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テスト移行率

テスト移行率は全部で 3 項標準に関連している。

テスト移行率 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 半導体ディスクリートデバイス。

Professional Standard - Electron, テスト移行率

• SJ/T 11488-2015 半絶縁ガリウムヒ素の抵抗率、ホール係数、移動度の試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), テスト移行率

• ASTM F76-08(2016)e1 単結晶半導体の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を測定するための標準的な試験方法

British Standards Institution (BSI), テスト移行率

• BS IEC 62880-1:2017 半導体デバイスのストレスマイグレーション試験規格 - 銅ストレスマイグレーション試験規格

その他：   可動性, ディファレンシャルモビリティ, 電動モビリティ, 移動度電気泳動, ゴールドモビリティ, サービス移行率, モビリティ分析, サービス移行率, モビリティ分析, 総移住率, 物質の移動性, テスト移行率, 粒子の移動度, 電気泳動 + 可動性, 移動度粒子サイズ, ディファレンシャルモビリティ, 実験用モビリティ, 推移的移動度, 物質の移動性, システム移行率.