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Láser semiconductor doméstico

Láser semiconductor doméstico, Total: 43 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Láser semiconductor doméstico son: Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo medico, Aplicaciones de la tecnología de la información., Comunicaciones de fibra óptica., Pruebas ambientales, Química analítica.


British Standards Institution (BSI), Láser semiconductor doméstico

  • BS IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
  • BS IEC 60747-5-4:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
  • 19/30404095 DC BS EN IEC 60747-5-4. Dispositivos semiconductores. Parte 5-4. Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
  • 23/30473272 DC BS IEC 60747-5-4 AMD 1. Dispositivos semiconductores - Parte 5-4. Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores
  • BS ISO 17915:2018 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.
  • BS EN 61207-7:2013 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
  • BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
  • BS IEC 60747-5-9:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura.
  • BS IEC 60747-5-10:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en el punto de referencia de temperatura ambiente.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Láser semiconductor doméstico

  • GB/T 31358-2015 Especificaciones generales para láseres semiconductores.
  • GB/T 31359-2015 Métodos de prueba de láseres semiconductores.
  • GB 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos Láseres semiconductores
  • GB/T 21548-2008 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.
  • GB/T 18904.2-2002 Dispositivos semiconductores-Parte 12-2: Dispositivos optoelectrónicos-Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas o subsistemas de fibra óptica

Group Standards of the People's Republic of China, Láser semiconductor doméstico

International Electrotechnical Commission (IEC), Láser semiconductor doméstico

  • IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
  • IEC 60747-5-4:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
  • IEC 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
  • IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables; Corrección 1
  • IEC 60747-12-2:1995 Dispositivos semiconductores - Parte 12: Dispositivos optoelectrónicos - Sección 2: Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas y subsistemas de fibra óptica

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Láser semiconductor doméstico

国家药监局, Láser semiconductor doméstico

  • YY/T 1751-2020 Equipo de tratamiento con láser instrumento de terapia de irradiación intranasal con láser semiconductor

IET - Institution of Engineering and Technology, Láser semiconductor doméstico

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Láser semiconductor doméstico

  • GB/T 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.

Professional Standard - Electron, Láser semiconductor doméstico

  • SJ 50033/109-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para los diodos láser semiconductores tipos GJ9031T, GJ9032T y GJ9034T.
  • SJ/T 11856.3-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 3: Chips láser semiconductores modulados por absorción eléctrica para fuentes de luz
  • SJ/T 11856.2-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 2: Chips láser semiconductores de emisión superficial de cavidad vertical para fuentes de luz
  • SJ/T 11402-2009 Especificación técnica del chip láser semiconductor utilizado en comunicaciones por fibra óptica.
  • SJ/T 11856.1-2022 Especificaciones técnicas para chips láser semiconductores para comunicaciones por fibra óptica Parte 1: Chips láser semiconductores de tipo Fabry-Perot y de retroalimentación distribuida para fuentes de luz

International Organization for Standardization (ISO), Láser semiconductor doméstico

  • ISO/TS 17915:2013 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.
  • ISO 17915:2018 Óptica y fotónica: método de medición de láseres semiconductores para detección.

American National Standards Institute (ANSI), Láser semiconductor doméstico

Professional Standard - Post and Telecommunication, Láser semiconductor doméstico

  • YD/T 1687.1-2007 Requisitos técnicos del conjunto de láser semiconductor de alta velocidad para comunicación por fibra óptica Parte 1: Conjunto de láser semiconductor de modulación directa refrigerado de 2,5 Gbit/s
  • YD/T 1687.2-2007 Requisitos técnicos del conjunto de láser semiconductor de alta velocidad para comunicación por fibra óptica Parte 2: Conjunto de láser semiconductor de modulación directa no refrigerado de 2,5 Gbit/s

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Láser semiconductor doméstico

  • TIA-455-128-1996 Procedimientos para determinar la corriente umbral de láseres semiconductores
  • TIA-455-128-1996(2014) Procedimientos para determinar la corriente umbral de láseres semiconductores

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Láser semiconductor doméstico

  • GB/T 21548-2021 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Láser semiconductor doméstico

  • DB13/T 5120-2019 Especificaciones para la prueba de rendimiento de CC de chips láser semiconductores FP y DFB para comunicación óptica

European Committee for Standardization (CEN), Láser semiconductor doméstico

  • CWA 17857:2022 Sistema adaptador basado en lentes para acoplar fibra óptica a láseres semiconductores infrarrojos

Association Francaise de Normalisation, Láser semiconductor doméstico

RU-GOST R, Láser semiconductor doméstico

  • GOST R 59740-2021 Óptica y fotónica. Láseres semiconductores para la determinación de bajas concentraciones de sustancias. Métodos para medir características.

German Institute for Standardization, Láser semiconductor doméstico

  • DIN EN 61207-7:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables (IEC 61207-7:2013); Versión alemana EN 61207-7:2013




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