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設備のスペクトル

設備のスペクトルは全部で 41 項標準に関連している。

設備のスペクトル 国際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、 太陽工学、 鉱物処理装置、 光ファイバー通信、 パイプ部品とパイプ、 無線通信、 写真撮影のスキル、 電気、磁気、電気および磁気測定、 光学および光学測定、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 潤滑剤、工業用油および関連製品。

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 設備のスペクトル

• DB23/T 1530-2013 食品安全迅速検査装置スペクトル校正器

Association Francaise de Normalisation, 設備のスペクトル

• NF C57-328*NF EN 60904-8:2014 光電子機器 パート 8: 光電子機器の分光感度の測定
• NF C57-328:1999 光電子機器 パート 8: 光電子機器の分光感度の測定
• NF EN 60904-8:2014 太陽光発電装置 - パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置のスペクトル応答の測定

SE-SIS, 設備のスペクトル

• SIS SS IEC 714:1983 電子測定器。 スペクトラム アナライザの特性の説明

International Telecommunication Union (ITU), 設備のスペクトル

• ITU-R REPORT SM.2154-2009 近距離無線通信装置のスペクトル占有測定技術
• ITU-R RAPPORT SM.2154 FRENCH-2009 近距離無線通信装置の周波数占有率測定技術
• ITU-R RUEGO 98 SPANISH-1997 周波数範囲 400.15 ～ 406 MHz の気象機器のスペクトル要件
• ITU-R VOEU 98 FRENCH-1997 周波数範囲 400.15 ～ 406 MHz の気象機器のスペクトル要件

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 設備のスペクトル

• GB/T 6826-2005 洗濯機シリーズのモデルスペクトル
• GB/T 42403-2023 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー分光特性の測定方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 設備のスペクトル

• IEC TR 63100:2017 無線通信用伝送装置 スペクトラム測定用光ファイバ無線技術 100GHzスペクトラム測定装置
• IEC 60904-8-1:2017 太陽光発電装置 パート 8-1: 多接点太陽光発電 (PV) 装置の分光応答性の測定
• IEC TR 63352:2022 無線通信用の送受信装置、電波スペクトル測定方法、300GHz帯スペクトル測定装置

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 設備のスペクトル

• REPORT SM.2154-2009 近距離無線通信装置の周波数占有率測定技術
• OPINION 98-1997 周波数範囲 400.15 ～ 406 MHz の気象機器のスペクトル要件

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 設備のスペクトル

• SMPTE ST 2065-2-2012 アカデミー プリント濃度 (APD) スペクトル応答、参照測定機器およびスペクトル計算

Danish Standards Foundation, 設備のスペクトル

• DS/EN 60904-8:1999 太陽光発電装置パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置のスペクトル応答測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 設備のスペクトル

• EN 60904-8:2014 太陽光発電装置 パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置の分光感度測定

AENOR, 設備のスペクトル

• UNE-EN 60904-8:2015 太陽光発電装置 パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置の分光感度測定

Professional Standard - Electricity, 設備のスペクトル

• DL/T 991-2006 電力機器の金属スペクトル分析に関する技術ガイドライン
• DL/T 2231-2021 油紙絶縁電力機器の周波数領域誘電スペクトル試験のガイドライン

British Standards Institution (BSI), 設備のスペクトル

• PD IEC/TR 63100:2017 無線通信用送信装置 スペクトラム測定用光ファイバー無線技術 100GHzスペクトラム測定装置
• PD IEC TR 63352:2022 無線通信用送受信装置 電波スペクトラム測定方法 300GHzスペクトラム測定装置
• BS EN IEC 80601-2-71:2018 医用電気機器 機能的近赤外分光法 (NIRS) 機器の基本的な安全性と必須性能に対する特別な要件

Lithuanian Standards Office , 設備のスペクトル

• LST EN 60904-8-2001 太陽光発電装置パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置のスペクトル応答測定 (IEC 60904-8:1998)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 設備のスペクトル

• SMPTE ST 2065-2:2020 ST 2065-2:2020 SMPTE 標準アカデミー プリント濃度 (APD) スペクトル応答、基準測定機器およびスペクトル計算
• SMPTE ST 2065-2:2012 ST 2065-2:2012 SMPTE 標準アカデミー印刷濃度 (APD) スペクトル応答、基準測定機器およびスペクトル計算
• ST 2065-2:2012 ST 2065-2:2012 SMPTE 標準アカデミー プリント濃度 (APD) スペクトル感度、基準測定機器およびスペクトル計算
• ST 2065-2:2020 ST 2065-2:2020 SMPTE 標準アカデミー プリント濃度 (APD) スペクトル感度、基準測定機器およびスペクトル計算

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 設備のスペクトル

• ECA TEP 150-1964 感光性デバイスの相対スペクトル応答データ

Association of German Mechanical Engineers, 設備のスペクトル

• VDI/VDE/DGQ/DKD 2622 Blatt 11-2003 クーロン測定装置用の校正済みスペクトラム アナライザ

Professional Standard - Electron, 設備のスペクトル

• SJ/Z 863-1980 振動・衝突・衝撃・等加速度試験装置シリーズスペクトル

German Institute for Standardization, 設備のスペクトル

• DIN EN 60904-8-1:2018 太陽光発電装置 パート 8-1: 多接点太陽光発電 (PV) 装置のスペクトル応答性の測定 (IEC 60904-8-1-2017)、ドイツ語版 EN 60904-8-1-2017

American Society for Testing and Materials (ASTM), 設備のスペクトル

• ASTM E863-98 フレーム原子吸光分析装置に関する標準的な実務
• ASTM E863-98(2004)e1 フレーム原子吸光分析装置を記述するための標準的な慣例 (2004 年に撤回)
• ASTM E1812-96(2004)e1 フレーム原子吸光分光分析装置の最適化に関する標準慣行 (2004 年に廃止)

国家能源局, 設備のスペクトル

• NB/T 51068-2017 炭鉱設備用ギヤ油のフェログラフィー分析法 ロータリーフェログラフィー

Professional Standard - Aerospace, 設備のスペクトル

• QJ 545-1981 電子機器用リレーシリーズタイプスペクトル

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 設備のスペクトル

• GSM 02.16-1992 欧州デジタルセルラー電気通信システム (フェーズ 1)、国際質量分析装置の識別

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 設備のスペクトル

• GJB 5800-2006 通信信号偵察スペクトル監視装置の一般要件

その他：   スペクトラム, 試験装置, 設備のスペクトル, スペクトル機器, 質量分析装置, 質量スペクトル ポジティブスペクトル, 質量分析装置, その他の質量分析装置, 器具および装置, 抽出装置, デバイスプロファイルデバイス, スペクトル + スペクトル, 排ガス設備, 輸入設備, 機器校正機器, XRF デバイス デバイス, 染色設備, 試験装置, 加工装置装置, 質量分析.