ZH
RU
EN

Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor, Total: 3 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor son: Circuitos integrados. Microelectrónica.

工业和信息化部, Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

• SJ/T 10805-2018 Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

Professional Standard - Electron, Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

• SJ/T 10805-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de métodos de medida para comparadores de tensión.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor

• GB/T 6798-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.

Otros:   Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor.