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Método de escaneo de rayos X SEM

Método de escaneo de rayos X SEM, Total: 141 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de escaneo de rayos X SEM son: Equipo óptico, Protección contra el crimen, Educación, Química analítica, Medidas lineales y angulares., Física. Química, Óptica y medidas ópticas., Pinturas y barnices, Vocabularios, Pruebas no destructivas, Equipo medico, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Tratamiento superficial y revestimiento., Metrología y medición en general., Optoelectrónica. Equipo láser, Metales no ferrosos, Fibras textiles, Calidad del aire, Productos de hierro y acero., Cerámica, Aplicaciones de la tecnología de la información., Compatibilidad electromagnética (CEM), Sistemas de vehículos de carretera, Ingredientes de pintura.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Método de escaneo de rayos X SEM

GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 17362-1998
GB/T 17359-1998
GB/T 17361-1998
GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/T 25758.1-2010 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 32869-2016 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.

Professional Standard - Judicatory, Método de escaneo de rayos X SEM

SF/T 0139-2023

国家能源局, Método de escaneo de rayos X SEM

NB/T 10122-2018 Métodos de obtención de imágenes y exploración por tomografía computarizada con rayos X de esquisto de barro
SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Public Safety Standards, Método de escaneo de rayos X SEM

GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Método de escaneo de rayos X SEM

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

Professional Standard - Machinery, Método de escaneo de rayos X SEM

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Método de escaneo de rayos X SEM

KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, Método de escaneo de rayos X SEM

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Método de escaneo de rayos X SEM

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

International Organization for Standardization (ISO), Método de escaneo de rayos X SEM

ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Professional Standard - Commodity Inspection, Método de escaneo de rayos X SEM

SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.
SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Método de escaneo de rayos X SEM

ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E3284-23 Standard Practice for Training in the Forensic Examination of Primer Gunshot Residue (pGSR) Using Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM/EDS)
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2767-13(2018) Práctica estándar para imágenes y comunicación digitales en evaluación no destructiva (DICONDE) para métodos de prueba de tomografía computarizada (CT) de rayos X
ASTM E2767-21 Práctica estándar para imágenes y comunicación digitales en evaluación no destructiva (DICONDE) para métodos de prueba de tomografía computarizada (CT) de rayos X
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2767-13 Práctica estándar para imágenes y comunicación digitales en evaluación no destructiva 40;DICONDE41; para tomografía computarizada de rayos X 40;CT41; Métodos de prueba
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2012)

Professional Standard - Petroleum, Método de escaneo de rayos X SEM

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Método de escaneo de rayos X SEM

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Método de escaneo de rayos X SEM

DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz
DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.
DB44/T 1215-2013 Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de energía

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Método de escaneo de rayos X SEM

GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido

RU-GOST R, Método de escaneo de rayos X SEM

GOST R 56109-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafos por emisión de positrones junto con equipos de rayos X para tomografía computarizada. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R IEC 60601-2-44-2013 Equipos eléctricos médicos. Parte 2-44. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada.

GOSTR, Método de escaneo de rayos X SEM

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Group Standards of the People's Republic of China, Método de escaneo de rayos X SEM

T/CSIQ 3103-2015 Método de tomografía computarizada por rayos X para probar la microestructura interna de obras de arte cerámicas.
T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos

SE-SIS, Método de escaneo de rayos X SEM

SIS SS-ISO 9220:1989

工业和信息化部, Método de escaneo de rayos X SEM

YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Método de escaneo de rayos X SEM

GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.

ES-UNE, Método de escaneo de rayos X SEM

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN 60601-2-44:2009/A2:2016 Equipos electromédicos - Parte 2-44: Requisitos particulares para la seguridad básica y prestaciones esenciales de los equipos de rayos X para tomografía computarizada (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
UNE-EN 60601-2-44:2009/A1:2012 Equipos electromédicos - Parte 2-44: Requisitos particulares para la seguridad básica y prestaciones esenciales de los equipos de rayos X para tomografía computarizada (Ratificada por AENOR en diciembre de 2012.)

Danish Standards Foundation, Método de escaneo de rayos X SEM

DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
DS/EN 12543-1:2002 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo.
DS/EN 60601-2-44/A11:2011
DS/EN 60601-2-44:2009
DS/EN 60601-2-44/A1:2012 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada

Association Francaise de Normalisation, Método de escaneo de rayos X SEM

FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos - Características de los focos emisores de los tubos de rayos X industriales utilizados en ensayos no destructivos - Parte 1: método de escaneo
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 Pruebas no destructivas. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para uso en ensayos no destructivos. Parte 1: método de escaneo
NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 Equipos eléctricos médicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 1: determinación del tamaño del campo de entrada.
NF EN 60601-2-44/A2:2016 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X por tomografía computarizada
NF EN 60601-2-44/A1:2012 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X por tomografía computarizada
NF EN 60601-2-44/A11:2012 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X por tomografía computarizada
NF EN 60601-2-44:2009 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X por tomografía computarizada
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

British Standards Institution (BSI), Método de escaneo de rayos X SEM

BS ISO 23159:2020 Pruebas no destructivas. Método de escaneo de rayos gamma en columnas de proceso.
BS EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos - Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos - Método de escaneo
BS EN 12543-1:1999(2008) Ensayos no destructivos - Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos - Método de escaneo
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
19/30373364 DC BS ISO 23159. Ensayos no destructivos. Método de escaneo de rayos gamma en columnas de proceso.
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS EN 60601-2-44:2009+A2:2016 Equipos electromédicos: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada
BS EN 60601-2-44:2009 Equipos electromédicos: requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada
BS EN 60601-2-44:2009+A11:2011 Equipos eléctricos médicos. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada.
BS EN 60601-2-44:2009+A1:2012 Equipos eléctricos médicos. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada.

German Institute for Standardization, Método de escaneo de rayos X SEM

DIN EN 12543-1:1999-12 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo; Versión alemana EN 12543-1:1999
DIN EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo; Versión alemana EN 12543-1:1999
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN 16016-4:2012 Ensayos no destructivos - Métodos de radiación - Tomografía computarizada - Parte 4: Calificación; Versión alemana EN 16016-4:2011

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Método de escaneo de rayos X SEM

GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido

Lithuanian Standards Office , Método de escaneo de rayos X SEM

LST EN 12543-1-2001 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo.

AENOR, Método de escaneo de rayos X SEM

UNE-EN 12543-1:2000 ENSAYO NO DESTRUCTIVO - CARACTERÍSTICAS DE LOS PUNTOS FOCALES EN SISTEMAS INDUSTRIALES DE RAYOS X PARA SU USO EN ENSAYO NO DESTRUCTIVO - PARTE 1: MÉTODO DE ESCANEO.
UNE-EN 60601-2-44:2010/A11:2012 Equipos eléctricos médicos - Parte 2-44: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada

European Committee for Standardization (CEN), Método de escaneo de rayos X SEM

EN 12543-1:1999

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Método de escaneo de rayos X SEM

JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

American National Standards Institute （ANSI), Método de escaneo de rayos X SEM

ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

IEC - International Electrotechnical Commission, Método de escaneo de rayos X SEM

IEC 60601-2-44/AMD1:2001 Enmienda 1 Equipos electromédicos - Parte 2-44: Requisitos particulares para la seguridad de los equipos de rayos X para tomografía computarizada (Edición 2.0)

Standard Association of Australia （SAA）, Método de escaneo de rayos X SEM

AS/NZS IEC 60601.2.44:2022 Equipos eléctricos médicos, Parte 2.44: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de rayos X para tomografía computarizada

Professional Standard - Post and Telecommunication, Método de escaneo de rayos X SEM

YD/T 1690.3-2007 Interior de equipos de telecomunicaciones - Medición de emisiones electromagnéticas - 150 KHz a 1 GHz Parte 3 Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie

Society of Automotive Engineers (SAE), Método de escaneo de rayos X SEM

SAE J1752-2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz