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Reflectómetro infrarrojo

Reflectómetro infrarrojo, Total: 10 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Reflectómetro infrarrojo son: Equipo óptico, Termodinámica y mediciones de temperatura., Plástica, pruebas de metales.


American Society for Testing and Materials (ASTM), Reflectómetro infrarrojo

  • ASTM E1791-96(2000) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
  • ASTM E1791-96(2008)e1 Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
  • ASTM E1791-96(2021) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
  • ASTM E1791-96(2014) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
  • ASTM E1862-97e1 Métodos de prueba estándar para medir y compensar la temperatura reflejada utilizando radiómetros de imágenes infrarrojas
  • ASTM E1862-97(2002)e1 Métodos de prueba estándar para medir y compensar la temperatura reflejada utilizando radiómetros de imágenes infrarrojas
  • ASTM E1862-14 Práctica estándar para medir y compensar la temperatura reflejada mediante radiómetros de imágenes infrarrojas
  • ASTM F2778-09 Método de prueba estándar para medir el porcentaje de cristalinidad de polímeros de polieteretercetona (PEEK) mediante espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier de reflectancia especular (R-FTIR)
  • ASTM E1862-97(2010) Métodos de prueba estándar para medir y compensar la temperatura reflejada utilizando radiómetros de imágenes infrarrojas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Reflectómetro infrarrojo

  • GB/T 42905-2023 Método de reflexión infrarroja para medir el espesor de la capa epitaxial de carburo de silicio




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