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Análisis del analizador de espectro.

Análisis del analizador de espectro., Total: 433 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis del analizador de espectro. son: Combustibles, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Minerales metalíferos, Optoelectrónica. Equipo láser, Medicina de laboratorio, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Calidad del agua, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Metales no ferrosos, Componentes electrónicos en general., Pruebas eléctricas y electrónicas., Metales ferrosos, Minerales no metalíferos, Productos de metales no ferrosos., Metalurgia de polvos, Equipo medico, Estandarización. Reglas generales, Centrales eléctricas en general, ingeniería de energía nuclear, Ciencias de la información. Publicación, pruebas de metales, Educación, Equipo óptico, Calidad, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Medidas lineales y angulares., Productos de la industria química., Plásticos reforzados, Pruebas no destructivas, Ferroaleaciones, Productos de hierro y acero., Pruebas ambientales, Vocabularios, Equipos para trabajar la madera, Materiales de construcción, Gas natural, Refractarios, Fotografía.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis del analizador de espectro.

ASTM D7941/D7941M-23 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D7941/D7941M-14 Método de prueba estándar para análisis de pureza de hidrógeno utilizando un analizador de espectroscopia de anillo descendente de cavidad de onda continua
ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM C791-83(2000) Métodos de prueba estándar para análisis químico, espectrométrico de masas y espectroquímico de carburo de boro de grado nuclear
ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E718-80 Método para el análisis espectrográfico de cartuchos de latón.
ASTM C696-11 Métodos de prueba estándar para análisis químicos, espectrométricos de masas y espectroquímicos de polvos y gránulos de dióxido de uranio de grado nuclear

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis del analizador de espectro.

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico
CNS 12416-1988 Reglas generales para el análisis espectroscópico de emisión
CNS 14896-14-2005 Titanio - Método de análisis espectrométrico de emisión atómica
CNS 12416-2006 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica.
CNS 14896.14-2005 Titanio - Método de análisis espectrométrico de emisión atómica
CNS 10006-1984 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de hierro y acero.
CNS 9705-1984 Reglas generales para el análisis espectroscópico de emisión de hierro y acero
CNS 10503-1984 Análisis espectroscópico de emisión para arrabio y hierro fundido
CNS 11209-1995 Reglas generales para el análisis químico mediante espectrofotometría de absorción atómica

U.S. Air Force, Análisis del analizador de espectro.

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59112 A VALID NOTICE 1-2012 Analizador de Espectro 100 HZ a 1,8 GHZ
AIR FORCE A-A-59130 VALID NOTICE 1-2012 Analizador de Espectro 10 KHZ a 50 GHZ
AIR FORCE A-A-59130-1997 ANALIZADOR DE ESPECTRO DE 10 KHZ A 50 GHZ
AIR FORCE A-A-59112 A-2002 ANALIZADOR DE ESPECTRO 100 HZ A 1,8 GHZ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis del analizador de espectro.

KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS D 1681-2003 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de aluminio.
KS D 1684-2008 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-2008 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS C IEC 61207-6-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS M 0028-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión de luz.
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D 2086-2004 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
KS D 2518-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D ISO 3815-2002(2006) Zinc y aleaciones de zinc－Análisis espectrográfico
KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS D 1680-2008 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión fotográfica de materiales metálicos.
KS D ISO 3815:2011 Zinc y aleaciones de zinc－Análisis espectrográfico
KS D 2558-1995 Método para el análisis espectrográfico de emisión de tantalio.
KS D 2553-2015 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 1684-1993 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS D 1682-1993 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plomo.
KS D 1684-1985 Métodos para el análisis espectrográfico de emisión de lingotes de magnesio.
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 22309-2011(2016) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS M 0124-2011 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
KS D 1654-1993 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS D 1682-2020 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
KS D 1654-2003(2016) Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero.
KS D 2710-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroniobio.
KS D 2569-2005 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2568-2008 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2569-2016 Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS D 2553-2015(2020) Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS E 3030-2007(2012) Análisis espectroquímico de absorción atómica para minerales de hierro.
KS D 2568-2019 Tantalio－Método para análisis espectrométrico de absorción atómica
KS D 2569-2016(2021) Métodos para el análisis espectrométrico de emisión ICP de tantalio.
KS E 3030-1982 Análisis espectroquímico de absorción atómica para minerales de hierro.
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS M 0012-2009(2019) Reglas generales para el análisis absorciométrico molecular.
KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D 2518-2015 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
KS D 1655-1993 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de hierro y acero
KS M 0017-1995 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
KS D 1898-2019 Aleaciones de cobre: métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

European Committee for Standardization (CEN), Análisis del analizador de espectro.

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
PREN 14726-2003 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
CEN EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio. Análisis químico. Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa.
EN 12019:1997 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica

Association Francaise de Normalisation, Análisis del analizador de espectro.

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento del analizador de gases - Parte 6: analizadores fotométricos
NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF C46-256:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
NF A07-510X2:1975 ANÁLISIS DE ALUMINIO NO ALADO MEDIANTE ESPECTROGRAFÍA DE EMISIÓN.
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
NF EN ISO 23674:2022 Cosméticos - Métodos de análisis - Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
NF A07-510:1971 Análisis de aluminio no aleado mediante espectrografía de emisión.
NF A07-515:1971 Análisis de aleaciones de aluminio y cobre mediante espectrografía de emisión.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF A06-001:1979 Análisis de metales ligeros mediante espectrografía. Procesamiento de resultados de pruebas. Interpretación estadística.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.

British Standards Institution (BSI), Análisis del analizador de espectro.

BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 61207-6:2015 Cambios rastreados. Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores fotométricos
BS 6329:1982 Método de expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
PD ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de descarga luminosa. Procedimientos de operación
BS DD ISO/TS 25138:2011 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
BS EN ISO 23674:2022 Productos cosméticos. Métodos analíticos. Determinación directa de trazas de mercurio en cosméticos mediante descomposición térmica y espectrometría de absorción atómica (analizador de mercurio)
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.

International Electrotechnical Commission (IEC), Análisis del analizador de espectro.

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 60714:1981 Expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

Danish Standards Foundation, Análisis del analizador de espectro.

DS/EN 62129/Corr. 1:2007
DS/EN 62129:2006
DS/EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico

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JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS K 0127:1992 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS H 1691:1968 Método para el análisis espectroquímico del tantalio.
JIS H 1183:2007 Método para el análisis espectroquímico de emisión de lingotes de plata.
JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
JIS H 1123:2021 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica del metal de plomo.
JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS H 1683:2002 Tantalio - Método de análisis espectrométrico de absorción atómica
JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS Z 8826:2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
JIS K 0214:2006 Términos técnicos de química analítica (parte de Cromatografía)
JIS K 0214:2013 Términos técnicos de química analítica (parte de Cromatografía)
JIS K 0215:2005 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
JIS K 0215:2016 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS H 1305:2005 Método para el análisis espectroquímico de emisión óptica de aluminio y aleaciones de aluminio.
JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.

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JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones
JJG 501-2000 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 9-1985 2107 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(航天) 10-1985 2112 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(地质) 1005-1990 Reglamento de verificación para el analizador láser de uranio
JJG(电子) 07010-1991 Especificación para la verificación de analizadores de espectro panorámicos modelo YH4032
JJG(电子) 07007-1989 Reglamento de verificación del analizador de espectro 141T/8554B/8552B
JJG 801-2004 Analizadores quimioluminiscentes de NO/NOx
JJG 1135-2017 Analizadores termogravimétricos
JJG 1140-2017 Analizadores industriales

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis del analizador de espectro.

GB/T 25481-2010 Analizador de espectro ultravioleta/visible en línea
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GB/T 11461-2013 Especificaciones generales para analizador de espectro.
GB/T 5123-1985 Níquel: método de análisis espectral
GB/T 20732-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.
GB/T 11461-1989
GB/T 19627-2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
GB/T 25476-2010 Analizador de gases láser sintonizable
GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
GB/T 16599-1996 Métodos para el análisis del espectro de emisión de molibdeno.
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GB/T 9259-1988 Terminología del análisis espectroquímico de emisiones.
GB/T 6040-2002 Reglas generales para el análisis infrarrojo.
GB/T 5871-1986 Método de análisis espectrográfico del aluminio y sus aleaciones.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 15337-1994 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.
GB/T 15337-2008 Reglas generales para el análisis espectrométrico de absorción atómica.
GB/T 17359-2012 Análisis de microhaces. Análisis cuantitativo mediante espectrometría de energía dispersiva.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 11170-1989 Método para el análisis espectroscópico de emisión fotoeléctrica de acero inoxidable.
GB/T 10974-1989 analizador de color

ZA-SANS, Análisis del analizador de espectro.

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Lithuanian Standards Office , Análisis del analizador de espectro.

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 61207-6-2001 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994)
LST EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
LST EN 14242-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente

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