 35 8757 Cast.1-1985
CSN 35 8741-1964 transistor. Medición de la tensión residual del emisor coleotor.
CSN 35 8757 Cast.8-1985 Transistores. Métodos de medición de la tensión base-emisor.
CSN 35 8539-1968
CSN 35 8542-1968 Métodos de prueba de capacitancias entre electrodos de tubos electrónicos.
CSN 35 8771-1970 Tiristores. Método para medir el voltaje del disparador de puerta y la corriente del disparador de puerta
CSN 35 8735-1964 Diodos semiconductores. Medición de corrientes y voltajes CC.
CSN 35 8733-1975 Dispositivos semiconductores. Diodos. Medición de voltago inverso (voltago de trabajo)
CSN 35 8760-1973 Seraiconductores. Diodos estabilizadores. Medición del coeficiente de temperatura de voltaje.
CSN 35 8766-1976 Dispositivos semiconductores. Diodos de conmutación. Medición del voltaje directo.
CSN 35 8731-1975 Dispositivos semiconductores. Diodos Medición de tensión directa de CC
CSN 35 8763-1973 Dispositivos semiconductores. Diodos. ¿Medida o? tensión de ruptura inversa

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Tensión de prueba de dos electrodos

CNS 8105-1981 Método de prueba para colector de transistores: voltaje de saturación del emisor
CNS 5764-1980 Regulador de voltaje Diodo Ruido Medición de voltaje

Defense Logistics Agency, Tensión de prueba de dos electrodos

DLA SMD-5962-05219 REV D-2011 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, POSTIVO Y NEGATIVO, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-05219 REV C-2008 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, POSTIVO Y NEGATIVO, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-09201-2009 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, POSTIVO Y NEGATIVO, BAJA CAÍDA, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-09201 REV A-2009 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, POSTIVO Y NEGATIVO, BAJA CAÍDA, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-10213-2012 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, 3 AMP, POSITIVO Y NEGATIVO, BAJA CAÍDA, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-10213 REV A-2013 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, REGULADOR DE TENSIÓN DOBLE, 3 AMP, POSITIVO Y NEGATIVO, BAJA CAÍDA, AJUSTABLE
DLA SMD-5962-78019 REV E-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, DUAL, ALTA VELOCIDAD, COMPARADOR DE TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89930 REV C-2003 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE SEGUIMIENTO DE DOBLE POLARIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88763-1990
DLA SMD-5962-88763 REV A-2010 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE SEGUIMIENTO DE DOBLE POLARIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89930 REV D-2011 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE SEGUIMIENTO DE DOBLE POLARIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89930 REV E-2013 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE SEGUIMIENTO DE DOBLE POLARIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-PRF-19500/507 F-2011 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DIODO, SILICIO, SUPRESOR DE TENSIÓN TRANSITORIA BIPOLAR, TIPOS 1N6036A HASTA 1N6072A JAN, JANTX Y JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 1-2008 Dispositivo semiconductor, diodo, silicio, supresor de voltaje transitorio bipolar, tipos 1N6950 a 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV y JANS
DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 2-2013 Dispositivo semiconductor, diodo, silicio, supresor de voltaje transitorio bipolar, tipos 1N6950 a 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV y JANS
DLA SMD-5962-97541 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, BUFFER NAND POSITIVO CUÁDRUPLE DE 2 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87602 REV A-1988 MICROCIRCUITOS BIPOLARES UNIDAD DE DETECCIÓN Y CORRECCIÓN DE ERRORES DE 16 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88742 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, BÚFERS HEXAGONALES NO INVERSORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-DTL-32139/3 A-2006 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, ENCHUFE, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS PIN, TIPO ENGARZADO
DLA MIL-DTL-32139/3 A (2)-2011 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, ENCHUFE, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS PIN, TIPO ENGARZADO
DLA MIL-DTL-32139/3 A (3)-2013 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, ENCHUFE, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS PIN, TIPO ENGARZADO
DLA MIL-DTL-32139/3 A (1)-2008 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, ENCHUFE, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS PIN, TIPO ENGARZADO
DLA MIL-DTL-32139/4 A (1)-2008 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, RECEPTÁCULO, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS DE ENCHUFE, TIPO ENGARZADO
DLA MIL-DTL-32139/4 A (2)-2013 CONECTORES, ELÉCTRICOS, RECTANGULARES, NANOMINIATURA, DOBLE FILA, RECEPTÁCULO, CARCASA POLARIZADA, CONTACTOS DE ENCHUFE, TIPO ENGARZADO
DLA SMD-5962-91667 REV E-2006
DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, OSCILADOR CONTROLADO POR TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-PRF-19500/516 E-2009 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DIODO DE SILICIO, SUPRESOR DE TENSIÓN TRANSITORIA BIPOLAR, TIPOS 1N6102 A 1N6137, 1N6102A A 1N6137A, 1N6138 A 1N6173, 1N6138A A 1N6173A, 1N6102US TH ÁSPERO 1N6137US, 1N6102AUS HASTA 1N6137AUS, 1N6138US HASTA 1N61
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, INVERTENCIA DE SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98617 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, BÚFERS/DRIVERS INVERSORES HEXAGONALES CON SALIDAS DE ALTA TENSIÓN DE COLECTOR ABIERTO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR Y REGISTROS DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91671 REV C-2003 MICROCIRCUITO, REGULADOR DE TENSIÓN DE CONMUTACIÓN REDUCTOR, LINEAL, POSITIVO, AJUSTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON TRANSCEPTOR DE BUS REGISTRADO OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO

Association Francaise de Normalisation, Tensión de prueba de dos electrodos

NF C18-314-3:2010 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: tipo bipolar de baja tensión.
NF C18-314-3*NF EN 61243-3:2015 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: tipo bipolar de baja tensión
NF EN ISO 2376:2019 Anodizado de aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura eléctrica y de la tensión soportada.
NF T90-008:1953 PRUEBAS DE AGUA. MEDICIÓN ELECTROMÉTRICA DEL PH CON EL ELECTRODO DE VIDRIO.
NF EN 60512-5-1:2002 Conectores para equipos electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 5-1: pruebas de corriente límite: Prueba 5a: aumento de temperatura
NF A91-483:2010 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del potencial de ruptura eléctrica.
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 10: prueba de compresión de micropilares para materiales MEMS
NF A91-405:1983 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Comprobación del aislamiento midiendo el potencial de ruptura.
NF EN 62374:2008 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta
NF C18-311:1986 Detectores de tensión unipolares para uso en redes, instalaciones y equipos, para tensiones alternas superiores a 1000 V y no superiores a 420 kV.
NF C57-338*NF EN 62116:2014 Inversores fotovoltaicos interconectados a la red eléctrica: procedimiento de prueba de las medidas de prevención de aislamiento

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Tensión de prueba de dos electrodos

KS C IEC 61243-3-2017(2022) Trabajo en vivo －Detectores de voltaje －Parte 3: Tipo bipolar de bajo voltaje
KS C 6050-1985(2000) MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES
KS C 6050-1985 MÉTODOS DE MEDIDA PARA CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES BIPOLARES
KS B 0891-1974 Método de prueba para soldadura en filete de electrodo cubierto.
KS C IEC 61243-3:2005 Trabajo en vivo －Detectores de voltaje －Parte 3: Tipo bipolar de bajo voltaje
KS C IEC 61243-3:2017 Trabajo en vivo －Detectores de voltaje －Parte 3: Tipo bipolar de bajo voltaje
KS C 6991-2013 MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS B 0892-1971 Método de medición de la tasa de deposición.
KS F 2736-2015 Método de prueba para la resistencia a la polarización de barras de refuerzo en hormigón.
KS C 2712-2001 Métodos de prueba del termistor de coeficiente de temperatura negativo.
KS L 1640-2021 Métodos de prueba para la polarización de una celda electroquímica de base cerámica mediante la técnica de interrupción de corriente.
KS C 6991-2001(2011) MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
KS D 0269-2020 Método de prueba de polarización potenciostática para la determinación de la temperatura crítica de picaduras en aceros inoxidables.
KS L 3403-1999(2019) Métodos de prueba para la precisión del tornillo de electrodos de grafito mecanizados cilíndricos.
KS D 0269-2009 Método de prueba de polarización potenciostática para la determinación de la temperatura crítica de picaduras en aceros inoxidables.
KS D ISO 17475-2017(2022) Corrosión de metales y aleaciones－Métodos de prueba electroquímicos－Directrices para realizar mediciones de polarización potenciostática y potenciodinámica
KS C IEC 62116:2010 Procedimiento de prueba de medidas de prevención de aislamiento para inversores fotovoltaicos interconectados a la red eléctrica
KS C IEC 62116:2015 Procedimiento de prueba de medidas de prevención de aislamiento para inversores fotovoltaicos interconectados a la red eléctrica

Professional Standard - Electron, Tensión de prueba de dos electrodos

SJ 2140-1982 Métodos de medición para limitar el voltaje de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 2214.6-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa colector-emisor de fototransistores semiconductores
SJ 444-1973 Métodos de medición de la corriente anódica y de la corriente anódica en condiciones de subcalentamiento de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ 2215.7-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa colector-emisor de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 1388-1978 Métodos de medición de la conductancia anódica de diodos generadores de ruido.
SJ 431-1973 Métodos de medición de voltajes y corrientes de tubos de onda inversa tipo O en electrodos individuales
SJ 1389-1978 Métodos de medición de la corriente de fuga de diodos entre electrodos de diodos generadores de ruido.
SJ 2141-1982 Métodos de medición de la tensión de ruptura de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 420-1973 Métodos de medición de tensiones y corrientes en cada electrodo de tubos de ondas viajeras de bajo ruido.
SJ 445-1973 Métodos de medición de la corriente de emisión de pulsos catódicos y la corriente de emisión de pulsos catódicos en condiciones de subcalentamiento de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ/Z 9009-1987 Métodos para medir capacitancias directas entre electrodos de tubos y válvulas electrónicas.
SJ 1387-1978 Métodos de medición de la corriente y la tensión del filamento de diodos generadores de ruido.
SJ 2354.2-1983 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 455-1973 Métodos de medición de la capacitancia estática entre electrodos de tubos rectificadores de alto voltaje.
SJ 363-1973 Medición de la corriente total del reflector, la corriente de iones del reflector y la corriente de fuga del reflector de klistrones reflejos
SJ 1395-1978 Métodos de medición de la corriente anódica y la caída de tensión en los tubos de ruido de descarga de gas.
SJ 2354.4-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de PIN y fotodiodos de avalancha
SJ 966-1975 Métodos de medición de la tensión de ruptura inversa de diodos de conmutación de silicio.
SJ/Z 9010.1-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 1: Medición de la corriente del electrodo.
SJ 421-1973 Métodos de medición de la corriente de fuga entre el último ánodo y cada electrodo de tubos de ondas viajeras de bajo ruido.
SJ 1391-1978 Métodos de medición de la relación de onda estacionaria de voltaje en condiciones frías de diodos generadores de ruido.
SJ 2354.12-1983 Método de medición del factor de temperatura del voltaje de ruptura inverso de PIN y fotodiodos de avalancha
SJ 2658.3-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de tensión invertida
SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ/T 2354-2015/0352 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
SJ 2354.5-1983 Método de medición de capacitancia de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores.
SJ 2354.3-1983 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ/T 10740-1996 Circuitos integrados semiconductores: principios generales de métodos de medición para memorias de acceso aleatorio bipolares.
SJ/Z 1171-1977 Métodos para determinar la curva de polarización de una solución de galvanoplastia.
SJ 365-1973 Medición de la relación de variación de la corriente catódica de klistrones reflejos a medida que cambia la corriente del calentador
SJ 2672.7-1986 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz con clasificación de caja, tipo 3DA307
SJ 50033/162-2003 Dispositivo semiconductor discreto Especificación detallada del tipo 2CW1022 para diodos reguladores de voltaje bidireccionales de silicio
SJ 2215.5-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 364-1973 Medición de la corriente catódica de klistrones reflejos.
SJ 2672.2-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 Mhz, tipo 3DA302
SJ 2672.3-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA303
SJ 2672.4-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA304
SJ 2672.5-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA305
SJ 2672.6-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA306
SJ 2672.8-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA308
SJ 2672.9-1986 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz con clasificación de caja, tipo 3DA309
SJ 2673.1-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA311
SJ 2673.2-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA312
SJ 2673.3-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA313
SJ 2673.4-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA314
SJ 2673.5-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA315
SJ 2673.6-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA316
SJ 2672.1-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA301
SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ 2354.1-1983 Procedimientos generales de medición de parámetros eléctricos y ópticos de fotodiodos PIN y de avalancha.
SJ/Z 9010.15-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 15: Métodos de medición de corrientes de electrodos espurias y no deseadas.
SJ 2138-1982 Métodos de medición de la corriente regulada de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ/Z 9010.9-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 9: Métodos de medición de la impedancia de la interfaz cátodo.
SJ 2354.6-1983 Método de medición de la capacidad de respuesta de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 1718-1981 Medición de la corriente de pulso catódico de klistrones de potencia.
SJ 366-1973 Medición de la corriente de fuga entre electrodos de klistrones reflejos.
SJ 2354.13-1983 Método de medición del factor de multiplicación de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores.
SJ/Z 9010.24-1987 Medición de propiedades eléctricas de tubos electrónicos Parte 24 Métodos de medición para tubos de almacenamiento de carga de rayos catódicos
SJ 1230-1977 Métodos de medición de corriente rectificada de alta frecuencia de diodos detectores de germanio.
SJ 2142-1982 Métodos de medición del coeficiente de temperatura actual de diodos reguladores de corriente de silicio.
SJ 2214.10-1982 Método de medición de la corriente luminosa de fotodiodos semiconductores y fototransistores.
SJ 1386-1978 Condiciones de medición para diodos generadores de ruido y tubos de ruido de descarga de gas.
SJ 2658.4-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de capacitancia
SJ/Z 9010.13-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos. Parte 13: Métodos de medición de la corriente de emisión de cátodos calientes para tubos y válvulas electrónicos de alto vacío.
SJ 1393-1978 Métodos de medición del tiempo de precalentamiento del cátodo de tubos de ruido de descarga de gas.
SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.
SJ 2215.6-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ/Z 9010.14-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos electrónicos. Parte 14: Métodos de medición de tubos de rayos catódicos para radares y osciloscopios.
SJ/Z 9010.22-1987 Medición de propiedades eléctricas de tubos electrónicos Parte 22 Métodos de medición para tubos indicadores y contadores de cátodo frío
SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.
SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha
SJ 2215.3-1982 Método de medición de la corriente directa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2215.4-1982 Método de medición de corriente inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
SJ 2354.9-1983 Método de medición de la potencia equivalente de ruido de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ/Z 9010.8-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 8: Medición del tiempo de calentamiento del cátodo y del tiempo de calentamiento del calentador.
SJ/Z 9010.12-1987 Mediciones de propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicas. Parte 12: Métodos de medición de la resistencia de los electrodos, transconductancia, factor de amplificación, resistencia de conversión y transconductancia de conversión.
SJ/T 2658.2-2015 Método de medición para diodos emisores de infrarrojos semiconductores. Parte 2: tensión directa
SJ/T 2658.3-2015 Método de medición para diodos emisores de infrarrojos semiconductores. Parte 3: voltaje inverso y corriente inversa
SJ 2658.5-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de resistencia en serie directa
SJ 2354.8-1983 Método de medición del tiempo de subida y bajada del pulso de fotodiodos PIN y de avalancha
SJ 2215.9-1982 Método de medición de la corriente de corte inversa de transistores fotoacopladores semiconductores.

GOSTR, Tensión de prueba de dos electrodos

GOST 18604.19-1988 Transistores bipolares. Método de medición del voltaje umbral.

Professional Standard - Energy, Tensión de prueba de dos electrodos

NB/T 42007-2013 Método de prueba de placa bipolar para batería de flujo redox de vanadio
NB/T 20322-2014 Criterios de prueba y operación de puesta en marcha del sistema de protección catódica de estructura metálica enterrada aplicado en centrales nucleares.

Canadian Standards Association (CSA), Tensión de prueba de dos electrodos

CSA C22.2 NO.160-2015 Probadores de voltaje y polaridad (tercera edición)

Group Standards of the People's Republic of China, Tensión de prueba de dos electrodos

T/AHEMA 002-2020 Medición del punto de fuga de geomembrana de HDPE mediante el método de doble electrodo
T/CEEIA 579-2022 Placa bipolar para requisitos técnicos y métodos de prueba de baterías de flujo de hierro y cromo.
T/ZJCX 0034-2023 Estándar de prueba de las características de la placa bipolar de grafito para celdas de combustible de membrana de intercambio de protones
T/CESA 1054-2018 Métodos de prueba para carbones porosos para electrodos de supercondensadores.
T/CAAMTB 12-2020 Método de prueba del electrodo de membrana de la pila de combustible con membrana de intercambio de protones
T/CSTM 00461-2022 Método de prueba para la resistencia al pelado de electrodos de células fotovoltaicas de silicio cristalino
T/CEC 155-2018 Requisitos generales para dispositivos de transistor bipolar de puerta aislada (IGBT) de tipo engarzado para transmisión de energía flexible
T/CEEIA 577-2022 Electrodo para prueba y requisitos técnicos de batería de flujo de hierro y cromo.
T/CSA 048-2019 Medición de características eléctricas y fotométricas para LED de iluminación general bajo diferentes corrientes/temperaturas
T/CASME 520-2023 Método de prueba para placa bipolar de metal con revestimiento de pila de combustible con membrana de intercambio de protones
T/CES 084-2021 Especificación de prueba para la confiabilidad de la aplicación de módulos de transistores bipolares de puerta aislada (IGBT) para transmisión de corriente continua de alto voltaje (HVDC) utilizando convertidores de fuente de voltaje (VSC)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Tensión de prueba de dos electrodos

JEDEC JESD307-1992 Regulador de voltaje Diodo Ruido Medición de voltaje
JEDEC JESD5-1982 Medición del coeficiente de temperatura de diodos reguladores de voltaje
JEDEC JESD24-11-1996 Anexo del método de prueba de resistencia de puerta de la serie equivalente de MOSFET de potencia a JEDEC JESD 24

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Tensión de prueba de dos electrodos

GB/T 3789.2-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de corriente de ánodo y rejilla.
GB/T 7274-2015 Métodos para la medición de capacitancias directas entre electrodos de tubos y válvulas electrónicas.
GB/T 7274-1987 Métodos para la medición de capacitancias directas entre electrodos de tubos y válvulas electrónicas.
GB/T 3789.20-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición del voltaje de corte de corriente de la red No1.
GB/T 3789.11-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la tensión de corte de la red No3.
GB/T 3789.10-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la tensión de corte de la red No1.
GB/T 20042.6-2011 Pila de combustible de membrana de intercambio de protones. Parte 6: Método de prueba de las propiedades de la placa bipolar.
GB/T 41760-2022 Método de prueba para la polarización espontánea de turmalina.
GB/T 3789.3-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la corriente de emisión catódica.
GB/T 3789.4-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de corriente de rejilla inversa.
GB/T 3789.5-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la corriente de termoemisión de la red.
GB/T 23729-2009 Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba
GB/T 3789.12-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición del aislamiento entre electrodos.
GB/T 43092-2023 Método de prueba de rendimiento a alta temperatura para pruebas de rendimiento electroquímico de materiales de cátodos de baterías de iones de litio
GB/T 3789.8-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de los tubos transmisores. Métodos de medición de la potencia máxima de disipación del ánodo y de la potencia de disipación de sobrecarga del ánodo.
GB/T 24488-2009 Método de prueba para las propiedades electroquímicas del ánodo de sacrificio de aleaciones de magnesio.
GB/T 18134.1-2000 Técnicas de ensayo de alta tensión con impulsos muy rápidos Parte 1: Sistemas de medida de sobretensiones frontales muy rápidas generadas en subestaciones aisladas en gas
GB/T 20042.5-2009 Celda de combustible de membrana de intercambio de protones. Parte 5: Método de prueba para el ensamblaje de electrodos de membrana.
GB/T 3789.7-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la corriente iónica del ánodo.
GB/T 3789.18-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de pérdidas de alta frecuencia para aisladores entre electrodos.
GB/Z 27753-2011 Método de prueba para la adaptabilidad a las condiciones de funcionamiento del conjunto de electrodos de membrana utilizado en pilas de combustible PEM
GB/T 3789.9-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos transmisores. Métodos de medición de la potencia máxima de disipación de la red.
GB/T 3789.23-1991 Mediciones de las propiedades eléctricas de los tubos transmisores. Métodos de medición de la capacidad de control de la red No3.
GB/T 24196-2009 Corrosión de metales y aleaciones. Métodos de prueba electroquímica. Pautas para la realización de mediciones de polarización potenciostática y potenciodinámica.

British Standards Institution (BSI), Tensión de prueba de dos electrodos

BS EN 61243-3:1999 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Tipo bipolar de baja tensión
BS EN 61243-3:2010 Vivir trabajando. Detectores de voltaje. Tipo bipolar de bajo voltaje
BS EN 61243-3:2014 Vivir trabajando. Detectores de voltaje. Tipo bipolar de bajo voltaje
BS IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
BS IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
BS 6043-3.6:2000 Métodos de muestreo y ensayo de materiales carbonosos utilizados en la fabricación de aluminio. Electrodos. Determinación de la resistividad eléctrica de bloques catódicos y ánodos precocidos a temperatura ambiente.
BS 6043-3.2:1997 Métodos de muestreo y ensayo de materiales carbonosos utilizados en la fabricación de aluminio. Electrodos. Determinación de la densidad de bloques catódicos y ánodos precocidos.
PD IEC/TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación
BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
BS IEC 60747-5-11:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
BS 6043-3.1.2:1999 Métodos de muestreo y ensayo de materiales carbonosos utilizados en la fabricación de aluminio. Electrodos. Muestreo. Muestreo de ánodos
BS 6043-3.1.1:1999 Métodos de muestreo y ensayo de materiales carbonosos utilizados en la fabricación de aluminio. Electrodos. Muestreo. Muestreo de cátodos
21/30408318 DC BS ISO 3079. Un método de dos electrodos que utiliza ácido acético para medir el potencial de picaduras de aluminio y aleaciones de aluminio en soluciones de cloruro.
BS EN ISO 2376:2019 Cambios rastreados. Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y la tensión soportada.
18/30367363 DC BSIEC 60747-5-8. Dispositivos semiconductores. Parte 5-8. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
BS 6043-3.3:2000 Métodos de muestreo y ensayo de materiales carbonosos utilizados en la fabricación de aluminio - Electrodos - Determinación de la densidad aparente (densidad aparente) de bloques catódicos y ánodos precocidos mediante un método dimensional
PD IEC TR 60747-5-12:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias LED.
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11. Dispositivos semiconductores. Parte 5-11. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
BS EN 62116:2014 Inversores fotovoltaicos interconectados a la red pública. Procedimiento de prueba de las medidas de prevención de aislamiento.
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16. Dispositivos semiconductores - Parte 5-16. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de fotocorriente.
20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15. Dispositivos semiconductores. Parte 5-15. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.

Professional Standard - Military and Civilian Products, Tensión de prueba de dos electrodos

WJ 2100-2004 Método de prueba para fotodiodos de silicio y fotodiodos de avalancha de silicio.
WJ 2506-1998 Reglamento de verificación para el probador dinámico de fotodiodos

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Tensión de prueba de dos electrodos

HD 48 S1-1988 Pruebas de Impulso en Cables y sus Accesorios
EN 61243-3:2010 Trabajo en tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión (Permanece en corriente)
EN 61243-3:2014 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión
EN 60230:2002 Pruebas de Impulso en Cables y sus Accesorios

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Tensión de prueba de dos electrodos

JJG(电子) 04033-1989 Regulaciones de verificación del probador de circuito integrado de lógica bipolar tipo BJ3123
JJG(电子) 04018-1988 Regulaciones de verificación de prueba de instrumento estándar de voltaje de ruptura inversa de transistor bipolar BJ2901
JJG(电子) 04026-1989 Regulaciones de verificación del probador de voltaje de mantenimiento de triodo de cristal tipo BJ2985
JJG(电子) 04017-1988 Regulaciones de verificación de prueba de instrumento estándar de medición de corriente de corte inverso de transistor bipolar BJ2900

CU-NC, Tensión de prueba de dos electrodos

NC 66-29-1984 Electrónica. Métodos de medición de transistores bipolares
NC 66-17-1987 Industria Electrotécnica y Electrónica. Transistores Bipolares de Alta Tensión y Media Potencia. Especificaciones de calidad
NC 66-18-1984 Electrónica. Transistores bipolares de media potencia y alto voltaje Tipos BC 328 y BC 338. Especificaciones de calidad
NC 66-19-1984 Electrónica. Transistores bipolares de media potencia y alto voltaje, tipos BD 135, BD 136, 3D 137, BD 138, BD 139 y BD 140. Especificaciones de calidad

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Tensión de prueba de dos electrodos

JIS C 7041:1982 Métodos de medición para circuitos integrados digitales bipolares.
JIS Z 8752:1989 Métodos de medición de bajas presiones mediante medidores de ionización de cátodo caliente y cátodo frío.

Professional Standard-Ships, Tensión de prueba de dos electrodos

CB/T 3794-2014 Métodos de prueba para las propiedades de las cerámicas piezoeléctricas. Prueba de resistencia de la unión del electrodo.
CB/T 3794-1997 Métodos de prueba para determinar la resistencia de la unión de electrodos cerámicos piezoeléctricos.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Tensión de prueba de dos electrodos

ASTM G187-18 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
ASTM G187-05 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
ASTM G187-12 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
ASTM G187-12a Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método de caja de suelo de dos electrodos
ASTM G5-94(2004) Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM G5-94(1999)e1 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM G5-94 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM G5-94(1999) Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM D1816-12 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos VDE
ASTM G5-14(2021) Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM D1816-12(2019) Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos VDE
ASTM D877-00 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM D877-87(1995) Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM D877-02e1 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM D877-02 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM D877/D877M-19 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM D877-02(2007) Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM G5-14e1 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM G5-14 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM G5-94(2011)e1 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM D877/D877M-13 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de líquidos aislantes utilizando electrodos de disco
ASTM G5-13e2 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM G5-13 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM G59-97e1 Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G59-97(2009) Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G5-12 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciostática y potenciodinámica
ASTM D1816-97 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de aceites aislantes de origen petrolero utilizando electrodos VDE
ASTM G100-89(2004) Método de prueba estándar para realizar polarización de escalera galvanostera cíclica
ASTM D1816-03 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de aceites aislantes de origen petrolero utilizando electrodos VDE
ASTM D1816-04 Método de prueba estándar para voltaje de ruptura dieléctrica de aceites aislantes de origen petrolero utilizando electrodos VDE
ASTM D6120-97(2002) Método de prueba estándar para la resistividad eléctrica del material de carbono de ánodo y cátodo a temperatura ambiente
ASTM G5-13e1 Método de prueba de referencia estándar para realizar mediciones de polarización anódica potenciodinámica
ASTM D6120-97(2017)e1 Método de prueba estándar para la resistividad eléctrica del material de carbono de ánodo y cátodo a temperatura ambiente
ASTM G59-97(2003) Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G59-97(2020) Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G59-97(2014) Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G59-23 Método de prueba estándar para realizar mediciones de resistencia de polarización potenciodinámica
ASTM G57-95a(2001) Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
ASTM G57-95A Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
ASTM D6745-06(2011) Método de prueba estándar para la expansión térmica lineal de los carbonos de los electrodos
ASTM D6745-01 Método de prueba estándar para la expansión térmica lineal de los carbonos de los electrodos
ASTM D6745-06 Método de prueba estándar para la expansión térmica lineal de los carbonos de los electrodos
ASTM C1025-91(2005) Método de prueba estándar para el módulo de ruptura en la flexión del grafito del electrodo
ASTM C1025-15(2020) Método de prueba estándar para el módulo de ruptura en la flexión del grafito del electrodo
ASTM F1113-87(2005)e1 Método de prueba estándar para la medición electroquímica de hidrógeno difusible en aceros (electrodo de percebe)
ASTM G57-20 Método de prueba estándar para medir la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
ASTM G57-06(2012) Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
ASTM F1113-87(2011) Método de prueba estándar para la medición electroquímica de hidrógeno difusible en aceros (electrodo de percebe)
ASTM G57-06 Método de prueba estándar para la medición en campo de la resistividad del suelo utilizando el método Wenner de cuatro electrodos
ASTM E70-97 Método de prueba estándar para pH de soluciones acuosas con electrodo de vidrio
ASTM E70-19 Método de prueba estándar para pH de soluciones acuosas con electrodo de vidrio
ASTM E70-07 Método de prueba estándar para pH de soluciones acuosas con electrodo de vidrio
ASTM F1113-87(1999) Método de prueba estándar para la medición electroquímica de hidrógeno difusible en aceros (electrodo de percebe)
ASTM D7148-19 Método de prueba estándar para determinar la resistividad iónica (ER) del separador de baterías alcalinas utilizando un electrodo de carbono en un sistema de medición de baño de electrolito
ASTM D7148-19a Método de prueba estándar para determinar la resistividad iónica (ER) del separador de baterías alcalinas utilizando un electrodo de carbono en un sistema de medición de baño de electrolito
ASTM F769-00 Método de prueba estándar para medir corrientes de fuga de transistores y diodos (retirado en 2006)
ASTM D5288-97(2004) Método de prueba estándar para determinar el índice de seguimiento de materiales aislantes eléctricos utilizando diversos materiales de electrodos (excluido el platino)
ASTM D1830-17 Método de prueba estándar para la resistencia térmica de materiales en láminas flexibles utilizados para aislamiento eléctrico mediante el método del electrodo curvo
ASTM B764-04 Método de prueba estándar para la determinación simultánea del espesor y el potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)
ASTM B764-04(2021) Método de prueba estándar para la determinación simultánea del espesor y el potencial del electrodo de capas individuales en depósitos multicapa de níquel (prueba STEP)

HU-MSZT, Tensión de prueba de dos electrodos

MNOSZ 1301-1952 K OV?C SSZ E RSZ?MOK ?LL?T?KE
MSZ 20862-1958 ¿FESZ?LTS?GK?MLEL? ?SP?LUSKERES? ¿ER?S?RAM? VILLAMOS BERENDEZ?SEK SZ?M?RA 600 V-ig
MSZ 451-1963 ¿ER?S?RAM? VILLAMOS SZEREL?SI ANYAGOK 1000 V-igr és 200 A-ig ?ltalános m?szaki és vizsgálati el?írások
MSZ 05 33.0505-1984 MSZ-05 33.0505 T (80.11.) PORB?L?S? ¿CABLES ELÉCTRICOS AC? ¿SOLUCIONES CUBIERTAS? ¿CARGA AUTOMÁTICA? SOLDAR A

RO-ASRO, Tensión de prueba de dos electrodos

STAS 12123/3-1983 Dispositivos semiconductores DIODOS DE REFERENCIA DE TENSIÓN Y DIODOS REGULADORES DE TENSIÓN Métodos de medición de características eléctricas
STAS 3184-1969
STAS 12124/1-1982 Dispositivos semiconductores TRANZISTORES BIPOLARES Métodos para medir parámetros eléctricos estáticos.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Tensión de prueba de dos electrodos

IPC TM-650 2.6.25B-2016 Prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF): eje XY
IPC TM-650 2.6.25A-2012 Prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF): eje XY
IPC 9691A CHINESE-2007 Guía del usuario para la prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF) del método IPC-TM-650@ 2.6.25@ (prueba de migración electroquímica)
IPC 9691A CD-2007 Guía del usuario para la prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF) del método IPC-TM-650@ 2.6.25@ (prueba de migración electroquímica)
IPC 9691A CHINESE CD-2007 Guía del usuario para la prueba de resistencia del filamento anódico conductor (CAF) del método IPC-TM-650@ 2.6.25@ (prueba de migración electroquímica)
IPC 9691B CHINESE-2016 Guía del usuario para el método IPC-TM-650@ 2.6.25@ Resistencia del filamento anódico conductor (CAF) y otras pruebas de migración electroquímica interna

国家能源局, Tensión de prueba de dos electrodos

NB/T 42082-2016 Método de prueba de electrodos de batería de flujo redox totalmente de vanadio
NB/T 42146-2018 Métodos de prueba para electrodos, separadores y electrolitos de baterías de flujo de zinc-bromo

SE-SIS, Tensión de prueba de dos electrodos

SIS SS 428 91 05-1985 Comprobadores de tensión po/e portátiles individuales para la tensión más alta del sistema de 3,6 - 420 kV - Diseño y pruebas
SIS SS 428 91 05-1982 Comprobadores de tensión unipolares portátiles para tensión de sistema hes t de 3,6 - 420 kV h/g - Diseño y pruebas
SIS SS-ISO 2376:1985
SIS SS 428 91 06-1982 Comprobadores de tensión portátiles bipolares para 110-440 V ac y de. - Diseño y pruebas
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International Electrotechnical Commission (IEC), Tensión de prueba de dos electrodos

IEC 61243-3:2014 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión
IEC 61243-3:1998 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión
IEC 61243-3/COR1:2000 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión
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CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Tensión de prueba de dos electrodos

EN 61243-3:1998 Trabajo en vivo - Detectores de voltaje - Parte 3: Tipo bipolar de bajo voltaje (que incorpora el corrigendum de febrero de 2002)

Danish Standards Foundation, Tensión de prueba de dos electrodos

DS/EN 61243-3:2010

KR-KS, Tensión de prueba de dos electrodos

KS C IEC 61243-3-2017 Trabajo en vivo －Detectores de voltaje －Parte 3: Tipo bipolar de bajo voltaje
KS D ISO 17475-2017 Corrosión de metales y aleaciones－Métodos de prueba electroquímicos－Directrices para realizar mediciones de polarización potenciostática y potenciodinámica

未注明发布机构, Tensión de prueba de dos electrodos

BS EN 61243-3:2014(2015) Trabajo bajo tensión. Detectores de tensión. Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión.

AENOR, Tensión de prueba de dos electrodos

UNE-EN 61243-3:2015 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión

Professional Standard - Machinery, Tensión de prueba de dos electrodos

JB/T 6307.4-1992 Método de prueba para módulo semiconductor de potencia Brazo y par de brazos de transistor bipolar
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German Institute for Standardization, Tensión de prueba de dos electrodos

DIN 51919:2013-05 Ensayos de materiales carbonosos - Determinación de la resistividad eléctrica de electrodos según el método corriente-tensión - Materiales sólidos
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DIN EN ISO 2376:2019-07 Anodizado de aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y de la tensión soportada (ISO 2376:2019); Versión alemana EN ISO 2376:2019
DIN IEC 62088:2002-09 Instrumentación nuclear. Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba (IEC 62088:2001).
DIN EN ISO 2376:2019 Anodizado de aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y de la tensión soportada (ISO 2376:2019)
DIN EN ISO 2376:2010 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del potencial de ruptura eléctrica (ISO 2376:2010); Versión alemana EN ISO 2376:2010
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DIN EN 61243-3:2015 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión (IEC 61243-3:2014 + Cor.:2015); Versión alemana EN 61243-3:2014
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United States Navy, Tensión de prueba de dos electrodos

NAVY MIL-PRF-28800 F-1996 EQUIPO DE PRUEBA PARA USO CON EQUIPOS ELÉCTRICOS Y ELECTRÓNICOS, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Tensión de prueba de dos electrodos

IEEE Std C37.103-1990 Guía para pruebas de circuitos de relés diferenciales y polarizadores.
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IEEE PC37.103/D5, July 2014 Borrador de guía IEEE para pruebas de circuitos de relés diferenciales y polarizadores
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IEEE PC37.103/D7.0, April 2015 Borrador de guía aprobado por IEEE para pruebas de circuitos de relés diferenciales y polarizadores
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IEEE P433/D8, October 2021 Borrador de práctica recomendada del IEEE para pruebas de aislamiento de maquinaria eléctrica de CA con clasificación de alto voltaje de hasta 30 kV a muy baja frecuencia
IEEE PC37.45/D5, June 2015 Borrador de pruebas y especificaciones de diseño estándar del IEEE para interruptores de aire unipolares cerrados de clase de distribución de alto voltaje (> 1000 V)
IEEE PC37.45/D6, December 2015 Borrador de pruebas y especificaciones de diseño estándar aprobado por IEEE para interruptores de aire unipolares cerrados de clase de distribución de alto voltaje (> 1000 V)

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Tensión de prueba de dos electrodos

IEEE C37.103-1990 Guía para pruebas de circuitos de relés diferenciales y polarizadores
IEEE C37.103-2004 Guía para pruebas de circuitos de relés diferenciales y polarizadores
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工业和信息化部, Tensión de prueba de dos electrodos

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ZA-SANS, Tensión de prueba de dos electrodos

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AR-IRAM, Tensión de prueba de dos electrodos

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TR-TSE, Tensión de prueba de dos electrodos

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International Organization for Standardization (ISO), Tensión de prueba de dos electrodos

ISO 2376:2019 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y de la tensión soportada.
ISO 3079:2022 Método de dos electrodos que utiliza ácido acético para medir el potencial de picaduras de aluminio y aleaciones de aluminio en soluciones de cloruro.
ISO 2376:2010 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del potencial de ruptura eléctrica.

YU-JUS, Tensión de prueba de dos electrodos

JUS N.R1.115-1977 Tubos electrónicos. Medidas de las propiedades eléctricas. Métodos de medición de corrientes de electrodos espurias y no deseadas.
JUS N.B2.762-1990 Instalaciones eléctricas de baja tensión. Verificación de condiciones de protección por desconexión automática de suministro, Medición de resistencia del electrodo de tierra
JUS C.T7.240-1984 Oxidación anódica de aluminio y aleaciones de aluminio. Control del aislamiento mediante medición del potencial de ruptura

American National Standards Institute （ANSI), Tensión de prueba de dos electrodos

ANSI/EIA 307:1992 Regulador de voltaje Diodo Ruido Medición de voltaje / Nota: Aprobado el 2002-04-00.
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Lithuanian Standards Office , Tensión de prueba de dos electrodos

LST EN 61243-3-2010 Trabajo bajo tensión - Detectores de tensión - Parte 3: Tipo bipolar de baja tensión (IEC 61243-3:2009)
LST EN 62374-2008 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007)

ES-UNE, Tensión de prueba de dos electrodos

UNE-EN ISO 2376:2019 Anodizado de aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y de la tensión soportada (ISO 2376:2019)

TH-TISI, Tensión de prueba de dos electrodos

TIS 1971-2000 Dispositivos semiconductores, dispositivos discretos, parte 3: sección de diodos reguladores y de señal (incluida la conmutación), especificación detallada en dos espacios en blanco para diodos reguladores de voltaje y diodos de referencia de voltaje, excluidos los diodos de referencia de precisión con compensación de temperatura

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PT-IPQ, Tensión de prueba de dos electrodos

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Society of Automotive Engineers (SAE), Tensión de prueba de dos electrodos

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European Committee for Standardization (CEN), Tensión de prueba de dos electrodos

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EN ISO 2376:2019 Anodizado de aluminio y sus aleaciones. Determinación de la tensión de ruptura y de la tensión soportada (ISO 2376:2019)
EN ISO 2376:2010 Anodizado del aluminio y sus aleaciones. Determinación del potencial de ruptura eléctrica (ISO 2376:2010)

CO-ICONTEC, Tensión de prueba de dos electrodos

ICONTEC 2975-1991 Electrotecnia. Método de ensayo para determinar la tensión de ruptura dieléctrica en líquidos aislantes utilizando electrodos de disco.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Tensión de prueba de dos electrodos

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Indonesia Standards, Tensión de prueba de dos electrodos

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IEC - International Electrotechnical Commission, Tensión de prueba de dos electrodos

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AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, Tensión de prueba de dos electrodos

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Professional Standard - Electricity, Tensión de prueba de dos electrodos

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The American Road & Transportation Builders Association, Tensión de prueba de dos electrodos

AASHTO T 200-1979 Método estándar de prueba de pH de soluciones acuosas con electrodo de vidrio

National Association of Corrosion Engineers (NACE), Tensión de prueba de dos electrodos

NACE TM0190-2006 Pruebas de laboratorio de corriente impresionada de ánodos de aleación de aluminio Artículo n.º: 21221
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TIA - Telecommunications Industry Association, Tensión de prueba de dos electrodos

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European Association of Aerospace Industries, Tensión de prueba de dos electrodos

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BE-NBN, Tensión de prueba de dos electrodos

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