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Barrena de paladio
Barrena de paladio, Total: 97 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Barrena de paladio son: Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Componentes electrónicos en general., Medidas lineales y angulares., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas..
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Barrena de paladio
- KS F 2319-2016 Método estándar para la investigación y muestreo de suelos mediante perforaciones con barrena.
- KS F 2319-1986 Método estándar para la investigación y muestreo de suelos mediante perforaciones con barrena.
- KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
- KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
- KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
- KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
- KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
- KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
- KS D ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
American Society for Testing and Materials (ASTM), Barrena de paladio
- ASTM E1127-91(1997) Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
- ASTM E1127-08(2015)
- ASTM E1127-08 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
- ASTM E827-07 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
- ASTM E984-95(2001) Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
- ASTM E984-95 Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
- ASTM E984-12(2020) Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
- ASTM E983-94(1999) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
- ASTM E983-10(2018) Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
- ASTM E983-05 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
- ASTM E983-19 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
- ASTM E983-10 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger
- ASTM E984-12 Guía estándar para identificar efectos químicos y efectos de matriz en espectroscopía electrónica Auger
- ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
- ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Barrena de paladio
- GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
- GB/T 29558-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica Auger. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
- GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
- GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
- GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
- GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
- GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
British Standards Institution (BSI), Barrena de paladio
- PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
- BS PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
- BS ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
- BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- BS ISO 24236:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
- BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
- BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
- BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
- BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
- BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
- BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
International Organization for Standardization (ISO), Barrena de paladio
- ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
- ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
- ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
- ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
- ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
- ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- ISO/TR 19319:2003
- ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
- ISO 18118:2015
- ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Barrena de paladio
- GB/T 36533-2018 Determinación del estado químico del microhierro en silicato: espectroscopía electrónica Auger
- GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
Association Francaise de Normalisation, Barrena de paladio
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES).
- NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de la escala de energía
- NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de escala de intensidad.
- NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
- NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Indicación de los métodos utilizados para el control y corrección de la carga
- NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
- NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
- NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
- NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Barrena de paladio
- JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Barrena de paladio
- GB/T 32565-2016 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopía electrónica Auger (AES)
- GB/T 32998-2016 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger: informes de los métodos utilizados para el control y la corrección de la carga.
Professional Standard - Electron, Barrena de paladio
- SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
U.S. Military Regulations and Norms, Barrena de paladio
German Institute for Standardization, Barrena de paladio
- DIN ISO 16242:2020 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES) (ISO 16242:2011); Texto en ingles
未注明发布机构, Barrena de paladio
- BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
- BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.
RU-GOST R, Barrena de paladio
- GOST R ISO 16242-2016 Sistema estatal para asegurar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
Standard Association of Australia （SAA）, Barrena de paladio
- AS ISO 18118:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos