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現在の試験方法

現在の試験方法は全部で 52 項標準に関連している。

現在の試験方法 国際標準分類において、これらの分類：開閉装置とコントローラー、半導体ディスクリートデバイス、バーナー、ボイラー、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、電子管、光ファイバー通信、ゴム・プラスチック製品、電気工学総合、金属材料試験、道路車両用内燃機関、非破壊検査、航空宇宙製造用の材料、電気通信端末装置、情報技術（IT）総合。

Professional Standard - Machinery, 現在の試験方法

JB/T 5809-2007 真空接触器遮断電流試験方法
JB/T 5809-1991 真空接触器遮断電流試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 現在の試験方法

GB 11755.2-1989 医療診断用X線装置の管電流試験方法
GB/T 32791-2016 銅および銅合金の導電率の渦電流試験法
GB/T 12966-2008 アルミニウム合金の導電率渦電流試験法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 現在の試験方法

KS C 6111-2004 Cu/Nb-Ti複合超電導体の直流臨界電流試験方法

Indonesia Standards, 現在の試験方法

SNI 05-4006-1996 非磁性熱交換電極管の設置、渦電流試験法
SNI 09-6522-2001 自動車用オルタネーターの試験方法

Professional Standard - Electron, 現在の試験方法

SJ 2355.3-1983 半導体発光素子の試験方法逆電流試験方法
SJ/Z 9010.15-1987 電子管の電気的特性の試験パート 15: 寄生電極電流および不要な電極電流の試験方法
SJ 452-1973 高圧整流器の逆電流試験方法
SJ 364-1973 反射クライストロンカソード電流の試験方法
SJ 2138-1982 シリコン安定化ダイオードの電流安定化試験方法
SJ 1389-1978 ノイズダイオードの電極間漏れ電流試験方法
SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
SJ 1230-1977 ゲルマニウム検波ダイオードの高周波整流電流の試験方法
SJ 1873-1981 ガスレーザーの最適動作電流の試験方法
SJ 439-1973 O型帰還波管の最大発振電流の試験方法
SJ 1718-1981 パワークライストロンのカソードパルス電流試験方法
SJ 366-1973 反射クライストロンの電極間の漏れ電流の試験方法
SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
SJ 2214.8-1982 半導体フォトトランジスタの暗電流試験方法
SJ 444-1973 高圧整流器のアノード電流と過熱時アノード電流の試験方法
SJ 431-1973 O型帰還波管の各極の電圧と電流の試験方法
SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
SJ 420-1973 低雑音進行波管の各極の電圧と電流の試験方法
SJ 2215.3-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の順電流試験方法
SJ 2215.4-1982 半導体フォトカプラ（ダイオード）の逆電流試験方法
SJ 2215.9-1982 半導体フォトカプラ（トランジスタ）の逆方向遮断電流の試験方法
SJ/T 11082-2000 電子管のホットフィラメントまたはフィラメントの電流と電圧の試験方法
SJ/T 11082-1996 電子管のホットフィラメントまたはフィラメントの電流と電圧の試験方法
SJ 421-1973 低雑音進行波管の終端陽極と各極間の漏れ電流の試験方法
SJ 454-1973 高圧整流管のピーク管電圧降下、逆ピーク管電圧降下および整流電流の試験方法
SJ 363-1973 反射クライストロンの総反射鏡電流、反射鏡イオン流、および反射鏡漏れ電流の試験方法

Association Francaise de Normalisation, 現在の試験方法

NF EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブルパート 1-404: 一般仕様光ファイバーケーブルの基本試験手順電気試験方法温度電流試験方法 H4
NF C93-850-1-404*NF EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブルパート 1-404: 一般仕様基本的な光ファイバーケーブルの試験手順電気試験方法電流温度試験、方法 H4

CZ-CSN, 現在の試験方法

CSN 35 8534-1968 電子管制御ゲート電流の試験方法

British Standards Institution (BSI), 現在の試験方法

BS EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバケーブルの一般仕様光ケーブルの基本試験手順電気試験方法電流温度試験方法 H4
20/30429082 DC BS EN IEC 60794-1-404 光ファイバーケーブルパート 1-404 一般仕様書基本的な光ケーブル試験手順電気試験方法電流温度試験方法 H4

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 現在の試験方法

JIS K 7131:1994 プラスチックフィルムの熱増強電流試験方法

TR-TSE, 現在の試験方法

TS 2455-1976 電子管および電子バルブの電気的性能のテスト。パート 15: 寄生および不要な電極電流のテスト方法

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 現在の試験方法

DB53/T 981-2020 複合絶縁体傘カバー中のシリコーンゴムのトラップ電荷量とトラップエネルギー準位の熱刺激電流試験方法

YU-JUS, 現在の試験方法

JUS N.R1.115-1977 電子管。電気的特性の測定。電極故障電流の試験方法

ES-UNE, 現在の試験方法

UNE-EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブルパート 1-404: 一般仕様基本的な光ファイバーケーブルの試験手順電気的試験方法電流温度試験方法 H4

PL-PKN, 現在の試験方法

PN E06204-1993 直流アーク溶接試験方法
PN T04570-1974 電子トランスとチョーク。電気試験方法

AT-OVE/ON, 現在の試験方法

OVE EN IEC 60794-1-404:2021 光ファイバーケーブルパート 1-404: 一般仕様基本的な光ファイバーケーブルの試験手順電気的試験方法電流温度試験、方法 H4 (IEC 86A/2100/CDV) (英語版)

Professional Standard - Aerospace, 現在の試験方法

QJ 260-1977 半導体集積位相感応整流回路の試験方法

Professional Standard - Aviation, 現在の試験方法

HB 5356-1986 アルミニウム合金の導電率渦電流試験法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 現在の試験方法

GJB 360.29-1987 電子・電気部品の試験方法直流抵抗試験

Professional Standard - Post and Telecommunication, 現在の試験方法

YD/T 1540-2006 電気通信機器の過電圧および過電流耐性の試験方法

工业和信息化部, 現在の試験方法

YD/T 1540-2014 電気通信機器の過電圧および過電流耐性の試験方法