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Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única
Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única, Total: 21 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única son: Equipos e instrumentos a bordo., Medidas lineales y angulares..
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única
- IEEE 517-1974 Guía de formato de especificación y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 517-1973 Guía de formato de especificación estándar y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 517 ERTA-2014 Fe de erratas en la guía de formato de especificación y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 517 ERTA-2008 Guía de formato de especificación estándar y procedimiento de prueba para giroscopios integradores de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 529 ERTA-2010 Fe de erratas para complementar aplicaciones de reducción de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimientos de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 529 ERTA-2014 Fe de erratas para complementar aplicaciones de reducción de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimientos de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 529 SUPP-1980 Suplemento para aplicaciones Strapdown de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad (Suplemento de IEEE Std 517-1974 @ R1980)
- IEEE 529 CORR 1-2017 Suplemento para aplicaciones Strapdown de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad Corrigendum 1: 3.3.9.2.2@ 3.6.4.1.1@ 3.6.4.1.2@ 6.3@ y 10.10 .4.1
American National Standards Institute (ANSI), Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única
- ANSI/IEEE 529:1980 Suplemento para aplicaciones de ajuste de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- ANSI/IEEE 517:1974 Giroscopios con integración de velocidad de un solo grado de libertad, guía de formato de especificación y procedimiento de prueba para
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Guía de formato de especificación y procedimientos de prueba para giroscopios integrados de tasa de libertad única
- IEEE Std 517-1974 Guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 529-1980 Suplemento de aplicaciones de ajuste a la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios integradores de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE Std 529-1980 Suplemento para aplicaciones de ajuste de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE 529/SUPP-1980 Suplemento para aplicaciones Strapdown de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad Suplemento de IEEE Std 517-1974, R1980
- ANSI/IEEE Std 813-1988 Guía de formato de especificación IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios sintonizados dinámicamente con dos grados de libertad
- IEEE 529/SUPP-1979 Suplemento para aplicaciones Strapdown de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad Suplemento de IEEE Std 517-1974, R1980 R(2000)
- IEEE P529/Cor1/D06, February 2017 Borrador del suplemento estándar del IEEE para aplicaciones de correa para la guía de formato de especificación estándar del IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad - Corrigendum 1: 3.3.9.2.2, 3.6.4.1.1, 3.6.4.1.2, 6.3 y 10.10.4.1
- IEEE Std 529-1980/Cor 1-2017 Suplemento del estándar IEEE para aplicaciones de correa para la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimiento de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad - Corrigendum 1: 3.3.9.2.2, 3.6.4.1.1, 3.6.4.1.2, 6.3 y 10.10.4.1
- IEEE 529/COR-2010 Fe de erratas para complementar aplicaciones de reducción de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimientos de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad
- IEEE P1293/D29a1, August 2018 Borrador de especificación estándar aprobado por IEEE, guía de formato y procedimiento de prueba para acelerómetros lineales, de un solo eje y no giroscópicos
- IEEE 529/COR-2014 Fe de erratas para complementar aplicaciones de reducción de la guía de formato de especificación estándar IEEE y procedimientos de prueba para giroscopios de integración de velocidad de un solo grado de libertad