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Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

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British Standards Institution (BSI), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• BS ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• DD ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• BS ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• BS DD ISO/TS 13762:2002 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• BS ISO 23484:2023 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• 22/30441138 DC BS ISO 23484. Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• BS ISO 20804:2022 Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• 21/30372607 DC BS ISO 20804. Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• ISO/FDIS 23484 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• ISO 23484:2023 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• ISO 20804:2022 Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
• ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• T/CSCM 05-2020 Medición de microhuecos en fibras Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• GB/T 13221-1991 Polvo ultrafino--Determinación de la distribución del tamaño de partículas--Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
• GB/T 13221-2004 Polvo nanométrico. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño.
• GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
• GB/T 19140-2003 Reglas tecnológicas para el análisis de fluorescencia de rayos X de cementos.
• GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
• GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"

German Institute for Standardization, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
• DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
• DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
• DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo
• DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados

PT-IPQ, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

RU-GOST R, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• GOST 25645.118-1984 Rayos X cósmicos de fuentes discretas. Espectros de energía y coordenadas angulares.
• GOST 25645.117-1984 Radiación gamma y X difusa extragaláctica. Características de las distribuciones angulares y de energía.
• GOST 25645.131-1986 Gamma difusa galáctica y rayos X. Características de las distribuciones angulares y de energía.
• GOST 28033-1989 Acero. Método de análisis de fluorescencia de rayos X.
• GOST R 55410-2013 Refractario. Análisis por fluorescencia de rayos X (XRF)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• ASTM E1621-05 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
• ASTM E1621-21 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
• ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
• ASTM E1621-13 Guía estándar para el análisis elemental mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
• KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
• KS M 0017-2010 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
• KS L 5222-2009 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
• KS D 1898-1993 Método para el análisis de rayos X fluorescentes de aleaciones de cobre.

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil
• EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
• EJ/T 1067-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de americio-241 para rayos X
• EJ/T 1068-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de plutonio-238 para rayos X

工业和信息化部, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
• YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
• NF S92-502:2006 Laboratorio de análisis de biología médica - Antroporadiamétricos - Conteos de pulmones - Mediciones de emisores X y gamma de baja energía (menos de 200 keV).
• XP A06-379-1999 Directrices para la preparación de métodos de rutina estándar con espectrometría de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
• YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
• JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
• JIS M 8205:1983 Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
• JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
• JIS G 1256:1982 Método de análisis de rayos X de fluorescencia del acero.

American National Standards Institute （ANSI), Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Professional Standard - Machinery, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• JB/T 9401-1999 Tubo de rayos X para análisis de fluorescencia con ventana lateral
• JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
• JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.

工业和信息化部/国家能源局, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• AS 4392.1:1996 Arenas minerales pesadas - Análisis por espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda - Arenas minerales titaníferas
• AS 4392.2:1997 Arenas minerales pesadas - Análisis por espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda - Materiales de circonio
• AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 Arenas minerales pesadas - Análisis por espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda - Arenas minerales titaníferas
• AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 Arenas minerales pesadas - Análisis por espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda - Arenas minerales titaníferas

Professional Standard - Electricity, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

未注明发布机构, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• BS 6870-3:1989(1999) Análisis de minerales de aluminio. Parte 3: Método de análisis de elementos múltiples mediante fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda.

Professional Standard - Building Materials, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• JC/T 1085-2008 Analizador de fluorescencia de rayos X para cemento.

IET - Institution of Engineering and Technology, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• ANALY MTL ANT SCATT-1994 Análisis de Antenas y Dispersores Metálicos

KR-KS, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• KS D 1655-2008(2019)(英文版) Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis de dispersión de ángulo pequeño de rayos X.

• GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

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